CN110109789A - 一种新型otp mcu测试方法 - Google Patents

一种新型otp mcu测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110109789A
CN110109789A CN201910366113.6A CN201910366113A CN110109789A CN 110109789 A CN110109789 A CN 110109789A CN 201910366113 A CN201910366113 A CN 201910366113A CN 110109789 A CN110109789 A CN 110109789A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
mcu
port
item
program
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201910366113.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110109789B (zh
Inventor
方马龙
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuxi Silicon Jie Microelectronics Co Ltd
Original Assignee
Wuxi Silicon Jie Microelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuxi Silicon Jie Microelectronics Co Ltd filed Critical Wuxi Silicon Jie Microelectronics Co Ltd
Priority to CN201910366113.6A priority Critical patent/CN110109789B/zh
Publication of CN110109789A publication Critical patent/CN110109789A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110109789B publication Critical patent/CN110109789B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
    • G06F11/0751—Error or fault detection not based on redundancy
    • G06F11/0754—Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits
    • G06F11/0757—Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits by exceeding a time limit, i.e. time-out, e.g. watchdogs
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
    • G06F11/079—Root cause analysis, i.e. error or fault diagnosis
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2268—Logging of test results
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273—Test methods
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2289—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing by configuration test
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2284—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing by power-on test, e.g. power-on self test [POST]
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明提供一种新型OTP MCU测试方法，包括：增加MCU配置区的容量，在配置区中设置一测试程序区，通过测试机，将测试程序烧入待测MCU配置区中的测试程序区；MCU上电时打入设定时序使得MCU进入测试模式，MCU从测试程序区载入测试程序开始运行，自动执行测试程序中的各测试项。本发明提出的测试方法增加配置区容量的成本忽略不计，不仅减少了测试成本、简化了测试机台的测试程序，经过这样测试的MCU芯片也极大的提高了后期上板使用的可靠性，减少了后期维护的成本。

Description

一种新型OTP MCU测试方法
技术领域
本发明涉及一种微处理器测试方法，尤其是一种新型OTP MCU测试方法。
背景技术
如图1所示，传统的OTP MCU并不是通过烧录程序去完成CP测试(晶圆测试)，即使烧录后测试还需要紫外线去擦除OTP ROM；常规测试是通过一定的时序打入端口，进入测试模式测试MCU芯片的功能。但是测试模式并不能完全测试到所有电路模块的工作状况，而且测试模式根据测试项要产生多个测试向量，测试时间也较长，测试成本增加并且测试覆盖率低。现有许多MCU的问题反馈，芯片焊接到PCB板上不工作，拆下来经过测试时序又可以测试通过，无法确定电路问题出在哪里，究其原因还是测试无法覆盖到芯片内部所有模块以及没有真正让MCU运行起来，不仅无法分析出具体问题，还大大增加拆芯片以及问题分析等各种人力成本。
OTP(一次性可编程)。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中存在的不足，提供一种新型OTP MCU测试方法，不仅减少了测试成本，还提高了MCU芯片后期上板使用的可靠性，减少了后期维护成本。本发明采用的技术方案是：
一种新型OTP MCU测试方法，包括：
增加MCU配置区的容量，在配置区中设置一测试程序区，通过测试机，将测试程序烧入待测MCU配置区中的测试程序区；
MCU上电时打入设定时序使得MCU进入测试模式，MCU从测试程序区载入测试程序开始运行，自动执行测试程序中的各测试项。
进一步地，
在MCU上，取两个IO端口作为测试模式时序输入端口，
在MCU上，取一个IO端口作为测试项触发端口；
在MCU上，取一个IO端口作为测试结果输出端口；测试结果输出端口输出高电平时表示相应测试项通过，输出低电平时表示相应测试项失败；
测试机分别连接MCU的测试模式时序输入端口、测试项触发端口、测试结果输出端口；
MCU的测试过程如下：
MCU上电时，测试机从MCU的测试模式时序输入端口打入设定时序使得MCU进入测试模式；
MCU从测试程序区载入测试程序开始运行；
测试机从MCU的测试项触发端口打入脉冲TEST，MCU接收到脉冲TEST按设定测试项进行切换，各测试项的测试结果通过MCU的测试结果输出端口输出。
进一步地，MCU功能特性测试的测试项包括：
PC程序计数器测试：测试程序读取PC值与固定值进行比对，一致则通过测试；
IO端口拉电流测试：测试程序设置所有IO端口输出高电平，测试机给MCU的所有IO端口加VDD-0.5v电压，测试各IO端口电流，若电流值在测试范围内则通过测试；
IO端口灌电流测试：测试程序设置所有IO端口输出低电平，测试机给MCU的所有IO端口加GND+0.5v电压，测试各IO端口电流，若电流值在测试范围内则通过测试；
IO端口上拉电流测试：设置有上拉功能的IO端口打开上拉电阻，测试机给相应IO端口接GND，测试这些IO端口电流，电流值在测试范围内则通过测试；
IO端口下拉电流测试：设置有下拉功能的IO端口打开下拉电阻，测试机给相应IO端口接VDD，测试这些IO端口电流，电流值在测试范围内则通过测试；
TCC定时器测试：设置TCC定时器初始值，打开TCC定时器中断功能，若MCU进入TCC定时器中断，则通过测试；
IO端口唤醒中断测试：设置IO端口中断唤醒功能，MCU执行睡眠指令，等待测试机给测试项触发端口一个脉冲；若MCU检测到测试项触发端口电平变化，唤醒并进入中断，则测试通过。
进一步地，MCU功能特性测试的测试项还包括：
WDT看门狗复位测试：使能看门狗使MCU复位，读取R3寄存器中复位标志，检测是否为WDT复位，若是则测试通过；
LVR低压复位测试：降低VDD到固定点使MCU复位，读取R3寄存器中复位标志，检测是否为LVR复位，若是则测试通过。
本发明的优点在于：本发明提出的测试方法增加配置区容量的成本忽略不计，不仅减少了测试成本、简化了测试机台的测试程序，经过这样测试的MCU芯片也极大的提高了后期上板使用的可靠性，减少了后期维护的成本。
附图说明
图1为本发明的传统测试方法示意图。
图2为本发明的测试方法示意图。
图3为本发明的测试方法接线图。
具体实施方式
下面结合具体附图和实施例对本发明作进一步说明。
如图2所示，一般MCU的OTP ROM分为程序区和配置区；程序区为用户烧写用户程序的存储区域，配置区为用户选择一些配置选项的配置字存储区域；
本发明提出的一种新型OTP MCU测试方法，包括：
增加MCU配置区的容量，在配置区中设置一测试程序区，通过测试机，将测试程序烧入待测MCU配置区中的测试程序区；测试机是一台测试设备；简单的MCU增加256个字节足够写一个完整的测试程序；
MCU上电时打入设定时序使得MCU进入测试模式，MCU从测试程序区载入测试程序开始运行，自动执行测试程序中的各测试项。传统的MCU上电时，会自动载入程序区的用户程序，而本发明中通过在MCU上电时打入设定时序，使得MCU进入测试模式，从测试程序区载入测试程序，而非从程序区载入用户程序；
如图3所示，某一型号的MCU包括多个IO端口，例如P00、P01、P02、P03、P10、P11、P12、P13……；
在MCU上，取两个IO端口作为测试模式时序输入端口，例如P00、P01端口；该两个IO端口中的一个用于接测试机的SCK串行时钟，另一个用于接测试机的SDA串行数据；
在MCU上，取一个IO端口作为测试项触发端口，例如P11端口；
在MCU上，取一个IO端口作为测试结果输出端口，例如P12端口；测试结果输出端口输出高电平，表示相应的测试项通过，输出低电平则相应的测试项未通过；
测试机分别连接MCU的测试模式时序输入端口、测试项触发端口、测试结果输出端口；
MCU的测试过程如下：
MCU上电时，测试机从MCU的测试模式时序输入端口P00、P01打入设定时序使得MCU进入测试模式；
MCU从测试程序区载入测试程序开始运行；
测试机从MCU的测试项触发端口P11打入脉冲TEST，MCU接收到脉冲TEST按设定测试项进行切换，各测试项的测试结果通过MCU的测试结果输出端口P12输出；测试结果输出端口P12输出高电平时表示相应测试项通过，输出低电平时表示相应测试项失败；以完成MCU的功能特性测试；
MCU的供电电压为VDD；
各测试项如下：
PC程序计数器测试：测试程序读取PC值与固定值进行比对，一致则通过测试；测试结果：本测试项通过则P12端口输出高电平，P11端口等待测试机脉冲TEST；
IO端口拉电流测试：测试程序设置所有IO端口输出高电平，测试机给MCU的所有IO端口加VDD-0.5v电压，测试各IO端口电流，若电流值在测试范围内则通过测试；测试结果：本测试项通过则P12端口输出高电平，P11端口等待测试机脉冲TEST；
IO端口灌电流测试：测试程序设置所有IO端口输出低电平，测试机给MCU的所有IO端口加GND+0.5v电压，测试各IO端口电流，若电流值在测试范围内则通过测试；测试结果：本测试项通过则P12端口输出高电平，P11端口等待测试机脉冲TEST；
IO端口上拉电流测试：设置有上拉功能的IO端口打开上拉电阻，测试机给相应IO端口接GND，测试这些IO端口电流，电流值在测试范围内则通过测试；测试结果：本测试项通过则P12端口输出高电平，P11端口等待测试机脉冲TEST；
IO端口下拉电流测试：设置有下拉功能的IO端口打开下拉电阻，测试机给相应IO端口接VDD，测试这些IO端口电流，电流值在测试范围内则通过测试；测试结果：本测试项通过则P12端口输出高电平，P11端口等待测试机脉冲TEST；
TCC定时器测试：设置TCC定时器初始值，打开TCC定时器中断功能，若MCU进入TCC定时器中断，则通过测试；P12端口输出高电平；
IO端口唤醒中断测试：设置IO端口中断唤醒功能，MCU执行睡眠指令，等待测试机给测试项触发端口一个脉冲；若MCU检测到测试项触发端口电平变化，唤醒并进入中断，则测试通过；P12端口输出高电平；
WDT看门狗复位测试：使能看门狗使MCU复位，读取R3寄存器中复位标志，检测是否为WDT复位，若是则测试通过；P12端口输出高电平；
LVR低压复位测试：降低VDD到固定点使MCU复位，读取R3寄存器中复位标志，检测是否为LVR复位，若是则测试通过；P12端口输出高电平；
测试方法对比：
通过本发明的测试方法，测试时间非常短；通过MCU运行来进行测试，不存在后期MCU焊接到PCB板上后发现MCU芯片不工作的问题。这种测试方法增加配置区容量的成本忽略不计，不仅减少了测试成本、简化了测试机台的测试程序，经过这样测试的MCU芯片也极大的提高了后期上板使用的可靠性，减少了后期维护的成本。
另外，MCU的电气特性测试为测试机直接测试IO端口电压或者电流。这部分不是本发明的重点，不再赘述。
最后所应说明的是，以上具体实施方式仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照实例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (4)

1.一种新型OTP MCU测试方法，其特征在于，包括：
增加MCU配置区的容量，在配置区中设置一测试程序区，通过测试机，将测试程序烧入待测MCU配置区中的测试程序区；
MCU上电时打入设定时序使得MCU进入测试模式，MCU从测试程序区载入测试程序开始运行，自动执行测试程序中的各测试项。
2.如权利要求1所述的新型OTP MCU测试方法，其特征在于，
在MCU上，取两个IO端口作为测试模式时序输入端口，
在MCU上，取一个IO端口作为测试项触发端口；
在MCU上，取一个IO端口作为测试结果输出端口；测试结果输出端口输出高电平时表示相应测试项通过，输出低电平时表示相应测试项失败；
测试机分别连接MCU的测试模式时序输入端口、测试项触发端口、测试结果输出端口；
MCU的测试过程如下：
MCU上电时，测试机从MCU的测试模式时序输入端口打入设定时序使得MCU进入测试模式；
MCU从测试程序区载入测试程序开始运行；
测试机从MCU的测试项触发端口打入脉冲TEST，MCU接收到脉冲TEST按设定测试项进行切换，各测试项的测试结果通过MCU的测试结果输出端口输出。
3.如权利要求2所述的新型OTP MCU测试方法，其特征在于，
MCU功能特性测试的测试项包括：
PC程序计数器测试：测试程序读取PC值与固定值进行比对，一致则通过测试；
IO端口拉电流测试：测试程序设置所有IO端口输出高电平，测试机给MCU的所有IO端口加VDD-0.5v电压，测试各IO端口电流，若电流值在测试范围内则通过测试；
IO端口灌电流测试：测试程序设置所有IO端口输出低电平，测试机给MCU的所有IO端口加GND+0.5v电压，测试各IO端口电流，若电流值在测试范围内则通过测试；
IO端口上拉电流测试：设置有上拉功能的IO端口打开上拉电阻，测试机给相应IO端口接GND，测试这些IO端口电流，电流值在测试范围内则通过测试；
IO端口下拉电流测试：设置有下拉功能的IO端口打开下拉电阻，测试机给相应IO端口接VDD，测试这些IO端口电流，电流值在测试范围内则通过测试；
TCC定时器测试：设置TCC定时器初始值，打开TCC定时器中断功能，若MCU进入TCC定时器中断，则通过测试；
IO端口唤醒中断测试：设置IO端口中断唤醒功能，MCU执行睡眠指令，等待测试机给测试项触发端口一个脉冲；若MCU检测到测试项触发端口电平变化，唤醒并进入中断，则测试通过。
4.如权利要求2所述的新型OTP MCU测试方法，其特征在于，
MCU功能特性测试的测试项还包括：
WDT看门狗复位测试：使能看门狗使MCU复位，读取R3寄存器中复位标志，检测是否为WDT复位，若是则测试通过；
LVR低压复位测试：降低VDD到固定点使MCU复位，读取R3寄存器中复位标志，检测是否为LVR复位，若是则测试通过。
CN201910366113.6A 2019-05-05 2019-05-05 一种新型otp mcu测试方法 Active CN110109789B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910366113.6A CN110109789B (zh) 2019-05-05 2019-05-05 一种新型otp mcu测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910366113.6A CN110109789B (zh) 2019-05-05 2019-05-05 一种新型otp mcu测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110109789A true CN110109789A (zh) 2019-08-09
CN110109789B CN110109789B (zh) 2023-05-16

