CN110376144B - 固化率检测装置 - Google Patents
固化率检测装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110376144B CN110376144B CN201910656054.6A CN201910656054A CN110376144B CN 110376144 B CN110376144 B CN 110376144B CN 201910656054 A CN201910656054 A CN 201910656054A CN 110376144 B CN110376144 B CN 110376144B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- panel touch
- touch module
- optical cement
- spectrum
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
Abstract
本发明涉及一种固化率检测装置，用于检测面板触控模组中光学胶的固化率，固化率检测装置包括光源、光检测器及挡板；光源设置于面板触控模组的第一表面一侧；光检测器设置于面板触控模组的第二表面一侧；第一表面和第二表面为面板触控模组相对的两个表面；挡板设置于面板触控模组与光检测器之间，挡板上开设有多个通孔，通孔的位置与光学胶在面板触控模组中的位置对应；光检测器用于检测光源发出的光透过面板触控模组及通孔后的光谱，还用于根据光学胶固化前的光谱及光学胶固化后的光谱计算光学胶的固化率。上述的固化率检测装置能够实现在光学胶的固化过程中实时检测光学胶的固化率，提高面板触控模组生产效率及产品质量。
Description
技术领域
本发明涉及固化率检测技术领域，特别涉及一种固化率检测装置。
背景技术
面板触控模组包括玻璃基板和传感器，传感器通过光学胶与玻璃基板粘接，光学胶的固化程度反映了传感器与玻璃基板的粘接程度。现有的光学胶固化程度检测方式，通常需要破坏面板触控模组取出光学胶，且检测周期长，不利于提高生产效率。
发明内容
基于此，有必要针对现有的光学胶固化程度检测方式，需要破坏面板触控模组取出光学胶，检测周期长，不利于提高生产效率的问题，提供一种固化率检测装置。
一种固化率检测装置，用于检测面板触控模组中光学胶的固化率，所述固化率检测装置包括：
光源，设置于所述面板触控模组的第一表面一侧；
光检测器，设置于所述面板触控模组的第二表面一侧；所述第一表面和所述第二表面为所述面板触控模组相对的两个表面；
挡板，设置于所述面板触控模组与所述光检测器之间，所述挡板上开设有多个通孔，所述通孔的位置与所述光学胶在所述面板触控模组中的位置对应；
所述光检测器用于检测所述光源发出的光透过所述面板触控模组及所述通孔后的光谱；所述光检测器还用于根据光学胶固化前的光谱及光学胶固化后的光谱计算光学胶的固化率。
在其中一个实施例中，所述光检测器还用于将光学胶固化后的光谱与预设光谱进行比较，以判断所述光学胶在所述面板触控模组中的粘接是否平整。
在其中一个实施例中，所述光检测器设置于传输带上。
在其中一个实施例中，相邻两个通孔之间的距离为1毫米。
在其中一个实施例中，每个通孔的面积大于或等于5平方毫米。
在其中一个实施例中，所述挡板与所述光检测器之间的距离大于或等于50微米。
在其中一个实施例中，所述挡板包括多个第一拼板，每个第一拼板开设一个通孔。
在其中一个实施例中，所述挡板还包括多个第二拼板；每个第一拼板的侧面形成有凸起的插片或开设有插槽；每个第二拼板的侧面也形成有凸起的插片或开设有插槽；每个第一拼板的插片与相邻的第一拼板或第二拼板的插槽插接；每个第二拼板的插片与相邻的第一拼板或第二拼板的插槽插接。
在其中一个实施例中，所述挡板是一体成型的板状结构。
在其中一个实施例中，所述光源为紫外线光源。
本申请的固化率检测装置，通过在面板触控模组上方设置光源，在面板触控模组下方设置光检测器，并在面板触控模组与光检测器之间设置挡板，可以根据需要检测的面板触控模组的光学胶的区域在挡板上开设对应的通孔，光检测器能够检测光源发出的光透过面板触控模组及通孔后的光谱并根据光学胶固化前的光谱及光学胶固化后的光谱计算光学胶的固化率，从而能够实现在光学胶的固化过程中实时检测光学胶的固化率，提高面板触控模组生产效率及产品质量。
附图说明
图1为一实施例中的面板触控模组的结构示意图；
图2为一实施例中的固化率检测装置的结构示意图；
图3为一实施例中的挡板的结构示意图；
图4为另一实施例中的挡板的结构示意图；
图5为一实施例中的第一拼板的结构示意图；
图6为一实施例中的固化率检测装置的结构示意图；
图7为另一实施例中的面板触控模组的结构示意图。
具体实施方式
