CN110161555A - 一种x射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质 - Google Patents
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 116
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 16
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000009471 action Effects 0.000 description 4
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 108010076504 Protein Sorting Signals Proteins 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/02—Dosimeters
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
- G01T7/005—Details of radiation-measuring instruments calibration techniques
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
本发明适用于X射线探测器自动化技术领域，提供了一种X射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质，方法包括：获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。通过控制不同的X射线剂量点并曝光，控制所述探测器采集一组暗场图像集和多组不同X射线剂量点的亮场图像集，并基于采集到的图像集生成对应的校正模板，最后使用上述校正模板自动校正探测器，提高了X射线探测器校正的效率。
Description
技术领域
本发明属于X射线探测器自动化技术领域，尤其涉及一种X射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质。
背景技术
在口内X射线探测器(传感器)临床使用之前，需要对其进行图像校正。图像校正可分点单点校正和多点校正。单点校正即在相同X射线剂量下，采集一个系列的暗场图像和一个系列亮场图像，生成暗场、亮场、坏点等校正模板。多点校正是在不同X射线剂量下，采集一个系列的暗场图像和多个系列的亮场图像，最终生成暗场、亮场、坏点等校正模板。由于X射线探测器的量子探测效率(Detective Quantum Efficiency,DQE)与X射线剂量之间，呈现非线性关系，故当前多采用多点校正模式进行X射线探测器校正。
目前，多点校正X射线探测器的模式，需要手工设置X射线初始剂量、人工评估亮场图像的均值是否在预定范围内，然后再手工调整X射线剂量值，重新采集、评估图像并生成校正文件。在整个校正过程中，需要多次手工调整X射线剂量，以及多次的X射线曝光操作，并需要多次人工评估图像是否符合预期的要求，自动化水平低导致效率低。
发明内容
本发明实施例提供一种X射线探测器校正方法，旨在解决现有X射线探测器校正自动化水平低、效率低的问题。
本发明实施例是这样实现的，提供一种X射线探测器校正方法，包括：
获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；
基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；
设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；
基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。
更进一步地，所述获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集的步骤具体包括：
在控制信号的作用下连续从探测器读取至少一帧暗场图像。
更进一步地，所述基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正的步骤具体包括：
计算所述暗场图像集的均值作为所述暗场校正模板；
计算所述暗场校正模板的均值得到模板均值；
如果所述模板均值处于预设的范围内，则暗场校正完成。
更进一步地，所述设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集的步骤具体包括：
设置一个X射线剂量点并曝光；
在控制信号的作用下连续从探测器读取至少一帧亮场图像组成一个亮场图像集；
重新设置X射线剂量点再获取对应剂量点的亮场图像集。
更进一步地，所述基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正的步骤具体包括：
计算所述每一个X射线剂量点的亮场图像集的均值作为对应X射线剂量点的亮场校正模板；
计算所述每一个X射线剂量点的亮场校正模板的均值得到对应X射线剂量点的模板均值；
如果所述每一个X射线剂量点的模板均值处于对应X射线剂量点的预设的范围内，则亮场校正完成。
本发明实施例还提供一种X射线探测器校正系统，包括：
执行所述X射线探测器校正方法的控制设备；
待校正X射线探测器，在所述控制设备的控制信号下采集图像并上传到所述控制设备；
X射线发生器，在所述控制设备的控制信号下设定X射线剂量点并曝光。
更进一步地，所述系统还包括治具，用于放置所述待校正X射线探测器和铝片。
更进一步地，所述控制设备发送不同的X射线剂量点参数到所述X射线发生器进行设定，并控制所述X射线发生器曝光。
更进一步地，所述控制设备生成校正模板并写入到所述待校正X射线探测器。
更进一步地，所述控制设备控制所述待校正X射线探测器、X射线发生器的同步。
本发明实施例还提供一种X射线探测器校正装置，包括：
第一获取模块，用于获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；
第一校正模块，用于基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；
第二获取模块，用于设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；
第二校正模块，用于基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述的X射线探测器校正方法的步骤。
在本发明实施例中，获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。通过控制不同的X射线剂量点并曝光，控制所述探测器采集一组暗场图像集和多组不同X射线剂量点的亮场图像集，并基于采集到的图像集生成对应的校正模板，最后使用上述校正模板自动校正探测器。在整个校正过程中，自动多次调整X射线剂量以及曝光操作，且自动评估图像校正是否符合要求，从而提高了X射线探测器校正的效率和自动化水平。
附图说明
图1是本发明的X射线探测器校正方法的一个实施例的流程图；
图2是本发明实施例提供的暗场图像的采集控制信号图；
图3是本发明实施例图1中步骤102的一种具体实施方式的流程图；
图4是本发明实施例图1中步骤103的一种具体实施方式的流程图；
图5是本发明实施例提供的亮场图像采集控制信号图；
图6是本发明实施例图1中步骤104的一种具体实施方式的流程图；
图7是本发明实施例提供的X射线探测器校正系统的结构示意图；
图8是本发明实施例提供的校正治具结构示意图；
图9是本发明实施例提供的X射线探测器校正装置的一个实施例的结构示意图；
图10为本发明实施例提供的计算机设备基本结构示意框图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
为解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种X射线探测器校正方法，如图1所示，图1示出了本申请的X射线探测器校正方法的一个实施例的流程图。所述的X射线探测器校正方法，包括以下步骤：
步骤101，获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集。
在本实施例中，暗场图像为X射线探测器在非曝光情况下采集到的图像，X射线探测器受控可以在一定的控制信号的作用下，连续采集一组图像组成暗场图像集，然后上传上述暗场图像集。
步骤102，基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正。
在本实施例中，可以对上述暗场图像集中的每一帧图像进行一定的计算处理生成暗场校正模板，例如，可以对暗场图像集中的每一帧图像的像素值求和之后再取平均值得到上述暗场校正模板；然后计算上述暗场校正模板的像素均值作为暗场模板均值，根据暗场该模板均值对探测器进行暗场校正，即判断该暗场模板均值是否处于预设的范围内。其中，暗场校正模板可单独用于供探测器图像暗场校正使用。
步骤103，设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集。
在本实施例中，可以设置多个X射线剂量点，然后给X射线发生装置发送X射线剂量点设置信号，并控制X射线发生装置在不同剂量点曝光产生X射线；之后控制上述X射线探测器检测X射线并采集亮场图像，从而获得不同剂量点的亮场图像集。
步骤104，基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。
在本实施例中，可以对上述各个X射线剂量点亮场图像集中的每一帧图像进行一定的计算处理生成亮场校正模板，例如，可以对亮场图像集中的每一帧图像的像素值求和之后再取平均值得到上述亮场校正模板；然后将上述亮场校正模板像素值减去暗场校正模板对应点像素值得到模板差值，计算该模板差值的像素均值作为亮场模板均值，根据该亮场模板均值对探测器进行亮场校正，即判断该亮场模板均值是否处于预设的范围内。其中，亮场校正模板可单独用于供探测器图像亮场校正使用。
需要说明的是，本申请实施例提供的X射线探测器校正方法可以应用于X射线探测器校正设备，例如：计算机、服务器、工作站等可以进行X射线探测器校正的设备。
在本实施例中，获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。通过控制不同的X射线剂量点并曝光，控制所述探测器采集一组暗场图像集和多组不同X射线剂量点的亮场图像集，并基于采集到的图像集生成对应的校正模板，最后使用上述校正模板自动校正探测器。在整个校正过程中，自动多次调整X射线剂量以及曝光操作，且自动评估图像校正是否符合要求，从而提高了X射线探测器校正的效率和自动化水平。
进一步的，上述步骤101可以包括：
步骤1011，在控制信号的作用下连续从探测器读取至少一帧暗场图像。
在本实施例中，可以给X射线探测器发送连续的控制信号，并控制X射线发生装置不曝光，使上述X射线探测器可以连续采集到非曝光情况下的暗场图像集然后上传。如图2所示，图2为暗场图像的采集控制信号，T1为控制信号，T2为采集信号，在T1保持低电平的时候采集图像，在其他可能的实施例中在T1保持高电平的时采集图像。
进一步的，如图3所示，上述步骤102可以包括：
步骤1021，计算所述暗场图像集的均值作为所述暗场校正模板。
其中，暗场图像集为上述步骤1011中采集到非曝光情况下的至少一帧暗场图像，将该暗场图像集的所有图像的像素值相加然后取平均值，可以得到上述暗场校正模板，计算公式如下：
其中，其中Toffset为最终生成的暗场(Offset)校正模板，n为暗场图像数量，P为单帧暗场图像。
步骤1022，计算所述暗场校正模板的均值得到模板均值。
在本实施例中，基于上述步骤1021计算得到的暗场校正模板Toffset，取其像素点平均值可以得到模板均值，计算公式如下：
其中，AVG为暗场校正模板的模板均值，PSize为单帧暗场图像的像素点个数，Poffset为暗场校正模板Toffset对应像素点数值。
步骤1023，如果所述模板均值处于预设的范围内，则暗场校正完成。
在本实施例中，需要预先设置一个暗场均值范围用于探测器的暗场校正，假设暗场均值范围预期的最小值为N1，最大值为N2，如果上述暗场校正模板的模板均值AVG∈(N1，N2)，即如果上述暗场模板均值处于预设的范围内，则说明采集的暗场图像符合预期的要求，探测器暗场校正完成；否则可以直接结束本次暗场校正。
进一步的，如图4所示，上述步骤103可以包括：
步骤1031，设置一个X射线剂量点并曝光。
在本实施例中，设置不同的X射线剂量点并发送给设置信号给X射线发生装置，然后在一定的控制信号时序下进行曝光，从而可以采集到不同X射线剂量点的亮场图，如图5所示的亮场图像采集控制信号，其中T1为控制信号，T2为曝光信号。
步骤1032，在控制信号的作用下连续从探测器读取至少一帧亮场图像组成一个亮场图像集。
在本实施例中，可以给X射线探测器发送连续的控制信号，并在一定的时序下控制X射线发生装置曝光，使上述X射线探测器可以连续采集到曝光情况下的亮场图像集然后上传。如图5所示，如图5所示的亮场图像采集控制信号，其中T1为控制信号，T2为曝光信号，T3为采集信号，在T1下降沿触发曝光信号，在曝光信号的下降沿且在T1保持低电平的时候采集图像，在其他可能的实施例中在T1上降沿触发曝光信号，且在T1保持高电平时采集图像。
步骤1033，重新设置X射线剂量点再获取对应剂量点的亮场图像集。
在本实施例中，可以根据校正需求重复上述步骤1032至1033，以获得多个不同X射线剂量点对应的的亮场图像集。
进一步的，如图6所示，上述步骤104可以包括：
步骤1041，计算所述每一个X射线剂量点的亮场图像集的均值作为对应X射线剂量点的亮场校正模板。
其中，一个亮场图像集为上述步骤103中采集到对应X射线剂量点曝光情况下的至少一帧暗场图像，将该亮场图像集的所有图像的像素值相加然后取平均值，可以得到上述一个X射线剂量点的亮场(Gain)校正模板，计算公式如下：
其中TGain为生成的亮场(Gain)校正模板，n为亮场图像数量，F为单帧亮场图像。
步骤1042，计算所述每一个X射线剂量点的亮场校正模板的均值得到对应X射线剂量点的模板均值。
在本实施例中，基于上述步骤1041计算得到的亮场校正模板TGain，然后将上述亮场校正模板像素值减去暗场校正模板对应点像素值得到模板差值，计算该模板差值的像素均值作为亮场模板均值，计算公式如下：
其中，AVGi为第i组亮场图像集(对应第i个X射线剂量点)的亮场校正模板的模板均值，PSize单帧亮场图像像素点个数，PGain为亮场校正模板TGain对应像素点值,Poffset为暗场校正模板Toffset对应像素点数值。
步骤1043，如果所述每一个X射线剂量点的模板均值处于对应X射线剂量点的预设的范围内，则亮场校正完成。
在本实施例中，需要预先为每一个X射线剂量点设置对应的亮场均值范围用于探测器的亮场校正，假设第i个X射线剂量点的亮场均值范围预期的最小值为Mi1，最大值为Mi2，如果上述第i个X射线剂量点的亮场校正模板的模板均值AVGi∈(Mi1，Mi2)，即如果第i个X射线剂量点的亮场模板均值处于预设的范围内，则说明采集的第i个X射线剂量点的亮场图像符合预期的要求，可以继续下一个X射线剂量点的探测器亮场校正，直到最后一个X射线剂量点的亮场校正；否则可以直接结束本次亮场校正。
为解决上述技术问题，本申请实施例还提供了一种X射线探测器校正系统，包括：
执行上述X射线探测器校正方法的控制设备；
待校正X射线探测器，在所述控制设备的控制信号下采集图像并上传到所述控制设备；
X射线发生器，在所述控制设备的控制信号下设定X射线剂量点并曝光。
上述X射线探测器校正系统的结构示意图如图7所示，其中，上述控制设备可以是计算机、服务器等具有计算和存储功能的电子设备，用于执行上述X射线探测器校正方法的各个步骤，实现相应的功能，如发送控制信号控制X射线发生器的X射线剂量点并曝光，给上述待校正X射线探测器发送图片采集信号、并获取图片数据自动生成校正模板，自动进行图像评估等。上述待校正X射线探测器内设置有控制模块，用于控制探测器和上述控制设备通讯，如接受控制设备的控制信号、上传采集到的图像等；在探测器控制模块中，预留100M存储空间，通过USB协议等通讯方式，提供校正模板文件的上传和下载，在校正的时候通过MD5等方式，判断探测器与控制设备保存在本地的校正文件版本是否一致。
进一步的，上述系统还包括校正治具，用于放置上述待校正X射线探测器和铝片。如图8所示，上述校正治具包括用来放置X射线探测器的凹槽B和放置均匀铝片的水平面A，限制探测器和均匀铝板的放置范围并规范、统一每个不同的X射线探测器的校正环境，可以保证校正方式的一致性和精确性。其中，均匀铝片用于过滤多余的散射X射线，提高图像质量。在采集图像过程中，均匀铝片平行放置于探测器上方。
进一步的，上述控制设备发送不同的X射线剂量点参数到所述X射线发生器进行设定，并控制所述X射线发生器曝光。其中X射线发生器主要用来控制曝光的剂量，使其产生的X射线能完全覆盖探测器的有效成像区域，保证X射线探测器有效成像区域的像素点都得到有效的校正，并通过固定的协议和上述运行X射线探测器校正方法的控制设备的通讯，接收X射线剂量点设定和曝光的控制信号。
进一步的，所述控制设备生成校正模板并写入到所述待校正X射线探测器。控制设备执行上述X射线探测器校正方法，自动生成暗场校正模板和亮场校正模板，将上述模板写入到上述X射线探测器以保证校正模板和探测器设备的绑定，避免了文件的缺失或错乱风险；也可以保存在控制设备上。
需要说明的是，在开始自动校正探测器之前，需要检查上述X射线探测器校正系统各设备的连接情况，可以通过控制设备发送同步信号给上述X射线探测器和X射线发生器，保证三者的正常连接和时序同步。自动化的校正流程，可以降低校正的复杂度，提高效率。
为解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种X射线探测器校正装置，如图9所示，上述X射线探测器校正装置200包括：
第一获取模块201，用于获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；
第一校正模块202，用于基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；
第二获取模块203，用于设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；
第二校正模块204，用于基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。
本申请实施例提供的X射线探测器校正装置能够实现上述的X射线探测器校正方法实施例中的各个实施方式，以及相应有益效果，为避免重复，这里不再赘述。
为解决上述技术问题，本申请实施例提供的控制设备可以是计算机设备，用以执行上述X射线探测器校正方法，具体请参阅图10，图10为本实施例计算机设备基本结构框图。
所述计算机设备3包括通过系统总线相互通信连接存储器31、处理器32、网络接口33。需要指出的是，图中仅示出了具有组件31-33的计算机设备3，但是应理解的是，并不要求实施所有示出的组件，可以替代的实施更多或者更少的组件。其中，本技术领域技术人员可以理解，这里的计算机设备是一种能够按照事先设定或存储的指令，自动进行数值计算和/或信息处理的设备，其硬件包括但不限于微处理器、专用集成电路(ApplicationSpecific Integrated Circuit，ASIC)、可编程门阵列(Field－Programmable GateArray，FPGA)、数字处理器(Digital Signal Processor，DSP)、嵌入式设备等。
所述计算机设备可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述计算机设备可以与用户通过键盘、鼠标、遥控器、触摸板或声控设备等方式进行人机交互。
所述存储器31至少包括一种类型的可读存储介质，所述可读存储介质包括闪存、硬盘、多媒体卡、卡型存储器(例如，SD或DX存储器等)、随机访问存储器(RAM)、静态随机访问存储器(SRAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、可编程只读存储器(PROM)、磁性存储器、磁盘、光盘等。在一些实施例中，所述存储器31可以是所述计算机设备3的内部存储单元，例如该计算机设备3的硬盘或内存。在另一些实施例中，所述存储器31也可以是所述计算机设备3的外部存储设备，例如该计算机设备3上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(FlashCard)等。当然，所述存储器31还可以既包括所述计算机设备3的内部存储单元也包括其外部存储设备。本实施例中，所述存储器31通常用于存储安装于所述计算机设备3的操作系统和各类应用软件，例如X射线探测器校正方法的程序代码等。此外，所述存储器31还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的各类数据。
所述处理器32在一些实施例中可以是中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、控制器、微控制器、微处理器、或其他数据处理芯片。该处理器32通常用于控制所述计算机设备3的总体操作。本实施例中，所述处理器32用于运行所述存储器31中存储的程序代码或者处理数据，例如运行所述X射线探测器校正方法的程序代码。
所述网络接口33可包括无线网络接口或有线网络接口或者USB接口等，该网络接口33通常用于在所述计算机设备3与其他设备之间建立通信连接。
本申请还提供了另一种实施方式，即提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有X射线探测器校正程序，所述X射线探测器校正程序可被至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如上述的X射线探测器校正方法的步骤。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。
需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本申请并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本申请，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于可选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必须的。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置，可通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件程序模块的形式实现。
所述集成的单元如果以软件程序模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储器中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储器中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储器包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
显然，以上所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例，附图中给出了本申请的较佳实施例，但并不限制本申请的专利范围。本申请可以以许多不同的形式来实现，相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容的理解更加透彻全面。尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来而言，其依然可以对前述各具体实施方式所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等效替换。凡是利用本申请说明书及附图内容所做的等效结构，直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理在本申请专利保护范围之内。
Claims (12)
1.一种X射线探测器校正方法，其特征在于，包括：
获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；
基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；
设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；
基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集的步骤具体包括：
在控制信号的作用下连续从探测器读取至少一帧暗场图像。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正的步骤具体包括：
计算所述暗场图像集的均值作为所述暗场校正模板；
计算所述暗场校正模板的均值得到模板均值；
如果所述模板均值处于预设的范围内，则暗场校正完成。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集的步骤具体包括：
设置一个X射线剂量点并曝光；
在控制信号的作用下连续从探测器读取至少一帧亮场图像组成一个亮场图像集；
重新设置X射线剂量点再获取对应剂量点的亮场图像集。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正的步骤具体包括：
计算所述每一个X射线剂量点的亮场图像集的均值作为对应X射线剂量点的亮场校正模板；
计算所述每一个X射线剂量点的亮场校正模板的均值得到对应X射线剂量点的模板均值；
如果所述每一个X射线剂量点的模板均值处于对应X射线剂量点的预设的范围内，则亮场校正完成。
6.一种X射线探测器校正系统，其特征在于，包括：
执行如权利要求1至5任一项所述方法的控制设备；
待校正X射线探测器，在所述控制设备的控制信号下采集图像并上传到所述控制设备；
X射线发生器，在所述控制设备的控制信号下设定X射线剂量点并曝光。
7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述系统还包括治具，用于放置所述待校正X射线探测器和铝片。
8.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述控制设备发送不同的X射线剂量点参数到所述X射线发生器进行设定，并控制所述X射线发生器曝光。
9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述控制设备生成校正模板并写入到所述待校正X射线探测器。
10.如权利要求9所述的系统，其特征在于，所述控制设备控制所述待校正X射线探测器、X射线发生器的同步。
11.一种X射线探测器校正装置，其特征在于，包括：
第一获取模块，用于获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；
第一校正模块，用于基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；
第二获取模块，用于设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；
第二校正模块，用于基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。
12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的X射线探测器校正方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910451397.9A CN110161555A (zh) | 2019-05-28 | 2019-05-28 | 一种x射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| CN201910451397.9A CN110161555A (zh) | 2019-05-28 | 2019-05-28 | 一种x射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN110161555A true CN110161555A (zh) | 2019-08-23 |
Family
ID=67629310
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910451397.9A Pending CN110161555A (zh) | 2019-05-28 | 2019-05-28 | 一种x射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN110161555A (zh) |
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