CN110200527A - 一种食品加工机的电机监测方法 - Google Patents

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CN110200527A CN201910547284.9A CN201910547284A CN110200527A CN 110200527 A CN110200527 A CN 110200527A CN 201910547284 A CN201910547284 A CN 201910547284A CN 110200527 A CN110200527 A CN 110200527A
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signal
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陈昊
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Joyoung Co Ltd
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    • A47JKITCHEN EQUIPMENT; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; APPARATUS FOR MAKING BEVERAGES
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    • A47J43/04Machines for domestic use not covered elsewhere, e.g. for grinding, mixing, stirring, kneading, emulsifying, whipping or beating foodstuffs, e.g. power-driven
    • A47J43/07Parts or details, e.g. mixing tools, whipping tools
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Abstract

本发明实施例公开了一种食品加工机的电机监测方法,该食品加工机包括:主控电路以及依次相连的电源、开关、检测电路和电机驱动电路;检测电路的检测信号输出端与主控电路的信号输入端相连,该方法包括:在开关闭合后获取信号输入端的检测信号;确定检测信号的信号参数;信号参数包括以下任意一种或多种:占空比、脉冲宽度、低电平持续时长以及检测的电压值;根据信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象;当确定电机出现耐压不良现象时根据预设的处理方案进行处理;预设的处理方案包括以下任意一种或多种:报警、控制电机停止运行和切断电机的供电电源。通过该实施例方案能够及时、有效地检测电机出现的耐压不良现象,并及时做出处理。

Description

一种食品加工机的电机监测方法
技术领域
本发明实施例涉及电机检测技术,尤指一种食品加工机的电机监测方法。
背景技术
目前食品加工机(如豆浆机)采用的电机多为有刷电机,电机工作采用碳刷换向,工作时间久后由于碳刷磨损会产生大量碳粉,碳粉堆积严重后会引起电机耐压不良,工作时打火严重,甚至会引起跳闸等异常,目前对电机耐压不良问题无有效的检测方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种食品加工机的电机监测方法,能够及时、有效地检测电机出现的耐压不良现象,并及时做出处理。
为了达到本发明实施例目的,本发明实施例提供了一种食品加工机的电机监测方法,所述食品加工机可以包括:主控电路以及依次相连的电源、开关、检测电路和电机驱动电路;所述检测电路的检测信号输出端与所述主控电路的信号输入端相连,所述方法可以包括:
在所述开关闭合后,获取所述信号输入端的检测信号;
确定所述检测信号的信号参数;所述信号参数包括以下任意一种或多种:占空比、脉冲宽度、低电平持续时长以及检测的电压值;
根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象;
当确定所述电机出现耐压不良现象时,根据预设的处理方案进行处理;所述预设的处理方案包括以下任意一种或多种:报警、控制所述电机停止运行和切断所述电机的供电电源。
在本发明的示例性实施例中,所述信号参数为所述占空比时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:
当所述占空比减小时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述占空比未发生变化时,确定电机未出现耐压不良现象。
在本发明的示例性实施例中,所述信号参数为所述脉冲宽度时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:
当所述脉冲宽度大于预设的脉冲宽度阈值时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述脉冲宽度小于或等于所述脉冲宽度阈值时,确定电机未出现耐压不良现象。
在本发明的示例性实施例中,所述信号参数为所述低电平持续时长时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:
当所述低电平持续时长小于预设的时长阈值时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述低电平持续时长大于或等于所述时长阈值时,确定电机未出现耐压不良现象。
在本发明的示例性实施例中,所述信号参数为所述电压值时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:
当所述电压值大于零并小于预设的电压阈值时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述电压值为零时,确定电机未出现耐压不良现象。
在本发明的示例性实施例中,所述开关的第一端与所述电源的零线相连,第二端与所述检测电路的检测信号输入端相连;
所述电机驱动电路中设置有整流桥,所述检测信号输入端与所述整流桥直接相连。
在本发明的示例性实施例中,所述开关为磁控微动开关;所述方法还可以包括:通过所述食品加工机杯盖的开合控制所述磁控微动开关的闭合与断开。
在本发明的示例性实施例中,所述主控电路的电源输入端与所述电源的火线输出端相连,以使得所述主控电路的电源加载在所述电源的火线上。
在本发明的示例性实施例中,所述方法还可以包括:根据所述食品加工机的工作电压调整所设置的阈值的大小。
在本发明的示例性实施例中,所述检测电路可以包括:二极管、第一分压电阻、第二分压电阻、第三分压电阻、第四分压电阻、三极管、第一滤波电容、第二滤波电容和上拉电阻;
其中,所述二极管、所述第一分压电阻、所述第二分压电阻、所述第三分压电阻和所述第四分压电阻依次串联;所述二极管的阳极为所述检测电路的检测信号输入端,所述第四分压电阻的第一端与所述第三分压电阻相连,第二端与信号地SGND相连;
所述第一滤波电容与所述第四分压电阻并联;
所述三极管的发射极与所述第四分压电阻的第一端相连,基极与所述SGND相连,集电极与所述上拉电阻的第一端相连;
所述上拉电阻的第二端与电源相连;所述第二滤波电容并联于所述三极管的基极和集电极之间;
所述主控电路的信号输入端与所述集电极相连。
本发明实施例的有益效果可以包括:
1、本发明实施例的所述食品加工机可以包括:主控电路以及依次相连的电源、开关、检测电路和电机驱动电路;所述检测电路的检测信号输出端与所述主控电路的信号输入端相连,所述方法可以包括:在所述开关闭合后,获取所述信号输入端的检测信号;确定所述检测信号的信号参数;所述信号参数包括以下任意一种或多种:占空比、脉冲宽度、低电平持续时长以及检测的电压值;根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象;当确定所述电机出现耐压不良现象时,根据预设的处理方案进行处理;所述预设的处理方案包括以下任意一种或多种:报警、控制所述电机停止运行和切断所述电机的供电电源。通过该实施例方案,能够及时、有效地检测电机出现的耐压不良现象,并及时做出处理。
2、本发明实施例的所述信号参数为所述占空比时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:当所述占空比减小时,确定电机出现耐压不良现象;当所述占空比未发生变化时,确定电机未出现耐压不良现象。该实施例方案简单、易于实施。
3、本发明实施例的所述信号参数为所述脉冲宽度时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:当所述脉冲宽度大于预设的脉冲宽度阈值时,确定电机出现耐压不良现象;当所述脉冲宽度小于或等于所述脉冲宽度阈值时,确定电机未出现耐压不良现象。该实施例方案检测精度高,确保对电机的耐压问题进行正确检测,避免了耐压不良后继续使用引起其他异常。
4、本发明实施例的所述信号参数为所述低电平持续时长时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:当所述低电平持续时长小于预设的时长阈值时,确定电机出现耐压不良现象;当所述低电平持续时长大于或等于所述时长阈值时,确定电机未出现耐压不良现象。通过该实施例方案,检测电路可以通过过零检测电路实现,并通过检测过零信号来检测电机的耐压不良现象。
5、本发明实施例的所述信号参数为所述电压值时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:当所述电压值大于零并小于预设的电压阈值时,确定电机出现耐压不良现象;当所述电压值为零时,确定电机未出现耐压不良现象。通过该实施例方案,可以实现通过识别检测电路的信号模数AD值判断出电机出现的耐压不良问题。
6、本发明实施例的所述开关的第一端与所述电源的零线相连,第二端与所述检测电路的检测信号输入端相连;所述电机驱动电路中设置有整流桥,所述检测信号输入端与所述整流桥直接相连。通过该实施例方案,可通过断开开关来断开电源,从而将检测电路的输入切换到电机电路上。
7、本发明实施例的所述开关为磁控微动开关;所述方法还可以包括:通过所述食品加工机杯盖的开合控制所述磁控微动开关的闭合与断开。通过该实施例方案,可确保每次制浆时磁控微动开关都有闭合与断开的动作,从而在每次制浆时可对电机的耐压问题进行检测。
本发明实施例的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明实施例的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明实施例技术方案的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本申请的实施例一起用于解释本发明实施例的技术方案,并不构成对本发明实施例技术方案的限制。
图1为本发明实施例的食品加工机的电机监测方法流程图;
图2为本发明实施例的食品加工机组成框图;
图3为本发明实施例的检测电路的一种结构示意图;
图4为本发明实施例的开关闭合时的等效电路示意图;
图5为本发明实施例的三极管的基极电压以及主控电路的信号输入端电压波形示意图;
图6为本发明实施例的电机耐压不良时的等效电路示意图;
图7为本发明实施例的检测电路为AD采样电路时的示意图;
图8为本发明实施例的电机耐压不良时电流通过外壳流入检测电路时的示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
实施例一
本发明实施例提供了一种食品加工机的电机监测方法,所述食品加工机可以包括:主控电路5以及依次相连的电源2、开关1、检测电路3和电机驱动电路4;所述检测电路3的检测信号输出端与所述主控电路5的信号输入端相连,如图1、图2所示,所述方法可以包括S101-S104:
S101、在所述开关闭合后,获取所述信号输入端的检测信号;
S102、确定所述检测信号的信号参数;所述信号参数包括以下任意一种或多种:占空比、脉冲宽度、低电平持续时长以及检测的电压值;
S103、根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象;
S104、当确定所述电机出现耐压不良现象时,根据预设的处理方案进行处理;所述预设的处理方案包括以下任意一种或多种:报警、控制所述电机停止运行和切断所述电机的供电电源。
在本发明的示例性实施例中,如图3所示,所述检测电路可以包括:二极管D1、第一分压电阻R1、第二分压电阻R2、第三分压电阻R3、第四分压电阻R4、三极管Q1、第一滤波电容C1、第二滤波电容C2和上拉电阻R5;
其中,所述二极管D1、所述第一分压电阻R1、所述第二分压电阻R2、所述第三分压电阻R3和所述第四分压电阻R4依次串联;所述二极管D1的阳极为所述检测电路的检测信号输入端,所述第四分压电阻R4的第一端与所述第三分压电阻R3相连,第二端与信号地SGND相连;
所述第一滤波电容C1与所述第四分压电阻R4并联;
所述三极管Q1的发射极B与所述第四分压电阻R4的第一端相连,基极E与所述SGND相连,集电极C与所述上拉电阻R5的第一端相连;
所述上拉电阻R5的第二端与电源相连;所述第二滤波电容C2并联于所述三极管的基极和集电极之间;
所述主控电路的信号输入端Z与所述集电极C相连。
在本发明的示例性实施例中,食品加工机正常工作时,开关闭合时,由于信号地SGND对N(电源零线)极为220V,该电源通过D1进行半波整流,,通过R4将其分压,然后导通和关闭三极管Q1,从而主控电路的信号输入端Z处形成频率为50HZ,占空比为50%的方波;当开关断开后,电源被断开,Z处信号为持续高电平。电机耐压不良后,其外壳与内部导线间会产生一大电阻,将该电阻引人检测电路,会导致分压电路的电阻变化从而导致检测信号变化,此时Z处信号为频率50HZ,占空比小于50%的方波信号,基于上述原理,通过主控电路识别检测信号的占空比、脉冲宽度、低电平持续时长(如,零电压持续时长)或电压差异可判断出电机是否出现耐压不良现象。
在本发明的示例性实施例中,通过对电机的耐压问题进行检测,避免了耐压不良后继续使用引起其他异常。
实施例二
该实施例在实施例一的基础上,给出了根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象的具体实施方式。
在本发明的示例性实施例中,所述信号参数为所述占空比时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:
当所述占空比减小时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述占空比未发生变化时,确定电机未出现耐压不良现象。
在本发明的示例性实施例中,已知食品加工机正常工作时,开关闭合时,主控电路的信号输入端Z处形成频率为50HZ,占空比为50%的方波;电机耐压不良后,其外壳与内部导线间会产生一大电阻,将该电阻引人检测电路,会导致分压电路的电阻变化从而导致检测信号变化,此时Z处信号为频率50HZ,占空比小于50%的方波信号。因此,直接检测Z端口所检测到的信号的占空比便可以确定电机是否出现耐压不良现象,方案简单,易于实施。
在本发明的示例性实施例中,所述信号参数为所述脉冲宽度时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:
当所述脉冲宽度大于预设的脉冲宽度阈值时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述脉冲宽度小于或等于所述脉冲宽度阈值时,确定电机未出现耐压不良现象。
在本发明的示例性实施例中,所述信号参数为所述低电平持续时长时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:
当所述低电平持续时长小于预设的时长阈值时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述低电平持续时长大于或等于所述时长阈值时,确定电机未出现耐压不良现象。
在本发明的示例性实施例中,开关(如磁控微动开关)闭合时,其等效电路如图4所示,220V电压时,电源电压通过D1进行半波整流,之后由R4、R1、R2、R3对其分压得到基极B端的电压UB来控制三极管的导通,在正半波时,负半波时UB=0,其波形如图5中的曲线所示。当UB大于三极管导通电压0.7V时,三极管导通,当UB小于0.7V时,三极管关闭,通过UB=0.7V,可计算出起始导通时间t=T1。三极管导通,Z端输出低电平,当三极管截止时,Z端输出高电平,Z端输出的波形如图5中直线所示。通过主控电路可采集到低电平持续时间为t1=(0.01-2T1)S,高电平持续时间为t2=(0.01+2T1)S。
在本发明的示例性实施例中,电机耐压不良时,其等效电路如图6所示,其分压电路在原来的基础上串入了电机的电阻R,则在正半波时, 负半波时UB=0,导致此时三级管导通时间变短,即UB=0.7V,可计算出起始导通时间t=T2,通过主控电路可采集到低电平持续时间为t3=(0.01-2T2)S,高电平持续时间为t4=(0.01+2T2)S。由于R远大于其余几个电阻,计算可得t3远小于t1,通过设置阈值T(T2>T>T1),当检测到低电平且持续时间大于(0.01-2T)S,即时长阈值,或者高电平且持续时间小于(0.01+2T)S,即脉冲宽度阈值,则认为检测信号正常,否则确认为耐压不良引起检测信号异常。
在本发明的示例性实施例中,通过低电平持续时长以及脉冲宽度的判断,间接识别出了电机耐压不良的问题。
实施例三
该实施例在实施例一的基础上,给出了信号参数为所述电压值时,根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象的具体实施方式,即,可以通过对检测信号进行AD检测的方式识别电机耐压不良。
在本发明的示例性实施例中,所述信号参数为所述电压值时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象可以包括:
当所述电压值大于零并小于预设的电压阈值时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述电压值为零时,确定电机未出现耐压不良现象。
在本发明的示例性实施例中,当检测电路为模数AD采样电路时,电路图可以如图7所示。
在本发明的示例性实施例中,所述检测电路可以包括:二极管D2、第五分压电阻R5、第六分压电阻R6、第七分压电阻R7、第八分压电阻R8、第三滤波电容EC1和第四滤波电容C3;
其中,二极管D2、第五分压电阻R5、第六分压电阻R6、第七分压电阻R7和第八分压电阻R8依次串联;二极管D2的阳极为所述检测电路的检测信号输入端,第八分压电阻R8的第一端与第七分压电阻R7相连,第二端与信号地SGND相连;
第三滤波电容EC1和第四滤波电容C3均与第八分压电阻R8并联;
所述主控电路的AD信号采样端VOL_AD与第八分压电阻R8的第一端相连。
在本发明的示例性实施例中,开关闭合时,电源通过D2整流,再由R8分压,EC1滤波得到电压值VAD,同时主控电路通过VOL_AD对该点电压进行AD采样。由于主控电路(如单片机)输入口电压一般需小于5V,即输入电压最大值时275*0.45*R8/220K<5,则R8<8.8K,本实施例方案可以取R8=3.3KΩ。
在本发明的示例性实施例中,电机正常时,开关闭合时,VOL_AD处电压为VAD=0.45U*3.3/220,U为当前市电电压。开关闭合时,无电压输入,VOL_AD处电压为VAD=0。
在本发明的示例性实施例中,电机发生耐压不良时:开关闭合时VOL_AD处电压与正常时一致,开关闭合时,电压通过电机外壳串入,VOL_AD处电压为0.45U*3.3/(220+R),U为当前市电电压,R为电机耐压不良时的等效电阻。则设置电压阈值VT,VOL_AD处电压VAD满足0<VAD<VT时,则可判断出电机出现耐压不良情况。同时由于目前市电电压U允许范围为155V-275V,所以VT的设置需小于在155V电压下开关关闭时的VAD=1V,同时VT需大于在275V电压下电机耐压不良时的VAD=0.33V,因此,本实施例方案可以取VT=0.7V。
在本发明的示例性实施例中,通过识别检测电路的信号AD值,当检测AD值低于设定的电压阈值时,即可判断出电机出现耐压不良问题。
实施例四
该实施例在上述任意实施例的基础上,给出了检测电路的具体连接实施例。
在本发明的示例性实施例中,如图3所示,所述开关1的第一端与所述电源2的零线相连,第二端与所述检测电路3的检测信号输入端相连;
所述电机驱动电路4中设置有整流桥41,所述检测信号输入端与所述整流桥41直接相连。
在本发明的示例性实施例中,检测电路输入端需与电机6的整流桥41直接相连,且与零线间需增加可控制开关1,以便在检测时断开零线端电源的输入。
在本发明的示例性实施例中,通过断开开关1,断开了检测电路3与电源2的连接,从而将检测电路的输入切换到电机驱动电路4上。
实施例五
该实施例在上述任意实施例的基础上,给出了由上盖的开合控制开关(如磁控微动开关)的闭合与断开的实施例方案。
在本发明的示例性实施例中,所述开关为磁控微动开关;所述方法还可以包括:通过所述食品加工机杯盖的开合控制所述磁控微动开关的闭合与断开。
在本发明的示例性实施例中,杯盖内可以装有磁铁,当杯盖闭合时,磁铁靠近磁控微动开关,导致磁控微动开关闭合;当杯盖打开时,磁铁远离磁控微动开关,导致磁控微动开关断开。
在本发明的示例性实施例中,由于食品加工机每次制浆时都需要执行杯盖打开和闭合的操作,这样可确保每次制浆时磁控微动开关都有闭合与断开的动作,在磁控微动开关断开时可对电机的耐压问题进行检测。
实施例六
该实施例在上述任意实施例的基础上,给出了主控电路(如单片机)的电源(如9V电源)加载在火线上的实施例方案。
在本发明的示例性实施例中,所述主控电路的电源输入端与所述电源的火线输出端相连,以使得所述主控电路的电源加载在所述电源的火线上。
在本发明的示例性实施例中,目前电机外壳都需接地(GND),由于零线与地电势几乎相等,且9v对信号地SGND的电势为9v,当9v加载在火线上时,GND对SGND的电压约为零线对火线的电压,该电压即
在本发明的示例性实施例中,电机耐压不良时,相当于外壳对线圈间存在大电阻,由于GND和SGND间存在电势差,电流通过外壳流入检测电路,导致即使微动开关断开Z处也有频率50HZ,占空比小于50%的方波信号。
在本发明的示例性实施例中,电流流向如图8中线X所示。
实施例七
该实施例在上述任意实施例的基础上,给出了通过电压调节所设置的阈值的实施例方案。
在本发明的示例性实施例中,所述方法还可以包括:根据所述食品加工机的工作电压调整所设置的阈值的大小。
在本发明的示例性实施例中,目前食品加工机,如豆浆机的工作电压U使用范围为155-275V,三极管的导通电压为0.7v,计算可知 时,三极管开始导通时间t与当前工作电压U成反比,电压U越大,导通越快。因此,所设置的阈值根据当前工作电压U做相应调整,即低电平且持续时间大于(0.01-2T*220/U)S,或者高电平且持续时间小于(0.01+2T*220/U)认为检测信号正常,否则确认为耐压不良引起的检测异常,其中U为当前工作电压值,T为220V时设置的导通时间阈值。
在本发明的示例性实施例中,通过该实施例方案,避免不同工作电压时脉宽差异的干扰,增加了高低压判断的准确度。
实施例八
该实施例在上述任意实施例的基础上,给出了通过设置合适的电阻值来扩大耐压不良与正常时的检测信号之间的差异性的实施例方案。
在本发明的示例性实施例中,本实施例方案可以选取R4(或R8)=5.1KΩ,R1=R2=R3=73.3KΩ(或R5=R6=R7=73.3KΩ)。由于电阻的功率一般为1/4W,为保证电阻不会因功率过大而烧毁,即U*U/R<0.25,考虑到电阻常用规格,本实施例方案采用3个73.3欧姆串联的方式,从而降低每个电阻上的功耗,此时每个电阻的最大功耗为275*275*0.45*0.45/220K/3=0.023W,满足使用需要。
在本发明的示例性实施例中,电机正常时,三极管导通条件为由于正常市电电压过零时两零点间时长为10ms,为保证Z处检测信号(如过零信号)与市电过零尽量一致,即导通时间t越小,目前导通时间t<0.5ms都能满足使用需求,此时计算可得R4需大于4.4KΩ。
在本发明的示例性实施例中,电机耐压不良时,R的阻值在兆Ω级,此时三极管导通条件为由公式可知R越大,起始导通时间t越大;R4越大,起始导通时间t越大。故R4越大,电机正常时的过零越准确,但是与电机耐压不良时的差异性越小;而R4越小,电机正常时的过零偏移越大,但是与电机耐压不良时的差异性越大。
在本发明的示例性实施例中,本实施例方案设置R4=5.1K,由计算可知,电机正常时起始导通时间t=0.31ms,即此时过零信号低电平的脉宽为(0.01-2t)S=9.4ms,高电平时脉宽为10.6ms。而电机耐压不良时,设R为1MΩ,则其导通时间为t=2.6ms,即此时过零信号低电平的脉宽为(0.01-2t)S=4.8ms,高电平时脉宽为15.2ms。其脉宽与电机正常时存在4.6ms差异,差异较大,可以被有效检测出。
在本发明的示例性实施例中,通过该实施例方案,增大了正常过零时和耐压不良时脉宽的差异性,使得检测更加可靠。
本领域普通技术人员可以理解,上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中,在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分;例如,一个物理组件可以具有多个功能,或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器,如数字信号处理器或微处理器执行的软件,或者被实施为硬件,或者被实施为集成电路,如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上,计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的,术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外,本领域普通技术人员公知的是,通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据,并且可包括任何信息递送介质。

Claims (10)

1.一种食品加工机的电机监测方法,其特征在于,所述食品加工机包括:主控电路以及依次相连的电源、开关、检测电路和电机驱动电路;所述检测电路的检测信号输出端与所述主控电路的信号输入端相连,所述方法包括:
在所述开关闭合后,获取所述信号输入端的检测信号;
确定所述检测信号的信号参数;所述信号参数包括以下任意一种或多种:占空比、脉冲宽度、低电平持续时长以及检测的电压值;
根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象;
当确定所述电机出现耐压不良现象时,根据预设的处理方案进行处理。
2.根据权利要求1所述的食品加工机的电机监测方法,其特征在于,所述信号参数为所述占空比时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象包括:
当所述占空比减小时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述占空比未发生变化时,确定电机未出现耐压不良现象。
3.根据权利要求1所述的食品加工机的电机监测方法,其特征在于,所述信号参数为所述脉冲宽度时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象包括:
当所述脉冲宽度大于预设的脉冲宽度阈值时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述脉冲宽度小于或等于所述脉冲宽度阈值时,确定电机未出现耐压不良现象。
4.根据权利要求1所述的食品加工机的电机监测方法,其特征在于,所述信号参数为所述低电平持续时长时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象包括:
当所述低电平持续时长小于预设的时长阈值时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述低电平持续时长大于或等于所述时长阈值时,确定电机未出现耐压不良现象。
5.根据权利要求1所述的食品加工机的电机监测方法,其特征在于,所述信号参数为所述电压值时,所述根据所述信号参数的变化情况确定电机是否出现耐压不良现象包括:
当所述电压值大于零并小于预设的电压阈值时,确定电机出现耐压不良现象;
当所述电压值为零时,确定电机未出现耐压不良现象。
6.根据权利要求1-5任意一项所述的食品加工机的电机监测方法,其特征在于,所述开关的第一端与所述电源的零线相连,第二端与所述检测电路的检测信号输入端相连;
所述电机驱动电路中设置有整流桥,所述检测信号输入端与所述整流桥直接相连。
7.根据权利要求1-5任意一项所述的食品加工机的电机监测方法,其特征在于,所述开关为磁控微动开关;所述方法还包括:通过所述食品加工机杯盖的开合控制所述磁控微动开关的闭合与断开。
8.根据权利要求1-5任意一项所述的食品加工机的电机监测方法,其特征在于,所述主控电路的电源输入端与所述电源的火线输出端相连,以使得所述主控电路的电源加载在所述电源的火线上。
9.根据权利要求3、4或5所述的食品加工机的电机监测方法,其特征在于,所述方法还包括:根据所述食品加工机的工作电压调整所设置的阈值的大小。
10.根据权利要求2所述的食品加工机的电机监测方法,其特征在于,所述检测电路包括:二极管、第一分压电阻、第二分压电阻、第三分压电阻、第四分压电阻、三极管、第一滤波电容、第二滤波电容和上拉电阻;
其中,所述二极管、所述第一分压电阻、所述第二分压电阻、所述第三分压电阻和所述第四分压电阻依次串联;所述二极管的阳极为所述检测电路的检测信号输入端,所述第四分压电阻的第一端与所述第三分压电阻相连,第二端与信号地SGND相连;
所述第一滤波电容与所述第四分压电阻并联;
所述三极管的发射极与所述第四分压电阻的第一端相连,基极与所述SGND相连,集电极与所述上拉电阻的第一端相连;
所述上拉电阻的第二端与电源相连;所述第二滤波电容并联于所述三极管的基极和集电极之间;
所述主控电路的信号输入端与所述集电极相连。
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