CN110350988B - 干扰条件下智能可穿戴设备的ota性能测试系统 - Google Patents

干扰条件下智能可穿戴设备的ota性能测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN110350988B
CN110350988B CN201910693700.6A CN201910693700A CN110350988B CN 110350988 B CN110350988 B CN 110350988B CN 201910693700 A CN201910693700 A CN 201910693700A CN 110350988 B CN110350988 B CN 110350988B
Authority
CN
China
Prior art keywords
interference
test
intelligent wearable
wearable device
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201910693700.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110350988A (zh
Inventor
陈晓晨
孙思扬
张钦娟
戴巡
吴晓昱
黄艳
曹珺飞
张运转
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Academy Of Information And Communications Technology
China Academy of Information and Communications Technology CAICT
Original Assignee
Shenzhen Academy Of Information And Communications Technology
China Academy of Information and Communications Technology CAICT
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Academy Of Information And Communications Technology, China Academy of Information and Communications Technology CAICT filed Critical Shenzhen Academy Of Information And Communications Technology
Priority to CN201910693700.6A priority Critical patent/CN110350988B/zh
Publication of CN110350988A publication Critical patent/CN110350988A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110350988B publication Critical patent/CN110350988B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/0082—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels
    • H04B17/0085—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels using test signal generators
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/0082—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels
    • H04B17/0087—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels using auxiliary channels or channel simulators
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
    • H04B17/15—Performance testing
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
    • H04B17/29—Performance testing

Abstract

