CN110320460A - 一种sim卡健壮性测试的方法和设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种SIM卡健壮性测试的方法和设备，该方法包括：获取干扰波波形数据和模拟运行指令，模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的；根据干扰波波形数据，生成目标干扰波；将目标干扰波和模拟运行指令通过预设作用管脚作用于SIM卡，对SIM卡进行健壮性测试。可见，根据对预先设置的干扰波波形数据，生成干扰波，与模拟运行指令一起作用于SIM卡的方式，在健壮性测试过程中能够模拟任何SIM卡实际使用环境中终端设备由于干扰或者不稳定对SIM卡的干扰情况，避免了原有测试中读卡器和专门硬件设备的电压平稳测试结果不真实的情况，增加了所述SIM卡的健壮性测试的准确性，确保了SIM卡的产品质量，提高了用户使用感受。

Description

一种SIM卡健壮性测试的方法和设备

技术领域

本发明涉及产品测试技术领域，尤其涉及一种SIM卡健壮性测试的方法和设备。

背景技术

随着科技的快速发展，手机用户身份识别(英文：Subscriber IdentificationModule，缩写：SIM)卡是手机等移动联网设备用于用户身份辨别的重要模块。因此，在研发生产SIM卡时通常会进行健壮性测试，以确保SIM卡产品的健壮性良好，提高用户的使用SIM卡感受。

现有的SIM卡的一些测试方案主要是对SIM卡产品功能逻辑的测试，例如，采用测试软件与读卡器或者专门硬件设备相结合的方式对SIM卡进行健壮性测试，其中，读卡器和专门硬件设备的产生的供电电压和电压信号较为平稳，即，施加在SIM卡的供电电压和电压信号平稳无波动。

发明人经过研究发现，随着物联网业务的兴起，通信联网的设备越来越多，应用场景也越来复杂，在使用SIM卡时容易受到外界的干扰。若仍然使用现有技术中的测试方式，较为平稳的电压无法模拟实际使用环境中终端设备由于干扰或者不稳定对SIM卡造成的干扰，从而测试结果与实际结果不符，即使通过健壮性测试的SIM卡在使用时容易出现软件功能被破坏、数据区内容破坏等SIM卡失效现象，给用户造成极大损失，影响用户的使用感受。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提供一种SIM卡健壮性测试的方法和设备，通过在健壮性测试过程中模拟任何干扰波，避免了原有测试中电压平稳测试结果不真实的问题，增加了所述SIM卡的健壮性测试的准确性，从而可以提高SIM卡的产品质量。

第一方面，本发明实施例提供了一种SIM卡健壮性测试的方法，该方法包括：

获取干扰波波形数据和模拟运行指令，所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的；

根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波；

将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试。

优选的，所述干扰波波形数据是根据用户自定义的干扰波波形和/或采集的实际干扰波波形得到的。

优选的，所述预设作用管脚包括电压管脚、时钟信号管脚、复位信号管脚、7816通信管脚和/或地管脚。

优选的，还包括：

获取干扰波控制数据，所述干扰波控制数据包括预设的干扰波的作用时间、作用频率和/或作用指令；

相应地，所述将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试，具体为：根据所述干扰波控制数据，控制所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试。

优选的，所述根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波，包括：

根据干扰波波形数据，生成干扰波；

将所述干扰波进行功率放大，生成目标干扰波。

第二方面，本发明实施例提供了一种SIM卡健壮性测试的设备，其特征在于，包括：

目标干扰波生成电路和SIM卡连接电路，所述目标干扰波生成电路和所述SIM卡连接电路相连接；

所述目标干扰波生成电路，用于获取干扰波波形数据，并根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波发送给所述SIM卡连接电路；

所述SIM卡连接电路，用于获取模拟运行指令，将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试；所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的。

优选的，所述干扰波波形数据是根据用户自定义的干扰波波形和/或采集的实际干扰波波形得到的。

优选的，所述预设作用管脚包括电压管脚、时钟信号管脚、复位信号管脚、7816通信管脚和/或地管脚。

优选的，所述SIM卡连接电路还用于：

获取干扰波控制数据，并根据所述干扰波控制数据，控制所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试，所述干扰波控制数据包括预设的干扰波的作用时间、作用频率和/或作用指令。

