CN110346681A - 一种usb接口和数据线综合测试系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种USB接口和数据线综合测试系统及方法，它包括测试仪器、测试机箱和存储显示设备；所述测试仪器用于测试USB接口和数据线的绝缘耐压、USB接口的电子负载以及USB数据线的是否为良品；所述测试机箱用于安装连接USB接口和USB数据线，并与所述测试仪器实现电连接，形成连接通路；所述存储显示设备用于显示所述测试仪器对所有USB接口和数据线的测试结果，并对测试结果进行存储。通过选用继电器开关，可以高速切换通路，提高测试效率；通过继电器开关连接控制多路USB接口，实现多线程测试，进一步地提高整体的测试效率；能够实现一次连线，多次测量，减少接插件的损耗；一键自动化测试，把人工从高重复性的任务中解放出来。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试系统及方法，尤其涉及一种USB接口和数据线综合测试系统及方法。
背景技术
USB通用串行总线(英语：Universal Serial Bus，缩写：USB)是连接计算机系统与外部设备的一种串口总线标准，也是一种输入输出接口的技术规范，被广泛地应用于个人电脑和移动设备等信息通讯产品，并扩展至摄影器材、数字电视(机顶盒)、游戏机等其它相关领域。
因为USB接口线应用的领域非常广泛，所以对于USB接口线的检测测试就显得非常重要；现有的USB数据线通常由两部分组成，一部分是USB头，另一部分是数据线，USB头与数据线电连接，；对于USB头在生产完成后需要对其进行导通测试，以防止生产好的USB头无法导通；而目前对USB接口线的测试都是通过人工测试，一次连线测试一次，整体的测试效率不仅低、测试速度慢，也存在误检的情况，而且，每测试一次就连线一次，多次测试多次连线也会更容易导致接插件损耗。因此，如何提高USB接口线的测试效率和防止接插件损耗时现阶段需要解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种USB接口和数据线综合测试系统及方法，解决了现有测试系统和测试方法存在的缺陷。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种USB接口和数据线综合测试系统，它包括测试仪器、测试机箱和存储显示设备；
所述测试仪器用于测试USB接口和数据线的绝缘耐压、USB接口的电子负载以及USB数据线的是否为良品；
所述测试机箱用于安装连接USB接口和USB数据线，并与所述测试仪器实现电连接，形成连接通路；
所述存储显示设备用于显示所述测试仪器对所有USB接口和数据线的测试结果，并对测试结果进行存储。
所述测试仪器包括线材综合测试仪、电子负载测试仪和绝缘耐压测试仪；所述线材综合测试仪用于测试USB数据线的导通性；所述电子负载测试仪用于测试USB接口的电子负载能力；所述绝缘耐压测试仪用于测试USB接口和数据线的绝缘耐压性。
所述测试机箱的上盖上设置有USB接口固定块，所述测试机箱内部设置有继电器和控制板；所述控制板与所述继电器控制连接。
所述测试机箱的上盖上设置有多排USB接口固定块，每排USB接口固定块上有多路USB接口；每路USB接口依次包括有type-USB接口、USB接口、micro-USB接口和micro-USB母头接口。所有接口皆与所述继电器连接，形成测试通路。
所述测试机箱的上盖上设置有多排测试线路；每排测试线路均包括多个USB测试线和测试插座，且每个USB测试线旁边均设置有一个测试插座，所述USB测试线和测试插座皆与所述继电器连接，形成测试通路。
一种USB接口和数据线综合测试方法，所述测试方法包括以下内容：
将待测件插入到测试机箱上；
通过继电器开关连接某一条测试通路导通；
判断待测件是否测试正常；
根据判断结果分别进行不同的操作；
切换继电器开关通路重复上述步骤，直到所有待测件测试完毕。
所述将待测件插入到测试机箱上包括将USB数据线插入到测试机箱上进行线材是否为良品的测试，以及将USB接口和数据线插入到测试机箱上进行电子负载和绝缘耐压测试。
在进行线材是否为良品的测试时所述判断待测件是否测试正常的步骤如下：
