CN110324539A - 一种红外成像器调轴装置及其使用方法 - Google Patents

一种红外成像器调轴装置及其使用方法 Download PDF

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谭华竹
温焱
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Abstract

本发明公开了一种红外成像器调轴装置,其包括:红外透射式光学透镜(1)、法兰(2)、J‑T探测器(3)、调轴装置(4)。调轴装置(4)由固定装置(5)、横向螺旋测微仪(6)和纵向螺旋测微仪(7)组成。本装置利用横向螺旋测微仪(6)和纵向螺旋测微仪(7)的精确调整距离,调整光轴微小位移,从而提高红外导引头光轴调试精度,工艺简单,操作方便。本发明解决了现有红外成像器光轴调试过程中的操作难度大,调试精度差、效率低的问题。

Description

一种红外成像器调轴装置及其使用方法
技术领域
本发明涉及红外成像器件技术领域,特别涉及一种红外成像器调轴装置及使用方法。
背景技术
现有的红外成像器在调轴过程中常规不使用辅助工具,一般只靠调试师的手和经验旋转探测器到大概位置,不能精确到红外成像器所需要的位置点,所以在生产过程中的光轴位置就会出现个体差异,虽然都是在允许误差范围内,但是调试难度大,精确度低,不利于批量性生产调试,所以有必要设计一款简便、易操作的调轴装置,提高生产效率,提高红外成像器光轴的高精度。
发明内容
本发明目的在于提供一种红外成像器调轴装置。解决现有红外成像器调轴过程无辅助工具,调试难度大、精度差等问题。
对此,本发明提出一种红外成像器调轴装置,其包括:红外透射式光学透镜、法兰、J-T探测器、调轴装置、固定装置、横向螺旋测微仪、纵向螺旋测微仪;红外透射式光学透镜和J-T探测器通过法兰固定连接;调轴装置的固定装置和法兰固定连接,调轴装置的横向螺旋测微仪、纵向螺旋测微仪和J-T探测器接触。
本装置在工作时,红外透射式光学透镜和J-T探测器通过法兰固定连接后;将调轴装置的固定装置和法兰固定连接,调轴装置的横向螺旋测微仪、纵向螺旋测微仪和J-T探测器接触;通过光轴测试设备将要调整的位置给予指定,微调横向螺旋测微仪和纵向螺旋测微仪,使得目标点置于指定位置;
本发明设计新颖,加工方便,工艺简单,成本低廉,可解决红外成像器调轴难度大、精度差、一致性差等问题,提高产品可靠性、提高生产效率。
附图说明
图1是本发明的红外成像器调轴装置剖面图;
图2是本发明的红外成像器调轴装置主视图。
1.红外透射式光学透镜 2.法兰 3.J-T探测器 4.调轴装置 5.固定装置 6.横向螺旋测微仪 7.纵向螺旋测微仪
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明,根据下面说明和权利要求书,本发明的优点和特征将更清楚。需要说明的是,附图均采用非常简化的形式且均适用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
需要说明的是,为了清楚地说明本发明的内容,本发明特举多个实施例以进一步阐释本发明的不同实现方式,其中,该多个实施例是列举式而非穷举式。此外,为了说明的简洁,前实施例中已提及的内容往往在后实施例中予以省略,因此,后实施例中未提及的内容可相应参考前实施例。
虽然该发明可以以多种形式的修改和替换来扩展,说明书中也列出了一些具体的实施图例并进行详细阐述。应当理解的是,发明者的出发点不是将该发明限于所阐述的特定实施例,正相反,发明者的出发点在于保护所有给予由本权利声明定义的精神或范围内进行的改进、等效替换和修改。同样的元器件号码可能被用于所有附图以代表相同的或类似的部分。
请参照图1,本发明的红外成像器调轴装置包括:红外透射式光学透镜1、法兰2、J-T探测器3、调轴装置4,该红外成像器调轴装置还包括:固定装置5、横向螺旋测微仪6、纵向螺旋测微仪7。红外透射式光学透镜1和J-T探测器3通过法兰2固定连接;调轴装置4的固定装置5和法兰2固定连接,调轴装置4的横向螺旋测微仪6、纵向螺旋测微仪7和J-T探测器3接触。
请参照图2,所述固定装置5的形状为和法兰2相对匹配的方形,所述横向螺旋测微仪6和纵向螺旋测微仪7的形状为相同的圆柱形。
本发明还提供一种红外成像器调轴装置的使用方法,包括:通过微调横向螺旋测微仪6带动J-T探测器3横向移动,微调纵向螺旋测微仪7带动J-T探测器3纵向移动。
还包括:随着J-T探测器3的移动,目标将缓慢移动到光轴测试设备指定的位置,实现红外成像器调轴的步骤。
工作时,红外透射式光学透镜1和J-T探测器3通过法兰2固定连接后;将调轴装置4的固定装置5和法兰2固定连接,调轴装置4的横向螺旋测微仪6、纵向螺旋测微仪7和J-T探测器3接触;通过光轴测试设备将要调整的位置给予指定,微调横向螺旋测微仪6和纵向螺旋测微仪7,使得目标点置于指定位置。
本发明实现了以下显著的有益效果:
实现简单,其包括:红外透射式光学透镜、法兰、J-T探测器、调轴装置。调轴装置由固定装置、横向螺旋测微仪和纵向螺旋测微仪组成。本发明操作简单,解决了现有红外成像器光轴调试过程中的操作难度大,调试精度差、效率低的问题。
根据本发明技术方案和构思,还可以有其他任何合适的改动。对于本领域普通技术人员来说,所有这些替换、调整和改进都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (5)

1.一种红外成像器调轴装置,其特征在于,其包括:红外透射式光学透镜(1)、法兰(2)、J-T探测器(3)、调轴装置(4)、固定装置(5)、横向螺旋测微仪(6)、纵向螺旋测微仪(7);其中,红外透射式光学透镜(1)和J-T探测器(3)通过法兰(2)固定连接;调轴装置(4)的固定装置(5)和法兰(2)固定连接,调轴装置(4)的横向螺旋测微仪(6)、纵向螺旋测微仪(7)和J-T探测器(3)接触;红外透射式光学透镜调轴装置(4)的横向螺旋测微仪(6)、纵向螺旋测微仪(7)和J-T探测器(3)接触;通过光轴测试设备将要调整的位置给予指定,微调横向螺旋测微仪(6)和纵向螺旋测微仪(7),使得目标点置于指定位置。
2.根据权利要求1所述的红外成像器调轴装置,其特征在于,所述固定装置(5)的形状为和法兰(2)相对匹配的方形。
3.根据权利要求2所述的红外成像器调轴装置,其特征在于,所述横向螺旋测微仪(6)的形状为圆柱形。
4.根据权利要求3所述的红外成像器调轴装置,其特征在于,所述纵向螺旋测微仪(7)与横向螺旋测微仪(6)的样式相同。
5.根据权利要求1所述的一种红外成像器调轴装置的使用方法,其特征在于,包括:
通过微调横向螺旋测微仪(6)带动J-T探测器(3)横向移动,微调纵向螺旋测微仪(7)带动J-T探测器(3)纵向移动,随着J-T探测器(3)的移动,目标将移动到光轴测试设备指定的位置,实现红外成像器调轴。
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