本发明提供一种干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统，包括：全电波暗室、综测仪、矢量信号发生器、功率放大器、频谱分析仪、数控开关矩阵、测量天线、校准天线、转台、转台控制器和控制电脑，综测仪通过测量天线与待测智能可穿戴设备建立Wi‑Fi连接和/或蓝牙连接，通过校准天线对干扰信号进行校准，通过综测仪产生测试信号，通过矢量信号发生器产生干扰信号，在测试信号和干扰信号下，综测仪根据测试结果和校准结果确定真实电磁环境下的智能可穿戴设备的Wi‑Fi/蓝牙空间性能。该方案可以真实地模拟智能可穿戴设备的实际使用环境，衡量其在复杂电磁环境下的性能降级的影响。

Description

干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统
技术领域
本发明涉及性能测试技术领域，特别涉及一种干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统。
背景技术
智能可穿戴设备是信息技术、智能技术及装备制造技术的深度融合与集成。近年来，随着移动互联网技术的发展和高性能低功耗芯片、柔性电路板等核心硬件技术的创新应用，以及产业转型升级的深入推进，为智能可穿戴设备产业提供了重大发展机遇。国内智能可穿戴设备市场连续数年保持高速增长，产品和服务创新活跃，各种新技术、新产品、新理念、新业态不断涌现，电子、电器制造业的智能化升级趋势已经形成。
测试技术及测试平台的成熟应用标志着一项业务或产业的发展成熟。随着智能可穿戴设备的大规模应用，其在实际使用环境中的性能评估受到了日益广泛的关注。现阶段，智能可穿戴设备产品尚未列入中国强制认证目录，没有强制性认证要求，多为厂家自愿申请，缺乏有效的市场监管。此外，市场上智能可穿戴设备种类众多，应用领域广阔，技术不断更新换代，给统一行业标准和检测方案造成了严重阻碍。目前，我国智能可穿戴设备领域的标准制定还停留在探索阶段，现有的认证要求主要集中在短距离通信技术的要求之上，测试内容也是按照短距离通信技术的标准进行，没有考虑智能可穿戴设备的使用环境、自身特性及其独特的工作状态。
随着第五代移动通信技术、工业互联网技术、无线局域网技术以及物联网技术的快速发展及相关无线通信设备/产品的大规模部署及商用，无线通信设备/产品往往需要集成多种短距离无线通信技术，并且其部署密度大大增加，在有限的空间、时间和频谱资源条件下，智能可穿戴设备的电磁环境日趋恶劣，在很多情况下，即使单独测试满足指标要求的产品，在有干扰的复杂电磁环境下仍不可避免地的出现性能降级现象。在此情况下，在具有空间辐射干扰的复杂电磁环境下评估智能可穿戴设备的性能降级影响就显得尤为重要。
目前，行业内对于干扰条件下智能可穿戴设备Wi-Fi/蓝牙空间性能测试主要采用传统的基于传导的检测方式，该方式是在待测智能可穿戴设备的天线端口，使用射频线缆与待测智能可穿戴设备连接，经过校准、标定的Wi-Fi/蓝牙信号及干扰信号合路后通过射频线缆，注入待测智能可穿戴设备天线端口。通过设置不同的干扰信号数量、模式、功率、调制及编码方式的组合，形成不同的干扰场景，用于干扰场景下评估待测智能可穿戴设备性能降级影响。该方法简便易行，测试一致性好，不需要全电波暗室等复杂测试设备的投入。但是，该方法存在如下主要缺点：
1、待测智能可穿戴设备必须要有独立的天线端口，用于测试信号(Wi-Fi/蓝牙信号)及干扰信号的施加及待测智能可穿戴设备性能的测量，而该方式中待测智能可穿戴设备天线被旁路，所以没有考虑待测智能可穿戴设备天线对系统性能的影响；
3、智能可穿戴设备在实际使用中，其干扰来源于空间辐射。基于传导的测量方式直接将信号传输到智能可穿戴设备中，所以不能真实地模拟智能可穿戴设备的实际使用环境，无法真实衡量智能可穿戴设备在复杂电磁环境下的性能降级的影响。
发明内容
本发明实施例提供了一种干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统，解决了现有的传导检测方式不能真实地模拟智能可穿戴设备的实际使用环境，无法真实衡量智能可穿戴设备在复杂电磁环境下的性能降级的影响这一技术问题。
本发明实施例提供的干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统包括：全电波暗室、综测仪、矢量信号发生器、功率放大器、频谱分析仪、数控开关矩阵、测量天线、校准天线、转台、转台控制器和控制电脑；所述综测仪包括Wi-Fi综测仪和/或蓝牙综测仪；所述频谱分析仪与校准天线连接；
所述全电波暗室用于：模拟测试所需要的自由空间电磁环境；
所述综测仪通过测量天线与待测智能可穿戴设备建立Wi-Fi连接和/或蓝牙连接，用于：产生不同测试需求的测试信号，其中测试信号包括Wi-Fi信号和/或蓝牙信号；
所述矢量信号发生器用于：产生不同干扰场景下的干扰信号；
所述功率放大器与所述矢量信号发生器、所述测量天线连接，用于：调节所述干扰信号的发射功率，从而控制达到校准天线或待测智能可穿戴设备天线口面处的干扰信号功率电平；
所述测量天线用于：以空口方式发射所述测试信号及干扰信号；