判断USB数据线的芯线直流阻抗、DC高压绝缘和AC漏电流的测试值是否在规格值范围内；
如果芯线直流阻抗、DC高压绝缘和AC漏电流的测试值都在规格值范围内，则说明为良品；
如果芯线直流阻抗、DC高压绝缘和AC漏电流的测试值有任一个不在规格值范围内，则说明为不良品。
在进行电子负压的测试时所述判断待测件是否测试正常的步骤如下：
调节电子负载，测量电源的输出电压，确认电源输出的空载/负载电压是否在规格值范围内，且在检验距离30cm内听是否有噪音；
如果电源输出的空载/负载电压在规格值范围内，且在检验距离30cm内听没有噪音，则测试正常；
如果电源输出的空载/负载电压在规格值不在范围内，和/或在检验距离30cm内听有噪音，则测试不正常。
在进行绝缘耐压的测试时所述判断待测件是否测试正常的步骤如下：
对输入对输出进行1分钟内交流输入对直流输出间的50Hz、3000V交流电压的承受测试；
对输入对外壳进行1分钟内交流输入对直流输出间进行50Hz、3000V交流电压的承受测试；
对绝缘材料进行1分钟内交流输入对直流输出间的50Hz、1500V交流电压的承受测试；
对双重绝缘材料进行1分钟内交流输入对直流输出间的50Hz、3000V交流电压的承受测试；
对上述所有测试判断漏电流是否≤10mA，且无击穿、飞弧和放电现象，如果有，则测试不正常，如果没有，则测试正常。
本发明的有益效果是：一种USB接口和数据线综合测试系统及方法，通过选用继电器开关，可以高速切换通路，提高测试效率；通过继电器开关连接控制多路USB接口，实现多线程测试，进一步地提高整体的测试效率；能够实现一次连线，多次测量，减少接插件的损耗；一键自动化测试，把人工从高重复性的任务中解放出来。
附图说明
图1为线材综合测试的测试机箱结构示意图；
图2为电子负载和绝缘耐压测试的测试机箱的结构示意图；
图3为方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案，但本发明的保护范围不局限于以下所述。
一种USB接口和数据线综合测试系统，它包括测试仪器、测试机箱和存储显示设备；
所述测试仪器用于测试USB接口和数据线的绝缘耐压、USB接口的电子负载以及USB数据线的是否为良品；
所述测试机箱用于安装连接USB接口和USB数据线，并与所述测试仪器实现电连接，形成连接通路；
所述存储显示设备用于显示所述测试仪器对所有USB接口和数据线的测试结果，并对测试结果进行存储。
进一步地，存储显示设备可以为电脑，或者任何具备显示、存储和控制功能的终端设备。
所述测试仪器包括线材综合测试仪、电子负载测试仪和绝缘耐压测试仪；所述线材综合测试仪用于测试USB数据线的导通性；所述电子负载测试仪用于测试USB接口的电子负载能力；所述绝缘耐压测试仪用于测试USB接口和数据线的绝缘耐压性。
如图1所示，所述测试机箱的上盖上设置有USB接口固定块，所述测试机箱内部设置有继电器和控制板；所述控制板与所述继电器控制连接。
所述测试机箱的上盖上设置有多排USB接口固定块，每排USB接口固定块上有多路USB接口；每路USB接口依次包括有type-USB接口、USB接口、micro-USB接口和micro-USB母头接口。所有接口皆与所述继电器连接，形成测试通路；其主要用于USB数据线是否为良品的线材综合测试。
如图2所示，所述测试机箱的上盖上设置有多排测试线路；每排测试线路均包括多个USB测试线和测试插座，且每个USB测试线旁边均设置有一个测试插座，所述USB测试线和测试插座皆与所述继电器连接，形成测试通路，其主要用于USB接口和USB数据线的电子负载和绝缘耐压测试。
进一步地，试机箱的一侧设置有用于机箱内部散热的风扇。
进一步地，因为增加了USB接口的测试线程，使得整个设备的测试效率提高，使得设备内部的电子元件运行和负载增加，进而导致设备内部产生的热量增加；因此，需要在测试机箱的一侧或者两侧设置通风的风扇才能将机箱内部的热量散发出去，实现降低机箱内部的热量，防止机箱内部电子元件因为温度过高而损坏。
上盖和测试机箱上安装有用于将上盖固定在测试机箱上的锁紧组件；测试机箱上安装有用于抓提的把手。
锁紧组件包括锁紧卡扣和锁紧本体，锁紧卡扣固定在所述上盖上，锁紧本体固定在所述测试机箱上，且锁紧本体固定在锁紧卡扣正下方处。
