CN110322584A - 一种芯片烧录数据的采集分析方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种芯片烧录数据的采集分析方法和系统，用于芯片烧录机，所述方法包括如下步骤：对芯片进行烧录；记录每颗芯片的烧录信息和测试信息；将所述烧录信息和测试信息通过互联网发送到服务器。所述每颗芯片的烧录信息，包括以下信息：芯片的识别号、型号、烧录参数、烧录成功与否、烧录失败标志信息。在记录每颗芯片的烧录信息之前，每一颗芯片都首先被烧录机识别出来。所述每颗芯片的烧录信息和测试信息存储在烧录机的存储器中。与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：该方法通过对烧录阶段的数据收集，可以使得芯片厂家掌握第一手的烧录阶段的生产资料，并可追溯该芯片的整个生产流程，通过数据分析的方法，找出烧录失效的原因，进行改善。

Description

一种芯片烧录数据的采集分析方法和系统

技术领域

本发明涉及芯片烧录技术领域，尤其是涉及芯片烧录数据的采集分析方法和系统。

背景技术

芯片烧录为客户在生产其最终产品前，需要对某些需要配置的芯片进行功能参数调节，或者客户将自身开发的程序烧入到芯片里面。芯片烧录环节发生在客户生产阶段。

现有技术中，例如，中国发明专利公开号CN109189407A公开了一种对多芯片烧录的统计方法、系统、装置和存储介质。所述方法包括建立报表、向报表实时填充工作数据和将报表实时存储到指定路径等步骤；所述系统包括报表建立模块、数据填充模块和报表存储模块；所述装置包括上位机、多通道烧录器和数字万用表。中国发明专利公开号CN109062584A公开了一种同时烧录多个芯片的装置、方法、系统和存储介质。所述装置包括夹具、上位机、数据采集卡、多通道烧录器、数字万用表和多个继电器；所述方法包括上位机向多通道烧录器发送烧录指令，多通道烧录器通过多个通道分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度并将烧录进度反馈到上位机，判断各芯片的烧录结果并记录烧录结果，对烧录成功的芯片进行电流测试，将电流测试结果反馈到上位机，记录各芯片的烧录结果和相应的电流测试结果等步骤。

然而，按照目前的生产手段，存在着如下问题：

(1)现有的烧录机只会记录简单的烧录信息，比如烧录了多少颗，多少个良品，多少个次品，但不能记录具体哪一个芯片才是次品哪一个芯片才是良品。也就是说，现有烧录机只关心和记录良品次品的整体数量也不关心和记录更加细节的信息。

(2)现有专利中的烧录结果是通过上位机采集并记录的，烧录机本身不记录信息。

(3)现有专利中只记录烧录结果和电流信息。

(4)现有专利中只能在烧录机本地生成报表，无法联网，信息采集不及时，使用效率低。

(5)现有专利中是从使用者的角度出发，收集烧录信息。芯片厂家无法有效收集不良品信息，无法对芯片烧写的不良率进行改善。

(6)芯片厂家卖出芯片后，目前无有效手段监管芯片的烧录信息和客户的使用情况。

发明内容

本发明的目的是通过以下技术方案实现的。

本发明至少解决了如下技术问题：芯片厂家无法收集到芯片烧录这一生产环节信息的问题。

具体的，根据本发明的一个方面，提供了一种芯片烧录数据的采集分析方法，用于芯片烧录机，所述方法包括如下步骤：对芯片进行烧录；记录每颗芯片的烧录信息和测试信息；将所述烧录信息和测试信息通过互联网发送到服务器。

优选的，所述对芯片进行烧录，包括：烧录程序通过一个或多个通道分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度。

优选的，所述每颗芯片的烧录信息，包括以下信息：芯片的识别号、型号、烧录参数、烧录成功与否、烧录失败标志信息。

优选的，在记录每颗芯片的烧录信息之前，每一颗芯片都首先被烧录机识别出来，所述识别的方式是通过烧录机软件扫描每颗芯片的信息记录数据端口而获得。

优选的，所述每颗芯片的烧录信息和测试信息存储在烧录机的存储器中。

根据本发明的另一个方面，还提供了一种芯片烧录数据的采集分析系统，用于芯片烧录机，所述系统包括如下模块：烧录模块，用于对芯片进行烧录；烧录信息记录模块，用于记录每颗芯片的烧录信息和测试信息；测试模块，对于芯片进行功能测试，并记录每颗芯片的测试信息，该功能可以由客户选择打开或者关闭；上传模块，用于将所述烧录信息和测试信息通过互联网发送到服务器。

优选的，所述烧录模块使用烧录程序通过一个或多个通道分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度。

优选的，所述每颗芯片的烧录信息，包括以下信息：芯片的识别号、型号、烧录参数、烧录成功与否、烧录失败标志信息。

优选的，在记录每颗芯片的烧录信息之前，每一颗芯片都首先被烧录机识别出来，所述识别的方式是通过烧录机软件扫描每颗芯片的信息记录数据端口而获得。

优选的，所述每颗芯片的烧录信息和测试信息存储在烧录机的存储器中。

本发明的优点在于：与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：该方法通过对烧录阶段的数据收集，可以使得芯片厂家掌握第一手的烧录阶段的生产资料，并可追溯该芯片的整个生产流程，通过数据分析的方法，找出烧录失效的原因，进行改善。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

附图1示出了根据本发明实施方式的芯片烧录数据的采集分析方法流程图。

附图2示出了根据本发明实施方式的芯片烧录数据的采集分析系统结构图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施方式。虽然附图中显示了本公开的示例性实施方式，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

附图1示出了根据本发明实施方式的芯片烧录数据的采集分析方法流程图。如图所示，所述方法包括如下步骤：

S1、芯片烧录机对芯片进行烧录。本发明所要烧录的芯片一般是单片机或者其他控制板等的一部分，因此每个芯片都配有必要的外围电路以及实现烧录功能所需的电路。在实际生产中，例如对汽车ECU等，一般是将ECU芯片与其他所有外围电路都集成在了一块电路板上，然后通过ISP(In System Programing，在系统编程)等方式进行烧录，ISP等烧录方式可以允许在板级上进行编程和烧录，也就是无需将芯片从电路板上拆下来便可以进行烧录。本发明不涉及对芯片及其外围电路本身的改造。

烧录机将烧录程序通过一个或多个通道分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度。

S2、芯片烧录时，由烧录机记录每颗芯片的烧录信息和测试信息，包括但不限于芯片的识别号(ID信息)、型号、烧录参数、烧录成功与否、烧录失败标志信息、功能测试信息等信息。如此，本发明可以记录每一颗芯片的所有烧录信息。这样通过被记录的芯片信息，可以追溯到芯片的整个生产流程。

优选的，在烧录机记录每颗芯片的烧录信息之前，每一颗芯片都首先被烧录机识别出来。识别的方式是通过烧录机软件扫描每颗芯片的信息记录数据端口而获得。

优选的，由烧录机记录每颗芯片的烧录信息和测试信息，存储在烧录机的存储器中。所述存储器可以是ROM，也可以是其他可读写的存储器。现有的烧录机没有存储器或者存储功能极其有限，只能存储很小的数据量，所以需要上传到其他服务器或者计算机中才能记录较多的内容。而本发明通过烧录机自身具有较大的存储空间，能够直接在烧录机本地存储大量数据，从而为实现大量芯片信息的数据记录提供了保障，这一点也是现有技术中所不具备的。

S3、烧录机可以实时通过互联网传递数据到外部服务器或者云端。如此，本发明使得芯片厂家能够实时取得该芯片烧录阶段的生产数据。如此，本发明可以把记录数据放到本地或者上传到云端。

如此，本发明从芯片原厂的角度出发收集烧录信息和测试信息，除了改善烧录不良率之外，还可以评估每颗芯片的品质，提升整体良率。

与现有技术相比，本发明公开的一种芯片烧录数据的采集分析方法，具有如下有益效果：该方法通过对烧录阶段的数据收集，可以使得芯片厂家掌握第一手的烧录阶段的生产资料，并可追溯该芯片的整个生产流程，通过数据分析的方法，找出烧录失效的原因，进行改善。

附图2示出了根据本发明实施方式的芯片烧录数据的采集分析系统结构图。所述系统100位于烧录机中，包括如下模块：

烧录模块101，用于对芯片进行烧录。本发明所要烧录的芯片一般是单片机或者其他控制板等的一部分，因此每个芯片都配有必要的外围电路以及实现烧录功能所需的电路。在实际生产中，例如对汽车ECU等，一般是将ECU芯片与其他所有外围电路都集成在了一块电路板上，然后通过ISP(In System Programing，在系统编程)等方式进行烧录，ISP等烧录方式可以允许在板级上进行编程和烧录，也就是无需将芯片从电路板上拆下来便可以进行烧录。本发明不涉及对芯片及其外围电路本身的改造。

烧录机将烧录程序通过一个或多个通道分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度。

烧录信息记录模块102，用于记录每颗芯片的烧录信息和测试信息，包括但不限于芯片的识别号(ID信息)、型号、烧录参数、烧录成功与否、烧录失败标志信息、功能测试信息等信息。如此，本发明可以记录每一颗芯片的所有烧录信息。这样通过被记录的芯片信息，可以追溯到芯片的整个生产流程。