所述数控开关矩阵，与所述综测仪、所述矢量信号发生器连接，用于自动切换射频通路，实现不同测试场景、不同测试需求的切换，其中所述不同测试场景包括无干扰测试场景或干扰测试场景；
在进行校准时，所述校准天线分别接收所述测试信号及干扰信号，通过所述频谱分析仪和所述校准天线对所述测试信号及所述干扰信号分别进行功率标定，获得测试信号路径损耗和干扰信号路径损耗；
所述转台，用于在进行性能测试时放置所述待测智能可穿戴设备；
所述转台控制器，与所述转台连接，用于：控制所述转台旋转，调节待测智能可穿戴设备姿态，实现对待测智能可穿戴设备的三维空间性能评估；
所述综测仪用于：基于不同测试需求的测试信号，对所述待测智能可穿戴设备的Wi-Fi和/或蓝牙空间性能进行测试，获得第一测试结果；基于不同测试需求的测试信号和不同干扰场景下的干扰信号组合，对所述待测智能可穿戴设备的Wi-Fi和/或蓝牙空间性能进行测试，获得第二测试结果；根据所述第一测试结果、第二测试结果、测试信号路径损耗和干扰信号路径损耗，确定真实电磁环境下的智能可穿戴设备的Wi-Fi/蓝牙空间性能；
控制电脑，通过控制总线与所述综测仪、矢量信号发生器、功率放大器、频谱分析仪、数控开关矩阵、转台控制器连接，用于：控制所述综测仪、矢量信号发生器、功率放大器、频谱分析仪、数控开关矩阵、转台控制器完成测试。
在本发明实施例中，在进行校准时，使用校准天线分别对测试信号及干扰信号进行功率标定，获得校准结果，然后在正式进行测试时，通过综测仪产生测试信号，通过矢量信号发生器产生干扰信号，通过测量天线以空口方式发射测试信号及干扰信号组合，综测仪根据测试结果和校准结果确定真实电磁环境下的智能可穿戴设备的Wi-Fi/蓝牙空间性能。与现有的传导检测方式相比，本发明没有旁路待测智能可穿戴设备天线，考虑了待测智能可穿戴设备天线对系统性能的影响；不是直接将信号传输到智能可穿戴设备中，而是通过测量天线以空口方式发射测试信号及干扰信号，这样能真实地模拟智能可穿戴设备的实际使用环境，真实衡量智能可穿戴设备在复杂电磁环境下的性能降级的影响。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统结构框图(一)；
图2是本发明实施例提供的一种干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统结构框图(二)。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
技术术语解释：
空口：移动通信中空中接口(OTA，over the air)。具体来说，空口是基站和移动电话之间的无线传输规范，定义每个无线信道的使用频率、带宽、接入时机、编码方法以及越区切换。影响空口时延的主要因素是数据传输时长、数据传输资源请求等待时间，以及数据处理导致的反馈延时等。降低空口时延，可以提升移动通信系统的性能。
为了解决现有的传导检测方式不能真实地模拟智能可穿戴设备的实际使用环境，无法真实衡量智能可穿戴设备在复杂电磁环境下的性能降级的影响这一技术问题，本发明提出了一种干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统，如图1所示，该系统包括：全电波暗室1、综测仪2、矢量信号发生器3、功率放大器4、频谱分析仪5、数控开关矩阵6、测量天线7、校准天线8、转台9、转台控制器10和控制电脑11，其中，综测仪2包括Wi-Fi综测仪21和/或蓝牙综测仪22；所述综测仪2通过测量天线7与待测智能可穿戴设备建立Wi-Fi连接和/或蓝牙连接；所述频谱分析仪5与校准天线8连接；
所述全电波暗室1用于：模拟测试所需要的自由空间电磁环境；
在进行正式测量时，所述综测仪2通过测量天线7与待测智能可穿戴设备建立Wi-Fi连接和/或蓝牙连接，用于：产生不同测试需求的测试信号，其中测试信号包括Wi-Fi信号和/或蓝牙信号；
所述矢量信号发生器3用于：产生不同干扰场景下的干扰信号，可以根据用户需求设置干扰信号的数量、频率、功率、调制类型、调制带宽以及基带编码类型，从而产生不同干扰场景下的干扰信号。
所述功率放大器4，与所述矢量信号发生器3、所述测量天线7连接，用于：调节所述干扰信号的发射功率，从而控制到达校准天线8或待测智能可穿戴设备天线口面处的干扰信号功率电平。
数控开关矩阵6，与所述综测仪2、所述矢量信号发生器3连接，其为多通道高隔离度数控开关矩阵，用于自动切换射频通路，实现不同测试场景、不同测试需求的切换，其中所述不同测试场景包括无干扰测试场景或干扰测试场景。
所述测量天线7用于：以空口方式发射所述测试信号及干扰信号；
在进行校准时，所述校准天线8分别接收所述测试信号及干扰信号，通过所述频谱分析仪5和所述校准天线8对所述测试信号及所述干扰信号分别进行功率标定，获得测试信号路径损耗和干扰信号路径损耗。
所述转台9，用于在进行性能测试时放置所述待测智能可穿戴设备。在进行校准时放置校准天线8。
所述转台控制器10，与所述转台9连接，用于：控制所述转台9旋转，调节待测智能可穿戴设备姿态，实现对待测智能可穿戴设备的三维空间性能评估；在放置校准天线8时，调节校准天线8姿态，实现二维空间校准。
所述综测仪2用于：基于不同测试需求的测试信号，对所述待测智能可穿戴设备的Wi-Fi和/或蓝牙空间性能进行测试，获得第一测试结果；基于不同测试需求的测试信号和不同干扰场景下的干扰信号组合，对所述待测智能可穿戴设备的Wi-Fi和/或蓝牙空间性能进行测试，获得第二测试结果；根据所述第一测试结果、第二测试结果、测试信号路径损耗和干扰信号路径损耗，确定真实电磁环境下的智能可穿戴设备的Wi-Fi/蓝牙空间性能。其中，所述第一测试结果和所述第二测试结果包括不同数据速率的灵敏度和/或误码率。
控制电脑11，通过控制总线与综测仪2、矢量信号发生器3、功率放大器4、频谱分析仪5、射频信号记录仪12、数控开关矩阵6、转台控制器10连接，控制综测仪2、矢量信号发生器3、功率放大器4、频谱分析仪5、射频信号记录仪12、数控开关矩阵6、转台控制器10完成测试。
在本发明实施例中，如图2所示，该性能测试系统还包括：射频信号记录仪12，与所述矢量信号发生器3连接；
所述射频信号记录仪12用于：可以根据用户需求完成对不同干扰场景对应的真实电磁环境进行记录、存储及回放，满足在真实电磁环境下对被测设备进行性能降级影响的评估。也就是说，当有些电磁环境无法使用上述暗室、综测仪、矢量信号发生器模拟时，可以通过射频信号记录仪记录并回放来模拟。
在本发明实施例中，干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统具体按照如下流程实现测试。
a)对干扰信号进行精确功率标定：
在进行干扰条件下智能可穿戴设备WiFi/蓝牙吞吐量测试之前，首先需要对干扰信号功率进行精确标定。
使用全向标准增益天线作为校准天线对空间中的干扰信号进行功率标定。矢量信号发生器输出的干扰信号经功率放大器放大后通过测量天线发射出去，校准天线对准测量天线测量接收到的干扰信号功率。需要注意的是，在进行干扰功率标定时，必须将校准天线增益及测试线缆损耗计算在内。
到达校准天线口面功率＝频谱仪功率读数(dBm)+线缆衰减-校准天线增益；
干扰信号路径损耗＝矢量信号发生器读数(dBm)+功率放大器增益-到达校准天线口面功率；
也即在进行正式测试时，根据矢量信号发生器的读数(dBm)加上功率放大器增益再减去不同频段的干扰信号路径损耗，即为待测智能可穿戴设备处的干扰信号功率。
其中，频谱仪功率读数(dBm)也就是放大后的干扰信号的输出功率，矢量信号发生器读数(dBm)即放大前的干扰信号的输出功率。
当然，也会对综测仪产生的测试信号进行校准，校准方法为现有已知方法，在此不做介绍。
另外，将校准天线放置在转台上，通过转台控制器控制转台在二维方向转动，实现二维方向上的信号校准。
下面是正式进入测试阶段。
b)关闭干扰源(即矢量信号发生器)，并进行待测设备布置摆放；
c)通过综测仪产生测试信号，测试待测智能可穿戴设备在无干扰、WiFi信号连接条件下不同数据速率(data rate)的灵敏度，包括水平极化和垂直极化的测试；
d)开启干扰源，按照测试要求设置干扰场景。测试待测智能可穿戴设备在WiFi信号连接的特定干扰场景下不同数据速率(data rate)的灵敏度，包括水平极化和垂直极化的测试；
e)关闭干扰源，测试待测智能可穿戴设备在蓝牙信号连接条件下不同数据速率(data rate)的灵敏度，包括水平极化和垂直极化的测试；
f)开启干扰源，按照测试要求设置干扰场景。测试待测智能可穿戴设备在蓝牙信号连接的特定干扰场景下不同数据速率(data rate)的灵敏度，包括水平极化和垂直极化的测试；
g)数据(上述a)、c)-f)中获得的各种数据)处理，评估智能可穿戴设备在真实电磁环境下(干扰场景)的性能降级的影响。
测试过程中将待测智能可穿戴设备放在转台上，通过转台控制器控制转台在三维方向上旋转，实现对待测智能可穿戴设备的三维空间性能评估。
综上所述，本发明提出的干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统具有如下优点：
1)测试信号(WiFi/蓝牙信号)及干扰信号合路后通过空口(测量天线)施加，取代了传统的基于传导的测试方法；
2)提出了基于矢量信号发生器、功率放大器、频谱分析仪的干扰信号产生方法。可以根据用户需求设置干扰信号的数量、频率、功率、调制类型、调制带宽以及基带编码类型，干扰信号的数量、频率、功率、调制类型、调制带宽以及基带编码类型也可以随时间变化；
3)通过射频信号记录仪可以根据用户需求回放记录及存储的外场或现场的电磁环境信号，在真实电磁环境下对被测设备进行性能降级影响的评估。
4)使用全向标准增益天线作为校准天线，与频谱分析仪组合，完成干扰信号功率校准。
