CN110244174B - 数据接口的测试电路 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种数据接口的测试电路，包括接口模块、分压模块及比较模块；所述接口模块包括多个连接电源端及连接接地端，所述分压模块包括分压电阻群，所述分压电阻群包括多个串联的分压电阻，所述比较模块包括输入端，所述输入端包括两个输入引脚，所述输入端对应一个输出端。本发明提供的数据接口的测试电路，能够实现对待测数据接口的数据电源脚及数据接地脚进行测试，避免了数据电源脚及数据接地脚的焊接出现异常，提高了待测数据接口的安全性能，测试电路简单；并且，测试结果明显易见，提高了测试效率。

Description

数据接口的测试电路
【技术领域】
本发明涉及测试领域，尤其涉及一种数据接口的测试电路。
【背景技术】
随着各类智能终端的广泛应用，由于所支持的数据传输的规范不同，智能终端的数据接口也呈现多元化，例如数据接口可以为USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口、HDMI(High Definition Multimedia Interface,高清多媒体接口)、读卡器等。通常，数据接口均包括多个电源脚及接地脚，电源脚及接地脚是数据接口实现数据传输功能的基础，如果电源脚及接地脚的焊接出现异常，将造成功能不良，甚至是短路，影响安全性能。
鉴于此，实有必要提供一种新型的数据接口的测试电路以克服上述缺陷。
【发明内容】
本发明的目的是提供一种能够实现对待测数据接口进行测试、避免数据接口的焊接出现异常、提高安全性能且测试电路简单的数据接口的测试电路。
为了实现上述目的，本发明提供一种数据接口的测试电路，包括接口模块、分压模块及比较模块；所述接口模块包括多个连接端，所述分压模块包括分压电阻群，所述分压电阻群包括多个串联的分压电阻，所述比较模块包括输入端，所述输入端包括两个输入引脚，一个所述输入端对应一个输出端；所述接口模块的连接端连接所述分压电阻群的一端，所述分压电阻群的另一端用于连接待测数据接口；所述输入端中的一个输入引脚连接所述分压电阻群内的多个分压电阻之间以获取分压电压，所述输入端中的另一个输入引脚连接参考电压；所述比较模块通过比较所述输入端中的一个输入引脚处的分压电压及另一个引脚处的参考电压，控制与所述输入端对应的输出端输出所述待测数据接口的测试信号。
在一个优选实施方式中，所述连接端包括多个连接电源端及连接接地端，所述分压电阻群的数量为多个，所述输入端的数量为多个，所述输入引脚为正极输入端或负极输入端；所述待测数据接口包括数据接地端及数据电源端；所述连接接地端连接所述分压电阻群的一端，所述分压电阻群的另一端用于连接所述数据电源端；所述输入端中的正极输入端连接所述分压电阻群内的多个分压电阻之间以获取分压电压，所述输入端中的负极输入端连接参考电压；所述比较模块通过比较所述输入端中的正极输入端处的分压电压及负极输入端处的参考电压，控制与所述输入端对应的输出端输出所述待测数据接口的数据电源端的测试信号；所述连接电源端连接所述分压电阻群的一端，所述分压电阻群的另一端用于连接所述数据接地端；所述输入端中的负极输入端连接所述分压电阻群内的多个分压电阻之间以获取分压电压，所述输入端中的正极输入端连接参考电压；所述比较模块通过比较所述输入端中的负极输入端处的分压电压及正极输入端处的参考电压，控制与所述输入端对应的输出端输出所述待测数据接口的数据接地端的测试信号。
在一个优选实施方式中，还包括控制模块，所述控制模块连接所述比较模块的输出端，所述控制模块用于接收所述测试信号并将所述测试信号传输至包括所述待测数据接口的待测终端。
在一个优选实施方式中，所述控制模块通过无线数据模块与所述待测终端进行无线通信，所述无线数据模块为蓝牙模块或Wi-Fi模块。
在一个优选实施方式中，所述控制模块为MCU控制芯片。
在一个优选实施方式中，还包括测试结果显示模块，所述测试结果显示模块包括多条测试结果显示线路，每条测试结果显示线路对应连接所述比较模块的一个输出端，所述测试结果显示线路用于显示所述输出端输出的测试信号对应的测试结果。
在一个优选实施方式中，所述每条测试结果显示线路包括通过显示单元及未通过显示单元；所述通过显示单元用于显示所述输出端输出的测试信号对应的通过的测试结果，所述未通过显示单元用于显示所述输出端输出的测试信号对应的未通过的测试结果。
