CN110279142A

CN110279142A - 滤棒中爆珠是否破损的测定方法、存储介质及设备

Info

Publication number: CN110279142A
Application number: CN201910452481.2A
Authority: CN
Inventors: 丛亮滋; 张晋; 牟会南; 陈建军; 李成富; 王志勇; 齐清美; 张莎莎; 于龙国; 钟青; 王彬彬; 张远方; 马超; 吕健; 刘杰; 公茂刚; 袁霆
Original assignee: China Tobacco Shandong Industrial Co Ltd
Current assignee: China Tobacco Shandong Industrial Co Ltd
Priority date: 2019-02-14
Filing date: 2019-05-28
Publication date: 2019-09-27
Anticipated expiration: 2039-05-28
Also published as: CN110279142B

Abstract

本公开提供了一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法、存储介质及设备,通过测量每支滤棒每个检测单元的密度，绘制滤棒密度曲线；根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间，采用在每颗爆珠的设计区间内找出最大密度的方法找出滤棒中每颗爆珠的密度值；确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰类型，基于波峰类型，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰的取数范围；通过回归分析，得到每颗爆珠密度波峰的回归曲线方程，计算所有回归曲线方程中二阶系数绝对值的平均值及标准偏差，根据平均值和标准偏差确定下限、上限阈值，若存在某个爆珠的二阶系数绝对值在所述上下限阈值之间，则该爆珠破损。

Description

滤棒中爆珠是否破损的测定方法、存储介质及设备

技术领域

本公开涉及一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法、存储介质及设备。

背景技术

本部分的陈述仅仅是提供了与本公开相关的背景技术信息，不必然构成在先技术。

为了提高烟草口感和降低烟草对人体的危害，许多烟草公司研发出爆珠烟。在生产过程中，往往需要测定爆珠是否已经破损，以保证香烟的出厂质量。

据发明人了解，目前，添加爆珠的滤棒在生产、采购过程中，爆珠检测一般采用灯箱法，该方法是利用强背光照射滤棒，凭人眼观察爆珠是否破损，这就需要工人长时间用人眼检测单一产品，易疲劳，对视力产生影响，且人工作业的检测速度相对比较慢，对于大量生产任务需要较多的人员；同时，检测准确度受滤棒的透光性及人眼观察能力影响，在对比度较差时，无法做到有效检测，透光性弱的滤棒往往要经过多次观察，造成重复劳动。

据发明人了解，目前利用设备或辅助手段进行爆珠检测主要有以下几种：

一种就是采用视觉检测系统将灯箱下的观察效果图像化处理来进行爆珠检测的方法，但该方法仍无法有效测量滤棒中爆珠是否破损，无法保证准确性。

一种是将滤棒先剖开再观察爆珠是否破损，然而这种方式本身就会对滤棒和爆珠造成破坏，具有很多干扰因素。

还有一种是用手指按压滤棒，这种检测方式也容易对滤棒造成破坏，还容易因爆珠的偏移造成误判。

发明内容

本公开为了解决上述问题，提出了一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法、存储介质及设备，本公开能够快速、无损、便捷测量滤棒中爆珠是否破损。

根据一些实施例，本公开采用如下技术方案：

一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法，包括以下步骤：

测量每支滤棒每个检测单元的密度，绘制滤棒密度曲线；

根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间，采用在每颗爆珠的设计区间内找出最大密度的方法找出滤棒中每颗爆珠的密度值；

确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰类型，基于波峰类型，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰的取数范围；

通过回归分析，得到每颗爆珠密度波峰的回归曲线方程，计算所有回归曲线方程中二阶系数绝对值的平均值及标准偏差，根据平均值和标准偏差确定下限、上限阈值，若存在某个爆珠的二阶系数绝对值在所述上下限阈值之间，则该爆珠破损。

作为进一步的限定，绘制滤棒密度曲线的具体过程为：以设定长度S为测量单元，采用微波谐振法测量爆珠滤棒密度，以测量单元为横轴单位，以长度为横轴、以密度为竖轴，绘制滤棒密度曲线。

作为进一步的限定，以爆珠的设计位置为依据，为每一颗爆珠划定设计区间，当爆珠设计位置位于滤棒端部时，把该爆珠所临近端部起至该爆珠设计位置与与其相邻的第一个爆珠设计位置中间所有测量单元作为该爆珠的设计区间；

当爆珠设计位置不位于滤棒端部时，把该爆珠设计位置与与其相邻的两个爆珠设计位置中间所有测量单元作为该爆珠的设计区间。

作为进一步的限定，采用在每颗爆珠的设计区间内找出最大密度的方法找出滤棒中每颗爆珠的密度值即为：在每一颗爆珠的设计区间内，找出密度最大值，作为该爆珠的密度值。

当爆珠密度所在的测量单元位于爆珠设计区域分界线时，如果该爆珠密度小于等于紧邻爆珠设计区域内紧邻一个测量单元的密度值，则该爆珠设计区域自该分界线起减少D/S个测量单元，其中D为爆珠直径设计值，S为测量单元，D、S单位相同，商用进一法获得，在缩减后的设计区域内重新找出密度最大值，作为该爆珠密度。这样可以避免爆珠严重偏移时，一个密度峰被两个爆珠用引起的错判。

作为进一步的限定，爆珠的密度波峰类型包括单峰和双峰两种。

作为更进一步的限定，用爆珠密度值减去其左邻的密度值的差记为C1，减去其右邻的密度值的差记为C2；

用H表示判断密度波峰是单、双峰的阈值，用I表示C1、C2中的较小值与较大值的比值，当I大于等于H时，密度波峰作为单峰，当I小于H时，密度波峰作为双峰。

作为进一步的限定，当爆珠的密度波峰类型为单峰时，以某一爆珠密度值为中心，从其紧邻的数据中，取2n个数据一起组成数组，将所述数组作为因变量Y值，以密度值对应的测量单元序号以及单元序号的平方值组成的两个数组分别作为变量X′、X″，回归分析，得回归方程Y＝aX″+bX′+c，a、b、c为方程系数，用X代替X′，则X″＝X²，所得回归方程Y＝aX″+bX′+c变为Y＝aX²+bX+c，为开口朝下的抛物线。

作为进一步的限定，当爆珠的密度波峰是双峰时，以爆珠密度值与其相邻的两个值中较大的一个密度值为中心，从其左右对称的各取n-1个密度值与爆珠密度值一起组成一个数组，以该数组为因变量Y值，以每个密度值对应的测量单元序号、单元序号的平方值组成的两个数组为变量X′、X″，回归分析，得回归方程Y＝aX″+bX′+c，a、b、c为方程系数，用X代替X′，则X″＝X²，所得回归方程Y＝aX″+bX′+c变为Y＝aX²+bX+c，为开口朝下的抛物线。

作为进一步的限定，用爆珠无缺失、全部破损、且破损后一段时间以上的滤棒，得到的每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij，其中，a_ij、b_ij、c_ij分别为二阶、一阶和常数系数，i为第i支滤棒，j为第i支滤棒的第j颗爆珠，-a_ij为二阶系数绝对值，所有二阶系数绝对值的平均值记为f，二阶系数绝对值的标准偏差记为σ，把σ的大于0的倍数记为m，用p＝f-mσ表示-a_ij可能出现的最小值，即判断爆珠破损的下限阈值；把σ的大于0的倍数记为m′，用p′＝f+m′σ表示-a_ij可能出现的最大值，即判断爆珠破损的上限阈值。

作为更进一步的限定，当测得的某个爆珠的-a_ij大于等于p且小于等于p′时，为爆珠破损；

当测得的某个爆珠的-a_ij大于p′时，为爆珠无破损。

当-a_ij小于p时，为第i支滤棒的第j颗爆珠缺失，不做破损与否的判断。

作为优选的实施方式，m′＝m＝3。

当然，在其他实施方式中，m′、m的值可以不同，可以取其他大于零的数据。

一种计算机可读存储介质，其中存储有多条指令，所述指令适于由终端设备的处理器加载并执行所述的一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法。

一种终端设备，包括处理器和计算机可读存储介质，处理器用于实现各指令；计算机可读存储介质用于存储多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行所述的一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法。

与现有技术相比，本公开的有益效果为：

本公开克服了灯箱法检测爆珠滤棒时的检测劳动强度大、效率低、检测准确度差、精度低的问题，同时也克服了用手指按压滤棒、剖裂滤棒的方式检测对滤棒造成的损害，且测量结果准确、操作便捷、对滤棒无损害；

本公开通过微波谐振法可实现对爆珠滤棒的无损检测，能够代替手工，效率高、劳动强度小、操作者安全，不会对人体造成伤害；

本公开通过统计分析的方法确定阈值p、p′，m、m′的取值可以相同、也可以不同，可以量化预估测定误差风险，实现质量成本的有效控制。

本公开采用回归分析曲线方程二阶系数判断爆珠是否破损，既考察了爆珠密度波峰的高度，也考察了爆珠密度波峰的宽度，克服了简单采用密度最大值判断爆珠是否破损，因检测过程中谐振腔中心点与爆珠球心的位置不会每次重合，所造成的误差；

本公开以固定时间间隔测量数据，采用单双峰区分爆珠密度波峰的取数方式，可以更好的体现检测过程中谐振腔中心点与爆珠球心的位置关系，提高回归分析的质量，也就使检测结果更加准确。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。

图1实施例1滤棒测量的密度曲线；

图2实施例2滤棒测量的密度曲线；

图3是实施例提供的F点为滤棒的端部时查找爆珠密度的示意图；

图4是实施例提供的F点为不是滤棒的端部时查找爆珠密度的示意图；

图5是实施例提供一种计算情况下的爆珠密度的示意图；

图6是实施例提供另一种计算情况下的爆珠密度的示意图；

图7是实施例提供再一种计算情况下的爆珠密度的示意图。

具体实施方式：

下面结合附图与实施例对本公开作进一步说明。

应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

首先，本实施例中提供微波谐振法在测量滤棒中爆珠是否破损的应用。

为了本领域技术人员能够更加清楚技术方案，进行名词解释如下:

微波谐振法，通过微波密度检测仪进行操作，具体的，通过微波谐振腔检测滤棒的密度变化，利用密度曲线中波峰二阶回归方程的二阶系数来判断爆珠是否破损。

微波是一种频率约从300MHz到300GHz(波长:1mm～1m)的电磁波，其遇到金属发生反射，金属无法对它进行吸收或传导；对于玻璃、陶瓷、塑料等绝缘材料，微波可以穿过但不会消耗能量；对于含有水分的物料，微波穿过时，其能量会被部分吸收。基于该特性，微波可实现密度的检测。

通过微波测量原理及谐振腔的设计原理可以得知，在谐振腔结构尺寸固定的情况下，其测量特征直接反映为2个主要参数：被测样品通过谐振腔时引起的谐振频率的偏移和谐振幅度的变化。而结合添加爆珠的滤棒中，滤棒的爆珠部分与其他位置部分的密度存在明显差异，在试验中发现，其对应谐振曲线的谐振频率的偏移和谐振幅度的变化峰值与爆珠是否破损能够有效的对应，通过微波谐振法检测可以实现滤棒中爆珠简单快速、准确、无损的测量。

在本实施例中，可以控制滤棒匀速通过谐振腔。当滤棒中的爆珠球心与谐振腔中心重合时，测量到的爆珠密度值最大，且是唯一的最大值，当滤棒中的爆珠球心位于两次测量的谐振腔中间位置时，测量到的爆珠密度值最小，没有其它因素影响的话，是两个相等的最大值。

具体的方法包括：

绘制滤棒密度曲线：

以1mm或以下的长度S为测量单元，采用微波谐振法测量爆珠滤棒密度，以测量单元为横轴单位，以长度为横轴、以密度为竖轴，绘制滤棒密度曲线；

以爆珠的设计位置为依据，为每一颗爆珠划定设计区间：

当爆珠设计位置位于滤棒端部时，把该爆珠所临近端部起至该爆珠设计位置与与其相邻的第一个爆珠设计位置中间所有测量单元作为该爆珠的设计区间；

当爆珠设计位置不位于滤棒端部时，把该爆珠计位置与与其相邻的两个爆珠设计位置中间所有测量单元作为该爆珠的设计区间。

找出滤棒中每颗爆珠的密度值：

在每一颗爆珠的设计区间内，找出密度最大值，作为该爆珠的密度值ρ_ij，i为第i支滤棒，j为第i支滤棒的第j颗爆珠，下同。

具体爆珠密度的计算过程包括：

当具有最大密度的检测单元的一个分界线与爆珠设计区间的一个非滤棒端部分界线重合时，得到当前爆珠的密度值标记为当前爆珠的初始密度值；若当前爆珠的初始密度值小于或等于当前爆珠紧邻的爆珠设计区间内最邻近的一个检测单元的密度值，则当前爆珠的设计区间自重合的分界线起减少，直到密度值出现拐点，在缩减后的设计区域内重新找出密度最大值，若新计算爆珠密度最大值所在测量单元不位于设计区域另一非滤棒端部分界线，就以新计算爆珠密度最大值作为当前爆珠密度；若新计算爆珠密度所在测量单元位于设计区域另一非滤棒端部分界线，且此分界线紧邻的另一爆珠设计区域的分界线所在测量单元的密度大于新计算爆珠密度，按上述方法继续缩减爆珠设计区域并计算爆珠密度；上述紧邻爆珠设计区域的爆珠密度为上述紧邻一个测量单元的密度值时，上述紧邻爆珠设计区域的爆珠密度虽在非滤棒端部分界线上，但不再重新计算。

如图3所示，假如F点为滤棒的端部，F到A间为甲爆珠设计区间，最大值在A点，在分界线上，A点密度值又小于B点密度值，就要从A点起缩减这个设计区间，缩减到C点，紧邻的E点密度值大于C点的，C点为拐点，从C点起到F点止的新区间的最大密度值在F点上，虽然也位于分界线上，但是滤棒端点，因此就以这个密度值为爆珠密度；

乙爆珠的设计区间假设为从B点到G点，最大值在点B，在分界线上，但B点密度值大于A点密度值，因此，乙爆珠的密度值就不用再算了，就用B点的密度值，B点密度值等于A点密度值时，也不用再算，否则，点A、B所在峰就可能漏用了。

如图4所示，假如F点不是滤棒的端部，F到A间为甲爆珠设计区间，最大值在A点，在分界线上，A点密度值又小于B点密度值，就要从A点起缩减这个设计区间，缩减到C点，紧邻的E点密度值大于C点的，C点为拐点，从C点起到F点止的新区间的最大密度值在F点上，F也位于分界线上，不是滤棒端点，F点密度值又小于G点密度值，就要继续从F点起缩减这个设计区间，缩减到H点拐点，从H点起到C点止的新区间的最大密度值在I点上，I点的密度值就是甲爆珠的密度了；乙爆珠和丙爆珠的密度值即使在分界线上也可以直接用了，不用再重新计算了。

例如：P_i为滤棒第i颗爆珠的密度，单位为毫克每立方厘米(mg/cm³)，i为从1到m的正整数，m为该种滤棒爆珠颗数的设计值；

P_i＝max{ρ_i,1、ρ_i,2、ρ_i,3……ρ_i,n}

ρ_i,1、ρ_i,2、ρ_i,3……ρ_i,n为滤棒第i颗爆珠的设计区域或缩减后设计区域内的所有测量单元密度值，单位为毫克每立方厘米(mg/cm³)，n为爆珠设计区域或缩减后设计区域最大测量单元数。

如图5所示，如果P₁＝ρ_1,n，且P₁≤ρ_2,1，则第1颗爆珠的设计区域自ρ_1,n所在检测单元起缩减到第一个密度值拐点ρ_1,k(ρ_1,k<ρ_1,k-1)所在检测单元；在缩减后的设计区域(ρ_1,1到ρ_1,k)内重新计算P₁，以新得P′₁为第1颗爆珠的密度；此时，若P₂＝ρ_2,1，P₂无需再重新计算。

如图6所示，如果P_i＝ρ_i,1，i≠1或m，且P_i＜ρ_i-1,n，则第i颗爆珠的设计区域自ρ_i,1所在检测单元起缩减到第一个密度值拐点ρ_i,k(ρ_i,k<ρ_i,k+1)所在检测单元；在缩减后的设计区域(ρ_i,k到ρ_i,n)内重新计算P_i，得P′_i；若P′_i≠ρ_i,n，以新得P′_i为第i颗爆珠的密度；若P′_i＝ρ_i,n，且P′_i≤ρ_i+1,1，则第i颗爆珠的设计区域自ρ_i,n所在检测单元起缩减到第一个密度值拐点ρ_i,z(ρ_i,z<ρ_i,z-1)所在检测单元；在缩减后的设计区域(ρ_i,k到ρ_i,z)内重新计算P_i，以新得P″_i为第i颗爆珠的密度；此时，若P_i+1＝ρ_i+1,1，P_i+1无需再重新计算。

如图7所示，如果P_m＝ρ_m,1，且P_m＜ρ_m-1,n，则第m颗爆珠的设计区域自ρ_m,1所在检测单元起缩减到第一个密度值拐点ρ_m,k(ρ_m,k<ρ_m,k+1)所在检测单元；在缩减后的设计区域(ρ_m,k到ρ_m,n)内重新计算P_m，以新得P′_m为第m颗爆珠的密度，即便P′_m＝ρ_m,n也不再重新计算。

进一步的，爆珠的密度波峰定义：

在爆珠的设计区间内密度最大值是爆珠密度值，由于爆珠为球形，测量单元的长度小于爆珠的半径，当有爆珠时，爆珠密度值显著高于其周围的密度值，爆珠密度值及其周围的密度值会形成一个明显的波峰；当没有爆珠时，由于滤棒中物质分布的连续性，爆珠密度值及其周围的密度值也会形成一个波峰，虽然该波峰不太明显。因此，爆珠密度值及其周围一定数量密度值所形成的波峰，定义为爆珠的密度波峰。

确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰是单峰还是双峰：

谐振腔有一定的宽度，滤棒匀速通过谐振腔，仪器按固定的时间间隔测量谐振腔的特征值，且爆珠为球形，因此，只有谐振腔的中心与爆珠球心重合时，测出的密度值最大，且该值显著高于邻近的密度值，此时，爆珠的密度波峰为理想中的单峰形态；

只有爆珠的球心位于两次测量的中间点时，去除其它因素的影响，才会得到两个相等且最大的密度值，此时，爆珠的密度波峰为理想中的双峰形态；

在实际测量中，得到理想单、双峰形态的机会很少，通常情况下，测量时，谐振腔的中心与爆珠的球心都有一定的偏差，这时，就会得到近似的单、双峰形态；

用爆珠密度值减去其左邻的密度值的差记为C1，减去其右邻的密度值的差记为C2；

用H表示判断密度波峰是单、双峰的阈值；

用I表示C1，C2中的较小值与较大值的比值，也就是I＝min{C1,C2}/max{C1,C2}；

当I大于等于H时，密度波峰作为单峰，当I小于H时，密度波峰作为双峰；

通过试验发现，对于某款细支爆珠滤棒，当H＝70％时判断爆珠是否破损，效果较好，在实际应用中，可根据试验决定H的取值。

确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰的取数范围、曲线方程：

在单位相同的情况下，把爆珠的设计直径D除以测量单元长度S，把用进一法得到的整数商记为n；

当爆珠的密度波峰是单峰时，以爆珠密度值ρ_ij为中心，从其左边紧邻的数据中，取n个密度值ρ_ij-n……ρ_ij-1，ρ_ij-n表示ρ_ij左边的第n个密度值，ρ_ij-1表示ρ_ij左边的第一个密度值；从其右边紧邻的数据中，取n个密度值ρ_ij+1……ρ_ij+n，ρ_ij+n表示ρ_ij右边的第n个密度值，ρ_ij+1表示ρ_ij右边的第一个密度值；ρ_ij-n……ρ_ij-1、ρ_ij、ρ_ij+1……ρ_ij+n一起组成一个数组A，以该数组为因变量Y值，以密度值对应的测量单元序号j-n……j-1、j、j+1……j+n组成数组B、单元序号的平方值(j-n)²……(j-1)²、j ²、(j+1)²……(j+n)²组成数组C，B、C两个数组为变量X′、X″，回归分析，得回归方程Y＝aX″+bX′+c，a、b、c为方程系数；

当爆珠的密度波峰是双峰时，以爆珠密度值与其相邻的两个值中较大的一个密度值为中心，从其左右对称的各取n-1个密度值与爆珠密度值一起组成一个数组，以该数组为因变量Y值，以每个密度值对应的测量单元序号、单元序号的平方值组成的两个数组为变量X′、X″，回归分析，得回归方程Y＝aX″+bX′+c，a、b、c为方程系数；

用X代替X′，则X″＝X²，所得回归方程Y＝aX″+bX′+c变为Y＝aX²+bX+c，为开口朝下的抛物线，a为负值，用a′表示a的绝对值，则a′＝-a。

爆珠是否破损的判断方法：

滤棒中爆珠无缺失、全部破损、且破损后24小时以上时，此时，爆珠内的液体已经全部渗透到丝束中或挥发出滤棒，不会干扰检测结果的准确性，第i支滤棒的第j颗爆珠的密度波峰对应抛物线方程中的二阶系数用a_ij表示，绝对值为-a_ij；把-a_ij的平均值记为f，把-a_ij的标准偏差记为σ，把σ的大于0的倍数记为m，用p＝f-mσ表示-a_ij可能出现的最小值，即判断爆珠破损的下限阈值；把σ的大于0的倍数记为m′，用p′＝f+m′σ表示-a_ij可能出现的最大值，即判断爆珠破损的上限阈值。

试验发现，当m＝3、m′＝3时，判断爆珠是否破损的效果较好；

当然，在部分实施中，m、m′的值可以不相同，也可以不等于3。

因此，可以用p′＝f+3σ、p＝f-3σ作为判断爆珠是否破损的上、下限阈值；

当测得的某个爆珠的-a_ij大于等于p且小于等于p′时，为爆珠破损；

当测得的某个爆珠的-a_ij大于p′时，为爆珠无破损。

当-a_ij小于p时，为第i支滤棒的第j颗爆珠缺失，不做破损与否的判断。在本实施例中，考虑到爆珠半径/直径本身较小，因此测量单元的长度选取小于爆珠半径的1mm或以下的长度进行测量。

在部分实施方案中，测算爆珠滤棒中爆珠是否破损的手段为：

确定H：

以试验结果确定H。

计算n：

在单位相同的情况下，用爆珠的设计直径D除以测量单元长度S，用进一法得到的整数商作为n。

测定阈值p、p′：

1、随机采集已知爆珠无缺失、全部破损、且破损后24小时以上的滤棒样本u支(u大于等于20)，用微波密度仪测量每支滤棒每个检测单元的密度；

2、根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间；

3、采用在每颗爆珠的设计区间内找出最大密度的方法找出滤棒中每颗爆珠的密度值ρ_ij；

4、计算每颗爆珠的I，与H比较，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰是单峰还是双峰；

5、根据单、双峰判断结果，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰的取数范围；

6、通过回归分析，得到每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij；

7、求出所有-a_ij的平均值f，-a_ij的标准偏差σ；

8、确定m、m′的取值；

9、确定阈值p＝f-mσ、p′＝f+m′σ。

如果一种爆珠滤棒的设计值不更改，可以一直用测定的p或p′作为阈值，当设计有引起阈值变化的更改时，如爆珠的直径、爆珠的材料、丝束的规格等的更改，应重新按上述方法测定阈值。

测定待测样品的-a_ij：

1、用微波密度仪测量每支滤棒每个检测单元的密度；

2、根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间；

判断爆珠是否破损：

用-a_ij与p或p′比较：

当-a_ij大于等于p且小于等于p′时，为第i支滤棒的第j颗爆珠破损；

当-a_ij大于p′时，为第i支滤棒的第j颗爆珠无破损。

通过本实施例提供的测算方法，可以简单、便捷的实现准确测定爆珠滤棒中爆珠的位置。

具体的，实施例1：

确定H：

通过试验，确定H＝70％。

计算n：

爆珠的设计直径D＝2.7mm，测量单元长度S＝1mm，用进一法得到的整数商n＝3。

测定阈值p：

1、随机采集已知爆珠无缺失、全部破损、且破损后24小时以上的滤棒样本20支，用微波密度仪测量每支滤棒每个检测单元的密度；

2、根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间；

7、求出所有-a_ij的平均值f＝0.98，-a_ij的标准偏差σ＝0.09；

8、确定m、m′的取值：m′＝m＝3；

9、确定阈值：p＝f-mσ＝0.98-3*0.09＝0.71、p′＝f+m′σ＝0.98+3*0.09＝1.25。

测定待测样品的-a_ij：

1、用微波密度仪测量滤棒每个检测单元的密度，如图1所示。

2、根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间；

6、通过回归分析，得到每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij：-a₁₁＝3.68、-a₁₂＝1.06、-a₁₃＝3.37、-a₁₄＝3.45。

判断爆珠是否破损：

用-a_ij与p、p′比较：

-a₁₁>p′，第1支滤棒的第1颗爆珠无破损；

p<-a₁₂<p′，第1支滤棒的第2颗爆珠破损；

-a₁₃>p′，第1支滤棒的第3颗爆珠无破损；

-a₁₄>p′，第1支滤棒的第4颗爆珠无破损。

实施例2：

确定H：

通过试验，确定H＝70％。

计算n：

爆珠的设计直径D＝2.5mm，测量单元长度S＝1mm，用进一法得到的整数商n＝3。

测定阈值p、p′：

2、根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间；

7、求出所有-a_ij的平均值f＝0.96，-a_ij的标准偏差σ＝0.14；

8、确定m、m′的取值：m′＝m＝3；

9、确定阈值：p＝f-mσ＝0.96-3*0.14＝0.54、p′＝f+m′σ＝0.96+3*0.14＝1.38。

测定待测样品的-a_ij：

1、用微波密度仪测量滤棒每个检测单元的密度，如图2所示

2、根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间；

6、通过回归分析，得到每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij：-a₁₁＝3.18、-a₁₂＝3.06、-a₁₃＝3.52、-a₁₄＝1.31。

判断爆珠是否破损：

用-a_ij与p′比较：

-a₁₁>p′，第1支滤棒的第1颗爆珠无破损；

-a₁₂>p′，第1支滤棒的第2颗爆珠无破损；

-a₁₃>p′，第1支滤棒的第3颗爆珠无破损；

p<-a₁₄<p′，第1支滤棒的第4颗爆珠破损。

实施例1-2所述检测结果(爆珠是否破损)，进一步采用剖切法复验，效果完全准确。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

上述虽然结合附图对本公开的具体实施方式进行了描述，但并非对本公开保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本公开的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本公开的保护范围以内。

Claims

1.一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法，其特征是：包括以下步骤：

测量每支滤棒每个检测单元的密度，绘制滤棒密度曲线；

2.如权利要求1所述的一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法，其特征是：绘制滤棒密度曲线的具体过程为：以设定长度S为测量单元，采用微波谐振法测量爆珠滤棒密度，以测量单元为横轴单位，以长度为横轴、以密度为竖轴，绘制滤棒密度曲线。

3.如权利要求1所述的一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法，其特征是：以爆珠的设计位置为依据，为每一颗爆珠划定设计区间，当爆珠设计位置位于滤棒端部时，把该爆珠所临近端部起至该爆珠设计位置与与其相邻的第一个爆珠设计位置中间所有测量单元作为该爆珠的设计区间；

当爆珠设计位置不位于滤棒端部时，把该爆珠设计位置与与其相邻的两个爆珠设计位置中间所有测量单元作为该爆珠的设计区间；

采用在每颗爆珠的设计区间内找出最大密度的方法找出滤棒中每颗爆珠的密度值即为：在每一颗爆珠的设计区间内，找出密度最大值，作为该爆珠的密度值；

进一步的，当爆珠密度所在的测量单元位于爆珠设计区域分界线时，如果该爆珠密度小于等于紧邻爆珠设计区域内紧邻一个测量单元的密度值，则该爆珠设计区域自该分界线起减少D/S个测量单元，其中D为爆珠直径设计值，S为测量单元，商用进一法获得，在缩减后的设计区域内重新找出密度最大值，作为该爆珠密度。

4.如权利要求1所述的一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法，其特征是：爆珠的密度波峰类型包括单峰和双峰两种；

5.如权利要求4所述的一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法，其特征是：当爆珠的密度波峰类型为单峰时，以某一爆珠密度值为中心，从其紧邻的数据中，取2n个数据一起组成数组，将所述数组作为因变量Y值，以密度值对应的测量单元序号以及单元序号的平方值分别作为变量X′、X″，回归分析，得回归方程Y＝aX″+bX′+c，a、b、c为方程系数，用X代替X′，则X″＝X²，所得回归方程Y＝aX″+bX′+c变为Y＝aX²+bX+c，为开口朝下的抛物线。

6.如权利要求4所述的一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法，其特征是：当爆珠的密度波峰是双峰时，以爆珠密度值与其相邻的两个值中较大的一个密度值为中心，从其左右对称的各取n-1个密度值与爆珠密度值一起组成一个数组，以该数组为因变量Y值，以每个密度值对应的测量单元序号、单元序号的平方值组成的两个数组为变量X′、X″，回归分析，得回归方程Y＝aX″+bX′+c，a、b、c为方程系数，用X代替X′，则X″＝X²，所得回归方程Y＝aX″+bX′+c变为Y＝aX²+bX+c，为开口朝下的抛物线。

7.如权利要求1所述的一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法，其特征是：用爆珠无缺失、全部破损、且破损后一段时间以上的滤棒，得到的每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij，其中，a_ij、b_ij、c_ij分别为二阶、一阶和常数系数，i为第i支滤棒，j为第i支滤棒的第j颗爆珠，-a_ij为二阶系数绝对值，所有二阶系数绝对值的平均值记为f，二阶系数绝对值的标准偏差记为σ，把σ的大于0的倍数记为m，用p＝f-mσ表示-a_ij可能出现的最小值，即判断爆珠破损的下限阈值；把σ的大于0的倍数记为m′，用p′＝f+m′σ表示-a_ij可能出现的最大值，即判断爆珠破损的上限阈值。

8.如权利要求7所述的一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法，其特征是：当测得的某个爆珠的-a_ij大于等于p且小于等于p′时，为爆珠破损；

当测得的某个爆珠的-a_ij大于p′时，为爆珠无破损。

9.一种计算机可读存储介质，其中存储有多条指令，其特征是：所述指令适于由终端设备的处理器加载并执行权利要求1-8中任一项所述的一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法。

10.一种终端设备，包括处理器和计算机可读存储介质，处理器用于实现各指令；计算机可读存储介质用于存储多条指令，其特征是：所述指令适于由处理器加载并执行权利要求1-8中任一项所述的一种滤棒中爆珠是否破损的测定方法。