CN110146517B - 电芯的测量方法 - Google Patents

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Abstract

一种电芯的测量方法，其包括如下步骤：S1：将待检测的电芯移动至下料输送机构上；S2：当待检测的电芯到达第一检测位置时，第一电芯边缘调整组件动作，分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；S3：图像采集装置对待检测的电芯的一端进行拍照，并算出隔膜与正、负极片之间距离，以判断待检测的电芯的一端的质量是否合格；S4：当待检测的电芯到达第二检测位置时，第二电芯边缘调整组件动作，分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；S5：图像采集装置对待检测的电芯的另一端进行拍照，并算出隔膜与正、负极片之间距离，以判断待检测的电芯的另一端的质量是否合格。相较于现有技术，本申请解决了行业里测隔膜的难题。

Description

电芯的测量方法
技术领域
本发明涉及一种电芯的测量方法，尤其涉及一种如何测量隔膜的方法。
背景技术
隔膜、正极片、隔膜、负极片卷绕在一起形成了电芯。在电芯卷绕的生产工艺中，各层正极片与负极片之间的距离以及隔膜与正、负极片之间的距离决定了电池的质量。
由于隔膜会被X光穿透，无法拍出隔膜的轮廓。现有的电芯的测量方法只能测出负极片和正极片之间的距离。且由于放大倍率的影响，检测机只能对电芯两端的电极拍摄成像，无法拍出整个电芯的轮廓，从而也就无法得出隔膜、正极片和负极片各自的宽度、隔膜与正极片以及隔膜与负极片之间的距离。
发明内容
本发明的一种目的在于提供一种电芯的测量方法，能够得到隔膜与正极片以及隔膜与负极片之间的距离。
本发明的另一目的在于提供一种电芯的测量方法，能够得到隔膜、正极片和负极片各自的宽度。
为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：一种电芯的测量方法，其包括如下步骤：
S1：将待检测的电芯移动至下料输送机构上；
S2：当待检测的电芯到达第一检测位置时，第一电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；
S3：图像采集装置对待检测的电芯的一端进行拍照，并算出隔膜与正极片之间距离以及隔膜与负极片之间距离，以判断待检测的电芯的一端的质量是否合格；
S4：当待检测的电芯到达第二检测位置时，第二电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；
S5：图像采集装置对待检测的电芯的另一端进行拍照，并算出隔膜与正极片之间距离以及隔膜与负极片之间距离，以判断待检测的电芯的另一端的质量是否合格。
作为本发明进一步改进的技术方案，在步骤S3以及步骤S5中，所述图像采集装置对位于所述图像采集端的待检测的电芯进行拍照，以得到所述图像采集端、正极片以及负极片的位置图像。
作为本发明进一步改进的技术方案，在步骤S2以及步骤S4中，所述基准端为标定端，所述图像采集端为浮动端；当待检测的电芯到达所述第一检测位置或者所述第二检测位置时，所述标定端先移动至指定位置，然后所述浮动端推动待检测的电芯的一端至待检测的电芯的另一端与所述标定端相抵靠。
作为本发明进一步改进的技术方案，所述第一电芯边缘调整组件与所述第二电芯边缘调整组件均设有所述标定端以及所述浮动端，其中所述第一电芯边缘调整组件的标定端与所述第二电芯边缘调整组件的标定端分别位于所述下料输送机构的两侧且在所述下料输送机构的延伸方向上错开；所述第一电芯边缘调整组件的浮动端与所述第二电芯边缘调整组件的浮动端分别位于所述下料输送机构的两侧且在所述下料输送机构的延伸方向上错开。
作为本发明进一步改进的技术方案，在步骤S3以及步骤S5中，所述图像采集装置为X光检测机。
作为本发明进一步改进的技术方案，还包括如下步骤：
S6：如果待检测的电芯不合格，则通过踢废组件将其剔除到废料盒中。
本发明还涉及一种电芯的测量方法，其包括如下步骤：
S1：将待检测的电芯移动至下料输送机构上；
S2：当待检测的电芯到达第一检测位置时，第一电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；
S3：图像采集装置对待检测的电芯的一端进行拍照，将所拍得的图像与标定电芯的图像进行比对，并算出待检测的电芯的隔膜的宽度、正极片与隔膜一端的间距以及负极片与隔膜一端的间距；
S4：当待检测的电芯到达第二检测位置时，第二电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；
S5：图像采集装置对待检测的电芯的另一端进行拍照，并算出正极片与隔膜另一端的间距以及负极片与隔膜另一端的间距，并算出所述正极片的宽度以及所述负极片的宽度。
作为本发明进一步改进的技术方案，步骤S3中所述标定电芯的图像是通过如下步骤得到的：
S01：将标定电芯移动至下料输送机构上；
S02：当标定电芯到达检测位置时，第一电芯边缘调整组件及/或第二电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠标定电芯的隔膜的两端；
S03：图像采集装置对标定电芯的一端进行拍照，并得到所述标定电芯的图像。
作为本发明进一步改进的技术方案，在步骤S2以及步骤S4中，所述基准端为标定端，所述图像采集端为浮动端；当待检测的电芯到达所述第一检测位置或者所述第二检测位置时，所述标定端先移动至指定位置，然后所述浮动端推动待检测的电芯的一端至待检测的电芯的另一端与所述标定端相抵靠。
作为本发明进一步改进的技术方案，在步骤S5中，所述正极片的宽度以及所述负极片的宽度分别通过如下算法得到：
正极片的宽度＝隔膜的宽度-正极片与隔膜一端的间距-正极片与隔膜另一端的间距；
负极片的宽度＝隔膜的宽度-负极片与隔膜一端的间距-负极片与隔膜另一端的间距。
相较于现有技术，本发明通过设置第一、第二电芯边缘调整组件，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端，并通过图像采集装置对待检测的电芯的两端分别进行拍照，通过图像采集端的位置对应隔膜的位置，并算出待检测的电芯的隔膜与正极片之间距离以及隔膜与负极片之间距离，或者待检测的电芯的隔膜的宽度、正极片的宽度以及负极片的宽度，解决了行业里测隔膜的难题。
附图说明
图1是本发明电芯检测设备的俯视图。
图2是标定端与浮动端分别在带检测电芯宽度方向上抵靠隔膜的示意图。
图3是图2中画圈部分的局部放大图。
图4是标定电芯尺寸以及标定端与浮动端分别在带检测电芯宽度方向上抵靠隔膜的示意图。
图5是图4中画圈部分的局部放大图。
图6是浮动端的俯视图。
图7是浮动端的左视图。
图8是标定端的俯视图。
图9是标定端的左视图。
图10是本发明电芯的测量方法在一种实施方式中的流程示意图。
图11是本发明电芯的测量方法在另一种实施方式中的流程示意图。
具体实施方式
请参图1至图5所示，本发明揭示了一种电芯检测设备以及电芯的测量方法。请参图2及图4所示，电芯100包括相互卷绕在一起的隔膜101、正极片102以及负极片103，其中隔膜101的宽度W1大于正极片102的宽度W2，正极片102的宽度W2大于负极片103的宽度W3。在本发明的一种实施方式中，所述电芯100为圆柱电芯。
所述电芯检测设备包括下料输送机构1、用以将卷绕后的电芯100抓放到下料输送机构1上的电芯抓取机构2、用以沿电芯的宽度方向(即轴向)抵靠隔膜101的第一电芯边缘调整组件3与第二电芯边缘调整组件4、用以对电芯100的两端进行拍照的图像采集装置(未图示)、用以剔除不合格电芯的踢废组件6以及用以收纳不合格电芯的废料盒7。
在本发明的一种实施方式中，所述下料输送机构1为传输带11，所述传输带11上间隔设有若干电芯支架12。所述下料输送机构1穿过图像采集装置，以便于采集电芯100的端部的图像。所述电芯抓取机构2为机械手，其用以将电芯100抓取并放置到电芯支架12上，并使电芯100横卧在电芯支架12上。请参图1所示，在本发明图示的实施方式中，“横卧”是指电芯100沿水平方向前后放置。
在本发明的一种实施方式中，所述第一电芯边缘调整组件3以及所述第二电芯边缘调整组件4位于图像采集装置的正下方，用于抵靠所述隔膜101的两端。
所述第一电芯边缘调整组件3包括基准端以及图像采集端。在本发明的一种实施方式中，所述基准端为标定端31，所述图像采集端为浮动端32。当电芯100沿着下料输送机构1传输至预定位置时，所述标定端31先移动至指定位置，然后所述浮动端32推动电芯100的一端至所述电芯100的另一端与标定端31相抵靠。请参图2所示，此时，隔膜101沿其宽度方向的两端分别与所述标定端31以及所述浮动端32抵靠。请参图1所示，在本发明图示的实施方式中，所述标定端31位于所述电芯100的前方，所述浮动端32位于所述电芯100的后方。
所述第二电芯边缘调整组件4与所述第一电芯边缘调整组件3的结构以及工作原理相同，但基准端以及图像采集端的布置相反，即标定端31位于所述电芯100的后方，所述浮动端32位于所述电芯100的前方。具体地，请参图1所示，所述第一电芯边缘调整组件3的标定端31与所述第二电芯边缘调整组件4的标定端31分别位于所述下料输送机构1的两侧且在所述下料输送机构1的延伸方向上错开；所述第一电芯边缘调整组件3的浮动端32与所述第二电芯边缘调整组件4的浮动端32分别位于所述下料输送机构1的两侧且在所述下料输送机构1的延伸方向上错开。
所述图像采集装置为两组，分别位于第一电芯边缘调整组件3以及第二电芯边缘调整组件4的上方，用以分别对电芯100的两端进行图像采集，得到电芯100的两端隔膜101、正极片102、负极片103之间的距离。在本发明的一种实施方式中，所述图像采集装置为X光检测机。在本发明图示的实施方式中，所述图像采集装置用以对位于图像采集端的电芯100的端部进行图像采集。请参图2及图3所示，当第一电芯边缘调整组件3的标定端31以及浮动端32分别沿宽度方向抵靠隔膜101时，图像采集装置对电芯100的一端(例如头端)进行图像采集，以得到浮动端32、正极片102以及负极片103的位置图像。由于浮动端32的位置刚好对应于隔膜101一端的位置，因此通过图像可得到隔膜101与正极片102之间距离D1、隔膜101与负极片103之间距离D2以及正极片102与负极片103之间距离D3，并判断在电芯100的这一端隔膜101与正、负极片102、103之间距离D1、D2以及正极片102与负极片103之间距离D3是否满足电芯质量的要求。同理，当第二电芯边缘调整组件4的标定端31以及浮动端32分别沿宽度方向抵靠隔膜101时，图像采集装置对电芯100的另一端(例如尾端)进行图像采集，以得到浮动端32、正极片102以及负极片103的位置图像。由于浮动端32的位置刚好对应于隔膜101另一端的位置，因此通过图像可得到隔膜101与正极片102之间距离、隔膜101与负极片103之间距离以及正极片102与负极片103之间距离，并判断在电芯100的另一端隔膜101与正、负极片102、103之间距离以及正极片102与负极片103之间距离是否满足电芯质量的要求。
请参图8及图9所示，在本发明的一种实施方式中，所述标定端31包括第一固定座311、安装在所述第一固定座311上的第一驱动件312、连接在所述第一驱动件312的驱动端的滑块313、与所述滑块313相配合的滑轨314、固定在所述滑块313上的推块315以及与所述推块315相连的第一抵靠头316。另外，为了限制推块315的过度移动，所述标定端31还设有安装在所述第一固定座311上的限位块317，所述限位块317用以与推块315相配合。在本发明的一种实施方式中，所述第一驱动件322为气缸。使用时，第一抵靠头316能够在第一驱动件312的驱动下伸出，以抵靠电芯100的隔膜101的一端。通过设置滑块313与滑轨314能够提高第一抵靠头316运动的平稳性。
请参图6及图7所示，在本发明的一种实施方式中，所述浮动端32包括第二固定座321、安装在所述第二固定座321上的第二驱动件322、连接在所述第二驱动件322的驱动端的导向轴323、与所述导向轴323相配合的滑套324以及与所述导向轴323相连的第二抵靠头325。在本发明的一种实施方式中，所述第二驱动件322为气缸。所述导向轴323上套接有弹性件(未图示)，所述弹性件优选为弹簧。另外，为了增加第二抵靠头325运动的平稳性，所述浮动端32还设有导向件。在本发明图示的实施方式中，所述导向件包括位于所述导向轴323的两侧的第一导杆3261、第二导杆3262以及连接所述第一导杆3261与所述第二导杆3262的连接块3263，所述连接块3263与所述第二抵靠头325固定连接。使用时，第二抵靠头325能够在第二驱动件322的驱动下伸出，以抵靠电芯100的隔膜101的另一端。通过设置所述弹性件，当第二抵靠头325过度抵靠电芯100的隔膜101时，能够起到一定的缓冲作用且能够对第二抵靠头325的伸出长度进行一定的调节。
当需要测量隔膜101与正、负极片102、103之间距离D1、D2时，根据浮动端32和正、负极片102、103的图像，通过算法算出隔膜101与正、负极片102、103之间的距离D1、D2。对所属技术领域的技术人员而言，上述算法可以多种多样，例如：依照上述方法得到待检测的电芯100的头、尾两端的图像，通过测量得到图像中隔膜101与正极片102之间距离D1以及隔膜101与负极片103之间距离D2，然后将距离D1、D2除以放大倍率就能得到电芯100实际的隔膜101与正极片102之间距离以及隔膜101与负极片103之间距离，将上述距离的数值与标准区间的数值进行比对就能判断电芯100这一端的隔膜101与正、负极片102、103之间距离是否满足要求。同理，可以判断电芯100另一端的隔膜101与正、负极片102、103之间距离是否满足要求。
当需要测量隔膜101两端之间的距离(即隔膜101的宽度W1)时，由于图像采集装置只能对电芯100两端的图像进行采集，并不能拍出整个电芯100的轮廓，因此不能直接得出隔膜101的宽度W1。为了解决上述问题，本发明采用一个标定电芯作参考，即将标定电芯通过第一电芯边缘调整组件3及/或第二电芯边缘调整组件4，通过标定端31与浮动端32分别抵靠隔膜的两端，拍出标定电芯的隔膜宽度的图像(参图4所示)。取待检测的电芯100的头、尾两张图像与标定电芯的图像做对比，能够得出待检测的电芯100的隔膜101的一端与标定电芯的隔膜一端的差距△，通过算法可以得出待检测电芯100的隔膜101的宽度W1；对所属技术领域的技术人员而言，上述算法可以多种多样，例如：可以通过测量先得到标定电芯的隔膜宽度，将以上得到的差距△除以放大倍率再加上标定电芯的隔膜宽度就等于待检测电芯100的隔膜101的宽度W1。再结合图2、图3所得到的隔膜101与正、负极片102、103之间距离，最终能够得出正极片102以及负极片103各自的宽度(容后详述)。
由于隔膜101会被X光穿透，无法拍出隔膜101的轮廓，本发明采用第一电芯边缘调整组件3/第二电芯边缘调整组件4，通过标定端31与浮动端32分别抵靠隔膜101的两端，拍出标定端31、浮动端32与正、负极片102、103的图像，通过算法算出隔膜101与正、负极片102、103的间隙，解决了行业里测隔膜的难题。
另外，由于放大倍率的影响，无法拍出整个电芯100的轮廓。通过标定端31与浮动端32分别抵靠隔膜101的两端，拍出标定端31、浮动端32与正、负极片102、103的图像，通过头、尾全检的方式，取电芯100的头、尾两张图像与标定电芯的图像做对比，通过算法算出隔膜101、正极片102、负极片103各自的宽度，解决行业里测隔膜101、正极片102、负极片103宽度的难题。
请参图10所示，当需要检测电芯100的隔膜101与正、负极片102、103之间的距离是否满足要求时，本发明电芯的测量方法包括如下步骤：
S1：将待检测的电芯100移动至下料输送机构1上；
S2：当待检测的电芯100到达第一检测位置时，第一电芯边缘调整组件3动作，使标定端31以及浮动端32分别抵靠隔膜101的两端；
S3：图像采集装置对待检测的电芯100的一端(例如头端)进行拍照，并通过算法算出隔膜101与正极片102之间距离D1以及隔膜101与负极片103之间距离D2，以判断待检测的电芯100的一端的质量是否合格；
S4：当待检测的电芯100到达第二检测位置时，第二电芯边缘调整组件4动作，使标定端31以及浮动端32分别抵靠隔膜101的两端；
S5：图像采集装置对待检测的电芯100的另一端(例如尾端)进行拍照，并通过算法算出隔膜101与正极片102之间距离以及隔膜101与负极片103之间距离，以判断待检测的电芯100的另一端的质量是否合格；
S6：如果待检测的电芯100不合格，则通过踢废组件6将其剔除到废料盒7中，防止流到下一工位。
在一种实施方式中，合格电芯经过第一电芯边缘调整组件3以及第二电芯边缘调整组件4时由图像采集装置拍得的图像作为基准；在步骤S3中，通过将待检测的电芯100的一端的图像与基准图像进行比对，判断隔膜101与正、负极片102、103之间的距离D1、D2以及正极片102与负极片103之间距离D3是否符合要求。同理，在步骤S5中，通过将待检测的电芯100的另一端的图像与基准图像进行比对，判断隔膜101与正、负极片102、103之间的距离以及正极片102与负极片103之间距离是否符合要求。
请参图11所示，当需要检测电芯100的隔膜101、正极片102、负极片103各自的宽度是否满足要求时，本发明电芯的测量方法包括如下步骤：
S01：将标定电芯移动至下料输送机构1上；
S02：当标定电芯到达检测位置时，第一电芯边缘调整组件3及/或第二电芯边缘调整组件4动作，使标定端31以及浮动端32分别抵靠标定电芯的隔膜的两端；
S03：图像采集装置对标定电芯的一端(头端或者尾端)进行拍照，并得到图像；
S1：将待检测的电芯100移动至下料输送机构1上；
S2：当待检测的电芯100到达第一检测位置时，第一电芯边缘调整组件3动作，使标定端31以及浮动端32分别抵靠隔膜101的两端；
S3：图像采集装置对待检测的电芯100的一端(例如头端)进行拍照，将所拍得的图像与步骤S03中标定电芯的图像进行比对，并通过算法算出待检测的电芯100的隔膜101的宽度W1、正极片102与隔膜101一端的间距D1以及负极片103与隔膜101一端的间距D2；
S4：当待检测的电芯100到达第二检测位置时，第二电芯边缘调整组件4动作，使标定端31以及浮动端32分别抵靠隔膜101的两端；
S5：图像采集装置对待检测的电芯100的另一端(例如尾端)进行拍照，并通过算法算出正极片102与隔膜101另一端的间距以及负极片103与隔膜101另一端的间距，并算出正极片102的宽度W2以及负极片103的宽度W3；
S6：如果电芯100不合格，则通过踢废组件6将其剔除到废料盒7中，防止流到下一工位。
在本发明的一种实施方式中，在步骤S5中，所述正极片102的宽度W2以及所述负极片103的宽度W3分别通过如下算法得到：
正极片102的宽度W2＝隔膜101的宽度W1-正极片102与隔膜101一端的间距D2-正极片102与隔膜101另一端的间距；
负极片103的宽度W3＝隔膜101的宽度W1-负极片103与隔膜101一端的间距D2-负极片103与隔膜101另一端的间距。
需要说明的是，本发明的电芯的测量方法中的步骤并非具有严格的先后顺序，某些步骤的顺序可以调换。
以上实施例仅用于说明本发明而并非限制本发明所描述的技术方案，对本说明书的理解应该以所属技术领域的技术人员为基础，例如对“前”、“后”、“左”、“右”、“上”、“下”等方向性的描述，尽管本说明书参照上述的实施例对本发明已进行了详细的说明，但是，本领域的普通技术人员应当理解，所属技术领域的技术人员仍然可以对本发明进行修改或者等同替换，而一切不脱离本发明的精神和范围的技术方案及其改进，均应涵盖在本发明的权利要求范围内。

Claims (8)

1.一种电芯的测量方法，其包括如下步骤：
S1：将待检测的电芯移动至下料输送机构上；
S2：当待检测的电芯到达第一检测位置时，第一电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；
S3：图像采集装置对待检测的电芯的一端进行拍照，并算出隔膜与正极片之间距离以及隔膜与负极片之间距离，以判断待检测的电芯的一端的质量是否合格；
S4：当待检测的电芯到达第二检测位置时，第二电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；
S5：图像采集装置对待检测的电芯的另一端进行拍照，并算出隔膜与正极片之间距离以及隔膜与负极片之间距离，以判断待检测的电芯的另一端的质量是否合格；
在步骤S2以及步骤S4中，所述基准端为标定端，所述图像采集端为浮动端；当待检测的电芯到达所述第一检测位置或者所述第二检测位置时，所述标定端先移动至指定位置，然后所述浮动端推动待检测的电芯的一端至待检测的电芯的另一端与所述标定端相抵靠;
当需要测量隔膜与正、负极片之间距离时，根据所述浮动端和正、负极片的图像，通过算法算出隔膜与正、负极片之间的距离。
2.如权利要求1所述的电芯的测量方法，其特征在于：在步骤S3以及步骤S5中，所述图像采集装置对位于所述图像采集端的待检测的电芯进行拍照，以得到所述图像采集端、正极片以及负极片的位置图像。
3.如权利要求1所述的电芯的测量方法，其特征在于：所述第一电芯边缘调整组件与所述第二电芯边缘调整组件均设有所述标定端以及所述浮动端，其中所述第一电芯边缘调整组件的标定端与所述第二电芯边缘调整组件的标定端分别位于所述下料输送机构的两侧且在所述下料输送机构的延伸方向上错开；所述第一电芯边缘调整组件的浮动端与所述第二电芯边缘调整组件的浮动端分别位于所述下料输送机构的两侧且在所述下料输送机构的延伸方向上错开。
4.如权利要求1所述的电芯的测量方法，其特征在于：在步骤S3以及步骤S5中，所述图像采集装置为X光检测机。
5.如权利要求1所述的电芯的测量方法，其特征在于：还包括如下步骤：
S6：如果待检测的电芯不合格，则通过踢废组件将其剔除到废料盒中。
6.一种电芯的测量方法，其包括如下步骤：
S1：将待检测的电芯移动至下料输送机构上；
S2：当待检测的电芯到达第一检测位置时，第一电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；
S3：图像采集装置对待检测的电芯的一端进行拍照，将所拍得的图像与标定电芯的图像进行比对，并算出待检测的电芯的隔膜的宽度、正极片与隔膜一端的间距以及负极片与隔膜一端的间距；
S4：当待检测的电芯到达第二检测位置时，第二电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；
S5：图像采集装置对待检测的电芯的另一端进行拍照，并算出正极片与隔膜另一端的间距以及负极片与隔膜另一端的间距，并算出所述正极片的宽度以及所述负极片的宽度；
在步骤S2以及步骤S4中，所述基准端为标定端，所述图像采集端为浮动端；当待检测的电芯到达所述第一检测位置或者所述第二检测位置时，所述标定端先移动至指定位置，然后所述浮动端推动待检测的电芯的一端至待检测的电芯的另一端与所述标定端相抵靠；
当需要测量隔膜两端之间的距离时，取待检测的电芯的头、尾两张图像与标定电芯的图像做对比，得出待检测的电芯的隔膜的一端与标定电芯的隔膜一端的差距，通过算法得出待检测电芯的隔膜的宽度。
7.如权利要求6所述的电芯的测量方法，其特征在于：步骤S3中所述标定电芯的图像是通过如下步骤得到的：
S01：将标定电芯移动至下料输送机构上；
S02：当标定电芯到达检测位置时，第一电芯边缘调整组件及/或第二电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠标定电芯的隔膜的两端；
S03：图像采集装置对标定电芯的一端进行拍照，并得到所述标定电芯的图像。
8.如权利要求6所述的电芯的测量方法，其特征在于：在步骤S5中，所述正极片的宽度以及所述负极片的宽度分别通过如下算法得到：
正极片的宽度=隔膜的宽度-正极片与隔膜一端的间距-正极片与隔膜另一端的间距；
负极片的宽度=隔膜的宽度-负极片与隔膜一端的间距-负极片与隔膜另一端的间距。
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