在一个优选实施方式中，所述通过显示单元包括第一开关单元及与所述第一开关单元连接的第一显示单元，所述第一开关单元的导通及关断控制所述第一显示单元的点亮及熄灭；所述未通过显示单元包括第二开关单元及与所述第二开关单元连接的第二显示单元，所述第二开关单元的导通及关断控制所述第二显示单元的点亮及熄灭。
在一个优选实施方式中，所述第一开关单元及所述第二开关单元为MOS管，所述第一显示单元及所述第二显示单元为LED灯。
在一个优选实施方式中，所述第一开关单元为N型MOS管，所述第一显示单元为绿色LED灯，所述N型MOS管的G极连接所述输出端，所述N型MOS管的D极连接所述绿色LED灯，所述N型MOS管的S极接地；所述第二开关单元为P型MOS管，所述第二显示单元为红色LED灯，所述P型MOS管的G极连接所述输出端，所述P型MOS管的S极连接所述红色LED灯，所述P型MOS管的D极接地。
在一个优选实施方式中，所述绿色LED灯及所述红色LED灯还分别连接有上拉电阻。
相比于现有技术，对待测数据接口进行测试时，连接端通过连接一组分压电阻群与待测数据接口连接形成分压回路，比较模块的一个输入引脚连接分压电阻之间，即一个输入引脚输入分压电压，另一个输入引脚输入参考电压，比较模块通过比较分压电压及参考电压的电压大小，控制对应的输出端输出测试信号，即实现了待测数据接口的测试，避免了待测数据接口的焊接出现异常，提高了待测数据接口的安全性能，测试电路简单。
为使发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本发明较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
【附图说明】
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本发明提供的数据接口的测试电路的原理框图；
图2为图1所示的数据接口的测试电路的电路图；
图3为本发明提供的数据接口的测试电路的测试结果显示模块的原理框图；
图4为图3所示的测试结果显示模块的电路图。
【具体实施方式】
下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，图1为本发明提供的数据接口的测试电路100的原理框图；本发明提供的数据接口的测试电路100，包括接口模块10、分压模块20及比较模块30。
请一并参阅图2，接口模块10包括连接端111，分压模块20包括分压电阻群21，分压电阻群21包括多个串联的分压电阻22，比较模块包括输入端31，输入端31包括两个输入引脚，一个输入端31对应一个输出端32。
接口模块10的连接端111连接分压电阻群21的一端，分压电阻群21的另一端用于连接待测数据接口200；输入端31中的一个输入引脚连接分压电阻群21内的多个分压电阻22之间以获取分压电压Vr，输入端31中的另一个输入引脚连接参考电压Vref；比较模块30通过比较输入端31中的一个输入引脚处的分压电压Vr及另一个引脚处的参考电压Vref，控制与输入端31对应的输出端32输出待测数据接口200的测试信号。
本发明提供的数据接口的测试电路100，对待测数据接口200进行测试时，连接端111通过连接一组分压电阻群21与待测数据接口200连接形成分压回路，比较模块30的一个输入引脚连接分压电阻22之间，即一个输入引脚输入分压电压Vr，另一个输入引脚输入参考电压Vref，比较模块30通过比较分压电压Vr及参考电压Vref的电压大小，控制对应的输出端32输出测试信号，即实现了待测数据接口200的测试，避免了待测数据接口200的焊接出现异常，提高了待测数据接口200的安全性能，测试电路简单。
进一步地，连接端111包括多个连接电源端11及连接接地端12，分压电阻群21的数量为多个，输入端31的数量为多个，输入引脚为正极输入端311或负极输入端312；待测数据接口200包括数据接地端201及数据电源端202。
连接接地端12连接分压电阻群21的一端，分压电阻群21的另一端用于连接数据电源端202；输入端31中的正极输入端311连接分压电阻群21内的多个分压电阻22之间以获取分压电压Vr，输入端31中的负极输入端312连接参考电压Vref；比较模块30通过比较输入端31中的正极输入端311处的分压电压及负极输入端312处的参考电压Vref，控制与输入端31对应的输出端32输出所述待测数据接口200的数据电源端202的测试信号；连接电源端11连接分压电阻群22的一端，分压电阻群22的另一端用于连接数据接地端201；输入端31中的负极输入端312连接分压电阻群21内的多个分压电阻22之间以获取分压电压Vr，输入端31中的正极输入311端连接参考电压Vref；比较模块30通过比较输入端31中的负极输入端312处的分压电压Vr及正极输入端311处的参考电压Vref，控制与输入端31对应的输出端32输出待测数据接口200的数据接地端201的测试信号。
本发明提供的数据接口的测试电路100，对待测数据接口200的数据电源端202测试时，连接接地端12通过连接一组分压电阻群21与待测数据接口200的数据电源端202连接形成分压回路，比较模块30的正极输入端311连接分压电阻22之间，即正极输入端311输入分压电压Vr，负极输入端312输入参考电压Vref，比较模块30通过比较分压电压Vr及参考电压Vref的电压大小，控制对应的输出端32输出测试信号，即实现了待测数据接口200的数据电源端202的测试，例如，若Vr>Vref，则输出端32输出测试通过的测试信号，否则，输出端32输出测试未通过的测试信号；对待测数据接口200的数据接地端201测试时，连接电源端11通过连接一组分压电阻群21与待测数据接口200的数据接地端201连接形成分压回路，比较模块30的负极输入端312连接分压电阻22之间，即负极输入端312输入分压电压Vr，正极输入端311输入参考电压Vref，比较模块30通过比较分压电压Vr及参考电压Vref的电压大小，控制对应的输出端32输出测试信号，即实现了待测数据接口200的数据接地端201的测试，例如，若Vr<Vref，则输出端32输出测试通过的测试信号，否则，输出端32输出测试未通过的测试信号。
可以理解，Vref的大小及分压电阻22的个数及阻值均可以根据待测数据接口200的参数的大小而设定，以待测数据接口200为USB A型接口为例，则数据电源端202的电压为5V，假设分压电阻群21包括两个阻值相同的分压电阻22，则正常情况下Vr＝2.5V，Vref可以设定为2.3V，若数据电源端202焊接正常，Vr>Vref，则输出端32输出测试通过的测试信号，若数据电源端202空焊，Vr<Vref，输出端32输出测试未通过的测试信号。对数据接地端201的测试时，Vref的设定同理，此处不再赘述。本实施方式中，测试通过的测试信号为高电平信号，测试未通过的测试信号为低电平信号。
因此，本发明提供的数据接口的测试电路100，能够实现对待测数据接口200的数据电源脚202及数据接地脚201进行测试，避免了数据电源脚202及数据接地脚201的焊接出现异常，提高了待测数据接口200的安全性能，测试电路简单。
进一步的，本发明提供的数据接口的测试电路100，还包括控制模块40，控制模块40连接比较模块30的输出端33，控制模块40用于接收测试信号并将测试信号传输至包括所述待测数据接口200的待测终端210。具体的，控制模块40为MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)芯片，控制模块40通过无线数据模块41与待测终端210进行无线通信，无线数据模块41可以为蓝牙模块或Wi-Fi模块。控制模块40将测试信号传输至待测终端210，待测终端210能够接收测试信号并根据测试信号反馈测试结果，测试结果通过待测终端210反馈，测试结果易得。
请一并参阅图3，为了使测试结果更加明了易见，本发明提供的数据接口的测试电路100，还包括测试结果显示模块50，测试结果显示模块50包括多条测试结果显示线路51，每条测试结果显示线路51对应连接比较模块30的一个输出端32，测试结果显示线路51用于显示输出端32输出的测试信号对应的测试结果。
每条测试结果显示线路51包括通过显示单元511及未通过显示单元512，比较模块30的每一个输出端32对应连接一个通过显示单元511及一个未通过显示单元512；通过显示单元511用于显示输出端32输出的测试信号对应的通过的测试结果，未通过显示单元512用于显示输出端32输出的测试信号对应的未通过的测试结果。具体的，通过显示单元511包括第一开关单元513及与第一开关单元513连接的第一显示单元514，第一开关单元513的导通及关断控制第一显示单元514的点亮及熄灭；未通过显示单元512包括第二开关单元515及与第二开关单元515连接的第二显示单元516，第二开关单元515的导通及关断控制第二显示单元516的点亮及熄灭。
请一并参阅图4，本实施方式中，第一开关单元513及第二开关单元515为MOS管，第一显示单元514及第二显示单元516为LED灯。具体的，第一开关单元513为N型MOS管Q1，第一显示单元514为绿色LED灯，N型MOS管Q1的G极连接输出端32，N型MOS管Q1的D极连接绿色LED灯，N型MOS管Q1的S极接地；第二开关单元515为P型MOS管Q2，第二显示单元516为红色LED灯，P型MOS管Q2的G极连接输出端32，P型MOS管Q2的S极连接红色LED灯，P型MOS管Q2的D极接地。