优选的，所述目标干扰波生成电路包括干扰波生成电路和干扰波功率放大电路：

所述干扰波生成电路，用于根据干扰波波形数据，生成干扰波；

所述干扰波功率放大电路，用于将所述干扰波进行功率放大，生成目标干扰波。

与现有技术相比，本发明至少具有以下优点：

采用本发明实施例的技术方案，首先，获取干扰波波形数据和模拟运行指令，所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的；然后，根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波；最后，将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试。由此可见，根据对预先设置的干扰波波形数据，生成干扰波，与模拟运行指令一起作用于SIM卡的方式，在健壮性测试过程中能够模拟任何SIM卡实际使用环境中终端设备由于干扰或者不稳定对SIM卡的干扰情况，避免了原有测试中读卡器和专门硬件设备的电压平稳测试结果不真实的情况，增加了所述SIM卡的健壮性测试的准确性，确保了SIM卡的产品质量，提高了用户使用感受。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为传统的SIM卡健壮性测试的装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种应用场景所涉及的系统框架示意图；

图3为本发明实施例提供的一种SIM卡健壮性测试的方法的流程示意图；

图4为本发明实施例提供的另一种SIM卡健壮性测试的方法的流程示意图；

图5为本发明实施例提供的一种SIM卡健壮性测试的设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

随着物联网业务的兴起，通信联网的设备越来越多，应用场景也越来复杂，在使用SIM卡时容易受到外界的干扰。而现有的SIM卡的一些健壮性测试方案主要是对SIM卡产品功能逻辑的测试，例如，如图1所示的传统的SIM卡健壮性测试的装置的结构示意图，读卡器或者专用硬件设备与SIM卡通过电压管脚、时钟信号管脚、复位信号管脚、7816通信管脚、地管脚5个管脚相连，利用测试软件对与读卡器或者专门硬件设备相连的SIM卡进行健壮性测试。发明人经过研究发现，采用现有的健壮性测试方案并不能完全适用于现阶段SIM卡应用场景，主要是读卡器或者专门硬件设备的电压较为平稳，无法模拟实际使用环境中终端设备由于干扰或者不稳定对SIM卡造成的干扰，从而测试结果与实际结果不符，即使通过健壮性测试的SIM卡在使用时容易出现软件功能被破坏、数据区内容破坏等SIM卡失效现象，给用户造成极大损失，影响用户的使用感受。

为了解决这一问题，在本发明实施例中，首先，获取干扰波波形数据和模拟运行指令，所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的；然后，根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波；最后，将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试。由此可见，根据对预先设置的干扰波波形数据，生成干扰波，与模拟运行指令一起作用于SIM卡的方式，在健壮性测试过程中能够模拟任何SIM卡实际使用环境中终端设备由于干扰或者不稳定对SIM卡的干扰情况，避免了原有测试中读卡器和专门硬件设备的电压平稳测试结果不真实的情况，增加了所述SIM卡的健壮性测试的准确性，确保了SIM卡的产品质量，提高了用户使用感受。

举例来说，本发明实施例的场景之一，可以是应用到如图2所示的场景中，图2为本发明实施例中一种应用场景所涉及的系统框架示意图，该场景包括终端设备201、测试设备202和SIM卡203。所述终端设备201通过通用串行总线接口线和所述测试设备202连接，所述SIM卡203通过电压管脚、时钟信号管脚、复位信号管脚、7816通信管脚和地管脚五个管脚与所述测试设备202相连接。

用户利用所述终端设备201生成干扰波波形数据和模拟运行指令，所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的；所述测试设备202通过所述终端设备201获取干扰波波形数据和模拟运行指令；所述测试设备202根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波；所述测试设备202将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡203，对所述SIM卡203进行健壮性测试。

可以理解的是，在上述应用场景中，虽然将本发明实施方式的动作描述由测试设备202执行，但是，本发明在执行主体方面不受限制，只要执行了本发明实施方式所公开的动作即可。

可以理解的是，上述场景仅是本发明实施例提供的一个场景示例，本发明实施例并不限于此场景。例如，集成在测试设备202中的嵌入式设备可以代替上述终端设备201。

下面结合附图，通过实施例来详细说明本发明实施例中SIM卡健壮性测试的方法和设备的具体实现方式。

示例性方法

参见图3，示出了本发明实施例中一种SIM卡健壮性测试的方法的流程示意图。在本实施例中，所述方法例如可以包括以下步骤：

步骤301：获取干扰波波形数据和模拟运行指令，所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的。

可以理解的是，为了解决现有技术中读卡器或者专门硬件设备的电压较为平稳，无法模拟实际使用环境中终端设备由于干扰或者不稳定对SIM卡造成的干扰的问题，采取预先设置干扰波波形数据的方法，以便模拟生成SIM卡实际使用环境中受到的具有干扰效果的干扰波。同时，为了模拟SIM卡实际使用的工作状态，还需要模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令从而得到模拟运行指令。

需要说明的是，预先设置干扰波波形数据通常有两种方式，第一种是用户根据自身经验以及对待测试的SIM卡特性的了解，根据自定义的干扰波形得到干扰波波形数据，并输入在控制器的波形编辑模块；第二种是用户采集在SIM卡实际使用环境中终端设备由于外界干扰或者自身不稳定而产生的对SIM卡的实际干扰波，根据该实际干扰波波形得到干扰波波形数据，并输入在控制器的波形编辑模块。因此，在本实施例的一些实施方式中，所述干扰波波形数据是根据用户自定义的干扰波波形和/或采集的实际干扰波波形得到的。

步骤302：根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波。

可以理解的是，步骤301中获取的预设干扰波数据中的干扰波波形数据有一定的上限限制，即，根据干扰波波形数据生成的干扰波的电压不会超过某个阈值，为了可以灵活调整作用于SIM的干扰波的电压，以便实现更加准确的健壮性测试，可以采用功率放大电路进行功率放大的方式。其中，功率放大电路的目的是将干扰波的波形进行放大，也可以理解为将所述干扰波波形数据放大指定倍数，放大倍数由电路中的元器件预先决定的。因此，在本实施例的一些实施方式中，具体地，所述步骤302例如具体可以包括：

步骤A：根据干扰波波形数据，生成干扰波；

步骤B：将所述干扰波进行功率放大，生成目标干扰波。

例如，可以将根据干扰波波形数据生成的电压为5V的干扰波放大为电压为10V的目标干扰波；也可以将根据干扰波波形数据生成的电压为1V的干扰波放大为电压为2V的目标干扰波。

步骤303：将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试。

可以理解的是，在目标干扰波和模拟运行指令作用于SIM卡时，需要确定通过哪个连接管脚进行作用的，通常情况下，所述SIM卡通过电压管脚、时钟信号管脚、复位信号管脚、7816通信管脚和地管脚这五个管脚与所述测试设备相连接，而实际应用中，目标干扰波和模拟运行指令可以通过上述五个管脚中的任何一个管脚或者任意多个管脚作用于SIM卡。因此，在本实施例的一些实施方式中，所述预设作用管脚包括电压管脚、时钟信号管脚、复位信号管脚、7816通信管脚和/或地管脚。

需要说明的是，本实施例的测试就是为了明确SIM卡在工作状态时的健壮性程度，所以，干扰波波形数据在后续形成目标干扰波后需要和模拟运行指令一起作用于SIM卡。其中，为了更加精确地测试整个工作过程中某些工作时间段的SIM卡的健壮性，需要确定干扰波波形数据在后续形成目标干扰波在哪个时刻、或者以怎样的频率或者和哪条模拟运行指令一起作用于SIM卡，即需要获取预先设置的干扰波控制数据用于控制后续所述干扰波波形数据的作用时间、作用频率和/或作用指令。因此，在本实施例中，在所述步骤303之前，例如还可以包括：获取干扰波控制数据，所述干扰波控制数据包括预设的干扰波的作用时间、作用频率和/或作用指令。

相应地，所述步骤303例如具体可以为：根据所述干扰波控制数据，控制所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试。确保目标干扰波能够在特定的时间以特定的频率和特定的模拟运行指令一起作用于SIM卡，提高SIM卡健壮性测试的精确度。

通过本实施例提供的各种实施方式，首先，获取至少包括干扰波波形数据的预设干扰波数据和模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的模拟运行指令；接着，根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波；然后，利用功率放大电路对所述第一干扰波进行功率放大，获得第二干扰波；最后，将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试。由此可见，通过对预先设置干扰波数据以及采用功率放大电路进行功率放大的方式，可以在健壮性测试过程中模拟任何干扰波，避免了原有测试中读卡器和专门硬件设备的电压平稳测试结果不真实的情况，增加了所述SIM卡的健壮性测试的准确性，确保了SIM卡的产品质量，提高了用户使用感受。

下面结合附图4，通过又一实施例来详细说明基于图1所示的应用场景所涉及的系统框架，即，在实际应用中本发明实施例中SIM卡健壮性测试的方法的具体实现方式。

参见图4，示出了本发明实施例中另一种SIM卡健壮性测试的方法的流程示意图。在本实施例中，所述方法例如可以包括以下步骤：

步骤401：终端设备获得干扰波波形数据、干扰波控制数据和模拟运行指令，所述干扰波控制数据包括预设的干扰波的作用时间、作用频率和/或作用指令，所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的。

可选的，所述干扰波波形数据是根据用户自定义的干扰波波形和/或采集的实际干扰波波形得到的。

步骤402：终端设备向测试设备发送干扰波波形数据、干扰波控制数据和模拟运行指令。

步骤403：测试设备根据干扰波波形数据，生成干扰波。

步骤404：测试设备将干扰波进行功率放大，生成目标干扰波。

步骤405：测试设备根据干扰波控制数据，将目标干扰波和模拟运行指令通过预设作用管脚作用于SIM卡，对SIM卡进行健壮性测试。

可选的，所述预设作用管脚包括电压管脚、时钟信号管脚、复位信号管脚、7816通信管脚和/或地管脚。

步骤406：SIM卡在目标干扰波和模拟运行指令的作用下，向测试设备返回健壮性测试结果。

步骤407：测试设备向终端设备返回健壮性测试结果。

通过本实施例提供的各种实施方式，首先，获取干扰波波形数据和模拟运行指令，所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的；然后，根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波；最后，将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试。由此可见，根据对预先设置的干扰波波形数据，生成干扰波，与模拟运行指令一起作用于SIM卡的方式，在健壮性测试过程中能够模拟任何SIM卡实际使用环境中终端设备由于干扰或者不稳定对SIM卡的干扰情况，避免了原有测试中读卡器和专门硬件设备的电压平稳测试结果不真实的情况，增加了所述SIM卡的健壮性测试的准确性，确保了SIM卡的产品质量，提高了用户使用感受。

示例性设备

参见图5，示出了本发明实施例中一种SIM卡健壮性测试的设备的结构示意图。在本实施例中，所述装置例如具体可以包括：

目标干扰波生成电路501和SIM卡连接电路502，所述目标干扰波生成电路501和所述SIM卡连接电路502相连接；

所述目标干扰波生成电路501，用于获取干扰波波形数据，并根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波发送给所述SIM卡连接电路502；

所述SIM卡连接电路502，用于获取模拟运行指令，将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试；所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的。

可以理解的是，为了解决现有技术中读卡器或者专门硬件设备的电压较为平稳，无法模拟实际使用环境中终端设备由于干扰或者不稳定对SIM卡造成的干扰的问题，采取预先设置干扰波波形数据的方法，以便目标干扰波生成电路501模拟生成SIM卡实际使用环境中受到的具有干扰效果的干扰波，即，目标干扰波。同时，为了模拟SIM卡实际使用的工作状态，还需要模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令从而得到模拟运行指令，以便SIM卡连接电路502获取模拟运行指令和目标干扰波生成电路501生成的目标干扰波一起作用于SIM卡。

需要说明的是，预先设置干扰波波形数据通常有两种方式，第一种是用户根据自身经验以及对待测试的SIM卡特性的了解，根据自定义的干扰波形得到干扰波波形数据，并输入在控制器的波形编辑模块；第二种是用户采集在SIM卡实际使用环境中终端设备由于外界干扰或者自身不稳定而产生的对SIM卡的实际干扰波，根据该实际干扰波波形得到干扰波波形数据，并输入在控制器的波形编辑模块。因此，在本实施例的一些实施方式中，所述干扰波波形数据是根据用户自定义的干扰波波形和/或采集的实际干扰波波形得到的。

需要说明的是，所述目标干扰波生成电路501获取的预设干扰波数据中的干扰波波形数据有一定的上限限制，即，根据干扰波波形数据生成的干扰波的电压不会超过某个阈值，为了可以灵活调整作用于SIM的干扰波的电压，以便实现更加准确的健壮性测试，可以采用功率放大电路进行功率放大的方式。其中，功率放大电路的目的是将干扰波的波形进行放大，也可以理解为将所述干扰波波形数据放大指定倍数，放大倍数由电路中的元器件预先决定的。因此，在本实施例的一些实施方式中，具体地，所述目标干扰波生成电路501包括干扰波生成电路和干扰波功率放大电路；所述干扰波生成电路，用于根据干扰波波形数据，生成干扰波；所述干扰波功率放大电路，用于将所述干扰波进行功率放大，生成目标干扰波。例如，可以将根据干扰波波形数据生成的电压为5V的干扰波放大为电压为10V的目标干扰波；也可以将根据干扰波波形数据生成的电压为1V的干扰波放大为电压为2V的目标干扰波。

可以理解的是，在目标干扰波和模拟运行指令作用于SIM卡时，需要确定通过哪个连接管脚进行作用的，通常情况下，所述SIM卡通过电压管脚、时钟信号管脚、复位信号管脚、7816通信管脚和地管脚这五个管脚与所述测试设备相连接，而实际应用中，目标干扰波和模拟运行指令可以通过上述五个管脚中的任何一个管脚或者任意多个管脚作用于SIM卡。因此，在本实施例的一些实施方式中，所述预设作用管脚包括电压管脚、时钟信号管脚、复位信号管脚、7816通信管脚和/或地管脚。

需要说明的是，本实施例的测试就是为了明确SIM卡在工作状态时的健壮性程度，所以，干扰波波形数据在后续形成目标干扰波后需要和模拟运行指令一起作用于SIM卡。其中，为了更加精确地测试整个工作过程中某些工作时间段的SIM卡的健壮性，需要确定干扰波波形数据在后续形成目标干扰波在哪个时刻、或者以怎样的频率或者和哪条模拟运行指令一起作用于SIM卡，即需要获取预先设置的干扰波控制数据用于控制后续所述干扰波波形数据的作用时间、作用频率和/或作用指令。因此，在本实施例的一些实施方式中，所述SIM卡连接电路502还用于：获取干扰波控制数据，并根据所述干扰波控制数据，控制所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试，所述干扰波控制数据包括预设的干扰波的作用时间、作用频率和/或作用指令。

通过本实施例提供的各种实施方式，SIM卡健壮性测试的设备包括：目标干扰波生成电路和SIM卡连接电路，所述目标干扰波生成电路和所述SIM卡连接电路相连接；所述目标干扰波生成电路，用于获取干扰波波形数据，并根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波发送给所述SIM卡连接电路；所述SIM卡连接电路，用于获取模拟运行指令，将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试；所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的。由此可见，根据对预先设置的干扰波波形数据，生成干扰波，与模拟运行指令一起作用于SIM卡的方式，在健壮性测试过程中能够模拟任何SIM卡实际使用环境中终端设备由于干扰或者不稳定对SIM卡的干扰情况，避免了原有测试中读卡器和专门硬件设备的电压平稳测试结果不真实的情况，增加了所述SIM卡的健壮性测试的准确性，确保了SIM卡的产品质量，提高了用户使用感受。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制。虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (10)

1.一种SIM卡健壮性测试的方法，其特征在于，包括：

获取干扰波波形数据和模拟运行指令，所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的；

根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波；

将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述干扰波波形数据是根据用户自定义的干扰波波形和/或采集的实际干扰波波形得到的。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设作用管脚包括电压管脚、时钟信号管脚、复位信号管脚、7816通信管脚和/或地管脚。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

获取干扰波控制数据，所述干扰波控制数据包括预设的干扰波的作用时间、作用频率和/或作用指令；

相应地，所述将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试，具体为：根据所述干扰波控制数据，控制所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波，包括：

根据干扰波波形数据，生成干扰波；

将所述干扰波进行功率放大，生成目标干扰波。

6.一种SIM卡健壮性测试的设备，其特征在于，包括：目标干扰波生成电路和SIM卡连接电路，所述目标干扰波生成电路和所述SIM卡连接电路相连接；

所述目标干扰波生成电路，用于获取干扰波波形数据，并根据所述干扰波波形数据，生成目标干扰波发送给所述SIM卡连接电路；

所述SIM卡连接电路，用于获取模拟运行指令，将所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试；所述模拟运行指令是模拟应用终端与SIM卡之间的交互指令得到的。

7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述干扰波波形数据是根据用户自定义的干扰波波形和/或采集的实际干扰波波形得到的。

8.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述预设作用管脚包括电压管脚、时钟信号管脚、复位信号管脚、7816通信管脚和/或地管脚。

9.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述SIM卡连接电路还用于：

获取干扰波控制数据，并根据所述干扰波控制数据，控制所述目标干扰波和所述模拟运行指令通过预设作用管脚作用于所述SIM卡，对所述SIM卡进行健壮性测试，所述干扰波控制数据包括预设的干扰波的作用时间、作用频率和/或作用指令。

10.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述目标干扰波生成电路包括干扰波生成电路和干扰波功率放大电路：

所述干扰波生成电路，用于根据干扰波波形数据，生成干扰波；

所述干扰波功率放大电路，用于将所述干扰波进行功率放大，生成目标干扰波。