CN110221090B - 一种应用化学发光分析仪防空吸、空排系统及方法 - Google Patents

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Abstract

本申请涉及一种应用化学发光分析仪防空吸、空排系统及方法，其系统包括反应机构、取样针机构和监测机构，所述反应机构包括反应杯，所述取样针机构包括具有液面探测功能的取样针，所述监测机构包括处理器，其中：吸样时，所述取样针吸入所述反应杯中液体，所述处理器监测所述取样针的液面探测波形信号，判断所述取样针是否空吸；排样时，所述取样针将液体排入所述反应杯，所述处理器监测所述取样针的液面探测波形信号，判断所述取样针是否空排。本发明结构新颖，设计巧妙，通过吸液时液位探测波形的保持时间判断是否空吸，通过排液时产生的液位探测波形判断是否空排，提供了一种快捷、高效的应用化学发光分析仪防空吸、空排系统及其方法。

Description

一种应用化学发光分析仪防空吸、空排系统及方法
技术领域
本申请属于医疗器械技术领域，尤其是涉及一种应用化学发光分析仪防空吸、空排系统及方法。
背景技术
目前医学领域最为普遍使用的诊断方法即体外诊断，是指采集人体的体液、排泄物、分泌物等进行化学成分或者化学反应分析，从而判断人体病变情况。体外诊断方法中包括有化学发光分析法、分子诊断等，这些诊断方法均采用自动或者半自动仪器进行加样、分析，并给出诊断报告。
其中，化学发光分析法主要使用加样针进行样本、试剂的吸样和排样。但是，由于液量或其他的问题可能会造成加样针空吸、空排等异常情况，这都可能会导致诊断结果出现异常。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：为解决现有技术中化学发光分析诊断方法中空吸、空排等异常情况的检测和应对能力不足，从而提供一种快捷高效的应用化学发光分析仪防空吸、空排系统及其方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种应用化学发光分析仪防空吸、空排系统，包括反应机构、取样针机构和监测机构，所述反应机构包括反应杯，所述取样针机构包括具有液面探测功能的取样针，所述监测机构包括处理器，其中：
吸样时，所述取样针吸入所述反应杯中液体，所述处理器监测所述取样针的液面探测波形信号，判断所述取样针是否空吸；
排样时，所述取样针将液体排入所述反应杯，所述处理器监测所述取样针的液面探测波形信号，判断所述取样针是否空排。
在其中一个实施例中，所述监测机构还包括警报器，当所述处理器监测到空吸或空排时，所述警报器报警。
一种应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，吸样时包括以下步骤：
步骤10，为处理器设定液面探测波形预设衰减斜率和液面探测波形预设幅值；
步骤20，取样针探测到液面时，所述处理器开始计时；
步骤30，当液面探测波形衰减斜率小于所述预设衰减斜率，且液面探测波形幅值小于所述预设幅值时，所述处理器停止计时并记录计时时间；
步骤40，当所述计时时间小于或等于1.1s时，所述处理器判断所述取样针吸样正常，当所述计时时间大于1.1s时，所述处理器判断所述取样针空吸；
排样时包括以下步骤：
步骤100，为所述处理器设定液面探测波形预设幅值；
步骤200，所述取样针排样时，所述处理器获取液面探测波形；
步骤300，当所述液面探测波形大于或等于所述预设幅值时，所述处理器判断所述取样针排样正常，当所述液面探测波形小于所述预设幅值时，所述处理器判断所述取样针排样空排。
在其中一个实施例中，所述步骤20中：
当所述取样针探测不到液面时，所述液面探测波形幅值小于所述预设幅值，此时停止吸样。
在其中一个实施例中，所述步骤30中：
当液面探测波形衰减斜率大于或等于所述预设衰减斜率，或者液面探测波形幅值大于或等于所述预设幅值时，所述处理器继续计时并再次收集液面探测波形信号。
在其中一个实施例中，还包括步骤50：
所述处理器判断所述取样针空吸后，所述处理器发出报错信号。
在其中一个实施例中，还包括步骤400：
所述处理器判断所述取样针空排后，所述处理器发出报错信号。
在其中一个实施例中，所述化学发光分析仪还包括警报器，警报器接收所述报错信号并发出警报。
本发明的有益效果是：本发明结构新颖，设计巧妙，通过吸液时液位探测波形的保持时间判断是否空吸，通过排液时产生的液位探测波形判断是否空排，为解决现有技术中化学发光分析诊断方法中空吸、空排等异常情况的检测和应对能力不足，提供了一种快捷、高效的应用化学发光分析仪防空吸、空排系统及其方法。
附图说明
下面结合附图和实施例对本申请的技术方案进一步说明。
图1是本申请实施例应用化学发光分析仪防空吸、空排系统的结构示意图；
图2是本申请实施例应用化学发光分析仪防空吸、空排系统的局部示意图；
图3是本申请实施例吸样波形判断流程图；
图4是本申请实施例排样波形判断流程图。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请保护范围的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明创造的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请的技术方案。
一种应用化学发光分析仪防空吸、空排系统，包括反应机构1、取样针机构2和监测机构。反应机构1用于提供样本及试剂的暂存、反应场所，反应机构1包括有承接样本和试剂的反应杯3。取样针机构2包括具有液面探测功能的取样针4，在一些实施例中包括驱动取样针4运动的驱动装置如电机等。监测机构包括处理器(CPU)，监测机构设置在应用化学发光分析仪中，在不同的实施例中可外设并利用无线发射接收装置操控。其中：吸样时，取样针4吸入反应杯中的样本和试剂等液体动作时，处理器监测取样针4的液面探测波形信号，判断取样针4是否空吸；排样时，取样针4将液体排入反应杯动作时，处理器监测取样针4的液面探测波形信号，判断取样针4是否空排。可检测液面探测波形信号的取样针4为常规技术不再赘述，而利用液面状态，尤其是液面波形信号来判断空排和空吸情况，良好得利用了现有机构，构思巧妙，结果准确。
为了提高监测到空吸或空排时的反应能力，在其中一个实施例中，监测机构还包括警报器，当处理器监测到空吸或空排时，警报器报警。警报器可以是连接并受处理器控制的闪烁灯或蜂鸣器等。
本发明实施例还公开了一种应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，具体来说，吸样时包括以下步骤：
步骤10，为处理器设定液面探测波形预设衰减斜率和液面探测波形预设幅值；
步骤20，取样针4探测到液面时，处理器开始计时；
步骤30，当液面探测波形衰减斜率小于预设衰减斜率，且液面探测波形幅值小于预设幅值时，处理器停止计时并记录计时时间；
步骤40，当计时时间小于或等于1.1s时，处理器判断取样针4吸样正常，当计时时间大于1.1s时，处理器判断取样针4空吸；
排样时包括以下步骤：
步骤100，为处理器设定液面探测波形预设幅值；
步骤200，取样针4排样时，处理器获取液面探测波形；
步骤300，当液面探测波形大于或等于预设幅值时，处理器判断取样针4排样正常，当液面探测波形小于预设幅值时，处理器判断取样针4排样空排。
在其中一个实施例中，步骤20中：
当取样针4探测不到液面时，液面探测波形幅值小于预设幅值，此时停止吸样。
发明原理在于：吸样正常时，吸样波形中从取样针4探到液面到吸样结束(即波形归0)的时间约为1s；排样正常时，波形能够触发液位探测阈值。空吸时，吸样波形中从取样针4探到液面到吸样结束(即波形归0)的时间约为1.6s；空排时波形不能够触发液位探测阈值。从而通过计算吸样针4碰到液面到吸样波形幅值衰减到接近0的时间来判断吸样针4是否空吸；通过排样时的波形触发液面探测阈值来判断吸样针4是否空排。在其中一个实施例中，步骤30中：
当液面探测波形衰减斜率大于或等于预设衰减斜率，或者液面探测波形幅值大于或等于预设幅值时，处理器继续计时并再次收集液面探测波形信号。
在其中一个实施例中，还包括步骤50：
处理器判断取样针4空吸后，处理器发出报错信号。
在其中一个实施例中，还包括步骤400：
处理器判断取样针4空排后，处理器发出报错信号。
为了提高监测到空吸或空排时的反应能力，在其中一个实施例中，化学发光分析仪还包括警报器，警报器接收报错信号并发出警报。
本发明的有益效果是：本发明结构新颖，设计巧妙，通过吸液时液位探测波形的保持时间判断是否空吸，通过排液时产生的液位探测波形判断是否空排，为解决现有技术中化学发光分析诊断方法中空吸、空排等异常情况的检测和应对能力不足，提供了一种快捷、高效的应用化学发光分析仪防空吸、空排系统及其方法。
以上述依据本申请的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项申请技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项申请的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (6)

1.一种应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，吸样时包括以下步骤：
步骤10，为处理器设定液面探测波形预设衰减斜率和液面探测波形预设幅值；
步骤20，取样针探测到液面时，所述处理器开始计时；
步骤30，当液面探测波形衰减斜率小于所述预设衰减斜率，且液面探测波形幅值小于所述预设幅值时，所述处理器停止计时并记录计时时间；
步骤40，当所述计时时间小于或等于1.1s时，所述处理器判断所述取样针吸样正常，当所述计时时间大于1.1s时，所述处理器判断所述取样针空吸；
排样时包括以下步骤：步骤100，为所述处理器设定液面探测波形预设幅值；
步骤200，所述取样针排样时，所述处理器获取液面探测波形；
步骤300，当所述液面探测波形大于或等于所述预设幅值时，所述处理器判断所述取样针排样正常，当所述液面探测波形小于所述预设幅值时，所述处理器判断所述取样针排样空排。
2.根据权利要求1所述的应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，所述步骤20中：当所述取样针探测不到液面时，所述液面探测波形幅值小于所述预设幅值，此时停止吸样。
3.根据权利要求1所述的应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，所述步骤30中：当液面探测波形衰减斜率大于或等于所述预设衰减斜率，或者液面探测波形幅值大于或等于所述预设幅值时，所述处理器继续计时并再次收集液面探测波形信号。
4.根据权利要求1所述的应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，还包括步骤50：所述处理器判断所述取样针空吸后，所述处理器发出报错信号。
5.根据权利要求1所述的应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，还包括步骤400：所述处理器判断所述取样针空排后，所述处理器发出报错信号。
6.根据权利要求4或5所述的应用化学发光分析仪防空吸、空排方法，其特征在于，所述化学发光分析仪还包括警报器，警报器接收所述报错信号并发出警报。
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