CN110031467A - 导电粒子检测光学模组 - Google Patents

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蔡章华
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Xiamen Karl Automation Equipment Co Ltd
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications

Abstract

本发明公开了一种导电粒子检测光学模组，包括蓝色LED光源、光源偏光起偏镜、偏光检偏镜、线扫相机、高度调整滑台、DIC微分干涉插片、激光测距仪和显微物镜，线扫相机通过光学连通导件挂设在高度调节滑台下方，光源偏光起偏镜连接设置在光学连通导件一侧，偏光检偏镜位于光源偏光起偏镜下方，DIC微分干涉插片插设在光学连通导件上部，激光测距仪与高度调节滑台信号连通；测距仪及高度调节滑台配合自动快速对焦，操作简单速度快，多个光路元件及线扫相机配合进行采集便于后续分析，无需肉眼观察判断检测，对眼睛无伤害健康隐患小，检测效率高，劳动强度小，人工成本低，检测准确率高，不易出现误检错检，无需频繁返工再检，满足大批量检测需求。

Description

导电粒子检测光学模组
技术领域
本发明属于检测领域，特别涉及一种用于导电粒子的检测光学模组。
背景技术
显示屏内柔性电路板与玻璃之间是否导通是非常关键的，因此在生产过程中需要进行导通检测，而柔性电路板与玻璃之间是否导通主要是看两者的导电粒子数量及强度，数量就是看导电粒子有多少，而强度是通过看导电粒子的凹凸感及立体感来判断的，就现有的导电粒子检测来说，都是通过人工手动操作肉眼观察显微镜进行的，人工手动操作肉眼观察方式是可以满足一定检测需求的，但是也存在较大缺陷，人工操作对焦操作麻烦，对焦速度慢，检测效率低，肉眼观察对眼睛伤害大存在健康隐患，劳动强度大，人工成本高，检测的准确率低，易出现错检误检，需频繁返工再检，无法满足大批量产品检测需求。
本发明要解决的技术问题是提供一种无需人工手动操作对焦无需肉眼观察判断、操作简单对焦速度快、检测效率高、对眼睛无伤害健康隐患小、劳动强度小。人工成本低、检测准确率高、不易出现错检误检、无需频繁返工再检、可满足大批量检测需求的导电粒子检测光学模组。
发明内容
为解决上述现有技术手工手动操作对焦麻烦速度慢、检测效率低、劳动强度大、人工成本高、肉眼观察对眼睛伤害大存在健康隐患、检测准确率低、易出现误检错检、需频繁返工再检、无法满足大批量检测需求等问题，本发明采用如下技术方案：
本发明提供一种导电粒子检测光学模组，包括蓝色LED光源、光源偏光起偏镜、偏光检偏镜、线扫相机、带伺服马达的高度调整滑台、90°垂直放置的DIC微分干涉插片、激光测距仪和显微物镜，所述线扫相机通过光学连通导件挂设在高度调节滑台下方，所述光源偏光起偏镜连接设置在光学连通导件一侧，所述蓝色LED光源设置在光源偏光起偏镜外侧末端处，所述偏光检偏镜通过连接片设置在光线连接导件一侧且位于光源偏光起偏镜下方，所述DIC微分干涉插片插设在光学连通导件上部且正对着光源偏光起偏镜，所述激光测距仪设置在高度调节滑台上部且两者信号连通，所述显微物镜通过放置台面设置在光学连通导件顶部上方。
本发明的有益效果在于：测距仪及高度调节滑台配合自动快速对焦，操作简单速度快，多个光路元件及线扫相机配合进行采集便于后续分析，无需肉眼观察判断检测，对眼睛无伤害健康隐患小，检测效率高，劳动强度小，人工成本低，检测准确率高，不易出现误检错检，无需频繁返工再检，满足大批量检测需求。
附图说明
图1为本发明一种实施例的立体结构示意图。
图2为本发明的主视结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本发明的优选实施例。
请参阅图1、图2，一种导电粒子检测光学模组，包括蓝色LED光源1、光源偏光起偏镜2、偏光检偏镜3、线扫相机4、带伺服马达的高度调整滑台5、90°垂直放置的DIC微分干涉插片6、激光测距仪7和显微物镜8，所述线扫相机4通过光学连通导件41挂设在高度调节滑台5下方，所述光源偏光起偏镜2连接设置在光学连通导件41一侧，所述蓝色LED光源1设置在光源偏光起偏镜2外侧末端处，所述偏光检偏镜3通过连接片31设置在光线连接导件41一侧且位于光源偏光起偏镜2下方，所述DIC微分干涉插片6插设在光学连通导件41上部且正对着光源偏光起偏镜2，所述激光测距仪7设置在高度调节滑台5上部且两者信号连通，所述显微物镜8通过放置台面81设置在光学连通导件41顶部上方。
操作时，预先把整个光学模组放置到直线电机上，光学模组可在直线电机上水平运动，待检测的产品水平排列在光学模组前方，当检测完一个后可以继续检测下一个产品，不间断连续检测，大大提高检测效率；
在具体检测时，通过激光测距仪进行测量产品与光学模组之间的距离，测出的距离发送给高度调节滑台，高度调节滑台在伺服马达驱动下进行自动调整完成对焦，这样就大大提高了对焦速度，也无需人工手动对焦，对焦完成后光学模组保持不动，蓝色LED光源发光，发出的光依次通过光源偏光起偏镜、DIC微分干涉插片、显微物镜打到产品上，产品的光信号再通过显微物镜、DIC微分干涉插片、偏光检偏镜到线扫相机，线扫相机把光信号转换成图片信号并发送给后台电脑进行分析检测处理，这样就完成了一个产品的导电粒子检测了。
检测完一个产品后，光学模组在直线电机驱动下移动到下一个待检测产品并重复上述对焦、光路传导、信号转换、后续检测处理等，以此重复检测完所有产品，在此不一一赘述。
这种采用光信号变换成图片信号及整个光路实现导电粒子检测目前是没有人采用的，是一个具有突破性技术，可以彻底改变并替换现有肉眼观察判断检测。
本发明的有益效果在于：测距仪及高度调节滑台配合自动快速对焦，操作简单速度快，多个光路元件及线扫相机配合进行采集便于后续分析，无需肉眼观察判断检测，对眼睛无伤害健康隐患小，检测效率高，劳动强度小，人工成本低，检测准确率高，不易出现误检错检，无需频繁返工再检，满足大批量检测需求。
上述实施例和图式并非限定本发明的产品形态和式样，任何所属技术领域的普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，皆应视为不脱离本发明的专利范畴。

Claims (1)

1.一种导电粒子检测光学模组，其特征在于：包括蓝色LED光源(1)、光源偏光起偏镜(2)、偏光检偏镜(3)、线扫相机(4)、带伺服马达的高度调整滑台(5)、90°垂直放置的DIC微分干涉插片(6)、激光测距仪(7)和显微物镜(8)，所述线扫相机(4)通过光学连通导件(41)挂设在高度调节滑台(5)下方，所述光源偏光起偏镜(2)连接设置在光学连通导件(41)一侧，所述蓝色LED光源(1)设置在光源偏光起偏镜(2)外侧末端处，所述偏光检偏镜(3)通过连接片(31)设置在光线连接导件(41)一侧且位于光源偏光起偏镜(2)下方，所述DIC微分干涉插片(6)插设在光学连通导件(41)上部且正对着光源偏光起偏镜(2)，所述激光测距仪(7)设置在高度调节滑台(5)上部且两者信号连通，所述显微物镜(8)通过放置台面(81)设置在光学连通导件(41)顶部上方。
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