Family

ID=67488171

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910366113.6A Active CN110109789B (zh) 2019-05-05 2019-05-05 一种新型otp mcu测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110109789B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112198865A (zh) * 2020-09-29 2021-01-08 中电海康无锡科技有限公司 一种mcu低功耗模式切换的测试方法、装置及系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102768331A (zh) * 2012-07-26 2012-11-07 深圳市芯海科技有限公司 一种otp型的mcu测试装置及其测试方法
CN106546902A (zh) * 2016-10-13 2017-03-29 芯海科技（深圳）股份有限公司 一种otp型mcu在未预留测试接口情况下的量产测试方法
CN107479918A (zh) * 2017-08-03 2017-12-15 芯海科技（深圳）股份有限公司 一种可重构的mcu烧录的fpga模型

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102768331A (zh) * 2012-07-26 2012-11-07 深圳市芯海科技有限公司 一种otp型的mcu测试装置及其测试方法
CN106546902A (zh) * 2016-10-13 2017-03-29 芯海科技（深圳）股份有限公司 一种otp型mcu在未预留测试接口情况下的量产测试方法
CN107479918A (zh) * 2017-08-03 2017-12-15 芯海科技（深圳）股份有限公司 一种可重构的mcu烧录的fpga模型

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112198865A (zh) * 2020-09-29 2021-01-08 中电海康无锡科技有限公司 一种mcu低功耗模式切换的测试方法、装置及系统
CN112198865B (zh) * 2020-09-29 2022-03-25 中电海康无锡科技有限公司 一种mcu低功耗模式切换的测试方法、装置及系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN110109789B (zh) 2023-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101349726B (zh) 一种通用输入输出接口的故障检测方法及装置
US20130173833A1 (en) Switch apparatus switching between basic input output system chip and diagnostic card
CN109342928A (zh) 一种芯片测试装置及方法
CN103973287A (zh) 开关机电路
CN109490751A (zh) 一种emmc测试方法及测试电路
CN206321757U (zh) 一种自动测试芯片的装置
CN208314138U (zh) 一种板卡测试系统
CN110109789A (zh) 一种新型otp mcu测试方法
CN107659336B (zh) 一种电力线载波模块的功能测试方法
CN106936496B (zh) 多个iic通信设备热插拔装置
CN211787061U (zh) Usb接口功能检测设备
CN204666786U (zh) Lttl/lcmos型中规模时序逻辑芯片测试装置
CN105223880B (zh) 一种程序控制盒同步性能检测方法及装置
CN207098640U (zh) 一种usb安全充电保护监测仪
CN114076901B (zh) 一种电源模块输出纹波自动化测试系统及方法
CN209728111U (zh) 一种单板测试设备
CN213522378U (zh) 一种WiFi通用固件自动化测试电路系统
CN105390163B (zh) Emmc测试装置
CN113687221A (zh) 一种小型继电器自动检测装置
CN209373578U (zh) 一种同时检测模拟信号及数字信号的电路及装置
CN207676169U (zh) 一种看门狗mcu监控电路
CN211505684U (zh) 一种用电设备掉电检测报警电路
CN208922098U (zh) 新型看门狗电路及其制成的计量仪表
CN201903876U (zh) 支持外部自动测试设备的电路板
CN206557359U (zh) 一种模拟电源芯片的告警装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant