CN110287076A - 一种存储器测试方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种存储器测试方法和装置。应用于终端,所述方法包括:模拟虚拟存储器;其中,所述虚拟存储器包括虚拟前端接口、FTL算法和虚拟闪存;通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至所述虚拟存储器;所述虚拟存储器响应所述第一测试指令。通过本发明实施例,可以使存储器的测试不依赖于存储器的硬件,节省了存储器的硬件制作时间,进而缩短了存储器的开发时间,提高了存储器的开发效率。
Description
技术领域
本发明涉及存储器技术领域,尤其涉及一种存储器测试方法和装置。
背景技术
随着信息技术的飞速发展,存储器的应用也越来越广泛。由于存储器的稳定性直接影响产品性能,因此为了保证产品质量,需要对存储器进行一系列的测试,比如压力测试、速度测试等等。
传统的测试方式,是在存储器的硬件制作完成后,在硬件平台上进行测试。其中,硬件制作的周期严重影响存储器的开发时间。
发明内容
本发明实施例提供一种存储器测试方法和装置,以解决现有技术中存储器的硬件制作时间影响存储器的开发时间的问题。
为了解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种存储器测试方法,应用于终端,所述方法包括:
模拟虚拟存储器;其中,所述虚拟存储器包括虚拟前端接口、FTL(Flashtranslation layer,Flash转换层)算法和虚拟闪存;
通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至所述虚拟存储器;
所述虚拟存储器响应所述第一测试指令。
可选地,所述通过预设块设备驱动将所述第一测试指令发送至虚拟存储器,包括:
所述预设块设备驱动调用所述虚拟前端接口解析所述第一测试指令,得到解析结果;
其中,所述解析结果至少包括操作指令、LBA(Logical Block Address,逻辑区块地址)和LBA的数量,所述操作指令包括读写、擦除中的至少一种。
可选地,所述虚拟存储器响应所述第一测试指令,包括:
所述虚拟前端接口将所述解析结果发送至所述FTL算法;
所述FTL算法根据所述解析结果生成第二测试指令,并将所述第二测试指令发送至所述虚拟闪存;
所述虚拟闪存根据所述第二测试指令执行相应的测试操作。
可选地,所述FTL算法根据所述解析结果生成第二测试指令,并将所述第二测试指令发送给所述虚拟闪存包括:
所述FTL算法根据所述LBA和所述LBA的数量确定NAND(闪存)页地址;
将所述NAND页地址和所述操作指令发送给所述虚拟闪存中的NAND驱动。
可选地,所述虚拟闪存根据所述第二测试指令执行相应的测试操作,包括:
所述NAND驱动根据所述NAND页地址确定内存地址;
根据所述内存地址确定所述虚拟闪存的存储空间;
根据所述操作指令对所述存储空间执行相应的测试操作。
本发明实施例还提供了一种存储器测试装置,部署在终端,所述装置包括:
存储器模拟模块,用于模拟虚拟存储器;其中,所述虚拟存储器包括虚拟前端接口、FTL算法和虚拟闪存;
测试指令发送模块,用于通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至所述虚拟存储器;
测试指令响应模块,用于所述虚拟存储器响应所述第一测试指令。
可选地,所述测试指令发送模块,具体用于所述预设块设备驱动调用所述虚拟前端接口解析所述第一测试指令,得到解析结果;
其中,所述解析结果至少包括操作指令、LBA和LBA的数量,所述操作指令包括读写、擦除中的至少一种。
可选地,所述测试指令响应模块包括:
解析结果发送子模块,用于所述虚拟前端接口将所述解析结果发送至所述FTL算法;
测试指令生成子模块,用于所述FTL算法根据所述解析结果生成第二测试指令,并将所述第二测试指令发送至所述虚拟闪存;
测试操作执行子模块,用于所述虚拟闪存根据所述第二测试指令执行相应的测试操作。
可选地,所述测试指令生成子模块包括:
页地址确定单元,用于所述FTL算法根据所述LBA和所述LBA的数量确定NAND页地址;
页地址发送单元,用于将所述NAND页地址和所述操作指令发送给所述虚拟闪存中的NAND驱动。
可选地,所述测试操作执行子模块包括:
内存地址确定单元,用于所述NAND驱动根据所述NAND页地址确定内存地址;
存储空间确定单元,用于根据所述内存地址确定所述虚拟闪存的存储空间;
测试操作执行单元,用于根据所述操作指令对所述存储空间执行相应的测试操作。
