CN110286281B - 一种智能设备老化测试的方法与设备 - Google Patents
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Abstract
本申请的目的是提供一种智能设备老化测试的方法与设备，其中，所述方法包括：获取用户对测试模式的确认指令，根据所述测试模式的确认指令确定使用的测试模式，其中，所述使用的测试模式包括开发者模式和非开发者模式；根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项，对所述智能设备的目标测试项进行测试；记录并存储测试过程中的数据信息，根据所述数据信息统计并显示测试结果，其中，所述数据信息包括测试失败发生原因以及测试失败发生时间，统计测试成功轮数和测试失败轮数。从而在智能设备的功能稳定性测试以及老化测试中自定义适配不同配置的智能设备，相较现有技术，能够在更短的时间内覆盖所有需要测试的项目并达到足够的测试压力。
Description
技术领域
本申请涉及计算机领域，尤其涉及一种智能设备老化测试的方法与设备。
背景技术
智能设备在生产过程中对器件进行老化测试以及功能稳定性测试是非常重要的步骤，对智能设备的质量监控有着非常重要的实用意义。在现有技术中，智能设备的功能稳定性测试以及老化测试通常采用固定测试项目、固定测试顺序进行测试，并且测试时间是不可调整的，这样的测试方案在应用到不同智能设备系统进行测试时需要针对每一个系统进行单独设计测试过程，费时费力。
发明内容
本申请的一个目的是提供一种智能设备老化测试的方法与设备，解决现有技术中智能设备的功能稳定性测试以及老化测试采用固定测试项目、固定测试顺序进行测试，并且测试时间不可调整的问题。
为解决上述技术问题，根据本申请的一个方面，提供了一种智能设备老化测试的方法，其中，所述方法包括：
获取用户对测试模式的确认指令，根据所述测试模式的确认指令确定使用的测试模式，其中，所述使用的测试模式包括开发者模式和非开发者模式；
根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项，对所述智能设备的目标测试项进行测试；
记录并存储测试过程中的数据信息，根据所述数据信息统计并显示测试结果，其中，所述数据信息包括测试失败发生原因以及测试失败发生时间，统计测试成功轮数和测试失败轮数。
进一步地，所述使用的测试模式为开发者模式时，根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项包括：
通过所述智能设备老化测试软件的设置界面获取用户预设所述测试的测试项目以及测试轮数，以用户预设所述测试的测试项目作为目标测试项。
进一步地，对所述智能设备的目标测试项进行测试，包括：
获取用户确认测试开始的指令，根据所述确认测试开始指令初始化测试项队列，其中，所述测试项队列由所述目标测试项确定；
使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试，完成对所述测试项队列的测试后统计并显示所述测试项队列的测试结果；
所述测试程序停止并恢复初始状态。
进一步地，所述使用的测试模式为非开发者模式时，根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项包括：
解析所述智能设备的XML格式配置文件以获取所述智能设备的配置信息；
根据所述配置信息初始化测试项以及测试轮数，初始化后的测试项作为目标测试项。
进一步地，对所述智能设备的目标测试项进行测试，包括：
获取用户对所述测试的时间规格的确认指令，其中，所述时间规格为所述测试程序储存的多项预设时间规格；
获取用户确认测试开始的指令，根据所述确认测试开始指令初始化测试项队列，其中，所述测试项队列由所述目标测试项确定；
使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试，完成对所述测试项队列的测试后统计并显示所述测试项队列的测试结果；
所述测试程序停止并恢复初始状态。
进一步地，所述方法包括：
在使用智能设备老化测试程序过程中使用测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测。
进一步地，在使用智能设备老化测试程序过程中使用测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测，包括：
监测到发生程序异常，中断所述智能设备老化测试程序并记录所述程序异常信息，获取用户确认是否继续进行所述测试的指令；
当获取到用户确认继续进行所述测试的指令时，所述测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测，重启所述智能设备，启动智能设备老化测试程序并启动测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测；
当获取到用户确认终止所述测试的指令时，终止所述智能设备老化测试程序并终止所述测试程序异常监测程序，结束测试。
进一步地，在使用智能设备老化测试程序过程中使用测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测还包括：
未监测到程序异常，所述测试程序异常监测程序继续对所述智能设备老化测试程序进行监测。
进一步地，所述重启所述智能设备后，还包括：
所述智能设备老化测试程序根据XML文件以及测试记录信息恢复测试队列，根据所述测试记录信息中包含的当前测试项记录对后续测试项继续进行逐一测试。进一步地，所述使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试包括：
启动第一重启测试并循环测试N轮，其中，所述第一重启测试的测试轮数N根据所述获取的用户确认的所述测试的时间规格来确定，其中，N≥1；
按序顺次启动第一升温测试、第一降温测试、第二升温测试、第二降温测试以及第二重启测试并循环测试X轮，其中，所述测试轮数X所述获取的用户确认的所述测试的时间规格来确定，其中，X≥1；
按序顺次进行以下至少一项或多项测试：指纹测试、照相机拍照测试、eMMC读写测试、整机电流测试、双倍速率同步动态随机存储器测试。
进一步地，所述第一重启测试以及第二重启测试包括以下至少一项或多项测试项目：
重启测试、I2C总线测试、电容触屏测试、功率放大器功率发射测试。
进一步地，所述第一升温测试至少包括以下一项或多项测试项目：
音频测试、发光二极管测试、液晶显示屏的二维显示测试以及三维显示测试、中央处理器负载测试、蓝牙行动热点功率发射测试、震动测试。
进一步地，所述第二升温测试至少包括以下一项或多项测试项目：
发光二极管测试、视频测试、中央处理器负载测试、蓝牙行动热点功率发射测试、震动测试。
进一步地，所述降温测试包括以下步骤：
完成第一休眠时间后唤醒所述智能设备，以进行所述智能设备的目标器件的降温测试；
按照第二休眠时间将所述智能设备进行休眠；
第二休眠时间结束后唤醒所述智能设备，继续按照第三休眠时间重新进入休眠；
第三休眠时间结束后唤醒所述智能设备结束所述降温测试。
根据本申请的另一个方面，提供了一种用于智能设备老化测试的设备，其中，所述设备包括：
一个或多个处理器；以及
存储有计算机可读指令的存储器，所述计算机可读指令在被执行时使所述处理器执行前述任一项所述方法的操作。
根据本申请的再一个方面，提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令可被处理器执行以实现前述任一项所述的方法。
与现有技术相比，本申请提供了一种智能设备老化测试的方法与设备，其中，所述方法包括：获取用户对测试模式的确认指令，根据所述测试模式的确认指令确定使用的测试模式，其中，所述使用的测试模式包括开发者模式和非开发者模式；根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项，对所述智能设备的目标测试项进行测试；记录并存储测试过程中的数据信息，根据所述数据信息统计并显示测试结果，其中，所述数据信息包括测试失败发生原因以及测试失败发生时间，统计测试成功轮数和测试失败轮数。从而在智能设备的功能稳定性测试以及老化测试中针对不同配置的智能设备自定义适配测试项目、测试顺序以及测试时间，相较现有技术，能够在更短的时间内覆盖所有需要测试的项目并达到足够的测试压力。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1示出根据本申请的一个方面提供的一种智能设备老化测试的方法流程示意图；
图2示出本申请一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法流程示意图；
图3示出本申请又一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法中的测试流程示意图；
图4示出本申请又一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法中的重启测试流程示意图；
图5示出本申请又一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法中的第一升温测试流程示意图；
图6示出本申请又一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法中的第二升温测试流程示意图；
图7示出本申请又一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法中的降温测试流程示意图。
附图中相同或相似的附图标记代表相同或相似的部件。
具体实施方式
下面结合附图对本申请作进一步详细描述。
在本申请一个典型的配置中，终端、服务网络的设备和可信方均包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。内存是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括非暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
图1示出根据本申请的一个方面提供的一种智能设备老化测试的方法流程示意图，该方法包括：步骤S1～步骤S3，
S1、获取用户对测试模式的确认指令，根据所述测试模式的确认指令确定使用的测试模式，其中，所述使用的测试模式包括开发者模式和非开发者模式；S2、根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项，对所述智能设备的目标测试项进行测试；S3、记录并存储测试过程中的数据信息，根据所述数据信息统计并显示测试结果，其中，所述数据信息包括测试失败发生原因以及测试失败发生时间，统计测试成功轮数和测试失败轮数。从而在智能设备的功能稳定性测试以及老化测试中针对不同配置的智能设备自定义适配测试项目、测试顺序以及测试时间，相较现有技术，能够在更短的时间内覆盖所有需要测试的项目并达到足够的测试压力。需要说明的是，所述智能设备其包括但不限于任何一种可与用户通过触摸板进行人机交互的移动电子产品，例如智能手机、PDA等，所述移动电子产品可以采用任意操作系统，如android操作系统、iOS操作系统等。
具体地，所述智能设备获取用户对测试模式的确认指令，根据所述测试模式的确认指令确定使用的测试模式，其中，所述使用的测试模式包括开发者模式和非开发者模式，即所述智能设备老化测试分为开发者模式和非开发者模式两种测试模式，通过获取用户确认指令以确认使用的测试模式为开发者模式或非开发者模式，在此，所述获取用户对测试模式的确认指令可以通过弹窗方式来进行获取；根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项，对所述智能设备的目标测试项进行测试，也就是说，当使用的测试模式为开发者模式时根据开发者模式对应的测试模式获取并确定所述智能设备的目标测试项，当使用的测试模式为非开发者模式时根据非开发者模式对应的测试模式获取并确定所述智能设备的目标测试项，在进行智能设备老化测试时根据不同的测试模式获取并确认测试的目标测试项；记录并存储测试过程中的数据信息，根据所述数据信息统计并显示测试结果，其中，所述数据信息包括测试失败发生原因以及测试失败发生时间，统计测试成功轮数和测试失败轮数。记录并存储测试过程中的数据信息包括测试失败发生原因、测试失败发生时间，优选地，将所述测试过程中的数据信息以Log的数据形式储存在智能设备内存卡中。在此，所述测试失败发生原因包括但不限于测试失败产生的错误和错误代码。在本申请一优选实施例中，所述测试结果通过测试界面进行显示，如果全部目标测试项目均测试通过，则会在测试界面以绿色的测试通过(PASS)字样显示全部测试项目均测试通过的测试结果；当有测试项目测试结果为测试失败时，在测试界面以列表形式罗列测试失败项并以红色字体显示测试失败(FAIL)字样。
优选地，在步骤S1中，通过所述智能设备老化测试软件的设置界面获取用户预设所述测试的测试项目以及测试轮数，以用户预设所述测试的测试项目作为目标测试项。
具体地，所述使用的测试模式为开发者模式时，根据所述使用的测试模式为开发者模式，则通过所述智能设备老化测试软件的设置界面获取用户预设所述测试的测试项目以及测试轮数，在此，用户预设所述测试的测试项目比如为智能设备中元器件的升温测试、降温测试、重启测试等，测试轮数比如为每一项测试的循环次数，比如降温测试的测试轮数为3。所述测试项目和所述测试轮数预存储在所述智能设备老化测试软件内部，获取用户预设所述测试的测试项目以及测试轮数时，所述设置界面调用所述软件内部预先储存的不同测试项目和不同测试轮数，通过所述设置界面获取用户对所述不同测试项目和不同测试轮数的确认选择指令，在进行所述开发者模式的测试时使用用户预设的所述测试项目作为目标测试项进行测试。
优选地，在步骤S2中，获取用户确认测试开始的指令，根据所述确认测试开始指令初始化测试项队列，其中，所述测试项队列由所述目标测试项确定；使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试，完成对所述测试项队列的测试后统计并显示所述测试项队列的测试结果；所述测试程序停止并恢复初始状态。
具体地，对所述智能设备的目标测试项进行测试，所述智能设备老化测试软件获取用户确认测试开始的指令，在本申请一实施例中，所述软件可以通过弹窗方式获取用户确认测试开始的指令；根据所述确认测试开始指令初始化测试项队列，其中，所述测试项队列由所述目标测试项确定，即所述测试项队列的顺序、包含的测试项均由所述目标测试项确定，在此，所述测试项队列可以是有序队列也可以是无序队列；使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试，完成对所述测试项队列的测试后统计并显示所述测试项队列的测试结果，在此，所述显示的测试项队列的测试结果包括但不限于测试项是否全部通过测试、测试的用时、测试失败原因、测试失败代码，所述统计的测试项队列的测试结果包括但不限于测试轮数、测试成功的测试项个数、测试失败的测试项个数，接着所述测试程序停止并恢复初始状态。
图2示出本申请一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法流程示意图，在步骤S2中，所述使用的测试模式为非开发者模式时，解析所述智能设备的XML格式配置文件以获取所述智能设备的配置信息；根据所述配置信息初始化测试项以及测试轮数，初始化后的测试项作为目标测试项。
具体地，如图2所示，所述使用的测试模式为非开发者模式时，根据所述使用的测试模式为非开发者模式，则解析所述智能设备的XML格式配置文件以获取所述智能设备的配置信息，在此，所述XML格式配置文件包含测试总时长影响参数、测试项是否需要测试的影响参数、各个测试项进行测试所需参数。获取的所述智能设备的配置信息包括与测试轮数、测试时长和测试项相关的配置信息。使用XML格式配置文件结构清晰，以便于软件根据不同测试需求进行配置，同时支持多种编码，扩展性强，便于开发人员更换配置。在本申请一实施例中，配置测试总时长为12小时，根据CPU核数配置启动负载线程的个数，在四核CPU智能设备上配置三个后台负载线程或四个后台负载线程，在八核CPU智能设备上配置的负载线程阈值下限为六个负载线程上限为八个负载线程，从而使得在测试中CPU负载大于95％达到测试所需强度，并且防止了在低配置CPU型号上启动过高负载导致智能设备卡死的问题。通过解析所述智能设备的XML格式配置文件的方式，可以应用到使用不同芯片等器件的手机、平板、智能音响、智能打卡机等智能设备中，可以使得即使不同的智能设备在TP厂商、CPU芯片型号、指纹模组存在差异，也可以通过XML进行配置，以完成后续的测试，从而实现可以兼容不同配置的智能设备的目的。
接着，根据所述智能设备的配置信息初始化测试项以及测试轮数，初始化后的测试项作为目标测试项，在此，所述配置信息包含与测试轮数、测试时长和测试项相关的配置信息，根据所述智能设备的配置信息初始化测试项以及测试轮数，也就是说，根据所述智能设备的配置信息对测试项和测试轮数进行适配并初始化，将初始化后的测试项作为目标测试项进行后续测试。
优选地，在步骤S2中，获取用户对所述测试的时间规格的确认指令，其中，所述时间规格为所述测试程序储存的多项预设时间规格；获取用户确认测试开始的指令，根据所述确认测试开始指令初始化测试项队列，其中，所述测试项队列由所述目标测试项确定；使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试，完成对所述测试项队列的测试后统计并显示所述测试项队列的测试结果；所述测试程序停止并恢复初始状态。
具体地，继续参考图2，在非开发者模式中，获取用户对所述测试的时间规格的确认指令，其中，所述时间规格为所述测试程序储存的多项预设时间规格，所述多项预设时间规格是定值；获取用户确认测试开始的指令，根据所述确认测试开始指令初始化测试项队列，其中，所述测试项队列由所述目标测试项确定，所述测试项队列的顺序同样由所述目标测试项确定；使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试，完成对所述测试项队列的测试后统计并显示所述测试项队列的测试结果。
优选地，还包括步骤S5：在使用智能设备老化测试程序过程中使用测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测。
具体地，继续参考图2，使用测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测，启动所述智能设备老化测试程序的同时启动所述测试程序异常监测程序以监测测试全程所有数据信息。
优选地，在步骤S5中，监测到发生程序异常，中断所述智能设备老化测试程序并记录所述程序异常信息，获取用户确认是否继续进行所述测试的指令；当获取到用户确认继续进行所述测试的指令时，所述测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测，重启所述智能设备，启动智能设备老化测试程序并启动测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测；当获取到用户确认终止所述测试的指令时，终止所述智能设备老化测试程序并终止所述测试程序异常监测程序，结束测试。
具体地，继续参考图2，当监测到发生程序异常时，中断所述智能设备老化测试程序并记录所述程序异常信息，获取用户确认是否继续进行所述测试的指令，在此，所述程序异常信息包括但不限于异常发生时间、所述智能设备系统版本信息、CPU型号信息、所述智能设备老化监测软件应用版本信息、平台信息和异常发生时测试项目名称以及调用栈信息。通过记录所述程序异常信息以快速定位异常发生位置以及分析异常发生原因。
接着，获取用户确认是否继续进行所述测试的指令，当获取到用户确认继续进行所述测试的指令时，重启所述智能设备，启动智能设备老化测试程序并启动测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测。在此，当获取到用户确认继续进行所述测试的指令时，重启所述智能设备，并启动智能设备老化测试程序继续进行被中断的测试，而在启动所述测试程序的同时启动测试程序异常监测程序对所述测试程序进行监测。当获取到用户确认终止所述测试的指令时，终止所述智能设备老化测试程序并终止所述测试程序异常监测程序，直接结束测试。
优选地，在步骤S5中，未监测到程序异常，所述测试程序异常监测程序继续对所述智能设备老化测试程序进行监测。
具体地，当未监测到程序异常时，所述测试程序异常监测程序继续对所述智能设备老化测试程序进行监测，同时所述智能设备老化测试程序继续运行直至完成测试。
优选地，在步骤S5中，重启所述智能设备后，所述智能设备老化测试程序根据XML文件以及测试记录信息恢复测试队列，根据所述测试记录信息中包含的当前测试项记录对后续测试项继续进行逐一测试。
具体地，当监测到发生程序异常时，中断所述智能设备老化测试程序并记录所述程序异常信息，当获取到用户确认继续进行所述测试的指令时，重启所述智能设备。在重启所述智能设备后，所述智能设备老化测试程序根据XML文件以及测试记录信息恢复测试队列，根据所述测试记录信息中包含的当前测试项记录对后续测试项继续进行逐一测试。在本申请一优选实施例中，原测试队列为A、B、C、D、E五个目标测试项，按照A、B、C、D、E的先后顺序进行逐项测试，在进行B项目的测试时监测到发生所述智能设备老化测试程序异常，中断所述智能设备老化测试程序并记录所述程序异常信息，在此，记录的程序异常信息包括但不限于：在B项目测试时发生异常以及所述测试程序错误代码。接着，获取用户是否确认继续进行所述测试的指令，当获取到到用户确认继续进行所述测试的指令时，重启所述智能设备。在重启所述智能设备后，所述智能设备老化测试程序根据XML格式的配置文件以及测试记录信息恢复测试队列，也就是说根据XML格式的配置文件以及记录下的所述程序异常信息得到需要恢复测试队列为B、C、D、E，所述测试记录信息中包含的当前测试项记录为B项目，则根据所述测试记录信息选中恢复后的测试队列中下一目标测试项C进行测试，即对后续测试项C、D、E继续进行逐一测试。
图3示出本申请又一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法中的测试流程示意图；在步骤S2中，启动第一重启测试并循环测试N轮，其中，所述第一重启测试的测试轮数N根据所述获取的用户确认的所述测试的时间规格来确定，其中，N≥1；按序顺次启动第一升温测试、第一降温测试、第二升温测试、第二降温测试以及第二重启测试并循环测试X轮，其中，所述测试轮数X所述获取的用户确认的所述测试的时间规格来确定，其中，X≥1；按序顺次进行以下至少一项或多项测试：指纹测试、照相机拍照测试、eMMC读写测试、整机电流测试、双倍速率同步动态随机存储器(DDR)测试。
具体地，所述启动第一重启测试并循环测试N轮，其中，所述第一重启测试的测试轮数N根据所述获取的用户确认的所述测试的时间规格来确定，其中，N≥1。所述测试的时间规格为预置在所述测试程序内部的时间规格，当获取到用户确认的所述测试的时间规格后，所述测试程序根据所述用户确认的时间规格计算并确定第一重启测试的测试轮数N的数值，在此，所述N为正整数且N≥1。
接着，按序顺次启动第一升温测试、第一降温测试、第二升温测试、第二降温测试以及第二重启测试并循环测试X轮，其中，所述测试轮数X所述获取的用户确认的所述测试的时间规格来确定，其中，X≥1。当获取到用户确认的所述测试的时间规格后，所述测试程序根据所述用户确认的时间规格计算并确定所述循环测试的轮数X的数值，在此，所述X为正整数且X≥1。
接着，按序顺次进行以下至少一项或多项测试：指纹测试、照相机拍照测试、eMMC读写测试、整机电流测试、双倍速率同步动态随机存储器(DDR)测试。通过根据所述用户确认的时间规格计算并确定第一重启测试轮数N的数值以及所述循环测试的轮数X的数值以在用户定义的时间段内最大化对所述智能设备的测试队列中各个测试项目的测试强度，从而有效地测试所述智能设备中的器件。在本申请一优选实施例中，所述测试程序内部预设的时间规格有2小时、4小时、8小时、12小时、24小时和48小时，获取到的用户确认的时间规格为12小时，所述测试程序根据目标测试项确认测试队列后，根据测试队列计算各个测试项目的用时，在代码中按比例分配各个测试项目的测试时间，再根据第一重启测试的单轮测试时长确定第一重启测试的测试轮数N的数值，根据顺次启动第一升温测试、第一降温测试、第二升温测试、第二降温测试和第二重启测试所需的单轮测试时长确定所述循环测试的轮数X的数值。
图4示出本申请又一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法中的重启测试流程示意图，在步骤S2中，所述第一重启测试以及第二重启测试包括以下至少一项或多项测试项目：重启(Reboot)测试、I2C总线测试、电容触屏(TP)测试、功率放大器功率发射测试。
具体地，通过启动重启(Reboot)测试、I2C总线测试、电容触屏(TP)测试、功率放大器功率发射测试中至少一项测试项目来完成所述第一重启测试以及所述第二重启测试，优选地，按照所述重启(Reboot)测试、I2C总线测试、电容触屏(TP)测试、功率放大器功率发射测试的测试项目优先级进行逐项测试以达到更大的测试强度。
图5示出本申请又一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法中的第一升温测试流程示意图，在步骤S2中，所述第一升温测试至少包括以下一项或多项测试项目：音频测试、发光二极管(LED)测试、液晶显示屏(LCD)的二维(2D)显示测试以及三维(3D)显示测试、中央处理器(CPU)负载测试、蓝牙行动热点(BT Wi-Fi)功率发射测试、震动测试。
具体地，通过启动音频测试、发光二极管(LED)测试、液晶显示屏(LCD)的二维(2D)显示测试以及三维(3D)显示测试、中央处理器(CPU)负载测试、蓝牙行动热点(BT Wi-Fi)功率发射测试、震动测试中至少一项测试项目来完成所述第一升温测试，优选地，按照所述音频测试、发光二极管(LED)测试、液晶显示屏(LCD)的二维(2D)显示测试以及三维(3D)显示测试、中央处理器(CPU)负载测试、蓝牙行动热点(BT Wi-Fi)功率发射测试、震动测试的测试项目优先级进行逐项测试以达到更大的测试强度，从而在测试所述测试队列的同时，使得所述智能设备在高负载情况下温度升高达到第一预设温度。
图6示出本申请又一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法中的第二升温测试流程示意图，在步骤S2中，所述第二升温测试至少包括以下一项或多项测试项目：发光二极管(LED)测试、视频测试、中央处理器(CPU)负载测试、蓝牙行动热点(BT Wi-Fi)功率发射测试、震动测试。
具体地，接上述实施例，通过启动发光二极管(LED)测试、视频测试、中央处理器(CPU)负载测试、蓝牙行动热点(BT Wi-Fi)功率发射测试、震动测试中至少一项测试项目来完成所述第一升温测试，优选地，按照所述发光二极管(LED)测试、视频测试、中央处理器(CPU)负载测试、蓝牙行动热点(BT Wi-Fi)功率发射测试、震动测试的测试项目优先级进行逐项测试以达到更大的测试强度，从而在测试所述测试队列的同时，使得所述智能设备在高负载情况下温度升高达到第二预设温度。
优选地，在步骤S2中，所述降温测试包括以下步骤：完成第一休眠时间后唤醒所述智能设备，以进行所述智能设备的目标器件的降温测试；按照第二休眠时间将所述智能设备进行休眠；第二休眠时间结束后唤醒所述智能设备，继续按照第三休眠时间重新进入休眠；第三休眠时间结束后唤醒所述智能设备结束所述降温测试。
具体地，接上述实施例，参考图3，在进行第一升温测试后，所述智能设备在高负载情况下温度升高达到第一预设温度，然后按照上述步骤进行降温测试，测试目的为在预设时间内是否能够将温度降低至所述智能设备工作温度范围内，以测试所述智能设备是否存在散热问题。接着进行第二升温测试，在进行第二升温测试后，所述智能设备在高负载情况下温度升高达到第二预设温度，然后进行降温测试，以测试所述智能设备是否存在散热问题。图7示出本申请又一实施例中一种形式的智能设备老化测试的方法中的降温测试流程示意图，在此设置第一休眠时间为3分钟，第二休眠时间为3分钟，第三休眠时间为1分钟，重复休眠唤醒作用为测试所述智能设备是否能在预设唤醒时间内唤醒设备并无卡顿地点亮屏幕，同时测试所述第一升温测试或所述第二升温测试后是否能在高负载条件下进入休眠状态，优选地，所述预设唤醒时间为30秒。通过第一升温测试和第二升温测试结合降温测试，能够有效地测试所述智能设备结构合理性和软件温控功能。
此外，本申请实施例还提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令可被处理器执行以实现前述的方法。
根据本申请再一个方面，还提供了一种用于智能设备老化测试的设备，其中，所述设备包括：
一个或多个处理器；以及
存储有计算机可读指令的存储器，所述计算机可读指令在被执行时使所述处理器执行前述的方法的操作。
例如，计算机可读指令在被执行时使所述一个或多个处理器：
获取用户对测试模式的确认指令，根据所述测试模式的确认指令确定使用的测试模式，其中，所述使用的测试模式包括开发者模式和非开发者模式；
根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项，对所述智能设备的目标测试项进行测试；
记录并存储测试过程中的数据信息，根据所述数据信息统计并显示测试结果，其中，所述数据信息包括测试失败发生原因以及测试失败发生时间，统计测试成功轮数和测试失败轮数。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。
需要注意的是，本申请可在软件和/或软件与硬件的组合体中被实施，例如，可采用专用集成电路(ASIC)、通用目的计算机或任何其他类似硬件设备来实现。在一个实施例中，本申请的软件程序可以通过处理器执行以实现上文所述步骤或功能。同样地，本申请的软件程序(包括相关的数据结构)可以被存储到计算机可读记录介质中，例如，RAM存储器，磁或光驱动器或软磁盘及类似设备。另外，本申请的一些步骤或功能可采用硬件来实现，例如，作为与处理器配合从而执行各个步骤或功能的电路。
另外，本申请的一部分可被应用为计算机程序产品，例如计算机程序指令，当其被计算机执行时，通过该计算机的操作，可以调用或提供根据本申请的方法和/或技术方案。而调用本申请的方法的程序指令，可能被存储在固定的或可移动的记录介质中，和/或通过广播或其他信号承载媒体中的数据流而被传输，和/或被存储在根据所述程序指令运行的计算机设备的工作存储器中。在此，根据本申请的一个实施例包括一个装置，该装置包括用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的处理器，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发该装置运行基于前述根据本申请的多个实施例的方法和/或技术方案。
对于本领域技术人员而言，显然本申请不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本申请的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本申请。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本申请的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化涵括在本申请内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外，显然“包括”一词不排除其他单元或步骤，单数不排除复数。装置权利要求中陈述的多个单元或装置也可以由一个单元或装置通过软件或者硬件来实现。第一，第二等词语用来表示名称，而并不表示任何特定的顺序。
Claims (14)
1.一种智能设备老化测试的方法，其中，所述方法包括：
获取用户对测试模式的确认指令，根据所述测试模式的确认指令确定使用的测试模式，其中，所述使用的测试模式包括开发者模式和非开发者模式；
根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项，对所述智能设备的目标测试项进行测试；
记录并存储测试过程中的数据信息，根据所述数据信息统计并显示测试结果，其中，所述数据信息包括测试失败发生原因以及测试失败发生时间，统计测试成功轮数和测试失败轮数；
其中，当使用的测试模式为开发者模式时，根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项包括：
通过所述智能设备老化测试软件的设置界面获取用户预设所述测试的测试项目以及测试轮数，以用户预设所述测试的测试项目作为目标测试项；
当使用的测试模式为非开发者模式时，根据所述使用的测试模式确定所述智能设备的目标测试项包括：
解析所述智能设备的XML格式配置文件以获取所述智能设备的配置信息；
根据所述配置信息初始化测试项以及测试轮数，初始化后的测试项作为目标测试项。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，对所述智能设备的目标测试项进行测试，包括：
获取用户确认测试开始的指令，根据所述确认测试开始指令初始化测试项队列，其中，所述测试项队列由所述目标测试项确定；
使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试，完成对所述测试项队列的测试后统计并显示所述测试项队列的测试结果；
所述测试程序停止并恢复初始状态。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，对所述智能设备的目标测试项进行测试，包括：
获取用户对所述测试的时间规格的确认指令，其中，所述时间规格为所述测试程序储存的多项预设时间规格；
获取用户确认测试开始的指令，根据所述确认测试开始指令初始化测试项队列，其中，所述测试项队列由所述目标测试项确定；
使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试，完成对所述测试项队列的测试后统计并显示所述测试项队列的测试结果；
所述测试程序停止并恢复初始状态。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：
在使用智能设备老化测试程序过程中使用测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，在使用智能设备老化测试程序过程中使用测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测，包括：
监测到发生程序异常，中断所述智能设备老化测试程序并记录所述程序异常信息，获取用户确认是否继续进行所述测试的指令；
当获取到用户确认继续进行所述测试的指令时，所述测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测，重启所述智能设备，启动智能设备老化测试程序并启动测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测；
当获取到用户确认终止所述测试的指令时，终止所述智能设备老化测试程序并终止所述测试程序异常监测程序，结束测试。
6.根据权利要求5所述的方法，其中，在使用智能设备老化测试程序过程中使用测试程序异常监测程序对所述智能设备老化测试程序进行监测还包括：
未监测到程序异常，所述测试程序异常监测程序继续对所述智能设备老化测试程序进行监测。
7.根据权利要求5所述的方法，其中，所述重启所述智能设备后，还包括：
所述智能设备老化测试程序根据XML文件以及测试记录信息恢复测试队列，根据所述测试记录信息中包含的当前测试项记录对后续测试项继续进行逐一测试。
8.根据权利要求3所述的方法，其中，所述使用所述智能设备老化测试程序对所述测试项队列进行测试包括：
启动第一重启测试并循环测试N轮，其中，所述第一重启测试的测试轮数N根据所述获取的用户确认的所述测试的时间规格来确定，其中，N≥1；
按序顺次启动第一升温测试、第一降温测试、第二升温测试、第二降温测试以及第二重启测试并循环测试X轮，其中，所述测试轮数X所述获取的用户确认的所述测试的时间规格来确定，其中，X≥1；
按序顺次进行以下至少一项或多项测试：指纹测试、照相机拍照测试、eMMC读写测试、整机电流测试、双倍速率同步动态随机存储器测试。
9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述第一重启测试以及第二重启测试包括以下至少一项或多项测试项目：
重启测试、I2C总线测试、电容触屏测试、功率放大器功率发射测试。
10.根据权利要求8所述的方法，其中，所述第一升温测试至少包括以下一项或多项测试项目：
音频测试、发光二极管测试、液晶显示屏的二维显示测试以及三维显示测试、中央处理器负载测试、蓝牙行动热点功率发射测试、震动测试。
11.根据权利要求8所述的方法，其中，所述第二升温测试至少包括以下一项或多项测试项目：
发光二极管测试、视频测试、中央处理器负载测试、蓝牙行动热点功率发射测试、震动测试。
12.根据权利要求8所述的方法，其中，所述降温测试包括以下步骤：
完成第一休眠时间后唤醒所述智能设备，以进行所述智能设备的目标器件的降温测试；
按照第二休眠时间将所述智能设备进行休眠；
第二休眠时间结束后唤醒所述智能设备，继续按照第三休眠时间重新进入休眠；
第三休眠时间结束后唤醒所述智能设备结束所述降温测试。
13.一种用于智能设备老化测试的设备，其中，所述设备包括：
一个或多个处理器；以及
存储有计算机可读指令的存储器，所述计算机可读指令在被执行时使所述处理器执行如权利要求1至12中任一项所述方法的操作。
14.一种计算机可读介质，其上存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令可被处理器执行以实现如权利要求1至12中任一项所述的方法。
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