进一步地，锁紧卡扣设置在上盖的两侧，锁紧本体设置在测试机箱的两侧，且设置锁紧卡扣的数量和锁紧本体的数量一样，每个锁紧本体都位于一个锁紧卡扣的正下方且刚好使得锁紧卡扣能够与锁紧本体扣接的位置处；锁紧卡扣位于上盖两侧的个数和锁紧本体位于测试机箱两侧的个数可以为一个或者多个。
把手有三个，其中两个安装在所述测试机箱的两侧，最后一个案子在所述上盖上。
进一步地，通过在测试机箱的两侧设置把手，方便对整个测试设备的搬运和移动，在上盖的前端设置把手方便打开上盖检查内部的电子元器件；而在两侧设置锁紧卡扣和锁紧本体，通过将锁紧卡扣扣接在锁紧本体上，能够将上盖固定在测试机箱上防止上盖上的USB接口固定块摆动。
上盖上设置有指示灯、启动电源和电源开关；控制板与指示灯、启动电源和电源开关控制连接。
进一步地，通过在上盖上设置指示灯、启动电源和电源开关，能够及时知晓设备的测试状态。
如图3所示，一种USB接口和数据线综合测试方法，所述测试方法包括以下内容：
S1、将待测件插入到测试机箱上；
S2、通过继电器开关连接某一条测试通路导通；
S3、判断待测件是否测试正常；
S4、根据判断结果分别进行不同的操作；
S5、切换继电器开关通路重复上述步骤，直到所有待测件测试完毕。
所述将待测件插入到测试机箱上包括将USB数据线插入到测试机箱上进行线材是否为良品的测试，以及将USB接口和数据线插入到测试机箱上进行电子负载和绝缘耐压测试。
在进行线材是否为良品的测试时所述判断待测件是否测试正常的步骤如下：
判断USB数据线的芯线直流阻抗、DC高压绝缘和AC漏电流的测试值是否在规格值范围内；
如果芯线直流阻抗、DC高压绝缘和AC漏电流的测试值都在规格值范围内，则说明为良品；
如果芯线直流阻抗、DC高压绝缘和AC漏电流的测试值有任一个不在规格值范围内，则说明为不良品。
进一步地，规格值为产品规格书中规定的值。
在进行电子负压的测试时所述判断待测件是否测试正常的步骤如下：
调节电子负载，测量电源的输出电压，确认电源输出的空载/负载电压是否在规格值范围内，且在检验距离30cm内听是否有噪音；
如果电源输出的空载/负载电压在规格值范围内，且在检验距离30cm内听没有噪音，则测试正常；
如果电源输出的空载/负载电压在规格值不在范围内，和/或在检验距离30cm内听有噪音，则测试不正常。
在进行绝缘耐压的测试时所述判断待测件是否测试正常的步骤如下：
对输入对输出进行1分钟内交流输入对直流输出间的50Hz、3000V交流电压的承受测试；
对输入对外壳进行1分钟内交流输入对直流输出间进行50Hz、3000V交流电压的承受测试；
对其他基本绝缘/附加绝缘材料进行1分钟内交流输入对直流输出间的50Hz、1500V交流电压的承受测试；
对其他加强绝缘/双重绝缘材料进行1分钟内交流输入对直流输出间的50Hz、3000V交流电压的承受测试；
对上述所有测试判断漏电流是否≤10mA，且无击穿、飞弧和放电现象，如果有，则测试不正常，如果没有，则测试正常。
进一步地，根据判断结果分别进行不同的操作包括如果测试结果正常，则将测试数据保存到数据库或者存储设备中，如果测试结果不正常，则显示测试异常并且指示灯闪烁，并进行重新测试或者记录异常状态和结果。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种USB接口和数据线综合测试系统，其特征在于：它包括测试仪器、测试机箱和存储显示设备；
所述测试仪器用于测试USB接口和数据线的绝缘耐压、USB接口的电子负载以及USB数据线的是否为良品；
所述测试机箱用于安装连接USB接口和USB数据线，并与所述测试仪器实现电连接，形成连接通路；
所述存储显示设备用于显示所述测试仪器对所有USB接口和数据线的测试结果，并对测试结果进行存储。
2.根据权利要求1所述的一种USB接口和数据线综合测试系统，其特征在于：所述测试仪器包括线材综合测试仪、电子负载测试仪和绝缘耐压测试仪；所述线材综合测试仪用于测试USB数据线的导通性；所述电子负载测试仪用于测试USB接口的电子负载能力；所述绝缘耐压测试仪用于测试USB接口和数据线的绝缘耐压性。
3.根据权利要求2所述的一种USB接口和数据线综合测试系统，其特征在于：所述测试机箱的上盖上设置有USB接口固定块，所述测试机箱内部设置有继电器和控制板；所述控制板与所述继电器控制连接。
4.根据权利要求3所述的一种USB接口和数据线综合测试系统，其特征在于：所述测试机箱的上盖上设置有多排USB接口固定块，每排USB接口固定块上有多路USB接口；每路USB接口依次包括有type-USB接口、USB接口、micro-USB接口和micro-USB母头接口。所有接口皆与所述继电器连接，形成测试通路。
5.根据权利要求3所述的一种USB接口和数据线综合测试系统，其特征在于：所述测试机箱的上盖上设置有多排测试线路；每排测试线路均包括多个USB测试线和测试插座，且每个USB测试线旁边均设置有一个测试插座，所述USB测试线和测试插座皆与所述继电器连接，形成测试通路。
6.一种USB接口和数据线综合测试方法，其特征在于：所述测试方法包括以下内容：
将待测件插入到测试机箱上；
通过继电器开关连接某一条测试通路导通；
判断待测件是否测试正常；
根据判断结果分别进行不同的操作；
切换继电器开关通路重复上述步骤，直到所有待测件测试完毕。
7.根据权利要求6所述的一种USB接口和数据线综合测试方法，其特征在于：所述将待测件插入到测试机箱上包括将USB数据线插入到测试机箱上进行线材是否为良品的测试，以及将USB接口和数据线插入到测试机箱上进行电子负载和绝缘耐压测试。
8.根据权利要求7所述的一种USB接口和数据线综合测试方法，其特征在于：在进行线材是否为良品的测试时所述判断待测件是否测试正常的步骤如下：
判断USB数据线的芯线直流阻抗、DC高压绝缘和AC漏电流的测试值是否在规格值范围内；
如果芯线直流阻抗、DC高压绝缘和AC漏电流的测试值都在规格值范围内，则说明为良品；
如果芯线直流阻抗、DC高压绝缘和AC漏电流的测试值有任一个不在规格值范围内，则说明为不良品。
9.根据权利要求7所述的一种USB接口和数据线综合测试方法，其特征在于：在进行电子负压的测试时所述判断待测件是否测试正常的步骤如下：
调节电子负载，测量电源的输出电压，确认电源输出的空载/负载电压是否在规格值范围内，且在检验距离30cm内听是否有噪音；
如果电源输出的空载/负载电压在规格值范围内，且在检验距离30cm内听没有噪音，则测试正常；
如果电源输出的空载/负载电压在规格值不在范围内，和/或在检验距离30cm内听有噪音，则测试不正常。
10.根据权利要求7所述的一种USB接口和数据线综合测试方法，其特征在于：在进行绝缘耐压的测试时所述判断待测件是否测试正常的步骤如下：
对输入对输出进行1分钟内交流输入对直流输出间的50Hz、3000V交流电压的承受测试；
对输入对外壳进行1分钟内交流输入对直流输出间进行50Hz、3000V交流电压的承受测试；
对绝缘材料进行1分钟内交流输入对直流输出间的50Hz、1500V交流电压的承受测试；
对双重绝缘材料进行1分钟内交流输入对直流输出间的50Hz、3000V交流电压的承受测试；
对上述所有测试判断漏电流是否≤10mA，且无击穿、飞弧和放电现象，如果有，则测试不正常，如果没有，则测试正常。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CP03 | Change of name, title or address |
Address after: Room 507, floor 5, block B, building 3, No. 200, Tianfu Fifth Street, Chengdu hi tech Zone, China (Sichuan) pilot Free Trade Zone, Chengdu, Sichuan 610000 Patentee after: Zhongke Tianheng (Chengdu) Technology Co.,Ltd. Address before: No.200 Tianquan Road, high tech Zone (West District), Chengdu, Sichuan 610000 Patentee before: Chengdu Tianheng Instrument Equipment Co.,Ltd. |
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| CP03 | Change of name, title or address |