CN110223726B - 一种增加ssd使用寿命的方法及其系统 - Google Patents

一种增加ssd使用寿命的方法及其系统 Download PDF

Info

Publication number
CN110223726B
CN110223726B CN201910481553.6A CN201910481553A CN110223726B CN 110223726 B CN110223726 B CN 110223726B CN 201910481553 A CN201910481553 A CN 201910481553A CN 110223726 B CN110223726 B CN 110223726B
Authority
CN
China
Prior art keywords
data
writing
unit
tlc
write
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201910481553.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110223726A (zh
Inventor
冷志源
冯元元
周晨杰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Union Memory Information System Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Union Memory Information System Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Union Memory Information System Co Ltd filed Critical Shenzhen Union Memory Information System Co Ltd
Priority to CN201910481553.6A priority Critical patent/CN110223726B/zh
Publication of CN110223726A publication Critical patent/CN110223726A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110223726B publication Critical patent/CN110223726B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/34Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
    • G11C16/349Arrangements for evaluating degradation, retention or wearout, e.g. by counting erase cycles

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)

Abstract

本发明涉及一种增加SSD使用寿命的方法及其系统;其中,方法,包括:S1,主机下发写数据命令;S2,对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析;S3,判断逻辑地址是否连续;若是,进入S4;若否,则进入S8;S4,写入连续数据,并将数据写入SLC Cache;S5,判断连续数据在搬移时是否为热数据;若是,进入S6;若否,则进入S7;S6,将热数据保留在SLC Cache中,并对热数据进行冷却;S7,将数据搬移至TLC,进入S9;S8,将数据写入TLC,并补无效数据;S9,更新映射表信息,完成写数据。本发明提高了读性能,又避免产生写放大,有效降低了Flash的磨损程度,增加了SSD使用寿命。

Description

一种增加SSD使用寿命的方法及其系统
技术领域
本发明涉及固态硬盘使用寿命技术领域,更具体地说是指一种增加SSD使用寿命的方法及其系统。
背景技术
FTL算法对SSD(固态硬盘)的性能及使用寿命产生着极其重要的影响,使用同样TLC闪存的SSD,不同的FTL算法的产品,性能参数差别很大;大部分TLC SSD会根据SSD本身的容量划分固定比例的空间用于实现SLC Cache,这部分空间只有当SSD实际使用容量超过SSD本身容量减去SLC Cache之差后,就不再承担SLC Cache缓存义务,重新变成TLC区域,这样做的好处是SLC Cache专属区域只有实际使用容量超过临界值时才会被解散,在绝大多数没有达到临界值时,SLC Cache就可以全部参与为SSD读写加速;但由于不同的SSD厂商FTL算法不同,对SLC Cache的使用效率和产生的写方大也不同,导致性能差别很大。
目前大部分SLC Cache的使用过程中,因为不断做数据搬移,不可避免的会产生一倍的写放大,降低了SSD的使用寿命;因此,无法满足需求。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷,提供一种增加SSD使用寿命的方法及其系统。
为实现上述目的,本发明采用于下技术方案:
一种增加SSD使用寿命的方法,包括以下步骤:
S1,主机下发写数据命令;
S2,对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析;
S3,判断逻辑地址是否连续;若是,进入S4;若否,则进入S8;
S4,写入连续数据,并将数据写入SLC Cache;
S5,判断连续数据在搬移时是否为热数据;若是,进入S6;若否,则进入S7;
S6,将热数据保留在SLC Cache中,并对热数据进行冷却;
S7,将数据搬移至TLC,进入S9;
S8,将数据写入TLC,并补无效数据;
S9,更新映射表信息,完成写数据。
其进一步技术方案为:所述S2中,FTL分析写入数据的内容,对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析。
其进一步技术方案为:所述S6包括:
S61,将热数据保留在SLC Cache中;
S62,对热数据进行冷却。
其进一步技术方案为:所述S9包括:
S91,更新映射表信息;
S92,完成写数据。
其进一步技术方案为:所述S9中,还包括:读数据从TLC中读取。
一种增加SSD使用寿命的系统,包括:下发单元,统计分析单元,第一判断单元,第一写入单元,第二判断单元,保留冷却单元,搬移单元,第二写入单元,及更新完成单元;
所述下发单元,用于主机下发写数据命令;
所述统计分析单元,用于对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析;
所述第一判断单元,用于判断逻辑地址是否连续;
所述第一写入单元,用于写入连续数据,并将数据写入SLC Cache;
所述第二判断单元,用于判断连续数据在搬移时是否为热数据;
所述保留冷却单元,用于将热数据保留在SLC Cache中,并对热数据进行冷却;
所述搬移单元,用于将数据搬移至TLC;
所述第二写入单元,用于将数据写入TLC,并补无效数据;
所述更新完成单元,用于更新映射表信息,完成写数据。
其进一步技术方案为:所述统计分析单元中,FTL分析写入数据的内容,对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析。
其进一步技术方案为:所述保留冷却单元包括保留模块和冷却模块;
所述保留模块,用于将热数据保留在SLC Cache中;
所述冷却模块,用于对热数据进行冷却。
其进一步技术方案为:所述更新完成单元包括更新模块和完成模块;
所述更新模块,用于更新映射表信;
所述完成模块,用于完成写数据。
其进一步技术方案为:所述更新完成单元还包括:读数据从TLC中读取。
本发明与现有技术相比的有益效果是:主机写入数据时,分析数据内容,如果是不连续数据,优先写入TLC中,提高了SLC Cache的使用效率,且对于写入SLC Cache的数据,根据数据的冷热决定处理策略,如果是热数据,由于很快会被更新,因此没必要写入TLC增加写放大,而是等待数据冷却后再搬移到TLC,这种处理策略可以有效减少写放大,增加SSD使用寿命,能够更好地满足需求。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
图1为各类型闪存的性能对比示意图;
图2为现有技术中SLC Cache的使用流程示意图;
图3为本发明一种增加SSD使用寿命的方法流程图;
图4为本发明一种增加SSD使用寿命的系统方框图。
具体实施方式
为了更充分理解本发明的技术内容,下面结合具体实施例对本发明的技术方案进一步介绍和说明,但不局限于此。
如图1到图4所示的具体实施例,目前NAND Flash闪存芯片是SSD(Solid StateDisk)存储数据的主要部分;闪存分SLC、MLC、TLC、QLC,它指的是一个存储单元存储的比特数;如图1所示,SLC(Single-Level Cell),即单个存储单元存储一比特的数据,SLC速度快,寿命长(约5-10万次擦写寿命),但价格超贵(约为MLC3倍以上的价格);MLC(Multi-LevelCell),即单个存储单元存储多比特(但一般指两比特)的数据;TLC(Triple-Level Cell),即单个存储单元存储三比特的数据,速度慢,寿命短(约500-1500次擦写寿命),价格便宜,目前市场主流的闪存芯片是TLC;但是由于TLC速度慢、可擦写次数少,SLC速度快,可擦写次数多,并且闪存芯片都支持将TLC切换为SLC使用,因此大部分SSD厂商选择使用SLC Cache来提高SSD的读写性能。
其中,如图2所示的现有技术,Host(主机)下发写命令,FTL首先判断是否可以申请使用SLC Cache,如果申请成功,则将数据写入SLC,后续通过后台搬移到TLC,如果申请失败,说明SLC Cache已用尽,则将数据直接写入TLC;这样做可以明显提升读写性能,但同时因为不断做数据搬移,不可避免的会产生一倍的写放大,降低了SSD的使用寿命。
如图3所示,本发明公开了一种增加SSD使用寿命的方法,包括以下步骤:
S1,主机下发写数据命令;
S2,对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析;
S3,判断逻辑地址是否连续;若是,进入S4;若否,则进入S8;
S4,写入连续数据,并将数据写入SLC Cache;
S5,判断连续数据在搬移时是否为热数据;若是,进入S6;若否,则进入S7;
S6,将热数据保留在SLC Cache中,并对热数据进行冷却;
S7,将数据搬移至TLC,进入S9;
S8,将数据写入TLC,并补无效数据;
S9,更新映射表信息,完成写数据。
其中,所述S2中,FTL分析写入数据的内容,对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析。
其中,所述S6包括:
S61,将热数据保留在SLC Cache中;
S62,对热数据进行冷却。
其中,所述S9包括:
S91,更新映射表信息;
S92,完成写数据。
进一步地,所述S9中,还包括:读数据从TLC中读取。
本发明在主机写入数据时,首先分析数据内容,如果是不连续数据,因为需要补无效数据,写SLC造成浪费,因此优先写入TLC,提高SLC Cache的使用效率;对于写入SLCCache的数据,根据数据的冷热决定处理策略,如果是热数据,由于很快会被更新,因此暂时保留在SLC,既可以提高读性能,又避免产生写放大,等待数据冷却后再搬移到TLC,有效降低了Flash的磨损程度,增加了SSD使用寿命。
如图4所示,本发明公开了一种增加SSD使用寿命的系统,包括:下发单元10,统计分析单元20,第一判断单元30,第一写入单元40,第二判断单元50,保留冷却单元60,搬移单元70,第二写入单元80,及更新完成单元90;
所述下发单元10,用于主机下发写数据命令;
所述统计分析单元20,用于对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析;
所述第一判断单元30,用于判断逻辑地址是否连续;
所述第一写入单元40,用于写入连续数据,并将数据写入SLC Cache;
所述第二判断单元50,用于判断连续数据在搬移时是否为热数据;
所述保留冷却单元60,用于将热数据保留在SLC Cache中,并对热数据进行冷却;
所述搬移单元70,用于将数据搬移至TLC;
所述第二写入单元80,用于将数据写入TLC,并补无效数据;
所述更新完成单元90,用于更新映射表信息,完成写数据。
其中,所述统计分析单元20中,FTL分析写入数据的内容,对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析。
其中,所述保留冷却单元60包括保留模块61和冷却模块62;
所述保留模块61,用于将热数据保留在SLC Cache中;
所述冷却模块62,用于对热数据进行冷却。
其中,所述更新完成单元90包括更新模块91和完成模块92;
所述更新模块91,用于更新映射表信;
所述完成模块92,用于完成写数据。
进一步地,所述更新完成单元90还包括:读数据从TLC中读取。
本发明提高了读性能,又避免产生写放大,有效降低了Flash的磨损程度,增加了SSD使用寿命。
上述仅以实施例来进一步说明本发明的技术内容,以便于读者更容易理解,但不代表本发明的实施方式仅限于此,任何依本发明所做的技术延伸或再创造,均受本发明的保护。本发明的保护范围以权利要求书为准。

Claims (6)

1.一种增加SSD使用寿命的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,主机下发写数据命令;
S2,对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析;
S3,判断逻辑地址是否连续;若是,进入S4;若否,则进入S8;
S4,写入连续数据,并将数据写入SLC Cache;
S5,判断连续数据在搬移时是否为热数据;若是,进入S6;若否,则进入S7;
S6,将热数据保留在SLC Cache中,并对热数据进行冷却;
S7,将数据搬移至TLC,进入S9;
S8,将数据写入TLC,并补无效数据;
S9,更新映射表信息,完成写数据;
所述S2中,FTL分析写入数据的内容,对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析;
所述S6包括:
S61,将热数据保留在SLC Cache中;
S62,对热数据进行冷却;
其中,在主机写入数据时,首先分析数据内容,如果是不连续数据,因为需要补无效数据,写SLC造成浪费,因此优先写入TLC;对于写入SLC Cache的数据,根据数据的冷热决定处理策略,如果是热数据,由于很快会被更新,因此暂时保留在SLC。
2.根据权利要求1所述的一种增加SSD使用寿命的方法,其特征在于,所述S9包括:
S91,更新映射表信息;
S92,完成写数据。
3.根据权利要求2所述的一种增加SSD使用寿命的方法,其特征在于,所述S9中,还包括:读数据从TLC中读取。
4.一种增加SSD使用寿命的系统,其特征在于,包括:下发单元,统计分析单元,第一判断单元,第一写入单元,第二判断单元,保留冷却单元,搬移单元,第二写入单元,及更新完成单元;
所述下发单元,用于主机下发写数据命令;
所述统计分析单元,用于对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析;
所述第一判断单元,用于判断逻辑地址是否连续;
所述第一写入单元,用于写入连续数据,并将数据写入SLC Cache;
所述第二判断单元,用于判断连续数据在搬移时是否为热数据;
所述保留冷却单元,用于将热数据保留在SLC Cache中,并对热数据进行冷却;
所述搬移单元,用于将数据搬移至TLC;
所述第二写入单元,用于将数据写入TLC,并补无效数据;
所述更新完成单元,用于更新映射表信息,完成写数据;
所述统计分析单元中,FTL分析写入数据的内容,对写数据命令序列的逻辑地址进行统计分析;
所述保留冷却单元包括保留模块和冷却模块;
所述保留模块,用于将热数据保留在SLC Cache中;
所述冷却模块,用于对热数据进行冷却;
其中,在主机写入数据时,首先分析数据内容,如果是不连续数据,因为需要补无效数据,写SLC造成浪费,因此优先写入TLC;对于写入SLC Cache的数据,根据数据的冷热决定处理策略,如果是热数据,由于很快会被更新,因此暂时保留在SLC。
5.根据权利要求4所述的一种增加SSD使用寿命的系统,其特征在于,所述更新完成单元包括更新模块和完成模块;
所述更新模块,用于更新映射表信;
所述完成模块,用于完成写数据。
6.根据权利要求5所述的一种增加SSD使用寿命的系统,其特征在于,所述更新完成单元还包括:读数据从TLC中读取。
CN201910481553.6A 2019-06-04 2019-06-04 一种增加ssd使用寿命的方法及其系统 Active CN110223726B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910481553.6A CN110223726B (zh) 2019-06-04 2019-06-04 一种增加ssd使用寿命的方法及其系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910481553.6A CN110223726B (zh) 2019-06-04 2019-06-04 一种增加ssd使用寿命的方法及其系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110223726A CN110223726A (zh) 2019-09-10
CN110223726B true CN110223726B (zh) 2020-12-01

Family

ID=67819203

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910481553.6A Active CN110223726B (zh) 2019-06-04 2019-06-04 一种增加ssd使用寿命的方法及其系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110223726B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110750215A (zh) * 2019-10-14 2020-02-04 深圳忆联信息系统有限公司 提升固态硬盘随机读性能方法、装置和计算机设备

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101211252A (zh) * 2006-12-26 2008-07-02 劲永国际股份有限公司 存储器储存装置
CN101526923A (zh) * 2009-04-02 2009-09-09 成都市华为赛门铁克科技有限公司 一种数据处理方法、装置和闪存存储系统
CN102103546A (zh) * 2009-12-21 2011-06-22 智微科技股份有限公司 用于储存装置以进行储存管理的方法及控制单元与相关储存装置
CN102521160A (zh) * 2011-12-22 2012-06-27 上海交通大学 写缓冲检测器、写入数据的寻址方法、并行通道写入方法
US8990458B2 (en) * 2013-02-28 2015-03-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Controller, semiconductor storage device and method of controlling data writing
CN108255419A (zh) * 2017-12-19 2018-07-06 深圳忆联信息系统有限公司 一种用于tlc类型ssd的磨损均衡方法及ssd

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100771521B1 (ko) * 2006-10-30 2007-10-30 삼성전자주식회사 멀티 레벨 셀을 포함하는 플래시 메모리 장치 및 그것의데이터 쓰기 방법

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101211252A (zh) * 2006-12-26 2008-07-02 劲永国际股份有限公司 存储器储存装置
CN101526923A (zh) * 2009-04-02 2009-09-09 成都市华为赛门铁克科技有限公司 一种数据处理方法、装置和闪存存储系统
CN102103546A (zh) * 2009-12-21 2011-06-22 智微科技股份有限公司 用于储存装置以进行储存管理的方法及控制单元与相关储存装置
CN102521160A (zh) * 2011-12-22 2012-06-27 上海交通大学 写缓冲检测器、写入数据的寻址方法、并行通道写入方法
US8990458B2 (en) * 2013-02-28 2015-03-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Controller, semiconductor storage device and method of controlling data writing
CN108255419A (zh) * 2017-12-19 2018-07-06 深圳忆联信息系统有限公司 一种用于tlc类型ssd的磨损均衡方法及ssd

Also Published As

Publication number Publication date
CN110223726A (zh) 2019-09-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10503411B2 (en) Data storage device and method for operating non-volatile memory
US9128637B2 (en) Logical unit operation
CN108121503B (zh) 一种NandFlash地址映射及块管理方法
TWI476780B (zh) 具有揮發性及非揮發性記憶體之混合固態記憶體系統
US20190114272A1 (en) Methods and apparatus for variable size logical page management based on hot and cold data
US10346296B2 (en) Data storage device
US20150134887A1 (en) Data writing method, memory control circuit unit and memory storage apparatus
US10437512B2 (en) Techniques for non-volatile memory page retirement
CN111158579B (zh) 固态硬盘及其数据存取的方法
TW201310454A (zh) 快閃記憶體控制器
US20200310986A1 (en) Data storage device and operating method thereof, and storage system including the same
US8037236B2 (en) Flash memory writing method and storage system and controller using the same
KR20130022604A (ko) 접근 빈도에 따라 데이터를 할당하는 저장장치 및 저장방법
US11836076B2 (en) Implementing mapping data structures to minimize sequentially written data accesses
CN107861884B (zh) 一种提高nand闪存中跨页存储地址映射效率的方法
US9778862B2 (en) Data storing method for preventing data losing during flush operation, memory control circuit unit and memory storage apparatus
CN113590505B (zh) 地址映射方法、固态硬盘控制器及固态硬盘
CN110223726B (zh) 一种增加ssd使用寿命的方法及其系统
US20210223998A1 (en) Method and apparatus to reduce nand die collisions in a solid state drive
JP5259257B2 (ja) 記憶装置
KR101070511B1 (ko) Ssd 컨트롤러 및 ssd 컨트롤러의 동작 방법
CN110275678B (zh) 一种基于stt-mram的固态存储器件随机访问性能提升方法
US11237732B2 (en) Method and apparatus to improve write bandwidth of a block-based multi-level cell nonvolatile memory
KR20200121068A (ko) 데이터 저장 장치 및 이의 동작 방법, 이를 위한 컨트롤러
KR20200110862A (ko) 데이터 저장 장치 및 동작 방법, 이를 위한 컨트롤러

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant