CN110353708A - 放射线成像装置 - Google Patents
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Abstract
公开了放射线成像装置。以非接触方式供给电力的放射线成像装置包括:电力接收线圈,与放射线检测器和检测器接触导电构件一起设置在壳体内部,并且被配置为从设置在壳体外部的电力馈送线圈以非接触方式接收要被供给到放射线检测器的电能。电力接收线圈被设置在包括第一范围的第二范围中以使得所生成的磁通量的中心的取向与入射表面的面内方向(x方向)一致并且与朝向放射线检测器的方向一致,在第一范围中,检测器接触导电构件被形成在放射线检测器的放射线入射的入射表面的法线方向(y方向)上。
Description
技术领域
本公开涉及用于医学成像系统、非破坏性检查装置和分析装置的放射线成像装置。
背景技术
在医学领域中,例如,已经广泛使用用于基于穿透被检体的放射线的强度分布来获得放射线图像的放射线成像装置。目前,使用用于获取数字放射线图像的数字放射线成像装置。
用于向数字放射线成像装置供给电力的方法的主流包括用于拆卸可拆卸电池和将电池连接到充电器的方法,以及用于经由线缆从壳体的连接部分向内置电池供给电力的方法。然而,在这些方法中,必须在电池的附接/拆卸部分和线缆的连接部分提供防水/防尘装置。这使得成像装置的结构复杂化并且需要包括电池附接/拆卸工作和线缆连接工作在内的手动操作。
为了消除对电池附接/拆卸工作和线缆连接工作的需要,已经研究了以非接触方式向内置电池供给电力(电能)的方法。该方法通过电力传输线圈和电力接收线圈之间的磁耦合向电池供给电力。
当以非接触方式供给电力时,已经采取各种措施来提高电力馈送效率。特别是对于数字放射线成像装置,内部导电构件干扰磁耦合的磁通量,从而降低了电力馈送效率。
为了解决这个问题,例如,在日本专利申请公开No.2015-197663中讨论的放射线成像装置具有用于在由导电材料形成的内部屏蔽构件和电力接收线圈之间设置分隔件以防止磁通量通过屏蔽构件的结构。然而,存在的问题是,用于在屏蔽构件和电力接收线圈之间设置分隔件的结构增加了放射线成像装置的壳体的尺寸。特别是在当前市场中,考虑到使用放射线成像装置的工程师的负担,对于减小盒式放射线成像装置的尺寸和重量的需求不断增加。放射线成像装置的壳体尺寸的增加不满足市场需求。
在日本专利申请公开No.2008-170315中讨论的放射线成像装置具有用于使电力接收线圈的位置可变的结构。更具体地,该装置包括自动控制机构以用于将电力接收线圈的位置移动到获得最佳电力馈送效率的位置。然而,担心的是用于移动电力接收线圈的位置的结构需要例如滑动机构并因此增加了放射线成像装置的壳体的尺寸。
发明内容
鉴于上述问题而开发了本公开,并且本公开旨在在以非接触方式供给电力的放射线成像装置中提供一种在防止的电力馈送效率降低的同时减小壳体尺寸的机构。
根据本公开的放射线成像装置包括:放射线检测器,被配置为检测入射放射线并将所述放射线转换为图像信号;导电构件,被设置为与所述放射线检测器接触;和电力接收线圈,与所述放射线检测器和所述导电构件一起设置在壳体内内,并且被配置为从设置在壳体外部的电力馈送线圈以非接触方式接收要被供给到所述放射线检测器的电能。在包括第一范围的第二范围中,所述电力接收线圈被设置为使得所生成的磁通量的中心的取向与入射表面的面内方向一致,并且与朝向放射线检测器的方向一致,在所述第一范围中,所述导电构件被形成在所述放射线检测器的放射线入射的入射表面的法线方向上。
通过参考附图从以下许多示例实施例的描述,本公开的其它特征和方面将变得清楚。
附图说明
图1示出了根据本公开第一示例实施例的放射线成像装置的示意性配置的示例。
图2示出了本公开的第一示例实施例,更具体地,示出了图1中所示的电力接收线圈、检测器接触导电构件和磁通量之间的关系。
图3示出了本公开的第一示例实施例,更具体地,示出了图1中所示的电力接收线圈、检测器接触导电构件和磁通量之间的另一关系。
图4示出了根据本公开第二示例实施例的放射线成像装置的示意性配置的示例。