在测试结果显示线路51中，若输出端32输出测试通过的测试信号(高电平信号)，则N型MOS管Q1的G极为高电平信号，P型MOS管Q2的G极为高电平信号，此时，N型MOS管Q1导通，P型MOS管Q2关断，即绿色LED灯点亮，红色LED灯熄灭；若输出端32输出测试未通过的测试信号(低电平信号)，则N型MOS管Q1的G极为低电平信号，P型MOS管Q2的G极为低电平信号，此时，N型MOS管Q1关断，P型MOS管Q2导通，即绿色LED灯熄灭，红色LED灯点亮。因此，测试结果更加明显易见，提高了测试效率。
本实施方式中，绿色LED灯及红色LED灯还分别连接有上拉电阻r，上拉电阻r还连接有上拉电源V。由于LED灯为发光二极管，由于发光二极管所允许流过的电流较小，因此，加入上拉电阻r限制流入发光二极管即红色LED灯或绿色LED灯的电流，以保护红色LED灯及绿色LED灯。
综上，本发明提供的数据接口的测试电路100，对待测数据接口200进行测试时，连接端111通过连接一组分压电阻群21与待测数据接口200连接形成分压回路，比较模块30的一个输入引脚连接分压电阻22之间，即一个输入引脚输入分压电压Vr，另一个输入引脚输入参考电压Vref，比较模块30通过比较分压电压Vr及参考电压Vref的电压大小，控制对应的输出端32输出测试信号，即实现了待测数据接口200的测试，避免了待测数据接口200的焊接出现异常，提高了待测数据接口200的安全性能，测试电路简单。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均包括在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种数据接口的测试电路，其特征在于，包括接口模块、分压模块及比较模块；所述接口模块包括连接端，所述分压模块包括分压电阻群，所述分压电阻群包括多个串联的分压电阻，所述比较模块包括输入端，所述输入端包括两个输入引脚，一个所述输入端对应一个输出端；待测数据接口包括数据接地端及数据电源端；
所述接口模块的连接端连接所述分压电阻群的一端，所述分压电阻群的另一端用于连接待测数据接口；所述输入端中的一个输入引脚连接所述分压电阻群内的多个分压电阻之间以获取分压电压，所述输入端中的另一个输入引脚连接参考电压；所述比较模块通过比较所述输入端中的一个输入引脚处的分压电压及另一个引脚处的参考电压，控制与所述输入端对应的输出端输出所述待测数据接口的数据接地端或数据电源端的测试信号。
2.如权利要求1所述的数据接口的测试电路，其特征在于，所述连接端包括多个连接电源端及连接接地端，所述分压电阻群的数量为多个，所述输入端的数量为多个，所述输入引脚为正极输入端或负极输入端；
所述连接接地端连接所述分压电阻群的一端，所述分压电阻群的另一端用于连接所述数据电源端；所述输入端中的正极输入端连接所述分压电阻群内的多个分压电阻之间以获取分压电压，所述输入端中的负极输入端连接参考电压；所述比较模块通过比较所述输入端中的正极输入端处的分压电压及负极输入端处的参考电压，控制与所述输入端对应的输出端输出所述待测数据接口的数据电源端的测试信号；
所述连接电源端连接所述分压电阻群的一端，所述分压电阻群的另一端用于连接所述数据接地端；所述输入端中的负极输入端连接所述分压电阻群内的多个分压电阻之间以获取分压电压，所述输入端中的正极输入端连接参考电压；所述比较模块通过比较所述输入端中的负极输入端处的分压电压及正极输入端处的参考电压，控制与所述输入端对应的输出端输出所述待测数据接口的数据接地端的测试信号。
3.如权利要求2所述的数据接口的测试电路，其特征在于，还包括控制模块，所述控制模块连接所述比较模块的输出端，所述控制模块用于接收所述测试信号并将所述测试信号传输至包括所述待测数据接口的待测终端。
4.如权利要求3所述的数据接口的测试电路，其特征在于，所述控制模块通过无线数据模块与所述待测终端进行无线通信，所述无线数据模块为蓝牙模块或Wi-Fi模块。
5.如权利要求4所述的数据接口的测试电路，其特征在于，还包括测试结果显示模块，所述测试结果显示模块包括多条测试结果显示线路，每条测试结果显示线路对应连接所述比较模块的一个输出端，所述测试结果显示线路用于显示所述输出端输出的测试信号对应的测试结果。
6.如权利要求5所述的数据接口的测试电路，其特征在于，所述每条测试结果显示线路包括通过显示单元及未通过显示单元；所述通过显示单元用于显示所述输出端输出的测试信号对应的通过的测试结果，所述未通过显示单元用于显示所述输出端输出的测试信号对应的未通过的测试结果。
7.如权利要求6所述的数据接口的测试电路，其特征在于，所述通过显示单元包括第一开关单元及与所述第一开关单元连接的第一显示单元，所述第一开关单元的导通及关断控制所述第一显示单元的点亮及熄灭；所述未通过显示单元包括第二开关单元及与所述第二开关单元连接的第二显示单元，所述第二开关单元的导通及关断控制所述第二显示单元的点亮及熄灭。
8.如权利要求7所述的数据接口的测试电路，其特征在于，所述第一开关单元及所述第二开关单元为MOS管，所述第一显示单元及所述第二显示单元为LED灯。
9.如权利要求8所述的数据接口的测试电路，其特征在于，所述第一开关单元为N型MOS管，所述第一显示单元为绿色LED灯，所述N型MOS管的G极连接所述输出端，所述N型MOS管的D极连接所述绿色LED灯，所述N型MOS管的S极接地；所述第二开关单元为P型MOS管，所述第二显示单元为红色LED灯，所述P型MOS管的G极连接所述输出端，所述P型MOS管的S极连接所述红色LED灯，所述P型MOS管的D极接地。
10.如权利要求9所述的数据接口的测试电路，其特征在于，所述绿色LED灯及所述红色LED灯还分别连接有上拉电阻。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112540324B (zh) * 2019-09-19 2024-05-14 神讯电脑(昆山)有限公司 一种对接口功能测试系统及其方法
CN115617591B (zh) * 2022-11-18 2023-11-03 北京万里红科技有限公司 通路断开测试方法、系统、测试治具、测试主机及介质

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1125776A1 (ru) * 1983-07-29 1984-11-23 Предприятие П/Я А-7306 Генератор телевизионных измерительных сигналов
CN202330615U (zh) * 2011-11-30 2012-07-11 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司 一种电气接地检测电路

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE336007T1 (de) * 2000-02-23 2006-09-15 Koninkl Philips Electronics Nv Integrierte schaltung mit testinterface
TW492268B (en) * 2000-07-26 2002-06-21 Chung Shan Inst Of Science Needle bed replacing type test system
CN103871340B (zh) * 2014-03-06 2016-06-29 京东方科技集团股份有限公司 信号接口检测装置
CN206272777U (zh) * 2016-11-11 2017-06-20 广州视源电子科技股份有限公司 电视机外观测试系统
CN206990773U (zh) * 2017-06-30 2018-02-09 无锡吉兴汽车声学部件科技有限公司 一种测试电源模块工作状态的检测装置
CN107807326B (zh) * 2017-10-31 2020-04-10 江苏友润微电子有限公司 Sp8封装形式的锂电池充电器件测试电路及其测试方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1125776A1 (ru) * 1983-07-29 1984-11-23 Предприятие П/Я А-7306 Генератор телевизионных измерительных сигналов
CN202330615U (zh) * 2011-11-30 2012-07-11 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司 一种电气接地检测电路

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