CN110108219A - 电缆截面结构的测算方法、系统、设备及可读存储介质 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种电缆截面结构的测算方法，包括：获取电缆截面的图像；对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。由于本申请可以直接通过图像处理得到电缆截面准确的实际截面参数，不需要对电缆切片，因此不需考虑切片工艺对测算精度的影响，测算速度远高于实验室测算方法，大幅缩短了检查需要的时间，能够对所有的电缆进行检查，提高了整体批次电缆的可靠性。本申请还相应公开了一种电缆截面结构的测算系统、设备及可读存储介质。

Description

电缆截面结构的测算方法、系统、设备及可读存储介质
技术领域
本发明涉及电气设备检测领域，特别涉及一种电缆截面结构的测算方法、系统、设备及可读存储介质。
背景技术
在电力行业中，电力电缆的检测工作是对电力电缆质量把控的重要环节，直接决定着电力电缆的使用安全，在电缆结构中绝缘偏心度、绝缘厚度和屏蔽层厚度结构不达标的现象时有发生，影响电力系统的安全稳定运行。目前，针对电力电缆的检测工作属于抽检性质，一定程度上无法准确反映当前电缆批次整体的质量。抽检需要送样至实验室进行检测，该电缆样品需现场切片后进行人工测量，切片的工艺对测量精度有较大影响；且实验室检测操作过程复杂，无法在现场检测获取结果，检测检测周期较长，影响电缆的投入使用。
因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是目前本领域技术人员需要解决的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种电缆截面结构的测算方法、系统、设备及可读存储介质，以便快速高效地获取精确的电缆截面结构参数。其具体方案如下：
一种电缆截面结构的测算方法，包括：
获取电缆截面的图像；
对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
优选的，所述图像转换系数，具体通过对所述电缆截面进行激光测距得到。
优选的，所述获取电缆截面的图像的过程，具体包括：
以正面垂直的角度，获取电缆截面的图像。
相应的，本发明还公开了一种电缆截面结构的测算系统，包括：
获取模块，用于获取电缆截面的图像；
预处理模块，用于对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
计算模块，用于根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
转换模块，用于利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
相应的，本发明还公开了一种电缆截面结构的测算设备，包括：
图像获取装置；
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现以下步骤：
通过所述图像获取装置获取电缆截面的图像；
对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
优选的，所述测算设备还包括激光测距装置；
所述激光测距装置对所述电缆截面进行激光测距得到测距结果；
所述处理器利用所述测距结果得到图像转换系数。
优选的，所述测算设备还包括云台；
所述处理器根据所述电缆截面的图像发出云台控制信息；
所述云台根据所述云台控制信息动作，以使所述图像获取装置以正面垂直的角度获取所述电缆截面的图像。
优选的，所述测算设备还包括固定装置，用于固定所述电缆截面对应的电缆主体。
相应的，本发明公开了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
通过所述图像获取装置获取电缆截面的图像；
对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
本发明公开了一种电缆截面结构的测算方法，包括：获取电缆截面的图像；对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。由于本发明可以直接通过图像处理得到电缆截面准确的实际截面参数，测算过程便捷快速，不需要对电缆切片，因此不需考虑切片工艺对测算精度的影响，测算速度远高于实验室测算方法，测算动作更为便捷，大幅缩短了检查需要的时间，能够对所有的电缆进行检查，提高了整体批次电缆的可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例中一种电缆截面结构的测算方法的步骤流程图；
图2为本发明实施例中一种电缆截面结构的测算系统的结构分布图；
图3为本发明实施例中一种电缆截面结构的测算设备的结构分布图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
目前，针对电力电缆的检测工作属于抽检性质，一定程度上无法准确反映当前电缆批次整体的质量。抽检需要送样至实验室进行检测，该电缆样品需现场切片后进行人工测量，切片的工艺对测量精度有较大影响；且实验室检测操作过程复杂，无法在现场检测获取结果，检测检测周期较长，影响电缆的投入使用。而本发明可以直接通过图像处理得到电缆截面准确的实际截面参数，测算过程便捷快速，不需要对电缆切片，因此不需考虑切片工艺对测算精度的影响，测算速度远高于实验室测算方法，测算动作更为便捷，大幅缩短了检查需要的时间，能够对所有的电缆进行检查，提高了整体批次电缆的可靠性。
本发明实施例公开了一种电缆截面结构的测算方法，参见图1所示，包括：
S1：获取电缆截面的图像；
可以理解的是，为了使数据更为准确，获取的电缆截面的图像应为正对截面的图像，也就是说，以正面垂直的角度，获取电缆截面的图像，避免图像角度偏差对数据测量造成的影响
S2：对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
可以理解的是，对图像二值化处理，得到各结构的轮廓更为清晰明确的灰度图，提高圆心的定位精度、参数计算的精确度。
S3：根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
其中，绝缘层偏心度根据灰度图中各圆心的相对位置进行计算。
S4：利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
相应的，电缆截面的实际截面参数包括实际绝缘层厚度、实际屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度。
具体的，所述图像转换系数，一般通过对所述电缆截面进行激光测距得到。
可以理解的是，当图像为正对垂直的截面图像时，实际电缆截面上每一点与获取图像的镜头的距离均相等，因此只需要进行一次激光测距，即可得到整个电缆截面对应的图像转换系数；如果图像非正对垂直的截面图像，也就是说实际电缆截面与镜头未平行，实际电缆截面的每一点到镜头的距离存在差异，此时需要进行两次以上的激光测距，来确定实际电缆截面与电缆截面的尺寸之间的图像转换系数。
进一步的，根据本实施例得到的实际截面参数，还可以进一步判断该电缆截面对应的电缆主体是否合格、符合生产标准。
本发明实施例公开了一种电缆截面结构的测算方法，包括：获取电缆截面的图像；对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。由于本发明实施例可以直接通过图像处理得到电缆截面准确的实际截面参数，测算过程便捷快速，不需要对电缆切片，因此不需考虑切片工艺对测算精度的影响，测算速度远高于实验室测算方法，测算动作更为便捷，大幅缩短了检查需要的时间，能够对所有的电缆进行检查，提高了整体批次电缆的可靠性。
相应的，本发明实施例还公开了一种电缆截面结构的测算系统，参见图2所示，包括：
获取模块11，用于获取电缆截面的图像；
预处理模块12，用于对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
计算模块13，用于根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
转换模块14，用于利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
由于本发明实施例可以直接通过图像处理得到电缆截面准确的实际截面参数，测算过程便捷快速，不需要对电缆切片，因此不需考虑切片工艺对测算精度的影响，测算速度远高于实验室测算方法，测算动作更为便捷，大幅缩短了检查需要的时间，能够对所有的电缆进行检查，提高了整体批次电缆的可靠性。
相应的，本发明实施例还公开了一种电缆截面结构的测算设备，参见图3所示，包括：
图像获取装置21；
存储器22，用于存储计算机程序；
处理器23，用于执行所述计算机程序时实现以下步骤：
通过所述图像获取装置21获取电缆截面的图像；
对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
进一步的，所述测算设备还包括激光测距装置24；
所述激光测距装置24对所述电缆截面进行激光测距得到测距结果；
所述处理器23利用所述测距结果得到图像转换系数。
优选的，所述测算设备还包括云台25；
所述处理器23据所述电缆截面的图像发出云台控制信息；
所述云台25根据所述云台控制信息动作，以使所述图像获取装置21以正面垂直的角度获取所述电缆截面的图像。
可以理解的是，云台25与图像获取装置21物理连接，云台25能够控制图像获取装置21相对于电缆截面的位置姿态。当云台25根据云台控制信息动作，能够使图像获取装置21的位置姿态发生变化，从而以正面垂直的角度获取电缆截面的图像。
进一步的，所述测算设备还包括固定装置26，用于固定所述电缆截面对应的电缆主体20。
可以理解的是，当电缆主体20被固定装置26固定，电缆截面的位置姿态再测算过程中不会再发生变化。
由于本发明实施例可以直接通过图像处理得到电缆截面准确的实际截面参数，测算过程便捷快速，不需要对电缆切片，因此不需考虑切片工艺对测算精度的影响，测算速度远高于实验室测算方法，测算动作更为便捷，大幅缩短了检查需要的时间，能够对所有的电缆进行检查，提高了整体批次电缆的可靠性。
相应的，本发明公开了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
通过所述图像获取装置获取电缆截面的图像；
对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
由于本发明实施例可以直接通过图像处理得到电缆截面准确的实际截面参数，测算过程便捷快速，不需要对电缆切片，因此不需考虑切片工艺对测算精度的影响，测算速度远高于实验室测算方法，测算动作更为便捷，大幅缩短了检查需要的时间，能够对所有的电缆进行检查，提高了整体批次电缆的可靠性。
最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种电缆截面结构的测算方法、系统、设备及可读存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (9)

1.一种电缆截面结构的测算方法，其特征在于，包括：
获取电缆截面的图像；
对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
2.根据权利要求1所述测算方法，其特征在于，所述图像转换系数，具体通过对所述电缆截面进行激光测距得到。
3.根据权利要求2所述测算方法，其特征在于，所述获取电缆截面的图像的过程，具体包括：
以正面垂直的角度，获取电缆截面的图像。
4.一种电缆截面结构的测算系统，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取电缆截面的图像；
预处理模块，用于对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
计算模块，用于根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
转换模块，用于利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
5.一种电缆截面结构的测算设备，其特征在于，包括：
图像获取装置；
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现以下步骤：
通过所述图像获取装置获取电缆截面的图像；
对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
6.根据权利要求5所述测算设备，其特征在于，还包括激光测距装置；
所述激光测距装置对所述电缆截面进行激光测距得到测距结果；
所述处理器利用所述测距结果得到图像转换系数。
7.根据权利要求6所述测算设备，其特征在于，还包括云台；
所述处理器根据所述电缆截面的图像发出云台控制信息；
所述云台根据所述云台控制信息动作，以使所述图像获取装置以正面垂直的角度获取所述电缆截面的图像。
8.根据权利要求5至7任一项所述测算设备，其特征在于，还包括固定装置，用于固定所述电缆截面对应的电缆主体。
9.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
通过所述图像获取装置获取电缆截面的图像；
对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；
根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；
利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。
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