CN109738334A - 测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法、可读存储介质及设备 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法、可读存储介质及设备。该方法包括：确定出每颗爆珠密度波峰的取数范围；拟合每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij；Y为爆珠密度峰的密度，X为密度对应的检测单元序号，a_ij、b_ij和c_ij分别为第i支滤棒的第j颗爆珠的曲线方程的二次项系数、一次项系数和常系数；将‑a_ij与p或p′比较来判断第i支滤棒的第j颗爆珠是否缺失。

Description

测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法、可读存储介质及设备

技术领域

本公开属于烟制品滤棒制备检测技术领域，尤其涉及一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法、可读存储介质及设备。

背景技术

本部分的陈述仅仅是提供了与本公开相关的背景技术信息，不必然构成在先技术。

为了提高烟草口感和降低烟草对人体的危害，烟草公司研发出了许多新型香烟，比如爆珠烟。爆珠滤棒作为一种新型滤棒材料，对形成卷烟独特吸味、风格提供了一种很好的解决办法。爆珠在吸烟过程中被捏破后，胶珠内的液体可以使香烟在吸允过程中更加生香，强化香气或特性，使吸烟者得到更为舒适的体验。

目前，爆珠滤棒生产过程中，爆珠是否缺失检测一般采用灯箱法，发明人认为该方法利用强背光照射滤棒，凭人眼观察爆珠是否缺失，存在以下问题：

a.检测劳动强度大且效率低：长时间检测单一产品，检测工人眼睛容易疲劳，对检验员的视力破坏性大，检测的速度相对比较慢，短时间内很难检测完成大量生产任务；

b.检测准确度差且精度低：仅依靠视觉对比度，检测准确度受滤棒的透光性及人眼观察能力影响，对比度明显时检测良好，但对于对比度较差时，无法做到有效检测，透光性弱的滤棒往往要经过多次观察。

因此，发明人发现，现有的检测爆珠滤棒中爆珠缺失的方法有效性差，有的甚至可能对滤棒造成损害。

发明内容

为了解决上述问题，本公开的第一方面提供了一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法，其具有测量结果准确，操作便捷，对滤棒不产生损害的效果。

本公开的第一方面的一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法的技术方案为：

一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法，包括：

根据滤棒中每颗爆珠密度波峰的个数，确定出每颗爆珠密度波峰的取数范围；

拟合每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij；其中，Y为爆珠密度峰的密度，X为密度对应的检测单元序号，a_ij、b_ij和c_ij分别为第i支滤棒的第j颗爆珠的曲线方程的二次项系数、一次项系数和常系数；

将-a_ij与p或p′比较：

当-a_ij大于等于p或p′时，第i支滤棒的第j颗爆珠不缺失；

当-a_ij小于p或p′时，第i支滤棒的第j颗爆珠缺失；

其中，p＝f-mσ，f为爆珠无缺失且全破损一段时间后的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的平均值；σ为爆珠无缺失且全破损一段时间后的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的标准偏差；p′＝f′+mσ′，f′为爆珠全部缺失的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的平均值；σ′为爆珠全部缺失的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的标准偏差；m为常数且取正数。

为了解决上述问题，本公开的第二方面提供了一种可读存储介质。

本公开的第二方面的一种可读存储介质的技术方案为：

一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述所述的测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法中的步骤。

为了解决上述问题，本公开的第三方面提供了一种计算机设备。

本公开的第三方面的一种计算机设备的技术方案为：

一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现上述所述的测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法中的步骤。

本公开的有益效果是：

(1)本公开克服了灯箱法检测爆珠滤棒时的检测劳动强度大、效率低、检测准确度差、精度低的问题，克服了手指捏压、剖裂滤棒的方式检测对滤棒造成的损害，本公开的测定滤波中爆珠缺失的方法的测量结果准确、操作便捷、对滤棒无损害。

(2)本公开通过确定阈值p或p′来与-a_ij比较，判定第i支滤棒的第j颗爆珠是否缺失，可以量化预估测定误差风险，实现质量成本的有效控制。

附图说明

构成本公开的一部分的说明书附图用来提供对本公开的进一步理解，本公开的示意性实施例及其说明用于解释本公开，并不构成对本公开的不当限定。

图1是本公开实施例提供的一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法流程图。

图2是本公开实施例一提供的爆珠滤棒测量的密度曲线。

图3是本公开实施例二提供的爆珠滤棒测量的密度曲线。

图4是本公开实施例提供的F点为滤棒的端部时查找爆珠密度的示意图。

图5是本公开实施例提供的F点为不是滤棒的端部时查找爆珠密度的示意图。

具体实施方式

应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本公开提供进一步地说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本公开所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本公开的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

如图1所示，本实施例的一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法，至少包括：

步骤1：根据滤棒中每颗爆珠密度波峰的个数，确定出每颗爆珠密度波峰的取数范围。

具体地，滤棒中每颗爆珠密度波峰的个数包括：单峰和双峰。

在具体实施中，每颗爆珠密度值的计算过程为：

测量每支滤棒的所有预设检测单元的密度；

根据滤棒中每颗爆珠的设计位置划分出爆珠的设计区间；

查找每颗爆珠的设计区间内检测单元的最大密度，即得到滤棒中每颗爆珠的密度值。

具体地，利用微波谐振法测量每支滤棒的所有预设检测单元的密度。

微波谐振法，通过微波密度检测仪进行操作，微波是一种频率约从300MHz到300GHz(波长:1mm～1m)的电磁波，其遇到金属发生反射，金属无法对它进行吸收或传导；对于玻璃、陶瓷、塑料等绝缘材料，微波可以穿过但不会消耗能量；对于含有水分的物料，微波穿过时，其能量会被部分吸收。基于该特性，微波可实现密度的检测。

通过微波测量原理及谐振腔的设计原理可以得知，在谐振腔结构尺寸固定的情况下，其测量特征直接反映为2个主要参数：被测样品通过谐振腔时引起的谐振频率的偏移和谐振幅度的变化。

以1mm或以下的长度S为检测单元，采用微波谐振法测量爆珠滤棒密度，以检测单元为横轴单位，以长度为横轴、以密度为竖轴，绘制滤棒密度曲线；

根据滤棒中每颗爆珠的设计位置划分出爆珠的设计区间的具体过程为：

当爆珠设计位置位于滤棒端部时，把该爆珠所邻近端部起至该爆珠设计位置与其相邻的第一个爆珠设计位置中间所有检测单元作为该爆珠的设计区间；

当爆珠设计位置不位于滤棒端部时，把该爆珠计位置与其相邻的两个爆珠设计位置中间所有检测单元作为该爆珠的设计区间。

在每一颗爆珠的设计区间内，找出密度最大值，作为该爆珠的密度值ρ_ij，i为第i支滤棒，j为第i支滤棒的第j颗爆珠。

在爆珠的设计区间内密度最大值是爆珠密度值，由于爆珠为球形，检测单元的长度小于爆珠的球心半径：

当有爆珠时，爆珠密度值显著高于其周围的密度值，爆珠密度值及其周围的密度值会形成一个明显的波峰；

当没有爆珠时，由于滤棒中物质分布的连续性，爆珠密度值及其周围的密度值也会形成一个波峰，虽然该波峰不太明显。

因此，爆珠密度值及其周围一定数量密度值所形成的波峰，定义为爆珠的密度波峰。

当具有最大密度的检测单元的一个分界线与爆珠设计区间的一个非滤棒端部分界线重合时，得到当前爆珠的密度值标记为当前爆珠的初始密度值；若当前爆珠的初始密度值小于或等于当前爆珠紧邻的爆珠设计区间内最邻近的一个检测单元的密度值，则当前爆珠的设计区间自重合的分界线起减少，直到密度值出现拐点，在缩减后的设计区域内重新找出密度最大值，若新计算爆珠密度最大值所在检测单元不位于设计区域另一非滤棒端部分界线，就以新计算爆珠密度最大值作为当前爆珠密度；若新计算爆珠密度所在检测单元位于设计区域另一非滤棒端部分界线，且此分界线紧邻的另一爆珠设计区域的分界线所在检测单元的密度大于新计算爆珠密度，按上述方法继续缩减爆珠设计区域并计算爆珠密度；上述紧邻爆珠设计区域的爆珠密度为上述紧邻一个检测单元的密度值时，上述紧邻爆珠设计区域的爆珠密度虽在非滤棒端部分界线上，但不再重新计算。

