CN110379392B - 阵列基板、显示面板及其显示方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种阵列基板、显示面板及其显示方法，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的阵列基板无法根据显示晶体管的第二极的信号对显示晶体管的栅极的关断控制信号进行调整的问题。本发明的一种阵列基板，包括：用于控制显示的显示晶体管，显示晶体管的栅极电连接控制端；检测模块，包括第一子检测模块，第一子检测模块包括多个第一检测晶体管，第一检测晶体管与显示晶体管同步形成，每个第一检测晶体管与显示晶体管的结构相同，所有第一检测晶体管的栅极连接第一检测控制端、第一极连接检测电压端、第二极电连接检测输出端。

Description

阵列基板、显示面板及其显示方法
技术领域
本发明属于显示技术领域，具体涉及一种阵列基板、显示面板及其显示方法。
背景技术
现有的显示面板包括多个控制显示的晶体管(TFT)，而因晶体管所处环境不同(如温度、背光亮度等)晶体管的性能会受到影响，进而影响显示面板的性能。例如，当晶体管的性能发生变化时，若给晶体管的栅极输入的导通或者关断信号无变化，则该晶体管的漏极不能准确输出相应的信号，从而会导致显示面板出现电压信号串扰(V-crosstalk)和需要低温启动等问题。
解决上述问题的一种方法是根据晶体管的漏极电流来调节晶体管的栅极控制信号(如控制晶体管开启的信号VGH以及控制晶体管关断的信号VGL)以使晶体管的漏极能够输出准确的信号。
然而，当给晶体管的栅极输入关断信号时，该晶体管漏极输出的电流的数量级比较小，约10-12A，而现有的检测单元(如集成电路IC)由于制作工艺的限制，无法对该数量级的电流进行准确的检测，从而无法根据漏极的电流对晶体管的栅极的关断信号进行调整。
发明内容
本发明至少部分解决现有的阵列基板无法根据显示晶体管的第二极的信号对显示晶体管的栅极的关断控制信号进行调整的问题，提供一种可对显示晶体管的栅极的关断控制信号进行调整的阵列基板。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板，包括：
用于控制显示的显示晶体管，所述显示晶体管的栅极电连接控制端；
检测模块，包括第一子检测模块，所述第一子检测模块包括多个第一检测晶体管，所述第一检测晶体管与所述显示晶体管同步形成，每个所述第一检测晶体管与所述显示晶体管的结构相同，所有所述第一检测晶体管的栅极连接第一检测控制端、第一极连接检测电压端、第二极电连接检测输出端。
进一步优选的是，所述检测模块还包括：放大子模块，连接在所述第一子检测模块与检测输出端之间，用于将第一子检测模块输出的电流放大后输出至检测输出端。
进一步优选的是，所述放大子模块包括：第一开关，连接在第一子检测模块与第一节点之间；第二开关，连接在检测输出端与第一节点之间；第三开关，连接在复位端与第一节点之间；电容，其第一极连接第一节点，第二极连接第二电压端。
进一步优选的是，所述第一检测晶体管的数量为800-1200个。
进一步优选的是，所述检测模块还包括第二子检测模块，所述第二子检测模块包括第二检测晶体管，所述第二检测晶体管与所述显示晶体管同步形成，所述第二检测晶体管与所述显示晶体管的结构相同，所述第二检测晶体管的栅极连接第二检测控制端、第一极连接检测电压端、第二极电连接检测输出端；
所述检测输出端包括第一检测输出端和第二检测输出端，所述第一检测输出端电连接所述第一检测晶体管的第二极，所述第二检测输出端电连接所述第二检测晶体管的第二极。
进一步优选的是，所述阵列基板具有显示区和位于所述显示区周边的非显示区，所述显示晶体管设于所述显示区中，所述检测模块设于所述非显示区中。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板，包括：
上述阵列基板；
调节模块，分别与检测输出端、控制端和检测电压端连接，用于根据检测输出端的电流调节向控制端输出的信号。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板的显示方法，所述显示面板为上述显示面板，所述方法包括：
向检测电压端通入初始信号，向第一检测控制端输入第一控制信号，获得第一检测电流，并将所述第一检测电流输至所述调节模块；
所述调节模块根据所述第一检测电流调整所述第一控制信号，并将调整后的第一控制信号输至所述显示晶体管的栅极。
进一步优选的是，显示面板中的阵列基板为上述的阵列基板，所述向第一检测控制端输入第一控制信号，获得第一检测电流包括：向所述第三开关输入导通信号，向所述第一开关和所述第二开关输入关断信号，以使所述复位端对所述第一节点进行复位；向第一检测控制端输入能够使所述第一检测晶体管关断的第一控制信号，向所述第一开关输入导通信号，向所述第二开关和所述第三开关输入关断信号，以使所述第一检测晶体管的第二极对所述电容充电；向所述第二开关输入导通信号，向所述第一开关和所述第三开关输入关断信号，所述检测输出端输出第一检测电流。
进一步优选的是，显示面板中的阵列基板为上述的阵列基板，该方法还包括:向第二检测控制端输入第二控制信号，获得第二检测电流，并将所述第二检测电流输至所述调节模块，所述第二控制信号为能够使所述第二检测晶体管导通的控制信号；所述调节模块根据所述第二检测电流调整所述第二控制信号，并将调整后的第二控制信号输至所述显示晶体管的栅极。
进一步优选的是，每次检测中，通入第一控制信号的时间为90-110s，通入第二控制信号的时间为0.9-1.1ms。
附图说明
附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为本发明的实施例的一种阵列基板的第一子检测模块和放大子模块的结构示意图；
图2为本发明的实施例的一种阵列基板的第二子检测模块的结构示意图；
图3为本发明的实施例的一种阵列基板的结构示意图；
其中，附图标记为：1、第一子检测模块；1’、第二子检测模块；11、第一检测晶体管；2、放大子模块；21、第一开关；22、第二开关、23、第三开关；24、电容；D1第一检测控制端；D1’第二检测控制端；D2检测电压端；D3检测输出端；D4复位端；41、显示区；42、非显示区；5、显示晶体管；6、调整模块；7、检测模块。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
以下将参照附图更详细地描述本发明。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，在图中可能未示出某些公知的部分。
在下文中描述了本发明的许多特定的细节，例如部件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本发明。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本发明。
实施例1：
如图1至图3所示，本实施例提供一种阵列基板，包括：
用于控制显示的显示晶体管5，显示晶体管5的栅极电连接控制端；
检测模块7(test unit)，包括第一子检测模块1，第一子检测模块1包括多个第一检测晶体管11，第一检测晶体管11与显示晶体管5同步形成，每个第一检测晶体管11与显示晶体管5的结构相同，所有第一检测晶体管11的栅极(G)连接第一检测控制端D1、第一极(S)连接检测电压端D2(例如液晶偏转电压端等Vop)、第二极(D)电连接检测输出端D3。
其中，显示晶体管5包括所有用于实现显示的晶体管，例如开关晶体管、驱动晶体管等。
其中，由于第一检测晶体管11与显示晶体管5同步形成且结构一样，故第一检测晶体管11与显示晶体管5是完全一样的，当显示晶体管5因外界影响而性能发生改变时，第一晶体管也会发生同样的性能变化，这样当第一检测晶体管11的栅极、第一极的信号分别与显示晶体管5的栅极、第一极的信号相同时，检测第一检测晶体管11的第二极的信号也就等于检测显示晶体管5的第二极的信号，故可以通过检测第一检测晶体管11的第二极的信号来调整显示晶体管5的栅极的信号，以使显示晶体管5可输出准确的信号，进而保证阵列基板的显示性能正常。
同时，检测模块7中具有多个并联的第一检测晶体管11，且它们的第一极连接检测电压端D2、第二极电连接检测输出端D3，故检测输出端D3的电流等于每个第一检测晶体管11的第二极的电流之和。因此多个并联的第一检测晶体管11可以看作是将检测输出端D3的信号(如电流信号或者电压信号，以下以电流信号为例进行描述)放大的结构。
本实施例的阵列基板包括具有第一子检测模块1的检测模块7，该第一子检测模块1可以将单个第一检测晶体管11的第二级输出的信号(由于单个第一检测晶体管11的第二级输出的信号的量级太小而不能被现有的调整模块6读取)放大并输至检测输出端，以使从检测输出端D3的信号可以被现有的调节模块读取并对显示晶体管5对应的控制端的信号进行调节，从而保证阵列基板的显示性能。
优选的，第一检测晶体管11的数量为800-1200个。
其中，也就是说相当于第一子检测模块1可以将单个第一检测晶体管11的输出的信号放大800-1200倍。例如，第一检测晶体管11的数量为1000个，若当每个第一检测晶体管11的第二极输出的电流(与每个显示晶体管5的第二极输出的电流相同)的量级为10-12A，经过第一子检测模块1后，第一子检测模块1的第一检测晶体管11的第二极的电流的量级变为10-9A。
优选的，本实施例的检测模块还包括：放大子模块2，连接在第一子检测模块1与检测输出端D3之间，用于将第一子检测模块1输出的电流放大后输出至检测输出端D3。
其中，也就是说第一检测晶体管11的第二级输出的信号需要经过方法模块的放大，例如电流的量级由10-9A放大至10-7A，再输至检测输出端D3，以使调节模块对检测输出端D3发出的信号的读取更加准确，进而可更加准确的调整控制端的信号。
需要说明的是，第一检测控制端D1的信号可为使的显示晶体管5关断的信号(Ioff)。
优选的，放大子模块2包括：第一开关21(switch)，连接在第一子检测模块1与第一节点之间；第二开关22，连接在检测输出端D3与第一节点之间；第三开关23，连接在复位端D4与第一节点之间；电容24，其第一极连接第一节点，第二极连接第二电压端。
具体的，放大子模块2放大过程如下：
向第三开关23输入导通信号，向第一开关21和第二开关22输入关断信号，以使复位端D4对第一节点进行复位；
向第一检测控制端D1输入能够使第一检测晶体管11关断的第一控制信号，向第一开关21输入导通信号，向第二开关22和第三开关23输入关断信号，以使第一检测晶体管11的第二极对电容24充电；其中，也就是说使得电荷在电容24出不断积累，而实现对第一检测晶体管11的第二极的电流的放大；
向第二开关22输入导通信号，向第一开关21和第三开关23输入关断信号，检测输出端D3输出第一检测电流；其中，第一检测电流则为放大之后的信号。
优选的，检测模块7还包括第二子检测模块1’，第二子检测模块1’包括第二检测晶体管，第二检测晶体管与显示晶体管5同步形成，第二检测晶体管与显示晶体管5的结构相同，第二检测晶体管的栅极连接第二检测控制端D1’、第一极连接检测电压端D2、第二极电连接检测输出端D3；检测输出端包括第一检测输出端和第二检测输出端，第一检测输出端电连接第一检测晶体管11的第二极，第二检测输出端电连接第二检测晶体管的第二极。
其中，其也就是说第二检测晶体管与显示晶体管5是完全一样的，当显示晶体管5因外界影响而性能发生改变时，第二晶体管也会发生同样的性能变化，这样当第二检测晶体管和显示晶体管5的栅极、第一极的初始输入信号相同时，可以通过检测第二检测晶体管的第二极的信号来调整显示晶体管5的栅极的信号，以使显示晶体管5可输出准确的信号，进而保证阵列基板的显示性能正常。
具体的，第二检测晶体管可用于检测使其导通的信号，通常导通信号产生的电流大，故其第二电极输出的电流的量级可以是10-6A，该电流可以被调整模块6读取，因此不需要放大。
需要说明的是，第二检测控制端D1’的信号可为使的显示晶体管5导通的信号(Ion)。
优选的，如图3所示，阵列基板具有显示区41(panel AA区)和位于显示区41周边的非显示区42显示区41，显示晶体管5设于显示区41中，检测模块7设于非显示区42显示区41中。
具体的，显示区41呈矩形，非显示区42分为第一非显示区以及第二非显示区，第一非显示区为靠近显示区41的连续三个边的区域，第二非显示区为靠近显示区41的剩余一边的区域，检测模块7设于第一非显示区，放大子模块2设于第二非显示区，从而避免检测模块7影响显示区的显示。
实施例2：
如图1至图3所示，本实施例提供一种显示面板，包括：
实施例1中的阵列基板；
调节模块(IC或者IP)，分别与检测输出端D3、控制端和检测电压端D2连接，用于根据检测输出端D3的电流调节向控制端输出的信号。
其中，也就是说调节模块根据检测输出端D3的电流调节向控制端输出的信号，以使显示晶体管5的可以控制显示面板正常显示。
具体的，该显示面板可为液晶显示面板、有机发光二极管(OLED)显示面板、电子纸、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
实施例3：
如图1至图3所示，本实施例提供一种显示面板的显示方法，显示面板为实施例2中的显示面板，方法包括：
S11、向检测电压端通入初始信号，向第一检测控制端D1输入第一控制信号，获得第一检测电流，并将第一检测电流输至调节模块。
其中，第一控制信号为能够使显示晶体管5关断的信号。同时第一检测晶体管11的栅极的信号与此时显示晶体管5的栅极的信号相同，而第一检测晶体管11的第一极的初始信号与此时显示晶体管5的第一极的信号相同。
具体的，向第一检测控制端D1输入第一控制信号，获得第一检测电流包括：
S111、向第三开关23输入导通信号，向第一开关21和第二开关22输入关断信号，以使复位端D4对第一节点进行复位。
S112、向第一检测控制端D1输入能够使第一检测晶体管11关断的第一控制信号，向第一开关21输入导通信号，向第二开关22和第三开关23输入关断信号，以使第一检测晶体管11的第二极对电容24充电。
其中，也就是说使得电荷在电容24出不断积累，而实现对第一检测晶体管11的第二极的电流的放大。
S113、向第二开关22输入导通信号，向第一开关21和第三开关23输入关断信号，检测输出端D3输出第一检测电流。
其中，第一检测电流为经过第一子检测模块1以及放大子模块2的电流。
S12、调节模块根据第一检测电流调整第一控制信号，并将调整后的第一控制信号输至显示晶体管5的栅极。
需要说明的是，步骤S11至S12主要是对显示晶体管5的关断的控制信号进行调整的过程。当显示晶体管5的栅极输入关断控制信号时，其漏极的电流的量级很小，如10-12A，该电流不可以被调整模块6读取，因此需要放大。
优选的，本实施例的显示方法还包括：
S21、向第二检测控制端D1’输入第二控制信号，获得第二检测电流，并将第二检测电流输至调节模块，第二控制信号为能够使第二检测晶体管导通的控制信号。
其中，第二控制信号为能够使显示晶体管5导通的信号。同时第二检测晶体管的栅极的初始信号与此时显示晶体管5的栅极的信号相同，而第二检测晶体管的第一极的初始信号与此时显示晶体管5的第一极的信号相同。
S22、调节模块根据第二检测电流调整第二控制信号，并将调整后的第二控制信号输至显示晶体管5的栅极。
需要说明的是，步骤S21至S22主要是对显示晶体管5的导通的控制信号进行调整的过程。当显示晶体管5的栅极输入导通控制信号时，其漏极的电流的量级比较大，如10-6A，该电流可以被调整模块6读取，因此不需要放大。
优选的，每次检测中，通入第一控制信号的时间为90-110s，通入第二控制信号的时间为0.9-1.1ms。
其中，也就是说对于显示晶体管5的栅极的控制信号是实时进行调整的，以保证显示面板的显示效果最佳。
具体的，第一检测子模块通入第一控制信号的时间为为100s，第二检测子模块通入第二控制信号的时间为1ms。
应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (10)

1.一种阵列基板，其特征在于，包括：
用于控制显示的显示晶体管，所述显示晶体管的栅极电连接控制端；
检测模块，包括第一子检测模块，所述第一子检测模块包括多个第一检测晶体管，所述第一检测晶体管与所述显示晶体管同步形成，每个所述第一检测晶体管与所述显示晶体管的结构相同，所有所述第一检测晶体管的栅极连接第一检测控制端、第一极连接检测电压端、第二极电连接检测输出端；所述第一检测控制端的信号为使所述显示晶体管关断的信号，所述检测输出的电流等于每个第一检测晶体管的第二极的电流之和；
所述阵列基板具有显示区和位于所述显示区周边的非显示区，所述显示晶体管设于所述显示区中，所述检测模块设于所述非显示区中；其中，通过检测所述第一检测晶体管的第二极的信号来调整所述显示晶体管的栅极的信号。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述检测模块还包括：
放大子模块，连接在所述第一子检测模块与检测输出端之间，用于将第一子检测模块输出的电流放大后输出至检测输出端。
3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述放大子模块包括：
第一开关，连接在所述第一子检测模块与第一节点之间；
第二开关，连接在检测输出端与第一节点之间；
第三开关，连接在复位端与第一节点之间；
电容，其第一极连接第一节点，第二极连接第二电压端。
4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第一检测晶体管的数量为800-1200个。
5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述检测模块还包括第二子检测模块，所述第二子检测模块包括第二检测晶体管，所述第二检测晶体管与所述显示晶体管同步形成，所述第二检测晶体管与所述显示晶体管的结构相同，所述第二检测晶体管的栅极连接第二检测控制端、第一极连接检测电压端、第二极电连接检测输出端；所述第二检测控制端的信号为使所述显示晶体管导通的信号；
所述检测输出端包括第一检测输出端和第二检测输出端，所述第一检测输出端电连接所述第一检测晶体管的第二极，所述第二检测输出端电连接所述第二检测晶体管的第二极。
6.一种显示面板，其特征在于，包括：
权利要求1-5中任意一项的所述阵列基板；
调节模块，分别与检测输出端、控制端和检测电压端连接，用于根据检测输出端的电流调节向控制端输出的信号。
7.一种显示面板的显示方法，其特征在于，所述显示面板为权利要求6所述的显示面板，所述方法包括：
向检测电压端通入初始信号，向第一检测控制端输入第一控制信号，获得第一检测电流；
所述调节模块根据所述第一检测电流调整所述第一控制信号，并将调整后的第一控制信号输至所述显示晶体管的栅极。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述显示面板中的阵列基板为权利要求3中的阵列基板，所述向第一检测控制端输入第一控制信号，获得第一检测电流包括：
向所述第三开关输入导通信号，向所述第一开关和所述第二开关输入关断信号，以使所述复位端对所述第一节点进行复位；
向第一检测控制端输入能够使所述第一检测晶体管关断的第一控制信号，向所述第一开关输入导通信号，向所述第二开关和所述第三开关输入关断信号，以使所述第一检测晶体管的第二极对所述电容充电；
向所述第二开关输入导通信号，向所述第一开关和所述第三开关输入关断信号，所述检测输出端输出第一检测电流。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，显示面板中的阵列基板为权利要求5中的阵列基板，所述方法还包括:
向第二检测控制端输入第二控制信号，获得第二检测电流，并将所述第二检测电流输至所述调节模块，所述第二控制信号为能够使所述第二检测晶体管导通的控制信号；
所述调节模块根据所述第二检测电流调整所述第二控制信号，并将调整后的第二控制信号输至所述显示晶体管的栅极。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，每次检测中，通入第一控制信号的时间为90-110s，通入第二控制信号的时间为0.9-1.1ms。
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