在本发明实施例中,模拟虚拟存储器,通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至虚拟存储器;虚拟存储器响应第一测试指令。通过本发明实施例,模拟虚拟存储器并对虚拟存储器进行测试,可以使存储器的测试不依赖于存储器的硬件,节省了存储器的硬件制作时间,进而缩短了存储器的开发时间,提高了存储器的开发效率。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举本发明的具体实施方式。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对本发明实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例一的一种存储器测试方法的步骤流程图;
图2是本发明实施例二的一种存储器测试方法的步骤流程图;
图3是本发明实施例二的数据传输路径的示意图;
图4是本发明实施例三的一种存储器测试装置的结构框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一
图1示出了本发明实施例提供的一种存储器测试方法的步骤流程图。应用于终端,所述方法包括:
步骤101,模拟虚拟存储器;其中,所述虚拟存储器包括虚拟前端接口、FTL算法和虚拟闪存。
本实施例中,存储器硬件主要包括前端接口、FTL算法和NAND芯片,其中FTL算法是存储器硬件中的重要组成模块,FTL算法的稳定性决定了存储器固件的稳定性。FTL算法主要是将逻辑地址映射为NAND芯片的物理地址,这个过程中还会触发FTL的垃圾回收、磨损均衡、坏块管理等机制。由于FTL算法可以通过软件实现,因此,将前端接口模拟为虚拟前端接口,将NAND芯片模拟为虚拟内存,则可以实现虚拟存储器。其中,将前端接口模拟为虚拟前端接口,可以通过设置解析函数,或者编写解析程序实现。将NAND芯片模拟为虚拟内存,可以通过在系统内存中设置预设容量的内存空间,并编写访问该内存空间的驱动程序实现。本发明实施例中,虚拟前端接口和虚拟内存的模拟过程不限于上述内容,可以根据实际情况进行设置。现有技术中,对存储器进行测试需要在存储器的硬件制作完成之后,而本发明实施例中,虚拟存储器可以起到与存储器硬件相同的作用,但是却节省了存储器硬件的制作时间,缩短了存储器的开发时间。
步骤102,通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至所述虚拟存储器。
本实施例中,设置预设块设备驱动,将预设块设备驱动安装到终端上,再将预设块设备驱动挂载到操作系统中。具体地,可以采用Linux系统标准的块设备挂载命令,如mount命令,实现预设块设备驱动的挂载。同时,也可以将虚拟前端接口设置在预设块设备驱动中,一同挂载到操作系统中。本发明实施例对此不作详细限定,可以根据实际情况进行设置。
在终端安装测试存储器的应用程序,通过应用程序向操作系统的文件系统发送第一测试指令,文件系统将第一测试指令发送到本实施例中设置的预设块设备驱动,可以在预设块设备驱动中预置虚拟存储器的数据存储位置,也可以在第一测试指令中设置虚拟存储器的数据存储位置,因此,可以实现预设块设备驱动在接收到第一测试指令后,将第一测试指令发送给虚拟存储器,而不是发给终端连接的其他块设备。测试存储器的应用程序可以是benchmark tool、fio、iozone等,本发明实施例对此不作详细限定,可以根据实际情况进行设置。
步骤103,所述虚拟存储器响应所述第一测试指令。
本实施例中,虚拟存储器接收到第一测试指令后,响应第一测试指令。例如,接收到读取虚拟存储器中数据的指令,则向应用程序返回数据;接收到擦除虚拟存储器中数据的指令,则根据指令擦除数据。本发明实施例对如何响应不作详细限定,可以根据实际情况进行设置。并且,在虚拟存储器响应第一测试指令后,可以在终端上展示响应结果。由于本发明实施例对存储器的测试不依赖于存储器的硬件,因此不仅可以缩短存储器的开发时间,提高存储器的开发效率,而且还可以避免软硬件同时测试不利于分析的问题。
综上所述,本发明实施例中,模拟虚拟存储器,通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至虚拟存储器;虚拟存储器响应第一测试指令。通过本发明实施例,模拟虚拟存储器并对虚拟存储器进行测试,可以使存储器的测试不依赖于存储器的硬件,节省了存储器的硬件制作时间,进而缩短了存储器的开发时间,提高了存储器的开发效率。
实施例二
图2示出了本发明实施例提供的一种存储器测试方法的步骤流程图。应用于终端,所述方法包括:
步骤201,模拟虚拟存储器;其中,所述虚拟存储器包括虚拟前端接口、FTL算法和虚拟闪存。
步骤202,所述预设块设备驱动调用所述虚拟前端接口解析所述第一测试指令,得到解析结果;其中,所述解析结果至少包括操作指令、LBA和LBA的数量,所述操作指令包括读写、擦除中的至少一种。