为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳实施方式。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本申请的公开内容理解的更加透彻全面。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上方”、“下方”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本申请。
请参阅图1，面板触控模组100包括玻璃基板10、感应层20、光学胶30、边框40及软板50。所述光学胶30设置于所述玻璃基板10与所述感应层20之间，用于将所述玻璃基板10与所述感应层20粘接。
光学胶30的固化程度，也称光学胶30的固化率。在本实施例中，光学胶30为UV光敏固化型的胶体，光敏固化型的胶体通过在胶体中加入光引发剂，并用紫外线照射，胶体中即产生活性自由基或离子基，进而引发聚合交联和后续反应，使胶体由液态转化为固态。光学胶30的固化率会因紫外固化光的强度及照射时间的不同而不同。
请参阅图2，本申请实施例提供一种固化率检测装置，用于检测面板触控模组100中光学胶30的固化率。所述固化率检测装置包括光源200、光检测器300及挡板400。
所述光源200设置于所述面板触控模组100的第一表面一侧。较佳地，所述光源200设置于所述面板触控模组100的正上方，面板触控模组100中光学胶30的固化和光学胶30的固化率的检测可以同时进行，将所述光源200设置于面板触控模组100的正上方，可以使得面板触控模组100中光学胶30的固化均匀。对应于UV光敏固化型的光学胶30，所述光源200为紫外线光源200。
所述光检测器300设置于所述面板触控模组100的第二表面一侧，即所述光检测器300设置于所述面板触控模组100的下方。所述第一表面和所述第二表面为所述面板触控模组100相对的两个表面。所述光检测器300能够检测接收到的光线的光谱。
请参阅图3，所述挡板400设置于所述面板触控模组100与所述光检测器300之间。所述挡板400上开设有多个通孔401，所述通孔401的位置与所述光学胶30在所述面板触控模组100中的位置对应。可以根据需要检测的面板触控模组100设定区域的光学胶30的固化率，所述挡板400对应于该区域开设对应的通孔401。
请参阅图4及图5，在一实施例中，所述挡板400包括多个第一拼板410及多个第二拼板420。每个第一拼板410开设一个通孔401。所述挡板400上除了通孔401可以让光线穿过，其他区域光线不可以穿过。每个第一拼板410的侧面形成有凸起的插片402或开设有插槽403。每个第二拼板420的侧面也形成有凸起的插片402或开设有插槽403。每个第一拼板410的插片402与相邻的第一拼板410或第二拼板420的插槽403插接或者每个第二拼板420的插片402与相邻的第一拼板410或第二拼板420的插槽403插接，从而实现挡板400的拼接。使用拼接的挡板400，可以根据需要检测的面板触控模组100设定区域的光学胶30的固化率，在挡板400对应该区域的位置上拼接第一拼板410，从而光检测器300能够接收到透过面板触控模组100并从该通孔401穿过的光线。在其他实施例中，所述挡板400可以是一体成型的板状结构，对应于需要检测的面板触控模组100的区域，所述挡板400开设对应的通孔401。
所述通孔401可以为圆孔或方孔，或所述通孔401的形状可以根据需要检测的光学胶30在面板触控模组100的位置的结构设定，以便根据需要检测设定区域的面板触控模组100的光学胶30的固化率。
相邻两个通孔401之间的距离为1毫米，该距离可以保证挡板400内的拼板连接可靠。每个通孔401的面积大于或等于5平方毫米，因此，可以保证检测到的区域足够大，增加检测数据的准确性。
所述挡板400由黑橡胶或铁氟龙或其他挡光性能好且易加工的材料制成。
所述挡板400与所述光检测器300之间的距离大于或等于50微米，以避免所述挡板400与所述光检测器300接触，造成所述光检测器300检测的干扰或造成对所述光检测器300的磨损。
所述光检测器300用于检测光源200发出的光透过所述面板触控模组100及所述通孔401后的光谱。所述光检测器300还用于根据光学胶30固化前的光谱及光学胶30固化后的光谱计算光学胶30的固化率。
请参阅图6，在一实施例中，所述光检测器300设置于传输带500上，光检测器300可以在光学胶30的固化过程中检测光学胶30的固化率，以实时监测光学胶30的固化程度，既可以提前发现光学胶30的固化异常，还可以根据检测到的固化率对固化制程进行控制，可以合理利用能源，避免过长时间固化浪费紫外光的使用。
不同材料的物质对光的吸收程度不同，即光穿过不同材料的物质穿透率不同。光学胶30经紫外线固化后所包含的物质与光学胶30固化前的物质不同，因此，固化前的光学胶30与固化后的光学胶30对紫外光的吸收程度不同，光检测器300检测到的穿透过固化前的光学胶30与穿透过固化后的光学胶30的紫外光的光谱不同。
光检测器300可以根据光学胶30固化前的光谱及光学胶30固化后的光谱中的预设波长的紫外光的波峰面积计算光学胶30的固化率。光学胶30的固化率的计算公式如下：
Cure％＝1-Peak Areaafter/Peak Areabefore*100％
其中，Cure为光学胶30的固化率，Peak Areaafter为光学胶30固化后的光谱中预设波长的紫外光的波峰面积，Peak Areabefore为光学胶30固化前的光谱中预设波长的紫外光的波峰面积。
由于未固化的光学胶30的所包含的反应物比固化后的光学胶30所包含的反应物多，因此，光学胶30固化后的光谱中预设波长的紫外光的波峰小于光学胶30固化前的光谱中预设波长的紫外光的波峰。
所述光检测器300还用于将光学胶30固化后的光谱与预设光谱进行比较，以判断所述光学胶30在所述面板触控模组100中的粘接是否平整。若所述光学胶30在所述面板触控模组100中的粘接出现波浪状，即光学胶30在面板触控模组100中粘接不平整，如图7为光学胶30与玻璃基板10之间出现空隙的情形。
若光学胶30在所述面板触控模组100中的粘接出现波浪状，则紫外光穿过该区域的路程增大或减小，光检测器300接收到的光谱也发生相应的变化。光检测器300将检测到的光学胶30固化后的光谱与预设光谱进行比较，即可判断光学胶30在所述面板触控模组100中的粘接是否出现波浪状，从而提高面板触控模组100检测的精度。
所述软板50一端与所述感应层20连接，另一端与控制系统连接。所述感应层20用于接收用户作用于玻璃基板10的触控信号并将所述触控信号传输至控制系统。所述边框40设置于所述玻璃基板10的侧边，用于围设固定所述玻璃基板10、所述感应层20及所述软板50。所述感应层20包括多个传感器。
本申请的固化率检测装置，通过在面板触控模组100上方设置光源200，在面板触控模组100下方设置光检测器300，并在面板触控模组100与光检测器300之间设置挡板400，可以根据需要检测的面板触控模组100的光学胶30的区域在挡板400上开设对应的通孔401，光检测器300能够检测光源200发出的光透过面板触控模组100及通孔401后的光谱并根据光学胶30固化前的光谱及光学胶30固化后的光谱计算光学胶30的固化率，从而能够实现在光学胶30的固化过程中实时检测光学胶30的固化率，提高面板触控模组100生产效率及产品质量。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (8)
1.一种固化率检测装置，用于检测面板触控模组中光学胶的固化率，其特征在于，所述固化率检测装置包括：
光源，设置于所述面板触控模组的第一表面一侧；
光检测器，设置于所述面板触控模组的第二表面一侧；所述第一表面和所述第二表面为所述面板触控模组相对的两个表面；
挡板，设置于所述面板触控模组与所述光检测器之间，所述挡板上开设有多个通孔，所述通孔的位置与所述光学胶在所述面板触控模组中的位置对应；
所述光检测器用于检测所述光源发出的光透过所述面板触控模组及所述通孔后的光谱；所述光检测器还用于根据光学胶固化前的光谱及光学胶固化后的光谱计算光学胶的固化率；
所述挡板包括多个第一拼板和多个第二拼板，每个第一拼板开设一个通孔，且每个第一拼板的侧面形成有凸起的插片或开设有插槽；每个第二拼板的侧面也形成有凸起的插片或开设有插槽；每个第一拼板的插片与相邻的第一拼板或第二拼板的插槽插接；每个第二拼板的插片与相邻的第一拼板或第二拼板的插槽插接。
2.根据权利要求1所述的固化率检测装置，其特征在于，所述光检测器还用于将光学胶固化后的光谱与预设光谱进行比较，以判断所述光学胶在所述面板触控模组中的粘接是否平整。
3.根据权利要求1所述的固化率检测装置，其特征在于，所述光检测器设置于传输带上。
4.根据权利要求1所述的固化率检测装置，其特征在于，相邻两个通孔之间的距离为1毫米。
5.根据权利要求1所述的固化率检测装置，其特征在于，每个通孔的面积大于或等于5平方毫米。
6.根据权利要求1所述的固化率检测装置，其特征在于，所述挡板与所述光检测器之间的距离大于或等于50微米。
7.根据权利要求1所述的固化率检测装置，其特征在于，所述挡板是一体成型的板状结构。
8.根据权利要求1所述的固化率检测装置，其特征在于，所述光源为紫外线光源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910656054.6A CN110376144B (zh) | 2019-07-19 | 2019-07-19 | 固化率检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910656054.6A CN110376144B (zh) | 2019-07-19 | 2019-07-19 | 固化率检测装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN110376144A CN110376144A (zh) | 2019-10-25 |
| CN110376144B true CN110376144B (zh) | 2021-11-26 |
Family
ID=68254344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910656054.6A Active CN110376144B (zh) | 2019-07-19 | 2019-07-19 | 固化率检测装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN110376144B (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111721815B (zh) * | 2020-06-18 | 2022-12-09 | 业成科技（成都）有限公司 | 触控装置与其固化率检测方法 |
| CN112730250B (zh) * | 2020-12-29 | 2023-08-25 | 业成科技（成都）有限公司 | 检测治具及检测方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101387572A (zh) * | 2007-09-11 | 2009-03-18 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 光谱量测治具 |
| CN108776105A (zh) * | 2018-08-14 | 2018-11-09 | 成都曙光光纤网络有限责任公司 | 反射光谱检测装置及样品成分检测装置 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4185939B2 (ja) * | 2006-03-15 | 2008-11-26 | オムロン株式会社 | 紫外線硬化樹脂の状態推定方法 |
| US7684036B2 (en) * | 2006-11-30 | 2010-03-23 | Bwt Property, Inc. | Method for real time cure status monitoring of dental resin |
| JP4862646B2 (ja) * | 2006-12-20 | 2012-01-25 | パナソニック電工株式会社 | 樹脂シート材の硬化度測定装置 |
| JP5040380B2 (ja) * | 2007-03-13 | 2012-10-03 | オムロン株式会社 | 紫外線照射システム、それに用いられる硬化反応検知装置およびそれを用いた紫外線硬化樹脂の硬化方法 |
| JP4952473B2 (ja) * | 2007-09-20 | 2012-06-13 | オムロン株式会社 | 紫外線照射システムおよびそれにおける調整方法 |
| JP5056308B2 (ja) * | 2007-09-21 | 2012-10-24 | オムロン株式会社 | 硬化状態測定装置 |
| CN203018296U (zh) * | 2013-01-18 | 2013-06-26 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 紫外光固化机 |
| CN203216841U (zh) * | 2013-03-21 | 2013-09-25 | 宁波大学 | 一种用于实时监测聚合物分散液晶固化过程的装置 |
| DE102015205400A1 (de) * | 2015-03-25 | 2016-09-29 | Ist Metz Gmbh | Verfahren und System zur Untersuchung des Polymerisationsgrads eines aushärtbaren Polymers |
| EP3491049A4 (en) * | 2016-07-29 | 2020-03-18 | 3M Innovative Properties Company | HARDENING MONITORING SYSTEMS AND METHODS |
| CN107608101A (zh) * | 2017-10-25 | 2018-01-19 | 旭东机械(昆山)有限公司 | 一种液晶面板涂胶在线检测设备 |
| CN109013248B (zh) * | 2018-09-18 | 2021-07-20 | 广州国显科技有限公司 | 固化控制方法及系统 |
-
2019
- 2019-07-19 CN CN201910656054.6A patent/CN110376144B/zh active Active
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101387572A (zh) * | 2007-09-11 | 2009-03-18 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 光谱量测治具 |
| CN108776105A (zh) * | 2018-08-14 | 2018-11-09 | 成都曙光光纤网络有限责任公司 | 反射光谱检测装置及样品成分检测装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN110376144A (zh) | 2019-10-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN110376144B (zh) | 固化率检测装置 | |
| US9158415B2 (en) | Touch panel, method for driving touch panel, and display apparatus having touch panel | |
| US20200050822A1 (en) | Under-screen biometric identification apparatus and electronic device | |
| JP5715067B2 (ja) | 検出器表面 | |
| EP2664910A2 (en) | Low-cost measurement system for photopolymer film polymerization monitoring | |
| KR101913311B1 (ko) | 실리콘 박막 측정 방법, 실리콘 박막 결함 검출 방법, 및 실리콘 박막 결함 검출 장치 | |
| TW201601037A (zh) | 觸摸感應器、觸摸感應設備、指紋圖像採集器及電子設備 | |
| KR20140147119A (ko) | 광전 모듈 | |
| KR20150010721A (ko) | 리플로우 가능한 광전 모듈 | |
| CN101667084B (zh) | 触控面板以及具有此触控面板的触控式显示装置 | |
| KR20130030721A (ko) | 터치 디스플레이 장치 제조 방법 | |
| KR20160022426A (ko) | 표시장치 | |
| CN106066742A (zh) | 传感器和显示装置 | |
| WO2021012117A1 (zh) | 屏下光学指纹识别装置及系统、扩散膜和液晶显示屏 | |
| US8526770B2 (en) | Systems, materials, and methods for a mechanical stress activated interface using piezo-optical components | |
| CN106407967B (zh) | 一种指纹模组及其贴合方法和应用 | |
| CN204334724U (zh) | 接触式图像传感器 | |
| CN203596052U (zh) | 一种全票面纸币胶带、荧光鉴别装置 | |
| CN102401937A (zh) | 光波导路及光学式触摸面板 | |
| US20160327659A1 (en) | Device for detecting therapeutic proton beam emitted in scattering mode | |
| KR20170089136A (ko) | 광학 소자의 제조 방법 | |
| CN106249965A (zh) | 导光板光学触控装置 | |
| CN110133891B (zh) | 一种显示面板贴合结构及其制备方法 | |
| KR100990672B1 (ko) | 교통정보 수집장치 | |
| CN206258071U (zh) | 光接收组件、光发生组件、传感器及体积测量装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |