CN110160426A - 一种半导体激光器管芯检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明属于光通信技术领域,尤其是涉及一种半导体激光器管芯检测装置,包块箱体,所述箱体底板的上表面滑动连接有滑板,所述滑板通过卡紧机构固定,所述滑板的侧壁上固定连接有推板,所述滑板的上表面滑动连接有两块压紧板,所述压紧板通过锁紧机构锁紧,所述滑板的上侧设有刻度尺,所述刻度尺固定连接在箱体的侧壁上,所述刻度尺的一侧设有挡板,所述挡板通过固定机构固定连接在箱体的内侧壁上,所述箱体顶板的下表面固定连接有多个第二弹簧,所述第二弹簧的下端固定连接有活动板。优点在于:本发明便于检测生产后半导体激光器管芯的长度值和直线度,因此这种半导体激光器管芯检测装置提高了对半导体激光器管芯的检测效率。
Description
技术领域
本发明属于光通信技术领域,尤其是涉及一种半导体激光器管芯检测装置。
背景技术
半导体激光器又称激光二极管,是用半导体材料作为工作物质的激光器,半导体二极管激光器是最实用最重要的一类激光器,它体积小、寿命长,并可采用简单的注入电流的方式来泵浦其工作电压和电流与集成电路兼容,因而可与之单片集成,半导体激光器是以一定的半导体材料做工作物质而产生受激发射作用的器件,其工作原理是通过一定的激励方式,在半导体物质的能带(导带与价带)之间,或者半导体物质的能带与杂质(受主或施主)能级之间,实现非平衡载流子的粒子数反转,当处于粒子数反转状态的大量电子与空穴复合时,便产生受激发射作用,半导体激光器的激励方式主要有三种,即电注入式,光泵式和高能电子束激励式。
然而现有的半导体激光器管芯检测装置一般不能同时检测半导体激光器管芯的长度值和直线度,因此需要花费工作人员更多的时间去对生产后的半导体激光器管芯进行检测,这样提高了企业的生产成本。
为此,我们提出一种半导体激光器管芯检测装置来解决上述问题。
发明内容
本发明的目的是针对上述问题,提供一种可防止网络数据泄露且安全性高的半导体激光器管芯检测装置。
为达到上述目的,本发明采用了下列技术方案:一种半导体激光器管芯检测装置,包块箱体,所述箱体底板的上表面滑动连接有滑板,所述滑板通过卡紧机构固定,所述滑板的侧壁上固定连接有推板,所述滑板的上表面滑动连接有两块压紧板,所述压紧板通过锁紧机构锁紧,所述滑板的上侧设有刻度尺,所述刻度尺固定连接在箱体的侧壁上,所述刻度尺的一侧设有挡板,所述挡板通过固定机构固定连接在箱体的内侧壁上,所述箱体顶板的下表面固定连接有多个第二弹簧,所述第二弹簧的下端固定连接有活动板,所述活动板滑动连接在箱体的内侧壁上,所述活动板的上表面接触有凸轮,所述凸轮上固定连接有间歇机构,所述活动板的下表面固定连接有连接块,所述连接块的下端面设有凹槽,所述凹槽内设有活动块,所述活动块的上端固定连接有连接杆,所述连接杆的上端插设在凹槽的侧壁上,所述连接杆通过拧紧机构固定,所述活动块的下端固定连接有检测圆筒。
在上述的半导体激光器管芯检测装置中,所述卡紧机构包括多根卡紧杆,所述箱体底板内设有空腔,所述空腔的侧壁上固定连接有多个第三弹簧,所述第三弹簧的上端固定连接有移动板,所述移动板的一端固定连接有拉板,所述拉板的一端穿过空腔侧壁上的条形通孔并延伸至箱体的外侧,所述移动板的上表面与多根卡紧杆固定连接,所述卡紧杆的上端穿过空腔侧壁上的通孔并插设在滑板的上表面。
在上述的半导体激光器管芯检测装置中,所述锁紧机构包括锁紧杆,所述压紧板内设有容纳腔,所述容纳腔的侧壁上固定连接有中间块,所述中间块的两端均固定连接有第四弹簧,所述第四弹簧远离中间块的一端固定连接有滑移板,所述滑移板的一侧壁与锁紧杆固定连接,所述锁紧杆远离第四弹簧的一端穿过空腔侧壁上的通孔并滑板上表面容纳槽的侧壁上,所述滑移板的一侧壁固定连接有L形拉杆,所述L形拉杆的一端穿过容纳腔侧壁上的条形通孔并延伸至压紧板的外侧。
在上述的半导体激光器管芯检测装置中,所述固定机构包括固定块,所述固定块的一侧设有多个紧固螺栓,所述固定块上设有多个第一螺栓孔,所述箱体的内侧壁上设有多个第二螺栓孔,所述紧固螺栓的一端穿过第一螺栓孔和第二螺栓孔将固定块固定连接在箱体的内侧壁上。
在上述的半导体激光器管芯检测装置中,所述间歇机构包括电机,所述电机的一端固定连接有箱体的内侧壁上,所述电机的输出轴上固定连接有不完全齿轮,所述不完全齿轮啮合有完全齿轮,所述完全齿轮的转动轴与凸轮固定连接。
在上述的半导体激光器管芯检测装置中,所述拧紧机构包括拧紧杆,所述连接块内设有收纳腔,所述收纳腔内活动连接有移动块,所述移动块的一端固定连接有固定杆,所述固定杆的一端穿过收纳腔侧壁上的通孔并插设在连接杆上,所述收纳腔的侧壁上转动连接有螺纹杆,所述螺纹杆的一端穿过移动块上的螺纹孔并延伸与拧紧杆固定连接。
在上述的半导体激光器管芯检测装置中,所述箱体的底板上设有滑槽,所述滑板上固定连接有滑块,所述滑块滑动连接在滑槽内。
在上述的半导体激光器管芯检测装置中,所述凸轮的外侧壁均布有凸起,所述凸起的横截面为三角形。
与现有的技术相比,本半导体激光器管芯检测装置的优点在于:本发明通过在箱体的侧壁内设置卡紧机构,便于实现滑板在箱体底板上的固定,通过在压紧板内设置锁紧机构,便于实现压紧板将不同尺寸大小的半导体激光器管芯固定在滑板的上表面,通过在挡板的一侧设置固定机构,便于挡板固定连接在箱体的内侧壁上,通过在凸轮的一侧设置间歇机构,便于实现检测圆筒的间歇运动,这种半导体激光器管芯检测装置便于检测生产后半导体激光器管芯的长度值和直线度,因此这种半导体激光器管芯检测装置提高了对半导体激光器管芯的检测效率。
附图说明
图1是本发明提供的一种半导体激光器管芯检测装置的结构示意图;
图2是图1中A处的局部放大图;
图3是图1中B处的局部放大图;
图4是本发明提供的一种半导体激光器管芯检测装置中压紧板的内部结构图。
图中,1箱体、2滑板、3推板、4压紧板、5刻度尺、6挡板、7第二弹簧、8活动板、9凸轮、10连接块、11活动块、12连接杆、13检测圆筒、14卡紧杆、15空腔、16第三弹簧、17移动板、18拉板、19锁紧杆、20中间块、21第四弹簧、22滑移板、23 L形拉杆、24固定块、25电机、26不完全齿轮、27完全齿轮、28拧紧杆、29移动块、30固定杆、31螺纹杆、32紧固螺栓。
具体实施方式
以下实施例仅处于说明性目的,而不是想要限制本发明的范围。
实施例
如图1-4所示,一种半导体激光器管芯检测装置,包块箱体1,箱体1底板的上表面滑动连接有滑板2,具体的,箱体1的底板上设有滑槽,滑板2上固定连接有滑块,滑块滑动连接在滑槽内,便于滑板2滑动连接在箱体1底板的上表面,滑板2通过卡紧机构固定,滑板2的侧壁上固定连接有推板3,滑板2的上表面滑动连接有两块压紧板4,压紧板4通过锁紧机构锁紧,滑板2的上侧设有刻度尺5,刻度尺5固定连接在箱体1的侧壁上,刻度尺5的一侧设有挡板6,挡板6通过固定机构固定连接在箱体1的内侧壁上,箱体1顶板的下表面固定连接有多个第二弹簧7,第二弹簧7的下端固定连接有活动板8,活动板8滑动连接在箱体1的内侧壁上,活动板8的上表面接触有凸轮9,具体的讲,凸轮9的外侧壁均布有凸起,凸起的横截面为三角形,增大活动板8与凸轮9的摩擦力,凸轮9上固定连接有间歇机构,活动板8的下表面固定连接有连接块10,连接块10的下端面设有凹槽,凹槽内设有活动块11,活动块11的上端固定连接有连接杆12,连接杆12的上端插设在凹槽的侧壁上,连接杆12通过拧紧机构固定,活动块11的下端固定连接有检测圆筒13。
其中,卡紧机构包括多根卡紧杆14,箱体1底板内设有空腔15,空腔15的侧壁上固定连接有多个第三弹簧16,第三弹簧16的上端固定连接有移动板17,移动板17的一端固定连接有拉板18,拉板18的一端穿过空腔侧壁上的条形通孔并延伸至箱体1的外侧,移动板17的上表面与多根卡紧杆14固定连接,卡紧杆14的上端穿过空腔侧壁上的通孔并插设在滑板2的上表面,拉动拉板18,通过移动板17带动卡紧杆14的移动,当卡紧杆14的一端脱离滑板2,移动滑板2,当滑板2移动到合适的位置时,松开拉板18,由于第三弹簧16的作用,当插杆14的一端插设在滑板2上时,即实现了将滑板2卡紧在箱体1底板的上表面。
其中,锁紧机构包括锁紧杆19,压紧板4内设有容纳腔,容纳腔的侧壁上固定连接有中间块20,中间块20的两端均固定连接有第四弹簧21,第四弹簧21远离中间块20的一端固定连接有滑移板22,滑移板22的一侧壁与锁紧杆19固定连接,锁紧杆19远离第四弹簧21的一端穿过空腔侧壁上的通孔并滑板2上表面容纳槽的侧壁上,滑移板22的一侧壁固定连接有L形拉杆23,L形拉杆23的一端穿过容纳腔侧壁上的条形通孔并延伸至压紧板4的外侧,移动L形拉杆23,通过滑移板22带动锁紧杆19的移动,当锁紧杆29的一端脱离滑板2容纳槽上的侧壁时,移动压紧板4,当压紧板4移动到合适的位置,由于第四弹簧21的作用,即可实现压紧板4的固定。
其中,固定机构包括固定块24,固定块24的一侧设有多个紧固螺栓32,固定块24上设有多个第一螺栓孔,箱体1的内侧壁上设有多个第二螺栓孔,紧固螺栓32的一端穿过第一螺栓孔和第二螺栓孔将固定块24固定连接在箱体1的内侧壁上。
其中,间歇机构包括电机25,电机25的一端固定连接有箱体1的内侧壁上,电机25的输出轴上固定连接有不完全齿轮26,不完全齿轮26啮合有完全齿轮27,完全齿轮27的转动轴与凸轮9固定连接,电机25工作,通过不完全齿轮26带动完全齿轮27的转动,从而带动凸轮9的转动,实现了凸轮9的间歇转动。
其中,拧紧机构包括拧紧杆28,连接块10内设有收纳腔,收纳腔内活动连接有移动块29,移动块29的一端固定连接有固定杆30,固定杆30的一端穿过收纳腔侧壁上的通孔并插设在连接杆12上,收纳腔的侧壁上转动连接有螺纹杆31,螺纹杆31的一端穿过移动块29上的螺纹孔并延伸与拧紧杆28固定连接,转动拧紧杆29,通过螺纹杆31带动移动块29的移动,从而实现固定杆30的移动,当固定杆30的一端插设在连接杆12时,即可实现连接杆12的固定。
本发明,将需要检测的半导体激光器管芯放置在滑板2的上表面,通过压紧板4的锁紧机构实现半导体激光器管芯的固定,通过卡紧机构即可实现滑板2位置的固定,当滑板2位于刻度尺5的一侧时,既可以测量半导体激光器管芯的长度值,移动滑板2,当滑板2位于检测圆筒13的正下方时,间歇机构工作,通过凸轮9带动活动板8的移动,从而实现检测圆筒13的向下运动,当检测圆筒13在向下运动过程中,半导体激光器管芯能位于检测圆筒13内时,即可检测半导体激光器管芯的直线度。
尽管本文较多地使用了箱体1、滑板2、推板3、压紧板4、刻度尺5、挡板6、第二弹簧7、活动板8、凸轮9、连接块10、活动块11、连接杆12、检测圆筒13、卡紧杆14、空腔15、第三弹簧16、移动板17、拉板18、锁紧杆19、中间块20、第四弹簧21、滑移板22、L形拉杆23、固定块24、电机25、不完全齿轮26、完全齿轮27、拧紧杆28、移动块29、固定杆30、螺纹杆31和紧固螺栓32等术语,但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本发明的本质;把它们解释成任何一种附加的限制都是与本发明精神相违背的。
Claims (8)
1.一种半导体激光器管芯检测装置,包块箱体(1),其特征在于,所述箱体(1)底板的上表面滑动连接有滑板(2),所述滑板(2)通过卡紧机构固定,所述滑板(2)的侧壁上固定连接有推板(3),所述滑板(2)的上表面滑动连接有两块压紧板(4),所述压紧板(4)通过锁紧机构锁紧,所述滑板(2)的上侧设有刻度尺(5),所述刻度尺(5)固定连接在箱体(1)的侧壁上,所述刻度尺(5)的一侧设有挡板(6),所述挡板(6)通过固定机构固定连接在箱体(1)的内侧壁上,所述箱体(1)顶板的下表面固定连接有多个第二弹簧(7),所述第二弹簧(7)的下端固定连接有活动板(8),所述活动板(8)滑动连接在箱体(1)的内侧壁上,所述活动板(8)的上表面接触有凸轮(9),所述凸轮(9)上固定连接有间歇机构,所述活动板(8)的下表面固定连接有连接块(10),所述连接块(10)的下端面设有凹槽,所述凹槽内设有活动块(11),所述活动块(11)的上端固定连接有连接杆(12),所述连接杆(12)的上端插设在凹槽的侧壁上,所述连接杆(12)通过拧紧机构固定,所述活动块(11)的下端固定连接有检测圆筒(13)。
2.根据权利要求1所述的半导体激光器管芯检测装置,其特征在于,所述卡紧机构包括多根卡紧杆(14),所述箱体(1)底板内设有空腔(15),所述空腔(15)的侧壁上固定连接有多个第三弹簧(16),所述第三弹簧(16)的上端固定连接有移动板(17),所述移动板(17)的一端固定连接有拉板(18),所述拉板(18)的一端穿过空腔侧壁上的条形通孔并延伸至箱体(1)的外侧,所述移动板(17)的上表面与多根卡紧杆(14)固定连接,所述卡紧杆(14)的上端穿过空腔侧壁上的通孔并插设在滑板(2)的上表面。
3.根据权利要求1所述的半导体激光器管芯检测装置,其特征在于,所述锁紧机构包括锁紧杆(19),所述压紧板(4)内设有容纳腔,所述容纳腔的侧壁上固定连接有中间块(20),所述中间块(20)的两端均固定连接有第四弹簧(21),所述第四弹簧(21)远离中间块(20)的一端固定连接有滑移板(22),所述滑移板(22)的一侧壁与锁紧杆(19)固定连接,所述锁紧杆(19)远离第四弹簧(21)的一端穿过空腔侧壁上的通孔并滑板(2)上表面容纳槽的侧壁上,所述滑移板(22)的一侧壁固定连接有L形拉杆(23),所述L形拉杆(23)的一端穿过容纳腔侧壁上的条形通孔并延伸至压紧板(4)的外侧。
4.根据权利要求1所述的半导体激光器管芯检测装置,其特征在于,所述固定机构包括固定块(24),所述固定块(24)的一侧设有多个紧固螺栓(32),所述固定块(24)上设有多个第一螺栓孔,所述箱体(1)的内侧壁上设有多个第二螺栓孔,所述紧固螺栓(32)的一端穿过第一螺栓孔和第二螺栓孔将固定块(24)固定连接在箱体(1)的内侧壁上。
5.根据权利要求1所述的半导体激光器管芯检测装置,其特征在于,所述间歇机构包括电机(25),所述电机(25)的一端固定连接有箱体(1)的内侧壁上,所述电机(25)的输出轴上固定连接有不完全齿轮(26),所述不完全齿轮(26)啮合有完全齿轮(27),所述完全齿轮(27)的转动轴与凸轮(9)固定连接。
6.根据权利要求1所述的半导体激光器管芯检测装置,其特征在于,所述拧紧机构包括拧紧杆(28),所述连接块(10)内设有收纳腔,所述收纳腔内活动连接有移动块(29),所述移动块(29)的一端固定连接有固定杆(30),所述固定杆(30)的一端穿过收纳腔侧壁上的通孔并插设在连接杆(12)上,所述收纳腔的侧壁上转动连接有螺纹杆(31),所述螺纹杆(31)的一端穿过移动块(29)上的螺纹孔并延伸与拧紧杆(28)固定连接。
7.根据权利要求1所述的半导体激光器管芯检测装置,其特征在于,所述箱体(1)的底板上设有滑槽,所述滑板(2)上固定连接有滑块,所述滑块滑动连接在滑槽内。
8.根据权利要求1所述的半导体激光器管芯检测装置,其特征在于,所述凸轮(9)的外侧壁均布有凸起,所述凸起的横截面为三角形。
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Effective date of registration: 20201130 Address after: Area C, 3 / F, building 38, Sanhe Village, Gaofeng community, Dalang street, Longhua District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant after: Shenzhen yuzhengfeng Technology Co., Ltd Address before: 518000 4th Floor, Building A, Guosheng Industrial Park, Yingtai Road, Dalang Street, Longhua New District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant before: Shenzhen Techno Photoelectric Co.,Ltd. |
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GR01 | Patent grant | ||
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