本实施例中,预设块设备驱动在接收到第一测试指令后,调用虚拟前端接口解析第一测试指令,得到解析结果。具体地,从第一测试指令中解析出操作指令、LBA和LBA的数量。其中操作指令包括但不限于读写和擦除。LBA可以指某个数据区块的地址或是某个地址所指向的数据区块。LBA是一种寻址模式,例如,从0开始编号来定位数据区块,第一数据区块LBA=0,第二数据区块LBA=1。
步骤203,所述虚拟前端接口将所述解析结果发送至所述FTL算法。
本实施例中,得到解析结果后,虚拟前端接口将解析结果发送至FTL算法,见图3所示的数据传输路径。例如,操作指令是读取数据,则虚拟前端接口可以通过调用ftlRead(startLba,secCnt)函数,将解析出的LBA发送给FTL算法;操作指令是写入数据,虚拟前端接口可以调用ftlWrite函数将LBA发送给FTL算法;操作指令是擦除数据,可以调用ftlErase函数将LBA发送给FTL算法。这样,可以将操作指令和LBA同时发送给FTL算法,还可以根据LBA的数量进行多次发送,本发明实施例对此不作详细限定,可以根据实际情况进行设置。
步骤204,所述FTL算法根据所述解析结果生成第二测试指令,并将所述第二测试指令发送至所述虚拟闪存。
本实施例中,FTL算法根据解析结果将逻辑地址映射为物理地址,具体地,虚拟闪存的读写单位为页,页的大小一般为4KB或8KB,所述FTL算法根据所述LBA和所述LBA的数量确定NAND页地址。完成地址映射后,将所述NAND页地址和所述操作指令发送给所述虚拟闪存中的NAND驱动。可见,FTL算法是虚拟闪存与操作系统之间的一个转换层,它使操作系统和文件系统能够像访问硬盘一样访问虚拟闪存。
步骤205,所述虚拟闪存根据所述第二测试指令执行相应的测试操作。
本实施例中,虚拟闪存接到第二测试指令后,执行读写、擦除等测试操作。具体地,所述NAND驱动根据所述NAND页地址确定内存地址。虚拟闪存可以设置在系统内存中,因此NAND驱动在接收到NAND页地址后,根据NAND页地址确定内存地址,从而可以根据所述内存地址确定所述虚拟闪存的存储空间,并根据所述操作指令对所述存储空间执行相应的测试操作。例如,NAND驱动根据NAND页地址为第1页,确定内存地址为0000h-01FFh,从而根据内存地址在系统内存中找到对应的存储空间,根据读取数据的操作指令,读取该存储空间中的数据。可以预先设置NAND页地址和内存地址之间的对应关系,例如映射表,从而根据NAND页地址和映射表确定内存地址。本发明实施例对此不作详细限定,可以根据实际情况进行设置。
综上所述,本发明实施例中,模拟虚拟存储器,预设块设备驱动调用虚拟前端接口解析第一测试指令,得到解析结果,虚拟前端接口将解析结果发送至FTL算法,FTL算法根据解析结果生成第二测试指令,并将第二测试指令发送至虚拟闪存,虚拟闪存根据第二测试指令执行相应的测试操作。通过本发明实施例,模拟虚拟存储器并对虚拟存储器进行测试,可以使存储器的测试不依赖于存储器的硬件,节省了存储器的硬件制作时间,进而缩短了存储器的开发时间,提高了存储器的开发效率。
实施例三
图4示出了本发明实施例提供的一种存储器测试装置的结构框图。部署在终端,所述装置包括:
存储器模拟模块301,用于模拟虚拟存储器;其中,所述虚拟存储器包括虚拟前端接口、FTL算法和虚拟闪存;
测试指令发送模块302,用于通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至所述虚拟存储器;
测试指令响应模块303,用于所述虚拟存储器响应所述第一测试指令。
可选地,所述测试指令发送模块302,具体用于所述预设块设备驱动调用所述虚拟前端接口解析所述第一测试指令,得到解析结果;
其中,所述解析结果至1少包括操作指令、LBA和LBA的数量,所述操作指令包括读写、擦除中的至少一种。
可选地,所述测试指令响应模块303包括:
解析结果发送子模块,用于所述虚拟前端接口将所述解析结果发送至所述FTL算法;
测试指令生成子模块,用于所述FTL算法根据所述解析结果生成第二测试指令,并将所述第二测试指令发送至所述虚拟闪存;
测试操作执行子模块,用于所述虚拟闪存根据所述第二测试指令执行相应的测试操作。
可选地,所述测试指令生成子模块包括:
页地址生成单元,用于所述FTL算法根据所述LBA和所述LBA的数量生成NAND页地址;
页地址发送单元,用于将所述NAND页地址和所述操作指令发送给所述虚拟闪存中的NAND驱动。
可选地,所述测试操作执行子模块包括:
内存地址确定单元,用于所述NAND驱动根据所述NAND页地址确定内存地址;
存储空间确定单元,用于根据所述内存地址确定所述虚拟闪存的存储空间;
测试操作执行单元,用于根据所述操作指令对所述存储空间执行相应的测试操作。
综上所述,本发明实施例中,模拟虚拟存储器,通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至虚拟存储器;虚拟存储器响应第一测试指令。通过本发明实施例,模拟虚拟存储器并对虚拟存储器进行测试,可以使存储器的测试不依赖于存储器的硬件,节省了存储器的硬件制作时间,进而缩短了存储器的开发时间,提高了存储器的开发效率。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端(可以是手机,计算机,服务器,空调器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
上面结合附图对本发明的实施例进行了描述,但是本发明并不局限于上述的具体实施方式,上述的具体实施方式仅仅是示意性的,而不是限制性的,本领域的普通技术人员在本发明的启示下,在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下,还可做出很多形式,这些均属于本发明的保护之内。
Claims (10)
1.一种存储器测试方法,其特征在于,应用于终端,所述方法包括:
模拟虚拟存储器;其中,所述虚拟存储器包括虚拟前端接口、FTL算法和虚拟闪存;
通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至所述虚拟存储器;
所述虚拟存储器响应所述第一测试指令。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过预设块设备驱动将所述第一测试指令发送至虚拟存储器,包括:
所述预设块设备驱动调用所述虚拟前端接口解析所述第一测试指令,得到解析结果;
其中,所述解析结果至少包括操作指令、LBA和LBA的数量,所述操作指令包括读写、擦除中的至少一种。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述虚拟存储器响应所述第一测试指令,包括:
所述虚拟前端接口将所述解析结果发送至所述FTL算法;
所述FTL算法根据所述解析结果生成第二测试指令,并将所述第二测试指令发送至所述虚拟闪存;
所述虚拟闪存根据所述第二测试指令执行相应的测试操作。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述FTL算法根据所述解析结果生成第二测试指令,并将所述第二测试指令发送给所述虚拟闪存包括:
所述FTL算法根据所述LBA和所述LBA的数量确定NAND页地址;
将所述NAND页地址和所述操作指令发送给所述虚拟闪存中的NAND驱动。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述虚拟闪存根据所述第二测试指令执行相应的测试操作,包括:
所述NAND驱动根据所述NAND页地址确定内存地址;
根据所述内存地址确定所述虚拟闪存的存储空间;
根据所述操作指令对所述存储空间执行相应的测试操作。
6.一种存储器测试装置,其特征在于,部署在终端,所述装置包括:
存储器模拟模块,用于模拟虚拟存储器;其中,所述虚拟存储器包括虚拟前端接口、FTL算法和虚拟闪存;
测试指令发送模块,用于通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至所述虚拟存储器;
测试指令响应模块,用于所述虚拟存储器响应所述第一测试指令。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,
所述测试指令发送模块,具体用于所述预设块设备驱动调用所述虚拟前端接口解析所述第一测试指令,得到解析结果;
其中,所述解析结果至少包括操作指令、LBA和LBA的数量,所述操作指令包括读写、擦除中的至少一种。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述测试指令响应模块包括:
解析结果发送子模块,用于所述虚拟前端接口将所述解析结果发送至所述FTL算法;
测试指令生成子模块,用于所述FTL算法根据所述解析结果生成第二测试指令,并将所述第二测试指令发送至所述虚拟闪存;
测试操作执行子模块,用于所述虚拟闪存根据所述第二测试指令执行相应的测试操作。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述测试指令生成子模块包括:
页地址确定单元,用于所述FTL算法根据所述LBA和所述LBA的数量确定NAND页地址;
页地址发送单元,用于将所述NAND页地址和所述操作指令发送给所述虚拟闪存中的NAND驱动。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述测试操作执行子模块包括:
内存地址确定单元,用于所述NAND驱动根据所述NAND页地址确定内存地址;
存储空间确定单元,用于根据所述内存地址确定所述虚拟闪存的存储空间;
测试操作执行单元,用于根据所述操作指令对所述存储空间执行相应的测试操作。
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