CN110198548A - 一种lora模块测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种LORA模块测试方式，包括相互电连接的上位机，测试仪以及待测LORA模块，所述测试方法包括以下步骤，上位机判定和测试仪的连接是否正常以及测试仪和待测LORA模块连接是否正常，然后分别对待测LORA模块的GPIO单元，射频单元和存储单元分别进行检测，如果检测全部正常完成测试，如果其中有某一单元故障，上位机会发出警示并退出测试。本发明能够自动化检测LORA模块的全部功能模块，并且检测准确率高。
Description
技术领域
本发明涉及电路板测试技术领域，特别是涉及一种LORA模块测试方法。
背景技术
在现代电子工业中，电路板已经得到了广泛应用，检测电路板质量尤为重要，各种各样针对电路板检测的方法应运而生。LORA是一种基于CSS调制技术的电路结构，相较于普通的FSK技术，能极大的增强通讯范围，而且基于LORA模块的电子产品具有传输距离远，抗干扰能力强等特点。但是现有的生产厂家检测LORA模块时，直接通过信号发生器来判断LORA模块的质量，误测率高，且效率低下。也有的采用测试仪对LORA电路板进行手工测试,该测试仪是一种包括探针和控制模块，控制模块包括电流表，数据传输处理模块和电源模块，电流表一端与探针的底端电连接，电流表另一端与数据传输处理模块电连接，电源模块分别与电流表及数据传输处理模块电连接。另外，现有技术中还公开有在测试仪的控制模块中添加检测LORA模块，利用检测LORA模块配合电流表对待测LORA电路板的各个功能单元，如射频单元等进行测试，然后工作人员根据电流表反馈的数据进行判断LORA电路板正常与否，但是该方法需要人工测试、观察与记录，效率低，无法满足批量生产检测。
发明内容
基于此，有必要针对LORA模块检测结果不准及效率低等问题，提供一种LORA模块测试方法，能自动测试LORA模块的产品质量，且完全测试了LORA模块的组成单元，测试结果准确率高，并极大的提高了测试效率。
一种LORA模块测试方法，包括相互电连接的上位机，测试仪以及待测LORA模块，所述测试方法包括以下步骤，
步骤一、所述上位机自动识别与所述测试仪连接是否正常，所述上位机识别连接正常，进入步骤二；若否，所述上位机发出警示，退出测试；
步骤二、所述上位机开始判别所述测试仪与所述待测LORA模块连接是否正常，所述上位机判断连接正常，进入步骤三；若否，所述上位机发出警示，退出测试；
步骤三、所述上位机发送高电平信号进入所述待测LORA模块的GPIO单元，若所述测试仪检测到待测LORA模块输出信号为高电平，所述上位机判定GPIO单元正常，进入步骤四；若所述测试仪检测到所述待测LORA模块输出信号为低电平，所述上位机判定GPIO单元故障，所述上位机发出警示，退出测试；
步骤四、所述上位机发送控制指令并通过所述测试仪检测所述待测LORA模块的射频单元，所述测试仪内还包括有检测LORA模块，所述待测LORA模块和所述检测LORA模块的射频单元根据控制指令切换为对应的发射模式和接收模式；
所述检测LORA模块根据控制指令向所述待测LORA模块发送测试信号，所述待测LORA模块的射频单元为接收模式接收测试信号并将接收的测试信号反馈给所述上位机，所述上位机判断该信号的功率指数是否在预设阈值之内，若是，判定所述待测LORA模块的射频单元接收功能正常；若否，判定所述待测LORA模块的射频单元接收功能故障；
所述待测LORA模块根据控制指令向所述检测LORA模块发送测试信号，所述待测LORA模块的射频单元为发射模式发射测试信号并将发射的测试信号反馈给所述上位机，所述上位机判断该信号的功率指数是否在预设阈值之内，若是，判定所述待测LORA模块的射频单元发射功能正常；若否，判定所述待测LORA模块的射频单元发射功能故障；
所述上位机判定所述待测LORA模块的射频单元发射功能和接收功能正常后，进入步骤五；若否，所述上位机发出警示，退出测试；
步骤五、所述上位机向所述待测LORA模块写入SN序列号，若写入成功进入步骤六，若否，所述上位机发出警示，退出测试；
步骤六、所述上位机向所述待测LORA模块的FLASH单元进行读写测试，若所述上位机判定写入成功，完成测试，若所述上位机判定写入失败，所述上位机发出警示，退出测试。
优选的，所述步骤一，所述上位机通过UART通信串口与所述测试仪连接，所述上位机自动重复检测所述UART串口，确认与所述测试仪连接是否正常。
优选的，所述步骤二，所述上位机通过所述测试仪向所述待测LORA模块的预测单元发送测试电平信号，所述上位机接收所述测试仪的输入脚和输出脚的电平信号，若所述测试仪输入脚和输出脚的电平信号在预设阈值内，判定所述测试仪和所述待测LORA模块连接正常。
优选的，所述步骤三，所述高电平为1.8V～3.3V，所述低电平小于1V。
优选的，所述步骤四，所述测试信号为正弦波信号。
优选的，所述步骤四，所述待测LORA模块的射频单元发射模式测试信号的功率指数阈值范围为-8～-15dbm，所述待测LORA模块的射频单元接收模式测试信号的功率指数阈值范围为-20～-25dbm。
本发明的有益之处在于能够自动化检测LORA模块的全部单元是否正常，并且通过上位机实时反馈给测试人员待测LORA模块具体故障单元，有效提高了对LORA模块的检测准确度和检测效率。
附图说明
图1为本发明实施例流程图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
实施例一
请参阅附图1，为本发明实施例提供的一种LORA模块测试方法流程图，该方法能够检测待测LORA模块各个单元并由软件和硬件结合实现。该方法包括相互电连接的上位机，测试仪以及待测LORA模块，测试方法包括以下步骤：
步骤一、上位机自动识别与测试仪连接是否正常，若上位机识别连接正常，进入步骤二；若否，上位机发出警示，退出测试。具体的，上位机为测试终端，能够对外反馈测试结果并发出警示，警示信息可以为软件界面提示和/或蜂鸣器提示等，上位机通过测试仪电连接待测LORA模块，并控制测试顺序，实现对LORA模块的自动化检测。
步骤二、上位机开始判别测试仪与待测LORA模块连接是否正常，若上位机判断连接正常，进入步骤三；若否，上位机发出警示，退出测试。
步骤三、上位机发送高电平信号进入待测LORA模块的GPIO单元，若测试仪检测到待测LORA模块输出信号为高电平，上位机判定GPIO单元正常，进入步骤四；若测试仪检测到待测LORA模块输出信号为低电平，上位机判定GPIO单元故障，上位机发出警示，退出测试。具体的，测试仪检测与待测LORA模块GPIO单元对应的输入脚和输出脚上的电平信号，并将检测信息发送给上位机，上位机根据该信息判定待测LORA模块的GPIO单元是否正常。
步骤四、上位机发送控制指令并通过测试仪检测待测LORA模块的射频单元，测试仪内还包括有检测LORA模块，待测LORA模块和检测LORA模块的射频单元根据控制指令切换为对应的发射模式和接收模式。
检测LORA模块根据控制指令向待测LORA模块发送测试信号，待测LORA模块的射频单元为接收模式接收测试信号并将接收的测试信号反馈给上位机，上位机判断该信号的功率指数是否在预设阈值之内，若是，则待测LORA模块的射频单元接收功能正常；若否，判定待测LORA模块的射频单元接收功能故障。
待测LORA模块根据控制指令向检测LORA模块发送测试信号，待测LORA模块的射频单元为发射模式发射测试信号并将发射的测试信号反馈给上位机，上位机判断该信号的功率指数是否在预设阈值之内，若是，则判定待测LORA模块的射频单元发射功能正常；若否，判定待测LORA模块的射频单元发射功能故障。
上位机判定待测LORA模块的射频单元发射功能和接收功能正常后，进入步骤五；若否，上位机发出警示，退出测试。具体的，控制指令为数字信号，控制检测LORA模块和待测LORA模块的开闭以及模式切换，通过在测试仪中内置检测LORA模块，然后使得两个LORA模式之间相互通信，测试仪监控到待测LORA模块接收和发射的测试信号的功率指数是否在预设阈值内，从而确认待测LORA模块的发射功能和接收功能正常与否。
步骤五、上位机向待测LORA模块写入SN序列号，若写入成功进入步骤六，若否，上位机发出警示，退出测试。具体的，一般情况下，LORA模块内置有存储空间较小的存储区域，通过直接向待测LORA模块写入SN序列号，可以验证待测LORA模块内置存储区域正常与否。
步骤六、上位机向待测LORA模块的FLASH单元进行读写测试，若上位机判定写入成功，完成测试，若上位机判定写入失败，上位机发出警示，退出测试。具体的，FLASH单元为LORA模块的外置存储单元，内部存储空间较大，上位机单独对FLASH单元进行读写测试，和其内部的存储单元分开测试，保证LORA模块两部分存储单元正常。
实施例二
基于实施例一优化的，所述步骤一，上位机通过UART通信串口与测试仪连接，上位机自动重复检测UART串口，确认与所述测试仪连接是否正常。与实施例一相同或相应的内容在此不再赘述。
实施例三
基于实施例一优化的，所述步骤二，上位机通过所述测试仪向待测LORA模块的预测单元发送测试电平信号，上位机接收所述测试仪的输入脚和输出脚的电平信号，若测试仪输入脚和输出脚的电平信号在预设阈值内，判定测试仪和待测LORA模块连接正常。与实施例一相同或相应的内容在此不再赘述。
实施例四
基于实施例一优化的，所述步骤三，高电平为1.8V～3.3V，低电平小于1V。与实施例一相同或相应的内容在此不再赘述。
实施例五
基于实施例优化的，所述步骤四，所述测试信号为正弦波信号。
实施例六
基于实施例一优化的，所述步骤四，待测LORA模块的射频单元发射模式测试信号的功率指数阈值范围为-8～-15dbm，待测LORA模块的射频单元接收模式测试信号的功率指数阈值范围为-20～-25dbm。与实施例一相同或相应的内容在此不再赘述。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (6)
1.一种LORA模块测试方法，包括相互电连接的上位机，测试仪以及待测LORA模块，其特征在于：所述测试方法包括以下步骤，
步骤一、所述上位机自动识别与所述测试仪连接是否正常，所述上位机识别连接正常，进入步骤二；若否，所述上位机发出警示，退出测试；
步骤二、所述上位机开始判别所述测试仪与所述待测LORA模块连接是否正常，所述上位机判断连接正常，进入步骤三；若否，所述上位机发出警示，退出测试；
步骤三、所述上位机发送高电平信号进入所述待测LORA模块的GPIO单元，若所述测试仪检测到待测LORA模块输出信号为高电平，所述上位机判定GPIO单元正常，进入步骤四；若所述测试仪检测到所述待测LORA模块输出信号为低电平，所述上位机判定GPIO单元故障，所述上位机发出警示，退出测试；
步骤四、所述上位机发送控制指令并通过所述测试仪检测所述待测LORA模块的射频单元，所述测试仪内还包括有检测LORA模块，所述待测LORA模块和所述检测LORA模块的射频单元根据控制指令切换为对应的发射模式和接收模式；
所述检测LORA模块根据控制指令向所述待测LORA模块发送测试信号，所述待测LORA模块的射频单元为接收模式接收测试信号并将接收的测试信号反馈给所述上位机，所述上位机判断该信号的功率指数是否在预设阈值之内，若是，判定所述待测LORA模块的射频单元接收功能正常；若否，判定所述待测LORA模块的射频单元接收功能故障；
所述待测LORA模块根据控制指令向所述检测LORA模块发送测试信号，所述待测LORA模块的射频单元为发射模式发射测试信号并将发射的测试信号反馈给所述上位机，所述上位机判断该信号的功率指数是否在预设阈值之内，若是，判定所述待测LORA模块的射频单元发射功能正常；若否，判定所述待测LORA模块的射频单元发射功能故障；
所述上位机判定所述待测LORA模块的射频单元发射功能和接收功能正常后，进入步骤五；若否，所述上位机发出警示，退出测试；
步骤五、所述上位机向所述待测LORA模块写入SN序列号，若写入成功进入步骤六，若否，所述上位机发出警示，退出测试；
步骤六、所述上位机向所述待测LORA模块的FLASH单元进行读写测试，若所述上位机判定写入成功，完成测试，若所述上位机判定写入失败，所述上位机发出警示，退出测试。
2.如权利要求1所述的一种LORA模块测试方法，其特征在于：所述步骤一，所述上位机通过UART通信串口与所述测试仪连接，所述上位机自动重复检测所述UART串口，确认与所述测试仪连接是否正常。
3.如权利要求1所述的一种LORA模块测试方法，其特征在于：所述步骤二，所述上位机通过所述测试仪向所述待测LORA模块的预测单元发送测试电平信号，所述上位机接收所述测试仪的输入脚和输出脚的电平信号，若所述测试仪输入脚和输出脚的电平信号在预设阈值内，判定所述测试仪和所述待测LORA模块连接正常。
4.如权利要求1所述的一种LORA模块测试方法，其特征在于：所述步骤三，所述高电平为1.8V～3.3V，所述低电平小于1V。
5.如权利要求1所述的一种LORA模块测试方法，其特征在于：所述步骤四，所述测试信号为正弦波信号。
6.如权利要求1所述的一种LORA模块测试方法，其特征在于：所述步骤四，所述待测LORA模块的射频单元发射模式测试信号的功率指数阈值范围为-8～-15dbm，所述待测LORA模块的射频单元接收模式测试信号的功率指数阈值范围为-20～-25dbm。
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