CN110069953A - 读写器测试平台 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种读写器测试平台，用于检测非接触式IC卡读写器，其中，读写器测试平台包括机架、标准读写器、第一待检测读写器、微处理器以及安装于所述机架上的移动放置机构；机架具有一操作台；标准读写器包括电性连接的标准主机和所述标准感应器；第一待检测读写器包括电性连接的第一主机和第一感应器；微处理器分别与第一主机和标准主机电连接；移动放置机构位于操作台的上方，用以将非接触式IC卡反复贴近标准感应器和/或第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测。本发明技术方案可以提高检测非接触式IC卡读写器的检测效率和检测精度。

Description

读写器测试平台

技术领域

本发明涉及测试设备技术领域，特别涉及一种读写器测试平台。

背景技术

目前广泛应用的交通卡、非接触式IC卡的读写器等，在投入市场之前都必须进行模拟测试实际刷卡使用时读写器的成功率，以便保证进入市场的均为性能合格的读写器，由于现有的测试手法是通过人手一张张将非接触式IC卡放在非接触式IC卡读写器进行检测，浪费了大量人力物力；以及现有的读写器的无法满足多种交通卡或非接触式IC卡的测试需要，而且无法对所测结果进行检验，存在检验精度低的情况。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种读写器测试平台，旨在提高检验读写器的检测效率和检测精度。

为实现上述目的，本发明提出的读写器测试平台，用于检测非接触式IC卡读写器，所述读写器测试平台包括：

机架，具有一操作台；

标准读写器，包括标准主机和标准感应器，所述标准主机和所述标准感应器电性连接；

第一待检测读写器，包括第一主机和第一感应器，所述第一主机和所述第一感应器电性连接；

微处理器，所述微处理器分别与所述第一主机和所述标准主机电连接；以及

移动放置机构，安装于所述机架上，且位于所述操作台的上方，所述移动放置机构用以将非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器和/或所述第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测。

优选地，所述移动放置机构包括：

第一横向移动机构，所述第一横向移动机构的移动方向为第一水平方向；

第二横向移动机构，安装在所述第一横向移动机构的移动端上，所述第二横向移动机构的移动方向为第二水平方向，所述第一水平方向和所述第二水平方向垂直；

纵向移动机构，安装在所述第二横向移动机构的移动端上，所述纵向移动机构的移动方向为竖直方向；

吸取件，设于所述纵向移动机构的下端，用于吸取非接触式IC卡。

优选地，所述读写器测试平台还包括与所述纵向移动机构电连接的控制器，所述控制器用于控制将非接触式IC卡分别置于距所述第一感应器不同高度的位置处，以检测所述第一感应器的感应距离。

优选地，所述标准感应器和所述第一感应器的上表面设有供非接触式IC卡放置的第一容置槽。

优选地，所述读写器测试平台还设有第二待检测读写器，包括第二主机和第二感应器，所述第二主机和所述第二感应器电性连接，所述微处理器与所述第二主机相连；

所述第二感应器的上表面设有供非接触式IC卡放置的第二容置槽，所述第一容置槽的面积大于所述第二容置槽的面积。

优选地，所述读写器测试平台还包括读写器检测装置，设于所述操作台上，所述读写器检测装置包括检测线圈，所述吸取件吸取所述检测线圈至靠近所述第一感应器的上方，以使所述检测线圈产生检测信号；或

所述吸取件吸取所述检测线圈至靠近所述第二感应器的上方，以使所述检测线圈产生检测信号。

优选地，所述标准感应器和所述第一感应器以及所述第二感应器可拆卸安装在所述操作台上。

优选地，所述标准感应器和所述第一感应器以及所述第二感应器以螺钉连接、胶粘的方式固定安装于所述操作台上。

优选地，所述操作台设置有可放置多个非接触式IC卡的收纳盒。

所述第一待检测读写器设有多个，且在所述操作台上呈多排设置；和/或

所述第二待检测读写器设有多个，且在所述操作台上呈多排设置。

本发明技术方案通过采用具有移动放置机构和微处理器的读写器测试平台，移动放置机构将非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器和/或所述第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测，以此可以快速地对待检测读写器进行检测，通过微处理器对比待检测读写器和标准读写器的参数数据，从而检测出待检测读写器是否符合要求。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明读写器测试平台一实施例的结构示意图；

图2为本发明读写器测试平台一实施例的结构示意图；

图3为本发明读写器测试平台一实施例的结构俯视示意图。

附图标号说明：

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义为，包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案，或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提出一种读写器测试平台。

在本发明一实施例中，如图1所示，该读写器测试平台1包括：

机架2，具有一操作台10；

标准读写器101，包括标准主机111和标准感应器112，所述标准主机111和所述标准感应器112电性连接；

第一待检测读写器102，包括第一主机121和第一感应器122，所述第一主机121和所述第一感应器122电性连接；

微处理器20，所述微处理器20分别与所述第一主机121和所述标准主机111电连接；以及

移动放置机构200，安装于所述机架2上，且位于所述操作台10的上方，所述移动放置机构200用以将非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器112和/或所述第一感应器122，以实现对非接触式IC卡的读写检测。

非接触式IC卡读写器应用广泛，例如地铁进出闸门需要感应非接触式IC卡，公交上车需要感应非接触式IC卡，非接触式IC卡读写器需要检测不同类型的非接触式IC卡，其性能也显得尤为重要，本实施例中的读写器测试平台1，便是为了检验非接触式IC卡读写器是否符合标准。

具体的，机架2具有操作台10，操作台10上设有用以放置非接触式IC卡的收纳盒30，其中，由于目前的非接触式IC卡形状和功能不同，为了非接触式IC卡读写器能够适应感应到不同的非接触式IC卡，收纳盒30设有多个，且多个所述收纳盒30内可放置有至少一张非接触式IC卡，非接触式IC卡在所述收纳盒30内可叠加放置。以标准读写器101的数据为标准数据，通过对比第一待检测读写器102的数据和标准读写器101的数据，从而检测待检测读写器是否符合要求。由于需要用非接触式IC卡检测非接触式IC卡读写器，因此还设有移动放置机构200，其中，移动放置机构200安装于所述机架2上，且位于所述操作台10的上方，所述抓取机构用以将所述收纳盒30内的非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器112或者所述第一感应器122，对非接触式IC卡的读写检测，以使非接触式IC卡读写器发出信号或数据。

在本实施中，主机均连接有天线，主机通过天线发出信号，天线固定安装于感应器，同理，即标准主机111电连接有天线，固定安装于标准感应器112内，以及第一感应器122内固定安装有第一待检测读写器102的天线。微处理器20设置在电脑内，通过微处理器20将标准读写器101和第一待检测读写器102的数据传输到电脑中，进而通过电脑的软件计算出数据第一待检测读写器102是否符合标准，以及可以计算出第一待检测读写器与标准读写器101的数据相差多少。

需要说明的是，如图1至图3所示，由于移动放置机构200需要将非接触式IC卡反复贴近标准感应器112和所述第一感应器122，移动放置机构200还包括第一横向移动机构201和第二横向移动机构202以及纵向移动机构203，以xyz坐标系为例，即第一横向移动机构201为x轴，第二横向移动机构202为y轴，纵向移动机构203为z轴。其中，第一横向移动机构201的移动方向为第一水平方向a；第二横向移动机构202安装在所述第一横向移动机构201的移动端210上，第二横向移动机构202的移动方向为第二水平方向b，第一水平方向a和第二水平方向b垂直；纵向移动机构203安装在所述第二横向移动机构202的移动端210上，所述纵向移动机构203的移动方向为竖直方向。进一步地，移动放置机构200还设有吸取件220，设于纵向移动机构203的下端，用于吸取非接触式IC卡。优选地，吸取件220为吸盘221。

需要说明的是，由于每台读写器的性能差异，读卡高度会存在细微的差距，因此该读写器测试平台1还需要测试不同非接触式IC卡读写器的读卡高度，该读写器测试平台1只会在预设范围内测试，所述读写器测试平台1还包括与所述纵向移动机构203电连接的控制器300，所述控制器300用于控制将非接触式IC卡分别置于距所述第一感应器122不同高度的位置处，以检测所述第一感应器122的感应距离。在本实施例中，以标准卡片对非接触式IC卡读写器进行检测，预设控制器300的检测区间为0cm至10cm；通过吸盘221吸取非接触式IC卡以从上往下的方式放置至第一感应器122的上方，第一位置是紧贴第一感应器122的表面，此处非接触式IC卡和第一感应器122的间距为0cm，此时检测第一主机121是否有感应，微处理器20连接的电脑有无扣费信息；继而吸盘221吸取非接触式IC卡上升1cm，此时非接触式IC卡和第一感应器122的间距为1cm，检测感应器主体是否有感应，微处理器20连接的电脑有无扣费信息；重复以上操作，直至非接触式IC卡和第一感应器122的间距为10cm后，记录非接触式IC卡和第一感应器122的间距。

需要说明的是，由于每台读写器的性能差异，导致感应使用次数不同，因此本实施例中的读写器测试平台1还需要检测非接触式IC卡读写器进行压力测试，对一台待检测读写器反复不停地做非接触式IC卡读写检测，以测试共有成功读取的次数和失败读取的次数。该检测过程，需要使用标准读写器101，当一非接触式IC卡贴近标准感应器112时，微处理器20可得出初始码值，继而，同一非接触式IC卡贴近第一待检测感应器时，微处理器20可得出第一码值，最后，上述非接触式IC卡再放置到标准感应器112以得到第二码值，此处所描述的初始码值指的是非接触式IC卡的预计的费用信息，所述第一码值为进站信息，所述第二码值为出站信息，通过电脑程序计算对比第一码值、第二码值得出，第一待检测感应器是否能成功读写感应非接触式IC卡，从而计算出第一待检测感应器在0-10cm的检测范围内的成功次数。

如图1至图3所示，为了吸盘221吸取非接触式IC卡时，便于非接触式IC卡放置到感应器上方，定位放置，标准感应器112和第一感应器122的规格一致，在其上表面设有供非接触式IC卡放置的第一容置槽222。

进一步地，由于非接触式IC卡读写器需要检测不同类型的非接触式IC卡，在所述读写器测试平台1还设有第二待检测读写器103，其包括第二主机131和第二感应器132，所述第二主机131和所述第二感应器132电性连接，所述微处理器20与所述第二主机131相连。所述第二感应器132的上表面设有供非接触式IC卡放置的第二容置槽333，所述第一容置槽222的面积大于所述第二容置槽333的面积。所述第二待检测读写器103是用于测试尺寸较小的非接触式IC卡，不同大小的容置槽也满足了测试不同大小的非接触式IC卡的需要。

进一步地，由于非接触式IC卡读写器主机的信号需要通过设置在感应器内的天线发出，因此天线发送电磁信号的能力和接收电磁信号的能力也需要进行检测。所述读写器测试平台1还包括有设于所述操作台10上的读写器检测装置。所述读写器检测装置包括检测线圈301，所述吸取件220吸取所述检测线圈301至靠近所述第一感应器122的上方，以使所述检测线圈301产生检测信号；或所述吸取件220吸取所述检测线圈301至靠近所述第二感应器132的上方，以使所述检测线圈301产生检测信号。其中，以第二待检测读写器103为例，读写器检测装置还包括检测仪302，吸盘221吸取检测线圈301至第二感应器132的上方，以使检测线圈301产生检测信号，检测信号通过检测仪302被检测到。

需要说明的是，检测线圈301也可以与其它待检测感应器产生检测信号。当检测线圈301受到非接触式IC卡读写器的天线产生的电磁场影响，检测线圈301产生感应电动势，被检测仪302检测到读写器天线上的电磁波的信息，如场强、频率和调制信息等。且检测线圈301还可模拟非接触式IC卡向待检测的读写器的天线发送调制信息，以检验待检测读写器的接收电路的精度是否达到设计要求；即检测读写器发送电磁信号的能力是否符合设计要求以及检测读写器接收电磁信号的能力是否符合设计要求。在操作台10上，还设置有供检测线圈301和检测仪302放置的放置区310。

进一步地，由于在地铁、公交等使用非接触式IC卡，当非接触式IC卡感应非接触式IC卡读写器时存在有交易流程，例如进站出站的信息。因此还需要检测非接触式IC卡读写器的读取交易流程是否正确。同样地，需要标准读写器101，以第一待检测读写器102为例，当非接触式IC卡放置在标准感应器112上方，可以得出一个初始值，非接触式IC卡放置在标准感应器112上方，可以获得第一待检测读写器102的第一数值，即进站信息，非接触式IC卡重新放置在标准感应器112上方，可以获得第一待检测读写器102的出站信息，通过电脑对比进站信息和出站信息，计算扣费信息，核算交易流程是否正确，从而检测第一待检测读写器102的功能是否合格。

此外，标准感应器112和第一感应器122以及第二感应器132可拆卸安装在所述操作台10上，可方便安装排列感应器。标准感应器112和第一感应器122以及第二感应器132可以以螺钉连接、胶粘的方式固定安装于所述操作台10上。

优选地，标准感应器112和第一感应器122以及第二感应器132可以以螺钉连接的方式固定安装在操作台10上。第一待检测读写器102和第二待检测读写器103设置有多个，在本实施例中的读写器测试平台1可以检测多个如第一待检测读写器或第二待检测读写器103，待检测的读写器在操作台10上沿水平方向排列。

优选地，由于读写器测试平台1需要对非接触式IC卡读写器检测的项目较多，因此同样结构的读写器测试平台1可以设有两台，两台读写器测试平台1连接同一个微处理器20；其中，检测读卡高度以及压力测试在一台读写器测试平台1上完成，另一台读写器测试平台1完成交易功能测试和电测性参数的测试，可以避免读写器测试平台1上测试项目过多而影响测试的进度，同理，测试项目可以交换。

本发明技术方案通过采用具有移动放置机构200的读写器测试平台1，能快递地吸取非接触式IC卡，从而实现非接触式IC卡读写器对非接触式IC卡的读写检测，通过微处理器20对比待检测读写器和标准读写器101的参数数据，从而检测出待检测读写器是否符合要求；解决了现有的测试通过人手一张张将非接触式IC卡放在非接触式IC卡读写器进行检测，节省了检测时间，提高了检测效率，通过微处理器20连接电脑，电脑软件快递计算得出结果，也提高了检验精度。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种读写器测试平台，用于检测非接触式IC卡读写器，其特征在于，所述读写器测试平台包括：

机架，具有一操作台；

标准读写器，包括标准主机和标准感应器，所述标准主机和所述标准感应器电性连接；

第一待检测读写器，包括第一主机和第一感应器，所述第一主机和所述第一感应器电性连接；

微处理器，所述微处理器分别与所述第一主机和所述标准主机电连接；以及

移动放置机构，安装于所述机架上，且位于所述操作台的上方，所述移动放置机构用以将非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器和/或所述第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测。

2.如权利要求1所述的读写器测试平台，其特征在于，所述移动放置机构包括：

第一横向移动机构，所述第一横向移动机构的移动方向为第一水平方向；

第二横向移动机构，安装在所述第一横向移动机构的移动端上，所述第二横向移动机构的移动方向为第二水平方向，所述第一水平方向和所述第二水平方向垂直；

纵向移动机构，安装在所述第二横向移动机构的移动端上，所述纵向移动机构的移动方向为竖直方向；

吸取件，设于所述纵向移动机构的下端，用于吸取非接触式IC卡。

3.如权利要求2所述的读写器测试平台，其特征在于，所述读写器测试平台还包括与所述纵向移动机构电连接的控制器，所述控制器用于控制将非接触式IC卡分别置于距所述第一感应器不同高度的位置处，以检测所述第一感应器的感应距离。

4.如权利要求3所述的读写器测试平台，其特征在于，所述标准感应器和所述第一感应器的上表面设有供非接触式IC卡放置的第一容置槽。

5.如权利要求4所述的读写器测试平台，其特征在于，所述读写器测试平台还设有第二待检测读写器，包括第二主机和第二感应器，所述第二主机和所述第二感应器电性连接，所述微处理器与所述第二主机相连；

所述第二感应器的上表面设有供非接触式IC卡放置的第二容置槽，所述第一容置槽的面积大于所述第二容置槽的面积。

6.如权利要求5所述的读写器测试平台，其特征在于，所述读写器测试平台还包括读写器检测装置，设于所述操作台上，所述读写器检测装置包括检测线圈，所述吸取件吸取所述检测线圈至靠近所述第一感应器的上方，以使所述检测线圈产生检测信号；或

所述吸取件吸取所述检测线圈至靠近所述第二感应器的上方，以使所述检测线圈产生检测信号。

7.如权利要求1至6中任一项所述的读写器测试平台，其特征在于，所述标准感应器和所述第一感应器以及所述第二感应器可拆卸安装在所述操作台上。

8.如权利要求7所述的读写器测试平台，其特征在于，所述标准感应器和所述第一感应器以及所述第二感应器以螺钉连接、胶粘的方式固定安装于所述操作台上。

9.如权利要求1所述的读写器测试平台，其特征在于，所述操作台设置有可放置多个非接触式IC卡的收纳盒。

10.如权利要求5所述的读写器测试平台，其特征在于，所述第一待检测读写器设有多个，且在所述操作台上呈多排设置；和/或

所述第二待检测读写器设有多个，且在所述操作台上呈多排设置。