CN216209536U - 测试系统、智能模组以及智能设备 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种测试系统、智能模组以及智能设备。测试系统，用于测试智能模组的内部电路对应的电源输出管脚的等效阻抗的分压值，测试系统包括：模拟开关，模拟开关包括多个输入端，多个输入端分别用于与不同的电源输出管脚连接，模拟开关还包括输出端和配置端；控制模块，控制模块与配置端连接；控制模块用于对配置端进行配置，将多个输入端中的目标输入端与输出端连通；控制模块包括：电压采样模块，电压采样模块与输出端连接；上拉电阻，上拉电阻的一端与电压源连接，上拉电阻的另一端与输出端连接，上拉电阻的另一端还与电压采样模块连接。该测试系统用以降低测试成本，实现智能模组的有效测试，避免产品出现质量问题。

Description

测试系统、智能模组以及智能设备

技术领域

本申请涉及电子电路技术领域，具体而言，涉及一种测试系统、智能模组以及智能设备。

背景技术

现有的智能模组的测试方法为：上位机将指令传给智能模组，智能模组会打开相应的电源输出管脚，该电源输出管脚输出期望电压值，该期望电压值会通过排线输出给控制器的ADC(Analog-to-Digital Converter，模数转换器)管脚，控制器读取电压值，并通过串口上报给上位机，以实现智能模组的电源输出管脚的电压测试。

在这种测试方法中，存在两方面的缺点，一方面，智能模组所输出的电压差异较大，而ADC的电压采集范围有限，则，针对不同的智能模组，需要设计不同的控制器，增加测试成本以及维护成本。另一方面，如果智能模组相应的电源输出管脚处于“半损坏”状态，其输出电压仍然正常，在老化试验过后才会出现失效问题，现有的测试方法不能判断这些处于“半损坏”状态的模组。

因此，现有的智能模组的测试方案，测试成本较高，且不能实现所有的电源输出管脚的有效测试，容易导致产品出现质量问题。

实用新型内容

本申请实施例的目的在于提供一种测试系统、智能模组以及智能设备，用以降低测试成本，实现智能模组的有效测试，避免产品出现质量问题。

第一方面，本申请实施例提供一种测试系统，用于测试智能模组的内部电路对应的电源输出管脚的等效阻抗的分压值，所述测试系统包括：模拟开关，所述模拟开关包括多个输入端，所述多个输入端分别用于与不同的所述电源输出管脚连接，所述模拟开关还包括输出端和配置端；控制模块，所述控制模块与所述配置端连接；所述控制模块用于对所述配置端进行配置，将所述多个输入端中的目标输入端与所述输出端连通；所述控制模块包括：电压采样模块，所述电压采样模块与所述输出端连接；上拉电阻，所述上拉电阻的一端与电压源连接，所述上拉电阻的另一端与所述输出端连接，所述上拉电阻的另一端还与所述电压采样模块连接。

在本申请实施例中，与现有技术相比，不再直接测试电源输出管脚的输出电压值，而是测试电源输出管脚的等效阻抗的分压值，该部分分压值通过上拉电阻，可以实现测试。由于每个电源输出管脚都会有相应的等效阻抗，因此，测试等效阻抗的分压值可以有效地发现处于“半损坏”状态的管脚，及早地发现问题，避免产品出现质量问题。并且，测试等效阻抗的分压值，相较于直接测试电压值，电压采样模块所采样的电压值的电压范围减小，因此，不需要针对不同的智能模组，设计不同的电压采样模块，降低测试成本以及维护成本。

作为一种可能的实现方式，所述内部电路包括：Buck(降压式变换电路)电路和LDO(Low Dropout Regulator，低压差线性稳压器)电路，所述多个输入端包括与所述Buck电路对应的电源输出管脚连接的输入端，和与所述LDO电路对应的电源输出管脚连接的输入端。

在本申请实施例中，通过上述测试系统，可以实现智能模组的Buck电路和LDO电路分别对应的电源输出管脚的等效阻抗的分压值的有效测试。

作为一种可能的实现方式，所述电压源为所述LDO电路，所述LDO 电路的使能端与所述控制模块连接，所述LDO电路的输出端与所述上拉电阻的一端连接，所述控制模块用于控制所述LDO电路输出预设电压。

在本申请实施例中，利用智能模组的LDO电路作为电压源，可以降低测试系统的成本。

作为一种可能的实现方式，所述配置端包括：多个子配置端；所述多个子配置端分别与所述控制模块连接；所述控制模块用于输入配置值给各个所述子配置端，以使所述多个子配置端具有不同的配置值组合，不同的配置值组合用于使不同的目标输入端与所述输出端连通。

在本申请实施例中，通过多个子配置端的不同的配置值组合，实现将不同的目标输入端与输出端连通，进而实现不同的电源输出管脚的等效阻抗的分压值的有效测试。

作为一种可能的实现方式，所述测试系统还包括：二极管；所述二极管的阳极与所述上拉电阻的另一端连接，所述二极管的阴极与所述输出端连接，所述二极管的阴极还与所述电压采样模块连接。

在本申请实施例中，通过在上拉电阻与ADC采样端以及输出端之间接入二极管，可以防止电流反向流动而造成安全隐患，提高测试系统的安全性。

作为一种可能的实现方式，所述上拉电阻的电阻值为10K。

在本申请实施例中，通过10K的上拉电阻，实现等效阻抗的分压值的测试。

第二方面，本申请实施例提供一种智能模组，包括：多个内部电路；所述多个内部电路分别对应有电源输出管脚；如第一方面以及第一方面的任意一种可能的实现方式中所述的测试系统，所述测试系统用于测试所述电源输出管脚的等效阻抗的分压值。

在本申请实施例中，通过在智能模组中集成上述测试系统，可以实现智能模组的电源输出管脚的等效阻抗的分压值的有效测试，提高智能模组的质量。

第三方面，本申请实施例提供一种智能设备，包括：设备本体；设置在所述设备本体内的智能模组；如第一方面以及第一方面的任意一种可能的实现方式中所述的测试系统。

在本申请实施例中，通过在智能设备中设置上述测试系统，可以实现智能模组的电源输出管脚的等效阻抗的分压值的有效测试，提高智能模组的安全性，进而提高智能设备的质量。

作为一种可能的实现方式，所述智能设备还包括MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)；所述控制模块为所述MCU。

在本申请实施例中，上述测试系统中的控制模块可以为智能设备的 MCU模块，降低测试系统的设备成本。

作为一种可能的实现方式，所述智能设备为：POS(Point of sales，销售点)机、无人售货机或者直播设备。

在本申请实施例中，上述的测试系统可以应用于POS机、无人售货机或者直播设备等智能设备，提高这类智能设备的质量。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的测试系统的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的测试系统在实际应用时的结构示意图。

图标：100-测试系统；110-模拟开关；120-控制模块；130-上拉电阻。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

本申请实施例提供的测试系统可以应用于对智能模组进行测试，主要是对智能设备内部的PMIC(Power Management IC，电源管理集成电路) 进行测试，即本申请实施例中的智能模组指的是电源集成管理电路。

在智能模组的内部，包括多个内部电路，这些内部电路会给外设供电，因此，需要对这些内部电路对应的电源输出管脚进行测试，以确定出厂前智能模组的输出电压是正常的，进而提高产品的质量。

在现有的测试方案中，通常直接测试这些电源输出管脚的输出电压，这种测试方案不能实现针对全部的电源输出管脚进行有效测试，进而容易导致产品出现质量问题。

基于此，在本申请实施例中提出一种新的测试方案，不再测试电源输出管脚的直接输出电压，而是测试电源输出管脚的等效阻抗的分压值，由于每个电源输出管脚都具有等效阻抗的分压值。因此，这种测试方案可以对每个电源输出管脚都进行有效的测试，进而保证产品的质量。

进一步地，为了实现电源输出管脚的等效阻抗的分压值的测试，可以外接上拉电阻。通过外接的上拉电阻，实现分压，进而可以测得等效阻抗的分压值。

本申请实施例所提供的测试系统，可以是独立于智能模组外的测试系统，也可以是集成在智能模组中的测试系统。以及，由于智能模组为智能设备中的部件，相较于智能设备来说，该测试系统可以独立于智能设备外，也可以集成在智能设备中，在本申请实施例中不作限定。

此外，对于智能模组来说，每个内部电路对应的电源输出管脚可能有一个，也可能也多个；但是，不同的内部电路对应的电源输出管脚是不相同的。

基于上述应用场景和基础发明构思的介绍，接下来请参照图1，为本申请实施例提供的测试系统100的结构示意图，测试系统100包括：模拟开关110、控制模块120以及上拉电阻130。

其中，模拟开关110包括多个输入端，多个输入端分别用于与不同的电源输出管脚连接。

模拟开关110还包括输出端和配置端。配置端，用于配置与输出端连通的输入端。举例来说，假设通过配置端，配置目标输入端与输出端连通，则目标输入端对应的电源输出管脚的信号便可以到达输出端，此时，整个测试系统100所测试的也是该目标输入端对应的电源输出管脚的等效阻抗的分压值。

控制模块120，与配置端连接，用于对配置端进行配置，以实现将多个输入端中的目标输入端与输出端连通。在进行测试时，可以多次对配置端进行配置，以实现将各个输入端分别与输出端连通，进而对各个电源输出管脚的等效阻抗的分压值进行测试。当然，如果仅需要对指定的电源输出管脚的等效阻抗的分压值进行测试，则只需要将指定的电源输出管脚对应的输入端与输出端接通即可。

控制模块120，还包括电压采样模块，该电压采样模块为ADC模块。通过电压采样模块，可以对等效阻抗的分压值进行采样。

作为一种可选的实施方式，控制模块120的硬件形式为控制芯片。对于控制芯片来说，ADC模块可能集成在控制芯片的内部，然后在控制芯片上设置有ADC模块对应的引脚。因此，上述所述的与电压采样模块的连接，可以通过将相应的模块连接到电压采样模块对应的引脚上实现。

上拉电阻130，一端与电压源连接，该电压源用于给上拉电阻130提供分压电压源。上拉电阻130的另一端与输出端连接，以及与电压采样模块连接。通过这样的连接方式，电压采样模块所采样的电压值与电源输出管脚的等效阻抗的分压值等效，即，上拉电阻130相当于电源输出管脚的等效阻抗。

在本申请实施例中，与现有技术相比，不再直接测试电源输出管脚的输出电压值，而是测试电源输出管脚的等效阻抗的分压值，该部分分压值通过上拉电阻130，可以实现测试。由于每个电源输出管脚都会有相应的等效阻抗，因此，测试等效阻抗的分压值可以有效地发现处于“半损坏”状态的管脚，及早地发现问题，避免产品出现质量问题。并且，测试等效阻抗的分压值，相较于直接测试电压值，电压采样模块所采样的电压值的电压范围减小，因此，不需要针对不同的智能模组，设计不同的电压采样模块，降低测试成本以及维护成本。

接下来对该测试系统100的详细实施方式进行介绍。

在本申请实施例中，模拟开关110可以为多路模拟开关110，该模拟开关110包括多个输入端。对于智能模组的各个电源输出管脚，可以通过FPC (Flexible PrintedCircuit，柔性电路板)排线连接到模拟开关110对应的输入端。

作为一种可选的实施方式，智能模组的内部电路包括：Buck电路和 LDO电路，对应的，多个输入端包括：与Buck电路对应的电源输出管脚连接的输入端，和与LDO电路对应的电源输出管脚连接的输入端。

可以理解，不管是与Buck电路对应的电源输出管脚连接的输入端，还是与LDO电路对应的电源输出管脚连接的输入端，相应的输入端的数量可以是1个，也可以是多个，具体取决于Buck电路和LDO电路各自对应的电源输出管脚的数量。

在本申请实施例中，通过上述测试系统100，可以实现智能模组的Buck 电路和LDO电路分别对应的电源输出管脚的等效阻抗的分压值的有效测试。

对于智能模组来说，LDO电路具有提供电压源的功能，因此，在本申请实施例中，LDO电路可以作为上拉电阻130的电压源。

作为一种可选的实施方式，LDO电路的使能端与控制模块120连接， LDO电路的输出端与上拉电阻130的一端连接，控制模块120用于控制LDO 电路输出预设电压。

其中，控制模块120可以通过输入高电平使能信号和低电平使能信号，实现LDO输出的电压的控制。具体的，当控制模块120输入高电平使能信号给LDO电路的使能端时，LDO电路的输出端输出高电平，该高电平与预设电压相同。当控制模块120输入低电平使能信号给LDO电路的使能端时， LDO电路的输出端输出低电平，此时，相当于不给上拉电阻130提供电压源。

在本申请实施例中，利用智能模组的LDO电路作为电压源，可以降低测试系统100的成本。

此外，结合前述实施例中关于控制模块120的介绍，当控制模块120 采用控制芯片的硬件形式时，其设置有使能信号输出端(引脚)。进而，可以将使能信号输出端与LDO电路的使能端连接，实现LDO电路与控制模块120的连接。

作为一种可选的实施方式，配置端包括：多个子配置端；多个子配置端分别与控制模块120连接。

基于多个子配置端，控制模块120输入配置值给各个子配置端，以使多个子配置端具有不同的配置值组合，例如：“0010101”、“0100000”等配置值组合，不同的配置值组合用于使不同的目标输入端与输出端连通。例如：“0010101”用于使输入端1与输出端连通，“0100000”用于使输入端2与输出端连通。

为了实现配置值的输入，结合前述控制模块120的介绍，控制模块120 也可以设置与各个子配置端分别对应的赋值端，各个赋值端与其对应的子配置端连接。控制模块120根据不同的配置值组合，利用各个赋值端对相应的子配置端的值进行配置。

其中，不同的配置值组合对应的目标输入端可以预先配置好，当确定当前需要测试的电源输出管脚对应的目标输入端之后，基于预先配置的信息，可确定当前的配置值组合，然后利用当前的配置值组合进行配置。

在本申请实施例中，通过多个子配置端的不同的配置值组合，实现将不同的目标输入端与输出端连通，进而实现不同的电源输出管脚的等效阻抗的分压值的有效测试。

除了采用上述的多个子配置端的配置方式，在实际应用中，也可以其他的配置方式，例如：仅设置一个配置端，利用该配置端的不同配置值，也可以将不同的输入端与输出端接通。

作为一种可选的实施方式，该测试系统100还包括：二极管，该二极管的阳极与上拉电阻130的另一端连接，二极管的阴极与输出端连接，二极管的阴极还与电压采样模块连接。

通过该二极管，上拉电阻130并不直接与电压采样模块和输出端建立连接，可以防止电流反向流动而造成安全隐患，提高测试系统100的安全性。

在一些实施例中，也可以采用其他的单向通过器件来替代二极管，以达到与二极管同样的效果，在本申请实施例中不作限定。

作为一种可选的实施方式，上拉电阻130的电阻值为10K。

在本申请实施例中，通过10K的上拉电阻130，实现等效阻抗的分压值的测试。

在一些实施例中，上拉电阻130也可以是其他电阻值，可以结合实际的应用场景的具体需求进行设置，在本申请实施例中不作限定。

结合前述实施例的介绍，接下来请参照图2，为本申请实施例提供的实际应用时的测试系统100的结构示意图，在图2中，智能模组的内部电路对应多个电源输出管脚(Buck0，LDOn等)，此处的内部电路为Buck电路和LDO电路。

模拟开关110包括多个输入端(CH0-CHn)，分别与对应的电源输出管脚连接。以及包括多个配置端(S0-Sx)，分别与MCU(即控制模块120) 的赋值端(GPIO_1-GPIO_x)连接。

模拟开关110的输出端(Output)与MCU的ADC采样端连接，以及， ADC采样端还与二极管(D1)连接，二极管再与上拉电阻130连接。

LDO电路作为测试系统100的电压源，包括使能端(Enable)和电压输出端(Output)，使能端与MCU对应的使能信号输出端(GPIO_y)连接，电压输出端与上拉电阻130(10K)连接。

此外，在图2中，还示出了上位机，上位机与控制模块120(MCU) 连接。可以理解，上位机可以作为人机交互平台，也可以作为指令下发平台。用户通过上位机，可以给测试系统100下发开始测试的指令。此外，在测试之后，控制模块120会得到相应的测试结果，将该测试结果反馈给上位机，上位机还可以对测试结果进行展示。

基于图2所示的测试系统100的结构，对于控制模块120来说，分别测量不同的电源输出管脚的等效阻抗的分压值，在测量到全部的电源输出管脚的等效阻抗的分压值之后，可以确定全部的电源输出管脚的等效阻抗的分压值的平均值，然后将该平均值作为各个电源输出管脚的测试结果的判断标准值。

具体的，可以预设一个误差范围。然后将各个电源输出管脚的等效阻抗的分压值与前述的判断标准值进行比较，如果两者的差距在该误差范围内，则相应的电源输出管脚通过测试；如果两者的差距不在该误差范围内，则相应的电源输出管脚未通过测试。

其中，误差范围可以结合实际的应用场景进行设置，在本申请实施例中不作限定。作为举例，误差范围可以是0-0.2V。

通过上述的判断方式，可以简单且准确的确定各个电源输出管脚的测试结果。

进一步地，在控制模块120确定测试结果之后，可以将测试结果反馈给上位机，然后上位机再展示，以使用户可以得知测试结果。

结合前述实施例的介绍，本申请实施例所提供的测试系统100可以集成在智能模组中，因此，基于同一发明构思，本申请实施例还提供一种智能模组，包括：多个内部电路，多个内部电路分别对应有电源输出管脚；测试系统100，该测试系统100用于测试电源输出管脚的等效阻抗的分压值。

关于智能模组的实施方式，以及测试系统100的实施方式，参照前述实施例中的介绍，在此不再重复介绍。

在本申请实施例中，通过在智能模组中集成上述测试系统100，可以实现智能模组的电源输出管脚的等效阻抗的分压值的有效测试，提高智能模组的质量。

结合前述实施例的介绍，本申请实施例所提供的测试系统100可以集成在智能设备中，因此，基于同一发明构思，本申请实施例提供一种智能设备，包括：设备本体；设置在设备本体内的智能模组；测试系统100。

在本申请实施例中，通过在智能设备中设置上述测试系统100，可以实现智能模组的电源输出管脚的等效阻抗的分压值的有效测试，提高智能模组的安全性，进而提高智能设备的质量。

结合前述实施例的介绍，控制模块120可以是MCU，在智能设备也包括MCU的前提下，控制模块120可以为智能设备的MCU。

此外，在本申请实施例中，控制模块120除了可以是MCU，还可以是CPU(CentralProcessing Unit，中央处理器)等具备数据处理功能的硬件。

在本申请实施例中，上述测试系统100中的控制模块120可以为智能设备的MCU模块，降低测试系统100的设备成本。

在本申请实施例中，智能设备可以是：POS机、无人售货机或者直播设备等各种设备。

在本申请实施例中，上述的测试系统100可以应用于POS机、无人售货机或者直播设备等智能设备，提高这类智能设备的质量。

对应的，设备本体的实施方式可以参照POS机、无人售货机或者直播设备等智能设备的设备本体的实施方式，在此不作限定。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试系统，其特征在于，用于测试智能模组的内部电路对应的电源输出管脚的等效阻抗的分压值，所述测试系统包括：

模拟开关，所述模拟开关包括多个输入端，所述多个输入端分别用于与不同的所述电源输出管脚连接，所述模拟开关还包括输出端和配置端；

控制模块，所述控制模块与所述配置端连接；所述控制模块用于对所述配置端进行配置，将所述多个输入端中的目标输入端与所述输出端连通；所述控制模块包括：电压采样模块，所述电压采样模块与所述输出端连接；

上拉电阻，所述上拉电阻的一端与电压源连接，所述上拉电阻的另一端与所述输出端连接，所述上拉电阻的另一端还与所述电压采样模块连接。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述内部电路包括：Buck电路和LDO电路，所述多个输入端包括与所述Buck电路对应的电源输出管脚连接的输入端，和与所述LDO电路对应的电源输出管脚连接的输入端。

3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述电压源为所述LDO电路，所述LDO电路的使能端与所述控制模块连接，所述LDO电路的输出端与所述上拉电阻的一端连接，所述控制模块用于控制所述LDO电路输出预设电压。

4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述配置端包括：多个子配置端；所述多个子配置端分别与所述控制模块连接；

所述控制模块用于输入配置值给各个所述子配置端，以使所述多个子配置端具有不同的配置值组合，不同的配置值组合用于使不同的目标输入端与所述输出端连通。

5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：二极管；

所述二极管的阳极与所述上拉电阻的另一端连接，所述二极管的阴极与所述输出端连接，所述二极管的阴极还与所述电压采样模块连接。

6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述上拉电阻的电阻值为10K。

7.一种智能模组，其特征在于，包括：

多个内部电路；所述多个内部电路分别对应有电源输出管脚；

如权利要求1-6任一项所述的测试系统，所述测试系统用于测试所述电源输出管脚的等效阻抗的分压值。

8.一种智能设备，其特征在于，包括：

设备本体；

设置在所述设备本体内的智能模组；

如权利要求1-6任一种所述的测试系统。

9.根据权利要求8所述的智能设备，其特征在于，所述智能设备还包括MCU；所述控制模块为所述MCU。

10.根据权利要求8所述的智能设备，其特征在于，所述智能设备为：POS机、无人售货机或者直播设备。

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