图5示出了根据本公开第三示例实施例的放射线成像装置的示意性配置的示例。
图6示出了根据本公开第四示例实施例的放射线成像装置的示意性配置的示例。
图7示出了本公开的第四示例实施例,更具体地,示出了图6中所示的电力接收线圈、检测器接触导电构件、屏蔽基板和磁通量之间的关系。
图8示出了根据本公开第五示例实施例的放射线成像装置的外部配置的示例。
具体实施方式
现在将在下文中参考附图描述本公开的示例实施例和方面。
图1示出了根据本公开第一示例实施例的放射线成像装置(下文中简称为成像装置)100-1的示意性配置的示例。图1示出了xyz坐标系,其包括放射线201进入成像装置100-1的y方向,以及垂直于y方向的x方向和z方向。图1还示出了成像装置100-1在xy平面中的截面。
成像装置100-1包括放射线检测器(下文中简称为检测器)110、检测器接触导电构件120、电力接收线圈130、电池基板141、电池142、控制基板143、布线144到147以及壳体150。
检测器110检测入射放射线201并将放射线201转换为图像信号。检测器110包括荧光体111和光学检测单元112。成像装置100-1的壳体150的放射线201入射的表面被称为“壳体入射表面150a”,并且壳体150的面向入射表面150a的表面被称为“壳体后表面150b”。荧光体111(设置在壳体入射表面150a侧的部件)将放射线201转换为光。光学检测单元112(设置在壳体后表面150b侧的部件)检测由荧光体111生成的光并将光转换为图像信号。检测器110的放射线201入射的表面被称为“检测器入射表面110a”,并且检测器110的面向检测器入射表面110a的表面被称为“检测器后表面110b”。根据本示例实施例,检测器入射表面110a的面内方向和检测器后表面110b的面内方向平行于x方向。
检测器接触导电构件120被设置为与检测器110接触。检测器接触导电构件120包括导电片121和屏蔽构件122。
导电片121是被设置为与检测器入射表面110a接触的入射表面侧导电构件。更具体地,导电片121被设置为与检测器入射表面110a(荧光体111)接触以包括荧光体111。导电片121覆盖荧光体111以提供防湿效果并起到对进入光学检测单元112的干扰噪声的电磁屏蔽的功能。更具体地,导电片121是具有抑制对检测器110的干扰的功能的导电构件。虽然具有高导电率的Al合金或Cu合金适合用作导电片121,但是其它导电材料也是适用的。
屏蔽构件122是被设置为与检测器后表面110b接触的后侧导电构件。更具体地,屏蔽构件122被设置为与设置在检测器后表面110b上的光学检测单元112接触。屏蔽构件122屏蔽进入而未被荧光体111转换为光的放射线201,使得放射线201不朝向壳体后表面150b侧透射。例如,在没有设置屏蔽构件122并且放射线201朝向壳体后表面150b侧传输的情况下,由壳体后表面150b反射的放射线被荧光体111转换为光。该光可能成为由光学检测单元112生成的图像信号中的噪声。更具体地,屏蔽构件122是具有抑制对检测器110的干扰的功能的导电构件。例如,屏蔽构件122由包含具有高的放射线屏蔽效果的重金属(诸如Pb、Mo和W)的合金制成,或者由被增厚到可以获得足够的放射线屏蔽效果的程度的不锈钢制成。
设置在壳体150内部的电力接收线圈(电力接收单元)130从设置在壳体150外部的电力馈送线圈202以非接触方式接收要被供给到检测器110的电能。电力接收线圈130被设置在包括第一范围101的第二范围102中,在第一范围101中,沿着检测器入射表面110a的法线方向(即,y方向)形成检测器接触导电构件120。电力接收线圈130被设置为使得通过检测器入射表面110a的法线方向(y方向)的中心的磁通量Φc的取向与检测器入射表面110a的面内方向(x方向)一致,并且与朝向检测器110的方向一致。换句话说,电力接收线圈130被设置为使得生成的磁通量Φc的中心的取向与检测器入射表面110a的面内方向(x方向)一致,并且与朝向检测器110的方向一致。检测器110被包括在第二范围102中。
电力接收线圈130可以被设置在连接壳体入射表面150a和壳体后表面150b的侧表面150c内侧,可以被设置在包括侧表面150c的长度方向的中心的位置处,并且可以被设置在包括侧表面150c的宽度方向的中心的位置处。
电池基板141经由布线144与电力接收线圈130连接。电池基板141被供给从电力接收线圈130输出的电流。该电流是由感应电动势生成的,所述感应电动势是由设置在壳体150外部的电力馈送线圈202在电力接收线圈130中生成的磁通量生成的。
电池142经由布线145与电池基板141连接。电池142的电能通过流过电池基板141充电。该电流是由感应电动势生成的,所述感应电动势是由电力馈送线圈202在电力接收线圈130中生成的磁通量生成的。
控制基板143经由布线146与电池142连接,并经由布线147与光学检测单元112连接。控制基板143对经由布线146从电池142接收的电能进行操作。控制基板143经由布线146例如向检测器110(光学检测单元112)供给电能,从光学检测单元112获取图像信号,并根据需要处理图像信号以生成放射线图像。
如图1所示,壳体150是用于容纳检测器110、检测器接触导电构件120、电力接收线圈130、电池基板141、电池142、控制基板143和布线144至147的箱。
下面将描述通过电力接收线圈130的布置的电力馈送效率。
图2和图3示出了图1中所示的电力接收线圈130、检测器接触导电构件120和磁通量之间的关系。参考图2和图3,与图1中所示的配置等同的配置被赋予相同的附图标记。图2和图3示出了对应于图1中所示的xyz坐标系的xyz坐标系,并且示出了形成检测器接触导电构件120的导电构件当中的屏蔽构件122。
如果在图2中所示的屏蔽构件122中流动的涡电流I生成大的磁通量Φ,则在电力接收线圈130中流动的电流波动,从而降低了电力馈送效率。
在屏蔽构件122中生成的磁通量Φ的大小被获得。下面将参考图2和图3描述在屏蔽构件122中流动的涡流I和磁通量Φ。这同样适用于导电片121的涡流和磁通量。
磁通量Φ与距离的平方成反比。如图3所示,当在电力接收线圈130的位置处存在磁通量密度Bc时,在x方向上距电力接收线圈130距离X的位置处的磁通量密度Bcx可以由下面的公式(1)表示:
[数值表达式1]
当分解为矢量分量时,屏蔽构件122的在x方向上距电力接收线圈130距离X的位置处的磁通量密度Bs可以由下面的公式(2)表示:
[数值表达式2]
因此,当电力馈送线圈202和电力接收线圈130被设置为在x方向上彼此距离L,并且屏蔽构件122与电力馈送线圈202和电力接收线圈130被设置为在y方向上彼此距离Y时,穿过图2中所示的一边的长度为W的屏蔽构件122的磁通量Φ可以由下面的公式(3)表示:
[数值表达式3]
参考公式(3),当距离L恒定时,在屏蔽构件122中生成的磁通量Φ随着距离Y的增大而增大,从而可能降低非接触电力馈送中的电力馈送效率。
根据本示例实施例,为了减小距离Y,电力接收线圈130被设置在包括第一范围101的第二范围102中,在第一范围101中,检测器接触导电构件120被形成在检测器入射表面110a的法线方向(y方向)上,如图1所示。这使得能够防止电力馈送效率的降低。
作为主流,电力接收线圈130在磁通量Φc的方向(x方向)上被薄薄地形成为片状构件。因此,不需要在检测器110附近为电力接收线圈130提供大的空间,从而减小壳体150的尺寸。
对于根据本示例实施例的以非接触方式供给电力的成像装置100,可以在防止电力馈送效率降低的同时减小壳体150的尺寸(和重量)。
以下将以与上述第一示例实施例的不同为中心来描述第二示例实施例。将省略与第一示例实施例中的元素等同的元件的冗余描述。
图4示出了根据本公开第二示例实施例的放射线成像装置100-2的示意性配置的示例。参考图4,与图1(以及图2和图3)中所示的第一示例实施例中的元件等同的元件被赋予相同的附图标记,并且将省略其详细描述。
除了根据第一示例实施例的成像装置100-1的配置之外,根据第二示例实施例的成像装置100-2还包括屏蔽基板160。
检测器接触导电构件120等同于被设置为与检测器110接触的第一导电构件。屏蔽基板160(不与检测器110以及检测器接触导电构件120接触的导电构件)等同于第二导电构件,该第二导电构件在检测器入射表面110a的法线方向(y方向)上被形成在与检测器接触导电构件120的位置不同的位置处。更具体地,屏蔽基板160被设置在壳体150内部,在检测器入射表面110a的法线方向(y方向)上比由导电片121和屏蔽构件122形成的检测器接触导电构件120更位于壳体入射表面150a侧。屏蔽基板160被设置为检测器110中的干扰噪声措施。换句话说,屏蔽基板160是具有防止对检测器110的干扰的功能的导电构件。
在检测器入射表面110a的法线方向(y方向)上,电力接收线圈130被设置在设置检测器接触导电构件120的第一位置和设置屏蔽基板160的第二位置之间。电力接收线圈130被设置为使得通过检测器入射表面110a的法线方向(y方向)上的中心的磁通量Φc的取向与检测器入射表面110a的面内方向(x方向)一致,并且与朝向检测器110的方向一致。换句话说,电力接收线圈130被设置为使得生成的磁通量Φc的中心的取向与检测器入射表面110a的面内方向(x方向)一致,并且与朝向的面向侧表面150c的方向一致。
在电力接收线圈130中生成的磁通量将受到由两个导电构件(屏蔽基板160和检测器接触导电构件120)生成的磁通量的影响。下面描述屏蔽基板160的导电率比检测器接触导电构件120的导电率高的情况。在这种情况下,屏蔽基板160中生成的磁通量大于检测器接触导电构件120中生成的磁通量,因此与检测器接触导电构件120中的磁通量相比,电力接收线圈130中生成的磁通量将更大地受到屏蔽基板160中的磁通量的影响。
如上所述,电力接收线圈130中的磁通量受到多个导电构件(检测器接触导电构件120和屏蔽基板160)的影响。因此,当两个导电构件之间存在距离时,在检测器入射表面110a的法线方向(y方向)上,电力接收线圈130被设置在如下的位置处:与具有低导电率的检测器接触导电构件120的位置相比,该位置更靠近具有高导电率的屏蔽基板160的位置。更详细地,为了最小化到具有高导电率的屏蔽基板160的y方向距离(等同于图3中所示的距离Y的距离),电力接收线圈130的y方向位置与屏蔽基板160的y方向位置匹配。
虽然上面已经以屏蔽基板160的导电率高于检测器接触导电构件120的导电率的情况为中心描述了本示例实施例,但是本公开不限于此。检测器接触导电构件120的导电率高于屏蔽基板160的导电率的情况也适用于本公开。当采用这种形式时,与图4所示的示例对照,为了最小化到具有高导电率的检测器接触导电构件120的y方向距离,可以使电力接收线圈130的y方向位置与检测器接触导电构件120的y方向位置匹配。
根据第二示例实施例,可以在防止电力馈送效率降低的同时减小壳体150的尺寸(和重量)。
以下将以与上述第一和第二示例实施例的不同为中心来描述第三示例实施例。将省略与第一和第二示例实施例中的元件等同的元件的冗余描述。
图5示出了根据本公开第三示例实施例的放射线成像装置100-3的示意性配置的示例。参考图5,与图1(以及图2和图3)中所示的第一示例实施例中的元件等同的元件被赋予相同的附图标记,并且将省略其详细描述。
根据第三示例实施例的成像装置100-3包括根据第一示例实施例的成像装置100-1的配置,其中,电池基板141、电池142、控制基板143和布线144至147朝向壳体入射表面150a侧移动并且朝向屏蔽构件122的后表面侧偏移。
在这些基板(电池基板141和控制基板143)和电池142中流动的电流生成磁通量,从而影响电力接收线圈130的磁通量。第三示例实施例假设考虑这些基板(电池基板141和控制基板143)和电池142中的磁通量的影响来进一步防止电力馈送效率的降低。更具体地,根据图5所示的第三示例实施例,在检测器入射表面110a的法线方向(y方向)上,电力接收线圈130被设置在其中形成检测器接触导电构件120的第一范围中。电力接收线圈130也被设置在第二范围102中,该第二范围102包括其中形成电池基板141、电池142、控制基板143和布线144至147的范围。
根据第三示例实施例,可以在实现上述第一示例实施例的效果的同时进一步防止电力馈送效率的降低。
下面将描述本公开的第四示例实施例。下面将以与上述第一至第三示例实施例的不同为中心来描述第四示例实施例。将省略与第一至第三示例实施例中的元件等同的元件的冗余描述。
图6示出了根据本公开第四示例实施例的放射线成像装置100-4的示意性配置的示例。参考图6,与图4中所示的第二示例实施例中的元件等同的元件被赋予相同的附图标记,并且将省略其详细描述。
除了根据第二示例实施例的成像装置100-2的配置之外,根据第四示例实施例的成像装置100-4还包括结构170。
设置结构170以提高壳体150的刚性。结构170可以是例如厚壁结构、肋或连接到基板的布线。结构170被设置在壳体150的内部,与壳体入射表面150a连接。因此,像图4中所示的成像装置100-2一样,电力接收线圈130的y方向位置可能无法与屏蔽基板160的y方向位置匹配。
因此,在根据第四示例实施例的成像装置100-4中,电力接收线圈130被布置成使得电力接收线圈130在检测器入射表面110a的法线方向(y方向)上的中心的位置与设置检测器接触导电构件120的第一位置和设置屏蔽基板160的第二位置之间的中心的位置大致一致。在这种情况下,例如,可以将设置导电片121的位置和设置屏蔽构件122的位置之间的中心的位置作为设置检测器接触导电构件120的第一位置。
图7示出了本公开的第四示例实施例,更具体地,示出了图6中所示的电力接收线圈130、检测器接触导电构件120、屏蔽基板160和磁通量之间的关系。
在电力接收线圈130中生成的磁通量Φc的影响下,电流通过感应电动势在屏蔽基板160和检测器接触导电构件120中流动,并且例如,可以生成磁通量Φs和磁通量-Φs。在这种情况下,在屏蔽基板160中生成的磁通量和在检测器接触导电构件120中生成的磁通量具有相同的大小和相反的方向。在这种情况下,在相反方向上生成的磁通量相互影响和抵消,从而提供防止对电力接收线圈130中生成的磁通量的影响并防止电力馈送效率降低的效果。
对于根据第四示例实施例的以非接触方式电力馈送的成像装置100,像上述第二示例实施例一样,可以在防止电力馈送效率降低的同时减小壳体150的尺寸(和重量)。
以下将以与上述第一至第四示例实施例的不同为中心来描述第五示例实施例。将省略与第一至第四示例实施例中的元件等同的元件的冗余描述。
图8示出了根据本公开的第五示例实施例的放射线成像装置100-5的外部配置的示例。参考图8,与图1至图7中所示的第一至第四示例实施例中的元件等同的元件被赋予相同的附图标记,并且将省略其详细描述。放射线201从纸的下侧入射到上侧。
在壳体150中,根据第一至第四示例实施例,电力接收线圈130被设置在与检测器入射表面110a的法线方向(y方向)平行的表面151中。
在盒式成像装置100中,作为主流,考虑到操作者的可操作性,连接入射表面150a和壳体后表面150b的表面相对于壳体入射表面150a倾斜或被倒圆。当盒式成像装置100被放置在平坦表面上时,操作者可以通过把持该倾斜或倒圆部分来平稳地操作壳体150。
因此,考虑到操作者的可操作性,相对于上述法线方向(y方向)倾斜的斜面152被连接到表面151的未设置电力接收线圈130的区域151a。考虑到盒式成像装置100的重心存在于壳体150的大致中心部分中,斜面152被设置在表面151的z方向中心附近的区域151a中。这种结构使得操作者更容易把持壳体150的中心部分并因此平稳地操作成像装置100。在上述配置中,斜面152被连接到区域151a。可替代地,提供倒圆部分而不是斜面152的形式也适用于本公开。
根据第五示例实施例,可以在实现第一至第四示例实施例的效果的同时改善操作者的可操作性。
尽管已经参考示例实施例描述了本公开,但是应该理解,本发明不限于所公开的示例实施例。所附权利要求的范围应被赋予最广泛的解释,以包含所有这些修改以及等同的结构和功能。
Claims (13)
1.一种放射线成像装置,其特征在于,包括:
放射线检测器,被配置为检测入射放射线并将所述放射线转换为图像信号;
导电构件,被设置为与所述放射线检测器接触;和
电力接收线圈,与所述放射线检测器和所述导电构件一起设置在壳体内部,并且被配置为从设置在壳体外部的电力馈送线圈以非接触方式接收要被供给到所述放射线检测器的电能,
其中,所述电力接收线圈被设置在包括第一范围的第二范围中,在所述第一范围中,所述导电构件被形成在所述放射线检测器的放射线入射的入射表面的法线方向上。
2.根据权利要求1所述的放射线成像装置,其中,所述导电构件包括:
入射表面侧导电构件,被设置为与所述放射线检测器的入射表面接触;和
后侧导电构件,被设置为与所述放射线检测器的面向所述入射表面的后表面接触。
3.根据权利要求2所述的放射线成像装置,
其中,所述放射线检测器包括:
磷光体,被设置在入射表面侧,并被配置为将放射线转换为光;和
光学检测单元,被设置在后表面侧,并被配置为检测所述光并将所述光转换为图像信号,
其中,所述入射表面侧导电构件被设置为与所述磷光体接触以包括所述磷光体,并且
其中,所述后侧导电构件被设置为与所述光学检测单元接触。
4.根据权利要求1所述的放射线成像装置,其中,所述放射线检测器被包括在所述第二范围中。
5.根据权利要求1所述的放射线成像装置,其中,所述第二范围包括经由布线与所述电力接收线圈连接的电池基板。
6.根据权利要求1所述的放射线成像装置,
其中,壳体包括放射线入射的入射表面、面向所述入射表面的后表面以及连接所述入射表面和所述后表面的侧表面,并且
其中,所述电力接收线圈被设置在所述侧表面的内侧,并被设置在包括所述侧表面的在长度方向上的中心的位置处。
7.根据权利要求6所述的放射线成像装置,其中,所述电力接收线圈被设置在包括所述侧表面的在宽度方向上的中心的位置处。
8.一种放射线成像装置,其特征在于,包括:
放射线检测器,被配置为检测入射放射线并将放射线转换为图像信号;
第一导电构件,被设置为与所述放射线检测器接触;
第二导电构件,不与所述放射线检测器以及所述第一导电构件接触,在所述放射线检测器的放射线入射的入射表面的法线方向上被设置在与所述第一导电构件的位置不同的位置处;和
壳体,被配置为包括放射线检测器、第一导电构件和第二导电构件以及电力接收线圈,
其中,所述电力接收线圈从设置在所述壳体外部的电力馈送线圈以非接触方式接收要被供给到所述放射线检测器的电能,并且
其中,在所述法向方向上,所述电力接收线圈被设置在设置所述第一导电构件的第一位置和设置所述第二导电构件的第二位置之间,使得生成的磁通量的中心的取向与所述入射表面的面内方向一致。
9.根据权利要求8所述的放射线成像装置,其中,在所述第一导电构件和所述第二导电构件的导电率不同的情况下,所述电力接收线圈在所述第一导电构件和所述第二导电构件的法线方向上被设置在如下的位置处:与具有较低导电率的导电构件的位置相比,该位置更靠近具有较高导电率的导电构件的位置。
10.根据权利要求8所述的放射线成像装置,其中,在法线方向上,所述电力接收线圈的中心的位置与所述第一位置和所述第二位置之间的中心的位置大致一致。
11.根据权利要求8所述的放射线成像装置,
其中,所述壳体包括放射线入射的入射表面、面向所述入射表面的后表面以及连接所述入射表面和所述后表面的侧表面,并且
其中,所述电力接收线圈以磁通量的中心的取向与朝向第二侧表面的方向一致的方式被设置在第一侧表面的内侧的包括所述第一侧表面在长度方向上的中心的位置处,所述第二侧表面面向所述第一侧表面。
12.根据权利要求1所述的放射线成像装置,
其中,在壳体中,所述电力接收线圈被设置在与所述法线方向平行的表面中,并且
其中,相对于所述法线方向倾斜的斜面被连接到所述平行表面的没有设置电力接收线圈的区域。
13.根据权利要求1所述的放射线成像装置,其中,所生成的磁通量的中心的取向与所述入射表面的面内方向一致,并且与朝向所述放射线检测器的方向一致。
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