CN110069367B - 电源转用电路 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电源转用电路，其包括至少一第一介面电路、至少一第二介面电路及电源传递电路，经由第一介面电路耦接至待测装置并经由第二介面电路耦接至运算电路。电源转用电路用以经由第一介面电路接收对待测装置执行测试操作而产生的电源并经由第二介面电路将所述电源提供至运算电路。

Description

电源转用电路
技术领域
本发明涉及一种电源转用电路，尤其涉及一种测试电源转用电路。
背景技术
在某些电子装置的生产与测试过程中会产生多余的电力，而这些多余的电力往往会被以各种无意义的形式消耗掉。例如，在电源供应器的测试过程中，经由测试程序而产生的电力会通过后端的水泥电阻以热能的形式消耗，从而导致能量无谓的浪费。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电源转用电路，可有效提高测试电源的使用效率。
本发明的一实施例提供一种电源转用电路，其包括至少一第一介面电路、至少一第二介面电路及电源传递电路。所述电源传递电路耦接至所述第一介面电路与所述第二介面电路。所述电源传递电路用以经由所述第一介面电路接收对至少一待测装置执行测试操作而产生的电源并经由所述第二介面电路将所述电源提供至至少一运算电路，使得所述运算电路受所述电源驱动而执行运算操作。
在本发明的一实施例中，所述第一介面电路的总数至少为二。
在本发明的一实施例中，经由所述第一介面电路的其中之一所接收的电源符合第一电源规格，经由所述第一介面电路的其中之另一所接收的电源符合第二电源规格，且所述第一电源规格不同于所述第二电源规格。
在本发明的一实施例中，所述电源传递电路包括第一电源传递电路与第二电源传递电路，所述第一电源传递电路提供所述第一介面电路与所述第二介面电路之间的第一电源传递路径，所述第二电源传递电路提供所述第一介面电路与所述第二介面电路之间的第二电源传递路径，且所述第一电源传递路径与所述第二电源传递路径彼此电性独立。
在本发明的一实施例中，所述的电源转用电路还包括测试通讯介面。所述测试通讯介面耦接至所述第一介面电路。所述测试通讯介面用以监控所述待测装置的测试状态。
在本发明的一实施例中，所述的电源转用电路还包括开关电路。所述开关电路耦接至所述电源传递电路。所述开关电路用以控制所述第一介面电路与所述第二介面电路之间的电源传递路径的导通状态。
在本发明的一实施例中，所述待测装置包括电源供应器。
在本发明的一实施例中，所述电源转用电路不设置用于热消耗所述电源的一电子负载元件。
与现有技术相比，本发明在对待测装置执行测试操作后，经由测试操作产生的电源(亦称为测试电源)可被转用于驱动运算电路进行运算操作。由此，可有效提高测试电源的使用效率。
附图说明
图1是本发明的一实施例的测试电源转用系统的示意图。
图2是本发明的一实施例的电源转用电路的示意图。
图3是本发明的另一实施例的测试电源转用系统的示意图。
【符号说明】
10、30：测试电源转用系统
11(1)、11(2)、31(1)、31(2)：待测装置
12、32：运算电路
13、23：电源转用电路
131、132、331、332：介面电路模组
131(1)、131(2)、132(1)～132(4)、231(1)、231(2)、232(1)～232(4)：介面电路
133、233、2331、2332：电源传递电路
134、334：测试通讯介面
135、335：开关电路
34：载体装置
320：主机板
321(1)～321(4)：图形处理器
322：网络介面卡
323：储存装置
324：屏幕
325：键盘
具体实施方式
为了详细说明本发明的技术内容、构造特征，以下结合实施方式并配合附图作进一步说明。
图1是本发明的一实施例的测试电源转用系统的示意图。请参照图1，测试电源转用系统10包括待测装置(亦称为第一待测装置)11(1)、待测装置(亦称为第二待测装置)11(2)、运算电路12及电源转用电路13。在本实施例中，待测装置11(1)与11(2)皆为电源供应器。在另一实施例中，待测装置11(1)与11(2)的数目可以是更多或更少，本发明不加以限制。
运算电路12用以执行运算操作。运算电路12可为任意类型的具有连网与运算功能的计算机系统。此外，运算电路12的数目也可以是更多或更少，本发明不加以限制。
电源转用电路13包括介面电路模组131与介面电路模组132。介面电路模组131用以将电源转用电路13耦接至待测装置11(1)与11(2)。介面电路模组132用以将电源转用电路13耦接至运算电路12。在本实施例中，介面电路模组131包括介面电路131(1)与131(2)，并且介面电路模组132包括介面电路132(1)～132(4)。在一实施例中，介面电路131(1)与131(2)中的每一者亦称为第一介面电路，且介面电路132(1)～132(4)中的每一者亦称为第二介面电路。第一介面电路与第二介面电路的总数皆可以是更多或更少，本发明不加以限制。
第一介面电路的介面规格可以是符合序列先进附件(Serial AdvancedTechnology Attachment,SATA)标准、高速周边零件连接介面(Peripheral ComponentInterconnect Express,PCI Express)标准或其他类型的介面规格，本发明不加以限制。第二介面电路的介面规格则可以是符合PCI Express标准、通用序列总线(Universal SerialBus,USB)标准或其他类型的介面规格，本发明不加以限制。
在本实施例中，待测装置11(1)与11(2)皆具有交流电转直流电的功能，待测装置11(1)与11(2)的输出功率可相异，例如待测装置11(1)的输出功率为1600瓦特，而待测装置11(2)的输出功率为800瓦特。在对待测装置11(1)与11(2)的至少其中之一执行测试操作的过程中，待测装置11(1)与11(2)中被测试者会输出相应的电源(亦称为测试电源)。例如，所输出的测试电源的电源规格可以是电压为5伏特(Volt)、12伏特或介于某一电压区间，本发明不加以限制。
在本实施例中，待测装置11(1)所输出的电源符合某一电源规格(亦称为第一电源规格)，而待测装置11(2)所输出的电源符合另一电源规格(亦称为第二电源规格)。在一实施例中，第一电源规格相同于第二电源规格。例如，待测装置11(1)与11(2)所输出的电源的电压皆为5伏特。然而，在另一实施例中，第一电源规格可不同于第二电源规格。例如，待测装置11(1)所输出的电源的电压可为5伏特，而待测装置11(2)所输出的电源的电压可为12伏特。
在本实施例中，所执行的测试操作是用于测试待测装置11(1)与11(2)在测试时间范围内输出的电源的电源规格是否符合特定规范。在另一实施例中，此测试操作还可以用于测试待测装置11(1)与11(2)的各式硬件效能，本发明不加以限制。
电源转用电路13用以经由介面电路131接收对待测装置11(1)与11(2)执行测试操作而产生的电源。然后，电源转用电路13可经由介面电路132将此电源提供至运算电路12。运算电路12可受来自介面电路132的电源驱动而执行运算操作。换言之，在对待测装置11(1)与11(2)的至少其中之一执行测试操作的过程中，所产生的测试电源并不会被浪费(例如以热能等形式浪费)，而是会被提供至运算电路12以驱动运算电路12执行运算操作。
在本实施例中，电源转用电路13还包括电源传递电路133。电源传递电路133耦接在介面电路模组131与132之间，以提供至少一电源传递路径。由此，经由前述测试操作而产生的电源可经由电源传递电路133传送至运算电路12。此外，在一实施例中，电源传递电路133还可包括稳压电路及/或分压电路等，以提供稳压、升压及/或降压等功能，本发明不加以限制。
具体而言，当对待测装置11(1)与11(2)执行测试操作时，电源AC可被输入至待测装置11(1)与11(2)，并且待测装置11(1)与11(2)可分别输出电源P1(1)与P1(2)。其中，电源AC为交流电源，而电源P1(1)与P1(2)为直流电源。介面电路131(1)可接收电源P1(1)并将电源P1(1)传送至电源传递电路133。介面电路131(2)可接收电源P1(2)并将电源P1(2)传送至电源传递电路133。然后，电源传递电路133可将接收到的电源传递至介面电路132(1)～132(4)，并且介面电路132(1)～132(4)可将电源P2(1)～P2(4)传送至运算电路12。
图2本发明的一实施例的电源转用电路的示意图。请参照图2，电源转用电路23包括电源传递电路233、介面电路231(1)、231(2)及232(1)～232(4)。其中，介面电路231(1)与231(2)分别相同或相似于图1的介面电路131(1)与131(2)，且介面电路232(1)～232(4)分别相同或相似于图1的介面电路132(1)～132(4)，故在此便不赘述。
在本实施例中，电源传递电路233包括电源传递电路(亦称为第一电源传递电路)2331与电源传递电路(亦称为第二电源传递电路)2332。电源传递电路2331的输入端耦接至介面电路231(1)与231(2)的至少其中之一，且电源传递电路2331的输出端耦接至介面电路232(1)与232(2)，以提供一电源传递路径(亦称为第一电源传递路径)。电源传递电路2332的输入端耦接至介面电路231(1)与231(2)的至少其中之一，且电源传递电路2332的输出端耦接至介面电路232(3)与232(4)，以提供另一电源传递路径(亦称为第二电源传递路径)。第一电源传递路径与第二电源传递路径彼此电性独立。由此，假设经由介面电路231(1)传送的电源的电源规格不同于经由介面电路231(2)传送的电源的电源规格，透过彼此电性独立的不同电源传递路径来传送不同电源规格的电源，这些不同电源规格的电源并不会相互影响。此外，透过减少每一电源传递路径所耦接的第二介面电路的数目，亦可避免来自某一第一介面电路的电源因分散至过多第二介面电路而导致后续对于运算电路的驱动能力不足。
须注意的是，本发明并不限制电源传递电路所提供的电源传递路径的数目以及一个电源传递路径会耦接至几个第一介面电路与几个第二介面电路。例如，在图1的一实施例中，电源传递电路133可以只提供一个电源传递路径，使得此电源传递路径负责传递介面电路模组131与132之间的所有测试电源。或者，在图1的另一实施例中，电源传递电路133可包含两个电源传递路径，其中一个电源传递路径用于在介面电路131(1)与介面电路132(1)～132(3)之间传递测试电源，而另一个电源传递路径则用于在介面电路131(2)与介面电路132(4)之间传递测试电源。
请回到图1，在一实施例中，电源转用电路13还包括测试通讯介面134，测试通讯介面134的介面规格可为电源管理总线(Power Management Bus,PMBus)通讯介面。测试通讯介面134耦接至介面电路模组131并且用以监控待测装置11(1)与11(2)的测试状态。例如，测试通讯介面134可外接至一讯号分析装置(图未示)。外接的讯号分析装置可经由此测试通讯介面134接收测试信息SI。透过分析测试信息SI，外接的讯号分析装置可获得待测装置11(1)及/或11(2)的测试状态。例如，待测装置11(1)的测试状态可反映待测装置11(1)所输出的电源的电压是否稳定及/或是否落于特定电压范围等。或者，在另一实施例中，外接的讯号分析装置亦可经由测试通讯介面134发送控制指令以控制待测装置11(1)及/或11(2)。
在一实施例中，电源转用电路13还包括开关电路135。开关电路135耦接至电源传递电路133。开关电路135用以发送开关讯号SEL以控制待测装置11(1)(及/或待测装置11(2))与运算电路12之间的电源传递路径的导通状态。在一实施例中，开关讯号SEL可同时控制电源传递电路133中所有的电源传递路径的导通状态为切断或导通。或者，在另一实施例中，开关讯号SEL可控制电源传递电路133中一部分电源传递路径的导通状态为切断且控制另一部分的电源传递路径的导通状态为导通，视实务上需求而定。
在图2的一实施例中，电源传递电路233可根据开关讯号SEL控制电源传递电路2331及/或2332所提供的电源传递路径为切断或导通。若电源传递电路2331所提供的电源传递路径(即第一电源传递路径)被切断，则在第一电源传递路径恢复导通之前，来自介面电路231(1)的电源将无法传送至介面电路232(1)与232(2)。或者，若电源传递电路2332所提供的电源传递路径(即第二电源传递路径)被切断，则在第二电源传递路径恢复导通之前，来自介面电路231(2)的电源将无法传送至介面电路232(3)与232(4)。
图3是本发明的另一实施例的测试电源转用系统的示意图。请参照图3，测试电源转用系统30包括待测装置31(1)、待测装置31(2)、运算电路32及载体装置34。介面电路模组331与332设置在载体装置34上并耦接至载体装置34内部的电源转用电路(图未示)。待测装置31(1)与31(2)分别可拆卸地安装在载体装置34上并与介面电路模组331电性连接。运算电路32可电性连接至介面电路模组332。此外，载体装置34上还可设置有测试通讯介面334及/或开关电路335。
须注意的是，待测装置31(1)、待测装置31(2)、介面电路模组331、介面电路模组332、测试通讯介面334及开关电路335分别相同或相似于图1的待测装置11(1)、待测装置11(2)、介面电路模组131、介面电路模组132、测试通讯介面134及开关电路135，故在此便不赘述。
当对待测装置31(1)与31(2)的至少其中之一进行测试操作时，所产生的电源(即测试电源)可经由介面电路模组331(与内部的电源转用电路)传送至介面电路模组332。运算电路32可经由介面电路模组332接收测试电源作为驱动电源以执行运算操作。
在本实施例中，运算电路32包括电源介面电路、运算芯片及网络介面电路。在本实施例中，运算芯片是以图形处理器(graphics processing unit,GPU)321(1)～321(4)作为范例，而电源介面电路则配置于图形处理器321(1)～321(4)上。网络介面电路则是以网络介面卡322作为范例，以提供连网功能。此外，电源介面电路、运算芯片及网络介面电路皆可耦接至主机板320。
在本实施例中，图形处理器321(1)～321(4)可经由电源介面电路电性连接至介面电路模组332，以从介面电路模组332接收测试电源。所接收的测试电源可用于驱动图形处理器321(1)～321(4)执行运算操作。经由运算操作产生的运算结果可经由网络介面卡322有线或无线地传送至网络(例如网际网络)。
须注意的是，在另一实施例中，运算电路32中的电源介面电路、运算芯片及网络介面电路皆可以是以其他类型的装置实现，而非限于前述实施例提及的装置。例如，在一实施例中，电源介面电路可独立设置于主机板320上，且运算芯片亦可以是以中央处理器、或是其他可程序化的一般用途或特殊用途的微处理器(Microprocessor)、数位讯号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、控制器、特殊应用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit,ASIC)、可程序化逻辑装置(Programmable Logic Device,PLD)等装置来实现。
在一实施例中，运算电路32还可包括储存装置323。储存装置323耦接至主机板320并可用于储存运算芯片(例如图形处理器321(1)～321(4))在执行运算操作时使用的资料。例如，储存装置323可包括挥发性储存介质或非挥发性储存介质。挥发性储存介质可例如是随机存取存储器。非挥发性储存介质可例如是固态硬盘(Solid State Disk,SSD)或传统硬盘。此外，在一实施例中，运算电路32还可包括屏幕324与键盘325等输入/输出装置。例如，屏幕324与键盘325可耦接至主机板320以提供输入讯号或用于输出讯号。
须注意的是，在前述实施例中，经由对待测装置执行测试操作而产生的测试电源会被用于驱动运算电路。因此，图1的电源转用电路13(或测试电源转用系统10)、图2的电源转用电路23及图3的载体装置34(或测试电源转用系统30)皆可不设置用于热消耗所述测试电源的电子负载元件(例如水泥电阻)，从而提高测试电源的再利用率。
综上所述，本发明在对待测装置执行测试操作后，经由测试操作产生的测试电源可被转用于驱动运算电路进行运算操作。由此，相对于传统上以热的形式来消耗测试电源，本发明可有效提高测试电源的使用效率。
以上所揭露的仅为本发明的较佳实例而已，不能以此来限定本发明的权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，均属于本发明所涵盖的范围。

Claims (8)

1.一种电源转用电路，其特征在于，包括：
至少一第一介面电路；
至少一第二介面电路；以及
一电源传递电路，所述电源传递电路耦接至所述至少一第一介面电路与所述至少一第二介面电路，
所述电源传递电路用以经由所述至少一第一介面电路接收对至少一待测装置执行一测试操作而产生的电源并经由所述至少一第二介面电路将所述电源提供至至少一运算电路，使得所述至少一运算电路受所述电源驱动而执行一运算操作。
2.如权利要求1所述的电源转用电路，其特征在于，所述至少一第一介面电路的总数至少为二。
3.如权利要求2所述的电源转用电路，其特征在于，经由所述至少一第一介面电路的其中之一所接收的电源符合一第一电源规格，经由所述至少一第一介面电路的其中之另一所接收的电源符合一第二电源规格，且所述第一电源规格不同于所述第二电源规格。
4.如权利要求1所述的电源转用电路，其特征在于，所述电源传递电路包括一第一电源传递电路与一第二电源传递电路，所述第一电源传递电路提供所述至少一第一介面电路与所述至少一第二介面电路之间的一第一电源传递路径，所述第二电源传递电路提供所述至少一第一介面电路与所述至少一第二介面电路之间的一第二电源传递路径，且所述第一电源传递路径与所述第二电源传递路径彼此电性独立。
5.如权利要求1所述的电源转用电路，其特征在于，还包括：
一测试通讯介面，所述测试通讯介面耦接至所述至少一第一介面电路，
所述测试通讯介面用以监控所述至少一待测装置的一测试状态。
6.如权利要求1所述的电源转用电路，其特征在于，还包括：
一开关电路，所述开关电路耦接至所述电源传递电路，
所述开关电路用以控制所述至少一第一介面电路与所述至少一第二介面电路之间的一电源传递路径的一导通状态。
7.如权利要求1所述的电源转用电路，其特征在于，所述至少一待测装置包括一电源供应器。
8.如权利要求1所述的电源转用电路，其特征在于，所述电源转用电路不设置用于热消耗所述电源的一电子负载元件。
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