优选的，在烧录机记录每颗芯片的烧录信息之前，每一颗芯片都首先被烧录机识别出来。识别的方式是通过烧录机软件扫描每颗芯片的信息记录数据端口而获得。

优选的，由烧录机记录每颗芯片的烧录信息和测试信息，存储在烧录机的存储器中。所述存储器可以是ROM，也可以是其他可读写的存储器。现有的烧录机没有存储器或者存储功能极其有限，只能存储很小的数据量，所以需要上传到其他服务器或者计算机中才能记录较多的内容。而本发明通过烧录机自身具有较大的存储空间，能够直接在烧录机本地存储大量数据，从而为实现大量芯片信息的数据记录提供了保障，这一点也是现有技术中所不具备的。

上传模块103，用于将所述烧录信息和测试信息通过互联网发送到服务器或者云端。如此，本发明使得芯片厂家能够实时取得该芯片烧录阶段的生产数据。如此，本发明可以把记录数据放到本地或者上传到云端。

测试模块104，对于芯片进行功能测试，并记录每颗芯片的测试信息，该功能可以由客户选择打开或者关闭。

如此，本发明从芯片原厂的角度出发收集烧录信息，除了改善烧录不良率之外，还可以评估每颗芯片的品质，提升整体良率。

与现有技术相比，本发明公开的一种芯片烧录数据的采集分析系统，具有如下有益效果：该系统通过对烧录阶段的数据收集，可以使得芯片厂家掌握第一手的烧录阶段的生产资料，并可追溯该芯片的整个生产流程，通过数据分析的系统，找出烧录失效的原因，进行改善。

需要说明的是：

在此提供的算法和显示不与任何特定计算机、虚拟装置或者其它设备固有相关。各种通用装置也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述，构造这类装置所要求的结构是显而易见的。此外，本发明也不针对任何特定编程语言。应当明白，可以利用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容，并且上面对特定语言所做的描述是为了披露本发明的最佳实施方式。

在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。

类似地，应当理解，为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该公开的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

本领域那些技术人员可以理解，可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件，以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。

此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在下面的权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的虚拟机的创建装置中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。

应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种芯片烧录数据的采集分析方法，用于芯片烧录机，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

对芯片进行烧录；

记录每颗芯片的烧录信息和测试信息；

将所述烧录信息和测试信息通过互联网发送到服务器。

2.根据权利要求1所述的一种芯片烧录数据的采集分析方法，其特征在于，

所述对芯片进行烧录，包括：

烧录程序通过一个或多个通道分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度。

3.根据权利要求1所述的一种芯片烧录数据的采集分析方法，其特征在于，

所述每颗芯片的烧录信息，包括以下信息：芯片的识别号、型号、烧录参数、烧录成功与否、烧录失败标志信息。

4.根据权利要求1所述的一种芯片烧录数据的采集分析方法，其特征在于，

在记录每颗芯片的烧录信息之前，每一颗芯片都首先被烧录机识别出来，所述识别的方式是通过烧录机软件扫描每颗芯片的信息记录数据端口而获得。

5.根据权利要求1所述的一种芯片烧录数据的采集分析方法，其特征在于，

所述每颗芯片的烧录信息和测试信息存储在烧录机的存储器中。

6.一种芯片烧录数据的采集分析系统，用于芯片烧录机，其特征在于，所述系统包括如下模块：

烧录模块，用于对芯片进行烧录；

烧录信息记录模块，用于记录每颗芯片的烧录信息和测试信息；

上传模块，用于将所述烧录信息和测试信息通过互联网发送到服务器；

测试模块，对于芯片进行功能测试，并记录每颗芯片的测试信息。

7.根据权利要求6所述的一种芯片烧录数据的采集分析系统，其特征在于，

所述烧录模块使用烧录程序通过一个或多个通道分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度。

8.根据权利要求6所述的一种芯片烧录数据的采集分析系统，其特征在于，

所述每颗芯片的烧录信息，包括以下信息：芯片的识别号、型号、烧录参数、烧录成功与否、烧录失败标志信息。

9.根据权利要求6所述的一种芯片烧录数据的采集分析系统，其特征在于，

在记录每颗芯片的烧录信息之前，每一颗芯片都首先被烧录机识别出来，所述识别的方式是通过烧录机软件扫描每颗芯片的信息记录数据端口而获得。

10.根据权利要求6所述的一种芯片烧录数据的采集分析系统，其特征在于，

所述每颗芯片的烧录信息和测试信息存储在烧录机的存储器中。