如图4所示，假如F点为滤棒的端部，F到A间为甲爆珠设计区间，最大值在A点，在分界线上，A点密度值又小于B点密度值，就要从A点起缩减这个设计区间，缩减到C点，紧邻的E点密度值大于C点的，C点为拐点，从C点起到F点止的新区间的最大密度值在F点上，虽然也位于分界线上，但是滤棒端点，因此就以这个密度值为爆珠密度；

乙爆珠的设计区间假设为从B点到G点，最大值在点B，在分界线上，但B点密度值大于A点密度值，因此，乙爆珠的密度值就不用再算了，就用B点的密度值，B点密度值等于A点密度值时，也不用再算，否则，点A、B所在峰就可能漏用了。

如图5所示，假如F点不是滤棒的端部，F到A间为甲爆珠设计区间，最大值在A点，在分界线上，A点密度值又小于B点密度值，就要从A点起缩减这个设计区间，缩减到C点，紧邻的E点密度值大于C点的，C点为拐点，从C点起到F点止的新区间的最大密度值在F点上，F也位于分界线上，不是滤棒端点，F点密度值又小于G点密度值，就要继续从F点起缩减这个设计区间，缩减到H点拐点，从H点起到C点止的新区间的最大密度值在I点上，I点的密度值就是甲爆珠的密度了；乙爆珠和丙爆珠的密度值即使在分界线上也可以直接用了，不用再重新计算了。

谐振腔有一定的宽度，滤棒匀速通过谐振腔，仪器按固定的时间间隔测量谐振腔的特征值，且爆珠为球形，因此，只有谐振腔的中心与爆珠球心重合时，测出的密度值最大，且该值显著高于邻近的密度值，此时，爆珠的密度波峰为理想中的单峰形态；

只有爆珠的球心位于两次测量的中间点时，去除其它因素的影响，才会得到两个相等且最大的密度值，此时，爆珠的密度波峰为理想中的双峰形态；

在实际测量中，得到理想单、双峰形态的机会很少，通常情况下，测量时，谐振腔的中心与爆珠的球心都有一定的偏差，这时，就会得到近似的单、双峰形态。

本实施例通过微波谐振法可实现对爆珠滤棒的无损检测。

例如：采用密度仪代替手工，效率高、劳动强度小、操作者安全。

本实施例的滤棒匀速通过谐振腔，检测系统固定时间间隔测量数据，当滤棒中的爆珠球心与谐振腔中心重合时，测量到的爆珠密度值最大，且是唯一的最大值，当滤棒中的爆珠球心位于两次测量的谐振腔中间位置时，测量到的爆珠密度值最小，没有其它因素影响的话，是两个相等的最大值，采用单双峰区分爆珠波峰的取数方式，可以更好的体现检测过程中谐振腔中心点与爆珠球心的位置关系，提高回归分析的质量，也就使检测结果更加准确。

在具体实施中，滤棒中每颗爆珠密度波峰个数的确定过程为：

当I大于等于H时，密度波峰为单峰；

当I小于H时，密度波峰为双峰；

其中，I＝min{C1,C2}/max{C1,C2}；

C1为当前爆珠密度值减去其左邻爆珠的密度值的差；

C2为当前爆珠密度值减去其右邻爆珠的密度值的差；

H为判断密度波峰是单峰或双峰的阈值。

通过试验发现，对于某款细支爆珠滤棒，当H＝70％时判断爆珠是否缺失，效果较好，在实际应用中，可根据试验决定H的取值。

例如：P_i为滤棒第i颗爆珠的密度，单位为毫克每立方厘米(mg/cm³)，i为从1到m的正整数，m为该种滤棒爆珠颗数的设计值；

P_i＝max{ρ_i,1、ρ_i,2、ρ_i,3……ρ_i,n}；

ρ_i,1、ρ_i,2、ρ_i,3……ρ_i,n为滤棒第i颗爆珠的设计区域或缩减后设计区域内的所有检测单元密度值，单位为毫克每立方厘米(mg/cm³)，n为爆珠设计区域或缩减后设计区域最大检测单元数。

如果P₁＝ρ_1,n，且P₁≤ρ_2,1，则第1颗爆珠的设计区域自ρ_1,n所在检测单元起缩减到密度值拐点ρ_1,k(ρ_1,k<ρ_1,k-1)所在检测单元；在缩减后的设计区域内重新计算P₁，以新得P′₁为第1颗爆珠的密度；此时，若P₂＝ρ_2,1，P₂无需再重新计算。

如果P_i＝ρ_i,1，i≠1或m，且P_i＜ρ_i-1,n，则第i颗爆珠的设计区域自ρ_i,1所在检测单元起缩减到密度值拐点ρ_i,k(ρ_i,k<ρ_i,k+1)所在检测单元；在缩减后的设计区域内重新计算P_i，得P′_i；若P′_i≠ρ_i,n，以新得P′_i为第i颗爆珠的密度；若P′_i＝ρ_i,n，且P′_i≤ρ_i+1,1，则第i颗爆珠的设计区域自ρ_i,n所在检测单元起缩减到密度值拐点ρ_i,k(ρ_i,k<ρ_i,k+1)所在检测单元；在缩减后的设计区域内重新计算P_i，以新得P″_i为第i颗爆珠的密度；此时，若P_i+1＝ρ_i+1,1，P_i+1无需再重新计算。

如果P_m＝ρ_m,1，且P_m＜ρ_m-1,n，则第m颗爆珠的设计区域自ρ_m,1所在检测单元起缩减到密度值拐点ρ_m,k(ρ_m,k<ρ_m,k+1)所在检测单元；在缩减后的设计区域内重新计算P_m，以新得P′_m为第m颗爆珠的密度。

步骤2：拟合每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij；其中，Y为爆珠密度峰的密度，X为密度对应的检测单元序号，a_ij、b_ij和c_ij分别为第i支滤棒的第j颗爆珠的曲线方程的二次项系数、一次项系数和常系数。

在单位相同的情况下，把爆珠的设计直径D除以检测单元长度S，把用进一法得到的整数商记为n；

当爆珠的密度波峰是单峰时，以爆珠密度值ρ_ij为中心，从其左边紧邻的数据中，取n个密度值ρ_ij-n……ρ_ij-1，ρ_ij-n表示ρ_ij左边的第n个密度值，ρ_ij-1表示ρ_ij左边的第一个密度值；从其右边紧邻的数据中，取n个密度值ρ_ij+1……ρ_ij+n，ρ_ij+n表示ρ_ij右边的第n个密度值，ρ_ij+1表示ρ_ij右边的第一个密度值；ρ_ij-n……ρ_ij-1、ρ_ij、ρ_ij+1……ρ_ij+n一起组成一个数组A，以该数组为因变量Y值，以密度值对应的检测单元序号j-n……j-1、j、j+1……j+n组成数组B、单元序号的平方值(j-n)²……(j-1)²、j²、(j+1)²……(j+n)²组成数组C，B、C两个数组为变量X′、X″，回归分析，得回归方程Y＝aX″+bX′+c，a、b、c为方程系数；

当爆珠的密度波峰是双峰时，以爆珠密度值与其相邻的两个值中较大的一个密度值为中心，从其左右对称的各取n-1个密度值与爆珠密度值一起组成一个数组，以该数组为因变量Y值，以每个密度值对应的检测单元序号、单元序号的平方值组成的两个数组为变量X′、X″，回归分析，得回归方程Y＝aX″+bX′+c，a、b、c为方程系数；