综上所述，本发明大大扩展了干扰场景范围及系统测试能力。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明实施例可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统，其特征在于，包括：全电波暗室、综测仪、矢量信号发生器、功率放大器、频谱分析仪、数控开关矩阵、测量天线、校准天线、转台、转台控制器、射频信号记录仪和控制电脑；所述综测仪包括Wi-Fi综测仪和/或蓝牙综测仪；所述频谱分析仪与校准天线连接；
所述全电波暗室用于：模拟测试所需要的自由空间电磁环境；
所述综测仪通过测量天线与待测智能可穿戴设备建立Wi-Fi连接和/或蓝牙连接，用于：产生不同测试需求的测试信号，其中测试信号包括Wi-Fi信号和/或蓝牙信号；
所述矢量信号发生器用于：产生不同干扰场景下的干扰信号；
所述功率放大器与所述矢量信号发生器、所述测量天线连接，用于：调节所述干扰信号的发射功率，从而控制到达校准天线或待测智能可穿戴设备天线口面处的干扰信号功率电平；
所述测量天线用于：以空口方式发射所述测试信号及干扰信号；
所述数控开关矩阵，与所述综测仪、所述矢量信号发生器连接，用于自动切换射频通路，实现不同测试场景、不同测试需求的切换，其中所述不同测试场景包括无干扰测试场景或干扰测试场景；
在进行校准时，所述校准天线分别接收所述测试信号及干扰信号，通过所述频谱分析仪和所述校准天线对所述测试信号及所述干扰信号分别进行功率标定，获得测试信号路径损耗和干扰信号路径损耗；
所述转台，用于在进行测试时放置所述待测智能可穿戴设备；
所述转台控制器，与所述转台连接，用于：控制所述转台旋转，调节待测智能可穿戴设备姿态，实现对待测智能可穿戴设备的三维空间性能评估；
所述综测仪用于：基于不同测试需求的测试信号，对所述待测智能可穿戴设备的Wi-Fi和/或蓝牙空间性能进行测试，获得第一测试结果；基于不同测试需求的测试信号和不同干扰场景下的干扰信号组合，对所述待测智能可穿戴设备的Wi-Fi和/或蓝牙空间性能进行测试，获得第二测试结果；根据所述第一测试结果、第二测试结果、测试信号路径损耗和干扰信号路径损耗，确定真实电磁环境下的智能可穿戴设备的Wi-Fi/蓝牙空间性能；
控制电脑，通过控制总线与所述综测仪、矢量信号发生器、功率放大器、频谱分析仪、数控开关矩阵、转台控制器连接，用于：控制所述综测仪、矢量信号发生器、功率放大器、频谱分析仪、数控开关矩阵、转台控制器完成测试；
射频信号记录仪与所述矢量信号发生器连接；
所述射频信号记录仪用于：对不同干扰场景对应的真实电磁环境进行记录、存储及回放；
干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统具体按照如下流程实现测试：
a）对干扰信号进行精确功率标定；
在进行干扰条件下智能可穿戴设备WiFi/蓝牙吞吐量测试之前，首先需要对干扰信号功率进行精确标定；
b）关闭干扰源，即矢量信号发生器，并进行待测设备布置摆放；
c）通过综测仪产生测试信号，测试待测智能可穿戴设备在WiFi信号连接的无干扰条件下不同数据速率的灵敏度，包括水平极化和垂直极化的测试；
d）开启干扰源，按照测试要求设置干扰场景，测试待测智能可穿戴设备在WiFi信号连接的特定干扰场景下不同数据速率的灵敏度，包括水平极化和垂直极化的测试；
e）关闭干扰源，测试待测智能可穿戴设备在蓝牙信号连接条件下不同数据速率的灵敏度，包括水平极化和垂直极化的测试；
f）开启干扰源，按照测试要求设置干扰场景，测试待测智能可穿戴设备在蓝牙信号连接的特定干扰场景下不同数据速率的灵敏度，包括水平极化和垂直极化的测试；
g）对上述a）、c）-f）中获得的各种数据进行处理，评估智能可穿戴设备在真实电磁环境下的性能降级的影响。
2.如权利要求1所述的干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统，其特征在于，所述频谱分析仪和所述校准天线具体用于：
按照如下形式对所述干扰信号进行功率标定，确定干扰信号的功率：
到达校准天线口面功率=频谱分析仪功率读数+线缆衰减-校准天线增益；
干扰信号路径损耗=矢量信号发生器读数+功率放大器增益-到达校准天线口面功率。
3.如权利要求1所述的干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统，其特征在于，所述矢量信号发生器具体用于：
通过设置干扰信号的数量、频率、功率、调制类型、调制带宽以及基带编码类型，产生不同干扰场景下的干扰信号。
4.如权利要求1所述的干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统，其特征在于，所述第一测试结果和所述第二测试结果包括不同数据速率的灵敏度和/或误码率。
CN201910693700.6A 2019-07-30 2019-07-30 干扰条件下智能可穿戴设备的ota性能测试系统 Active CN110350988B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910693700.6A CN110350988B (zh) 2019-07-30 2019-07-30 干扰条件下智能可穿戴设备的ota性能测试系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910693700.6A CN110350988B (zh) 2019-07-30 2019-07-30 干扰条件下智能可穿戴设备的ota性能测试系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110350988A CN110350988A (zh) 2019-10-18
CN110350988B true CN110350988B (zh) 2022-02-25

Family

ID=68180614

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910693700.6A Active CN110350988B (zh) 2019-07-30 2019-07-30 干扰条件下智能可穿戴设备的ota性能测试系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110350988B (zh)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112448775B (zh) * 2019-08-30 2022-04-08 北京小米移动软件有限公司 蓝牙辐射性能测试方法、装置及存储介质
CN111010244B (zh) * 2019-12-17 2021-12-07 北京必创科技股份有限公司 无线传感器测试系统和方法
CN111919469B (zh) * 2020-02-27 2023-07-25 北京小米移动软件有限公司 信号测量方法、装置、通信设备及存储介质
CN111865449B (zh) * 2020-07-20 2023-03-31 深圳市思讯通信技术有限公司 蓝牙音频设备全向连接性能测试方法
CN111999689B (zh) * 2020-08-20 2023-03-21 中国信息通信研究院 一种电磁辐射分析仪计量评测的装置、方法及应用
CN112600727A (zh) * 2020-12-04 2021-04-02 东莞市巴能检测技术有限公司 WiFi吞吐量测试方法、装置、系统、计算机设备和存储介质
CN113702720B (zh) * 2021-08-31 2023-10-31 深圳信息通信研究院 一种多检波方式辐射杂散测试方法及检测系统
CN114205859B (zh) * 2021-12-30 2022-10-21 苏州熠品质量技术服务有限公司 一种无线通信性能多指标测试系统
CN115297502A (zh) * 2022-07-13 2022-11-04 深圳百讴声学技术有限公司 无线传输信号抗干扰测试设备及方法
CN115623528B (zh) * 2022-08-31 2023-10-20 荣耀终端有限公司 蓝牙性能测试的方法及相关设备
CN116032388B (zh) * 2023-03-23 2023-07-18 珠海市杰理科技股份有限公司 芯片灵敏度测试方法、系统、装置、计算机设备和介质

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102684800A (zh) * 2012-03-16 2012-09-19 中兴通讯股份有限公司 有源天线系统下行、上行无线指标的测试方法及装置
CN103414526A (zh) * 2013-07-24 2013-11-27 福建星网锐捷通讯股份有限公司 一种无线射频指标的测试系统和测试方法
CN105223435A (zh) * 2015-08-31 2016-01-06 北京航天长征飞行器研究所 一种弹载抗干扰天线自动测试系统及测试方法
CN107359944A (zh) * 2017-08-28 2017-11-17 中国信息通信研究院 蓝牙设备射频测试系统
CN107809288A (zh) * 2017-10-30 2018-03-16 深圳无线电检测技术研究院 一种无线干扰测试方法和系统
CN207283563U (zh) * 2017-08-28 2018-04-27 中国信息通信研究院 蓝牙设备射频测试系统

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6968167B1 (en) * 1999-10-21 2005-11-22 Broadcom Corporation Adaptive radio transceiver with calibration

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102684800A (zh) * 2012-03-16 2012-09-19 中兴通讯股份有限公司 有源天线系统下行、上行无线指标的测试方法及装置
CN103414526A (zh) * 2013-07-24 2013-11-27 福建星网锐捷通讯股份有限公司 一种无线射频指标的测试系统和测试方法
CN105223435A (zh) * 2015-08-31 2016-01-06 北京航天长征飞行器研究所 一种弹载抗干扰天线自动测试系统及测试方法
CN107359944A (zh) * 2017-08-28 2017-11-17 中国信息通信研究院 蓝牙设备射频测试系统
CN207283563U (zh) * 2017-08-28 2018-04-27 中国信息通信研究院 蓝牙设备射频测试系统
CN107809288A (zh) * 2017-10-30 2018-03-16 深圳无线电检测技术研究院 一种无线干扰测试方法和系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN110350988A (zh) 2019-10-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110350988B (zh) 干扰条件下智能可穿戴设备的ota性能测试系统
JP6886984B2 (ja) Ｍｉｍｏ無線端末の無線性能試験方法
CN107800495B (zh) 用于多入多出无线链路的无线电信道仿真的系统和方法
KR101136671B1 (ko) 무선 디바이스의 방사 성능을 결정하기 위한 방법 및 장치
KR100995781B1 (ko) 무선 디바이스의 방사 성능을 결정하는 시스템, 방법 및장치
CN107566053A (zh) 射频指标的测试方法、系统及计算机可读存储介质
US20130027256A1 (en) Method and system for testing over-the-air (ota) performance in multi-antenna system
CN108541010B (zh) 一种多模通信系统模拟外场测试方法
KR20210093346A (ko) 무선 단말의 무선 성능을 테스트하는 방법 및 시스템
CN107547144A (zh) 射频测试系统
CN112821965A (zh) 一种wifi射频测试系统及方法
US20120041745A1 (en) Playback pipeline for testing wireless devices
US8976889B2 (en) Wireless wide area network test method and test system
EP3503438B1 (en) Test arrangement and test method
Cammin et al. Test method for narrowband F/TDMA-based wireless sensor/actuator networks including radio channel emulation in severe multipath environments
Li et al. Total isotropic sensitivity measurement in switched beam antenna systems
CN116232494A (zh) 多天线终端的性能测试方法及装置
Gao et al. Over-the-air testing for carrier aggregation enabled MIMO terminals using radiated two-stage method
TW202315351A (zh) 校準測試環境的方法及其系統
Liu et al. Fast band-sweep total isotropic sensitivity measurement
Qiao et al. Study of channel model validation in millimeter wave mimo ota test
CN112929102B (zh) Mimo无线终端射频性能诊断方法、装置及相关设备
Loh et al. Recent Activities of a European Union Joint Research Project on Metrology for Emerging Wireless Standards
Eichler et al. Novel Testing Metrics
Foegelle et al. Determining radiated performance of mobile WiMAX devices

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant