CN101464417A

CN101464417A - 玻璃检测方法及其设备

Info

Publication number: CN101464417A
Application number: CNA2007103001896A
Authority: CN
Inventors: 张勋章; 王正宇
Original assignee: Contrel Semiconductor Technology Co Ltd
Current assignee: Contrel Semiconductor Technology Co Ltd
Priority date: 2007-12-19
Filing date: 2007-12-19
Publication date: 2009-06-24

Abstract

本发明一种玻璃检测方法，首先放置一玻璃基板，使玻璃基板边缘对准一取像器，然后将一第一光源自玻璃基板的上方朝玻璃基板发出光线，以及一第二光源自玻璃基板的下方朝玻璃基板发出光线，接着移动玻璃基板或取像器，使取像器撷取玻璃基板的边缘影像，最后判断取像器所取得的影像。而玻璃检测设备包含有设于基座的取像器，一承载台可移动地设于取像器的下方，第一光源设于取像器与承载台之间，用以朝承载台发出光线，第二光源设于承载台的下方，用以朝承载台发出光线。通过此，应用本发明所提供的检测方法与设备，即可达成同时检测上、下玻璃基板的边缘，提高检测速度与质量等目的。

Description

玻璃检测方法及其设备

技术领域

本发明涉及检测玻璃基板，特别是指一种可同时检测上、下玻璃基板的方法与设备。

背景技术

液晶面板主要是由二片导电玻璃之间设有液晶材料所组成，在导电玻璃的制造过程中，通常是先制造出一片面积较大的玻璃基板，然后再将大面积的玻璃基板切割成数片小面积玻璃基板，使切割后的各玻璃基板可对应于液晶面板的尺寸，以便于使用在后续的液晶面板制程。

但是，在上述小面积玻璃基板切割完成之后，必须以检查人员目视观察基板的边缘是否具有缺角或是其它瑕疵，而检查人员在检视的过程中，也必须先针对玻璃的一侧表面进行观察后，再将玻璃翻至另一面，才能继续进行检视，使得检视玻璃基板的过程较长，检测程序也较为复杂与麻烦。另外，若是玻璃基板具有细微的结构瑕疵时，以人工目视的方式也不易发现，影响整体检测质量。

发明内容

因此，本发明的主要目的是提供一种玻璃检测方法，其可同时检测上、下玻璃的边缘，提高检测速度与质量。

本发明的另一目的则在于提供一种玻璃检测设备，其可同时进行上、下玻璃的检测工作。

为达成前揭目的，本发明所提供的玻璃检测方法，包含有：

一、先放置一玻璃基板，使该玻璃基板的边缘对准一取像器；

二、使一第一光源自该玻璃基板的上方朝该玻璃基板发出光线，并使一第二光源自该玻璃基板的下方朝该玻璃基板发出光线；

三、移动该玻璃基板或该取像器，使该取像器撷取该玻璃基板的边缘影像；以及

四、判断该取像器所取得的影像。

而应用该玻璃检测方法的设备则包含有：一基座；一设于该基座的取像器；一承载台可移动地设于该取像器的下方；一第一光源设于该取像器与该承载台之间，用以朝该承载台发出光线；以及一第二光源设于该承载台的下方，用以朝该承载台发出光线。通过此，应用本发明所提供的检测方法与设备，即可达成同时检测上、下玻璃基板的边缘，提高检测速度与质量等目的。

附图说明

图1是本发明一较佳实施例的示意图，主要显示检测设备的状态；

图2是本发明一较佳实施例的示意图，主要显示检测一平整玻璃基板的状态；

图3是本发明一较佳实施例的示意图，主要显示检测玻璃基板的上表面具有缺角的状态；

图4是本发明一较佳实施例的示意图，主要显示检测玻璃基板的下表面具有缺角的状态；

图5是本发明一较佳实施例的检测演算流程图。

【主要组件符号说明】

10 玻璃检测设备 20 基座

30 取像器 32 镜头

40 承载台 60 第一光源

62 光线 70 第二光源

72 光线 80 玻璃基板

82 缺角 84 缺角

具体实施方式

以下，兹配合图式列举一较佳实施例，用以说明本发明的详细结构与功效。

请参阅图1所示，为本发明一较佳实施例所提供的玻璃检测设备10，其包含一基座20、一取像器30、一承载台40、一第一光源60，以及一第二光源70。

取像器30为线扫描式感光耦合组件Charge Coupled Device，CCD，取像器30设于基座20的顶侧。承载台40可移动地设于取像器30下方。第一光源60设于基座20，且位于取像器30的丨镜头32与承载台40之间，第一光源60为同轴光源，亦即第一光源60为中空环状灯管，第一光源60可自承载台40上方朝承载台40方向发出光线。第二光源70设于基座20，且位于承载台40下方。第二光源70为穿透光，第二光源70可自承载台40下方朝承载台40方向发出光线。

当欲应用本发明所提供的玻璃检测设备10检测一玻璃基板80，主要是依照下列方法进行检测：

1.将玻璃基板80放置于承载台40，使玻璃基板80边缘对准取像器30的镜头32下方。

2.使第一光源60与第二光源70产生出光线，第一光源60向下朝玻璃基板80发出光线，第二光源70则向上朝玻璃基板80发出光线。第一光源60所投射出的光线在接触到玻璃基板80后随即反射，进而再穿过第一光源60中央成像于取像器30，第二光源70所投射出的光线则会穿过玻璃基板80与第一光源60中央而也成像于取像器30。

3.通过由承载台40移动玻璃基板80，取像器30即可撷取到第一光源60与第二光源70投射于基板80边缘的光线，亦即使取像器30取得玻璃基板80边缘的影像。

4.当取像器30取得玻璃基板80的数字影像之后，利用一数据处理装置以如图5所示的演算流程分析取像器30取得的影像数据，用以判断出玻璃基板80边缘的结构特性。

通过由玻璃检测设备10与上述检测方法检测玻璃基板80时，如图2所示意的状态，第一光源60发出的光线62是直接朝玻璃基板80投射，光线62接触到基板80的上表面之后会反射而穿经第一光源60中央，然后再进入取像器30的镜头32内。第二光源70所发出的光线72则可穿过基板80与第一光源60中央，也进入取像器30的镜头32内。若是基板80的上、下表面都呈平整状，由于经过玻璃基板80反射的第一光源60的光线62与穿透过基板80的第二光源70的光线72皆完整地成像于取像器30，使取像器30撷取到的影像数据为基板80的上下表面皆呈平整状的成像资料。

如图3所示，若是基板80的上表面边缘具有一缺角82，第一光源60朝玻璃基板80射出的部分光线在接触到缺角82表面之后会反射而呈散射光，第二光源70朝玻璃基板80射出的部分光线穿经基板80的缺角82后亦呈散射光。由于第一光源60与第二光源70投射于缺角82位置的光线都成为散射光，进而无法成像于取像器30，取像器30在取得影像数据之后，通过由如图5所示的影像数据演算流程，先将瑕疵影像抽出之后，再分析瑕疵影像的特征值，然后将瑕疵影像进行分类，数据处理装置即可辨别第一光源60的部分成像资料与第二光源70的部份成像资料，进而判断出玻璃基板80于上表面具有缺角82。

再如图4所示，若是基板80的下表面边缘具有缺角84时，第一光源60投射于基板80的光线可不受影响地反射进入取像器30，但第二光源70投射于基板80的部分光线，则会在接触到缺角84表面之后呈散射光而无法成像于取像器30，使得取像器30撷取到的影像数据只有第一光源60的完整成像影像与部份第二光源70的成像数据，进而即可辨别出缺角84出现于基板80的下表面。

经由本发明所提供的检测方法与设备，当基板80的缺角84的存在位置不同时，第一光源60与第二光源70成像于取像器30的影像数据即会随的改变，再搭配影像数据的处理与判断，即可同时检测基板80的上表面或是下表面。另外，利用不同成像状态产生不同的影像数据，可以进而辨别出基板80具有缺角、裂痕、或者是破损等问题，即便裂痕或是缺角非常细微也能检查出来。而应用本发明的方法与设备，可以在短时间内检测不同尺寸的LCD或是玻璃基板，而且应用简单的检测程序与时间就可完成检测。

通过此，本发明即达成同时检测上、下玻璃的边缘，提高检测速度与质量等目的。

Claims

1.一种玻璃检测方法，其特征在于包含有：

a.放置一玻璃基板，使该玻璃基板的边缘对准一取像器；

b.使一第一光源自该玻璃基板的上方朝该玻璃基板发出光线，并使一第二光源自该玻璃基板的下方朝该玻璃基板发出光线；

c.移动该玻璃基板或该取像器，使该取像器撷取该玻璃基板的边缘影像；以及

d.判断该取像器所取得的影像。

2.依据权利要求1所述的玻璃检测方法，其特征在于，该步骤d是先将瑕疵影像抽出之后，再分析该瑕疵影像的特征值，然后将该瑕疵影像进行分类。

3.一种玻璃检测设备，其特征在于包含有：

一基座；

一取像器，设于该基座；

一承载台，可移动地设于该取像器的下方；

一第一光源，设于该取像器与该承载台之间，用以朝该承载台发出光线；以及

一第二光源，设于该承载台的下方，用以朝该承载台发出光线。

4.依据权利要求3所述的玻璃检测设备，其特征在于，该第一光源为由环状灯管所发出的同轴光源。

5.依据权利要求3所述的玻璃检测设备，其特征在于，该第二光源为点光源所发出的穿透光。

6.依据权利要求3所述的玻璃检测设备，其特征在于，该取像器具有一镜头，该第一光源及该第二光源发出的光线成像于该镜头。