用X代替X′，则X″＝X²，所得回归方程Y＝aX″+bX′+c变为Y＝aX²+bX+c，为开口朝下的抛物线，a为负值，用a′表示a的绝对值，则a′＝-a。

步骤3：将-a_ij与p或p′比较：

当-a_ij大于等于p或p′时，第i支滤棒的第j颗爆珠不缺失；

当-a_ij小于p或p′时，第i支滤棒的第j颗爆珠缺失；

其中，p＝f-mσ，f为爆珠无缺失的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的平均值；σ为爆珠无缺失且全破损一段时间后的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的标准偏差；p′＝f′+mσ′，f′为爆珠全部缺失的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的平均值；σ′为爆珠全部缺失的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的标准偏差；m为常数且取正数。

滤棒中爆珠无缺失、全部破损、且破损后24小时以上时，此时，爆珠内的液体已经全部渗透到丝束中或挥发出滤棒，不会干扰检测结果的准确性，第i支滤棒的第j颗爆珠的密度波峰对应抛物线方程中的二阶系数用a_ij表示，绝对值为-a_ij；把-a_ij的平均值记为f，把-a_ij的标准偏差记为σ，把σ的大于0的倍数记为m，用p＝f-mσ表示-a_ij可能出现的最小值；

滤棒中缺失全部爆珠时，爆珠的密度波峰对应抛物线方程中的二阶系数用a′_ij表示，绝对值为-a′_ij；把-a′_ij的平均值记为f′，把-a′_ij的标准偏差记为σ′，把σ′的大于0的倍数记为m，用p′＝f′+mσ′表示-a′_ij可能出现的最大值。

试验发现，当m＝3时，p大于p′，也就是说，-a_ij的波动范围与-a′_ij的波动范围重叠的概率小于0.13％；

因此，可以用p＝f-3σ或p′＝f′+3σ′作为判断爆珠是否缺失的阈值；

当测得的某个爆珠的-a_ij大于等于p′或p时，为爆珠无缺失；否则为缺失；

当用p作为判断爆珠是否缺失的阈值时，存在着将极少数小爆珠判为爆珠缺失的风险；

当用p′作为判断爆珠是否缺失的阈值时，存在着将极少数缺失爆珠判为爆珠无缺失的风险；

也可以用p′＝f′+mσ′或p＝f-mσ作为判断爆珠是否缺失的阈值；m的取值大小，代表了判定准确性的置信度，例如，68％置信程度对应m＝1，95％置信程度对应m＝2，99.7％置信程度对应m＝3，可以根据质量控制需要，选择合适的m值。

本实施例的该测定方法中，由于爆珠半径/直径本身较小，因此检测单元的长度选取小于爆珠半径的1mm或以下的长度进行测量。

在具体实施中，如果一种爆珠滤棒的设计值不更改，可以一直用测定的p或p′作为阈值，当设计有引起阈值变化的更改时，如爆珠的直径、丝束的规格等的更改，应重新按上述方法测定阈值。

下面详细给出具体实施例：

实施例1：

(1)确定H：

通过试验，确定H＝70％。

(2)计算n：

在单位相同的情况下，用爆珠的设计直径D除以检测单元长度S，用进一法得到的整数商作为n。

爆珠的设计直径D＝2.7mm，检测单元长度S＝1mm，用进一法得到的整数商n＝3。

(3)测定阈值p：

(3.1)随机采集已知爆珠无缺失、全部破损、且破损后24小时以上的滤棒样本20支，用微波密度仪测量每支滤棒每个检测单元的密度；

(3.2)根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间；

(3.3)采用在每颗爆珠的设计区间内找出最大密度的方法找出滤棒中每颗爆珠的密度值ρ_ij；

(3.4)计算每颗爆珠的I与H比较，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰是单峰还是双峰；

(3.5)根据单、双峰判断结果，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰的取数范围；

(3.6)通过回归分析，得到每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij；

(3.7)求出所有-a_ij的平均值f＝0.94，-a_ij的标准偏差σ＝0.06；

(3.8)确定m的取值:m＝3；

(3.9)确定阈值：p＝f-mσ＝0.94-3*0.06＝0.76。

(4)测定待测样品的-a_ij：

(4.1)用微波密度仪测量滤棒每个检测单元的密度，如图2所示；

(4.2)根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间；

(4.3)采用在每颗爆珠的设计区间内找出最大密度的方法找出滤棒中每颗爆珠的密度值ρ_ij；

(4.4)计算每颗爆珠的I与H比较，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰是单峰还是双峰；

(4.5)根据单、双峰判断结果，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰的取数范围；

(4.6)通过回归分析，得到每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij：-a₁₁＝0.22、-a₁₂＝4.04、-a₁₃＝3.26、-a₁₄＝3.22。

(5)判断爆珠是否缺失：

用-a_ij与p比较：

-a₁₁<p，第1支滤棒的第1颗爆珠缺失；

-a₁₂>p，第1支滤棒的第2颗爆珠不缺失；

-a₁₃>p，第1支滤棒的第3颗爆珠不缺失；

-a₁₄>p，第1支滤棒的第4颗爆珠不缺失。

实施例2：

(1)确定H：

通过试验，确定H＝70％。

(2)计算n：

在单位相同的情况下，用爆珠的设计直径D除以检测单元长度S，用进一法得到的整数商作为n。

爆珠的设计直径D＝2.8mm，检测单元长度S＝1mm，用进一法得到的整数商n＝3。

(3)测定阈值p′：

(3.1)随机采集已知爆珠全部缺失的滤棒样本20支，用微波密度仪测量每支滤棒每个检测单元的密度；

(3.2)根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间；

(3.3)采用在每颗爆珠的设计区间内找出最大密度的方法找出滤棒中每颗爆珠的密度值ρ′_ij；

(3.4)计算每颗爆珠的I，与H比较，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰是单峰还是双峰；

(3.5)根据单、双峰判断结果，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰的取数范围；

(3.6)通过回归分析，得到每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a′_ijX²+b′_ijX+c′_ij；

(3.7)求出所有-a′_ij的平均值f′＝0.20，-a′_ij的标准偏差σ′＝0.15；

(3.8)确定m的取值:m＝3；

(3.9)确定阈值：p′＝f′+mσ′＝0.20+3*0.15＝0.65。

(4)测定待测样品的-a_ij：

(4.1)用微波密度仪测量滤棒每个检测单元的密度，如图3所示；

(4.2)根据滤棒每颗爆珠的设计位置划分出设计区间；

(4.3)采用在每颗爆珠的设计区间内找出最大密度的方法找出滤棒中每颗爆珠的密度值ρ_ij；

(4.4)计算每颗爆珠的I，与H比较，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰是单峰还是双峰；

(4.5)根据单、双峰判断结果，确定滤棒中每颗爆珠的密度波峰的取数范围；

(4.6)通过回归分析，得到每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij：-a₁₁＝0.13、-a₁₂＝3.53、-a₁₃＝3.87、-a₁₄＝0.39。

(5)判断爆珠是否缺失：

用-a_ij与p′比较：

-a₁₁<p′，第1支滤棒的第1颗爆珠缺失；

-a₁₂>p′，第1支滤棒的第2颗爆珠不缺失；

-a₁₃>p′，第1支滤棒的第3颗爆珠不缺失；

-a₁₄<p′，第1支滤棒的第4颗爆珠缺失。

通过实施例1和实施例2的检测结果，进一步采用剖切法复验，效果准确度高。

本实施例还提供了一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如图1所示的测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法中的步骤。

本实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如如图1所示的测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法中的步骤。

本领域内的技术人员应明白，本公开的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本公开可采用硬件实施例、软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本公开可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本公开是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)等。

上述虽然结合附图对本公开的具体实施方式进行了描述，但并非对本公开保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本公开的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本公开的保护范围以内。

Claims (10)

1.一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法，其特征在于，包括：

根据滤棒中每颗爆珠密度波峰的个数，确定出每颗爆珠密度波峰的取数范围；

拟合每颗爆珠密度波峰的曲线方程Y＝a_ijX²+b_ijX+c_ij；其中，Y为爆珠密度峰的密度，X为密度对应的检测单元序号，a_ij、b_ij和c_ij为分别第i支滤棒的第j颗爆珠的曲线方程的二次项系数、一次项系数和常系数；

将-a_ij与p或p′比较：

当-a_ij大于等于p或p′时，第i支滤棒的第j颗爆珠不缺失；

当-a_ij小于p或p′时，第i支滤棒的第j颗爆珠缺失；

其中，p＝f-mσ，f为爆珠无缺失的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的平均值；σ为爆珠无缺失且全破损一段时间后的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的标准偏差；p′＝f′+mσ′，f′为爆珠全部缺失的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的平均值；σ′为爆珠全部缺失的滤棒的所有爆珠密度波峰曲线方程的二次项的标准偏差；m为常数且取正数。

2.如权利要求1所述的一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法，其特征在于，滤棒中每颗爆珠密度波峰的个数包括：单峰和双峰。

3.如权利要求1所述的一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法，其特征在于，滤棒中每颗爆珠密度波峰个数的确定过程为：

当I大于等于H时，密度波峰为单峰；

当I小于H时，密度波峰为双峰；

其中，I＝min{C1,C2}/max{C1,C2}；

C1为当前爆珠密度值减去其左邻爆珠的密度值的差；

C2为当前爆珠密度值减去其右邻爆珠的密度值的差；

H为判断密度波峰是单峰或双峰的阈值。

4.如权利要求1所述的一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法，其特征在于，每颗爆珠密度值的计算过程为：

测量每支滤棒的所有预设检测单元的密度；

根据滤棒中每颗爆珠的设计位置划分出爆珠的设计区间；

查找每颗爆珠的设计区间内检测单元的最大密度，即得到滤棒中每颗爆珠的密度值；

或

当具有最大密度的检测单元的一个分界线与爆珠设计区间的一个非滤棒端部分界线重合时，得到当前爆珠的密度值标记为当前爆珠的初始密度值；若当前爆珠的初始密度值小于或等于当前爆珠紧邻的爆珠设计区间内最邻近的一个检测单元的密度值，则当前爆珠的设计区间自重合的分界线起减少，直到密度值出现拐点，在缩减后的设计区域内重新找出密度最大值，若新计算爆珠密度最大值所在检测单元不位于设计区域另一非滤棒端部分界线，就以新计算爆珠密度最大值作为当前爆珠密度；若新计算爆珠密度所在检测单元位于设计区域另一非滤棒端部分界线，且此分界线紧邻的另一爆珠设计区域的分界线所在检测单元的密度大于新计算爆珠密度，按上述方法继续缩减爆珠设计区域并计算爆珠密度；上述紧邻爆珠设计区域的爆珠密度为上述紧邻一个检测单元的密度值时，上述紧邻爆珠设计区域的爆珠密度虽在非滤棒端部分界线上，但不再重新计算。

5.如权利要求4所述的一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法，其特征在于，根据滤棒中每颗爆珠的设计位置划分出爆珠的设计区间的具体过程为：

当爆珠设计位置位于滤棒端部时，把该爆珠所邻近端部起至该爆珠设计位置与其相邻的第一个爆珠设计位置中间所有检测单元作为该爆珠的设计区间；

当爆珠设计位置不位于滤棒端部时，把该爆珠计位置与其相邻的两个爆珠设计位置中间所有检测单元作为该爆珠的设计区间。

6.如权利要求4所述的一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法，其特征在于，检测单元的长度小于爆珠的球心半径。

7.如权利要求1所述的一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法，其特征在于，利用微波谐振法测量每支滤棒的所有预设检测单元的密度。

8.如权利要求1所述的一种测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法，其特征在于，通过回归分析来拟合每颗爆珠密度波峰的曲线方程。

9.一种可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项所述的测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法中的步骤。

10.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-8中任一项所述的测定爆珠滤棒中爆珠缺失的方法中的步骤。