CN110018077A - 一种双玻组件抗温度冲击测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及双玻光伏组件技术领域，具体公开一种双玻组件抗温度冲击测试方法。所述方法包括如下步骤：对双玻组件样品进行外观检查、EL测试及功率测试；向所述双玻组件样品中通入电流对样品进行加热处理后，进行骤冷处理；对处理后的双玻组件样品进行外观检查、EL测试及功率测试，并与处理前双玻组件样品的测试结果进行对比。本发明提供的双玻组件抗温度冲击测试方法，操作简单，时间短，成本低，测试结果更加准确可靠。
Description
技术领域
本发明涉及光伏组件技术领域，尤其涉及一种双玻组件抗温度冲击测试方法。
背景技术
近几年，能源问题越来越严重，全世界开始了对新能源的开发和利用。太阳能作为一种新型的绿色可再生能源，具有储量大、寿命长、无污染的优点，而成为最具前途的一种新能源。将太阳能应用于发电更是成为人们普遍关注的焦点，光能是一种高品位能量，利用、传输和分配都比较方便。将太阳能转换为电能是大规模利用太阳能的重要技术基础，其中，光伏组件是光伏发电系统中的核心部分，也是光伏发电系统中价值最高的部分。光伏组件的作用是将太阳能转化为电能，或送往蓄电池中存储起来，或推动负载工作。
双玻组件包括正背面玻璃、正面封装胶膜、背面封装胶膜及用封装胶膜固定在前后玻璃之间的电池串组。由于玻璃和电池片等材料在温度极具变化的环境储存、运输、使用时其抗温度冲击的性能决定双玻光伏组件的性能，所以，地理位置的差异(如高纬度、高海拔或是沙漠地区)，温度的昼夜变化成为影响光伏组件应用的主要因素之一。
现有对双波组件的性能测试多采用环境试验箱进行，需要购买大型步入式高低温试验箱，设备外围配套的水、电、气要求较高，设备占地面积大，资金投入多，运行成本高，试验周期长、不灵活，试验结果精准度低、可靠性差，不利于满足研发及工艺监控的随机性。
发明内容
针对现有双波组件的性能测试多采用环境试验箱进行，导致成本高，试验周期长、不灵活，试验结果精准度低、可靠性差的问题，本发明提供一种双玻组件抗温度冲击测试方法。
为达到上述发明目的，本发明实施例采用了如下的技术方案：
一种双玻组件抗温度冲击测试方法，包括如下步骤：
(1)对双玻组件样品进行外观检查、EL测试及功率测试；
(2)向所述双玻组件样品中通入电流对样品进行加热处理后，进行骤冷处理，使样品温度降低60-80℃；
(3)对处理后的双玻组件样品进行外观检查、EL测试及功率测试，并与处理前双玻组件样品的测试结果进行对比。
具体地，EL(Electroluminescent)测试，即电致发光测试，是太阳能电池或电池组件的内部缺陷检测，用于检测组件的内部缺陷、隐裂、碎片、虚焊、断栅等异常现象。
进一步地，所述电流为组件工作电流的1-2.5倍，采用工作电流进行加热，使双玻组件样品温度达到60-80℃，更接近双玻组件工作的实际状况，测试结果更加准确可靠。
进一步地，所述组件工作电流为组件工作最佳电流(工作最大电流，Imp)。
进一步地，所述组件工作最佳电流为8.0-8.5A。
进一步地，所述加热处理时间25-35min。
进一步地，所述骤冷处理的方法为：将所述双玻组件样品浸入冰水混合物中，冷却处理5-10min，双玻组件样品温度与冰水混合物温度一致后取出，使样品温度降低60-80℃，便于测试组件在冰雪恶劣天气下的抗温度冲击性能。
进一步地，将所述双玻组件样品的1/2-2/3浸入冰水混合物中，便于形成对比，可以更直观的进行外观检查，观测外观是否有破碎现象。
进一步地，步骤(2)中，所述双玻组件样品表面固定有温度传感器，用于监控组件温度。
进一步地，还包括步骤(4)：重复步骤(2)、(3)，反复对双玻组件样品进行加热-骤冷处理和外观检查、EL测试及功率测试，将双玻组件样品迅速交替地暴露于超高温和超低温的试验环境中，在较短的时间内确认样品性能的变化以及由于组件的异种材料热膨胀系数不同而造成的故障问题。
相对于现有技术，本发明提供的双玻组件抗温度冲击测试方法，不需要采购大型试验设备，占地面积小，大大降低资金投入，有效的降低测试试验成本。该方法操作简单，组件升温速度快且温度均匀，测试试验周期短且灵活，测试循环次数容易控制，利于满足研发及工艺监控的随机性。此外，该方法采用电流对组件进行加热，能准确的反应不同电流值对组件性能的影响，更接近组件工作的实际状况，测试结果更加准确可靠，可以实现在较短时间内以较低的检测成本完成对双玻组件抗温度冲击性能的验证，对双玻组件的性能的提升有极大的帮助。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
实施例1
一种双玻组件抗温度冲击测试方法，包括如下步骤：
(1)对双玻组件样品在标准测试条件下进行外观检查、EL测试及功率测试，记录测试结果；
(2)将热点偶用导热胶固定在双玻组件表面，连接温度传感器进行温度监测，将双玻组件固定在试验支架上，将直流稳压稳流电源的正极、负极分别对应接到双玻组件的正极、负极，给双玻组件通入1倍的组件工作最佳电流(8.5A)，对组件进行加热35min，断开电源，将具有一定温度的双玻组件的2/3浸入冰水混合物中5min，当组件温度与冰水混合物温度一致后取出；
(3)对处理后的双玻组件样品在标准测试条件下进行外观检查、EL测试及功率测试，并与步骤(1)中处理前双玻组件样品的测试结果进行对比，确认样品性能的变化。
实施例2
一种双玻组件抗温度冲击测试方法，包括如下步骤：
(1)对双玻组件样品在标准测试条件下进行外观检查、EL测试及功率测试，记录测试结果；
(2)将热点偶用导热胶固定在双玻组件表面，连接温度传感器进行温度监测，将双玻组件固定在试验支架上，将直流稳压稳流电源的正极、负极分别对应接到双玻组件的正极、负极，给双玻组件通入1.3倍的组件工作最佳电流(10.4A)，对组件进行加热30min，断开电源，将具有一定温度的双玻组件的1/2浸入冰水混合物中8min，当组件温度与冰水混合物温度一致后取出；
(3)对处理后的双玻组件样品在标准测试条件下进行外观检查、EL测试及功率测试，并与步骤(1)中处理前双玻组件样品的测试结果进行对比，确认样品性能的变化。
实施例3
一种双玻组件抗温度冲击测试方法，包括如下步骤：
(1)对双玻组件样品在标准测试条件下进行外观检查、EL测试及功率测试，记录测试结果；
(2)将热点偶用导热胶固定在双玻组件表面，连接温度传感器进行温度监测，将双玻组件固定在试验支架上，将直流稳压稳流电源的正极、负极分别对应接到双玻组件的正极、负极，给双玻组件通入2.5倍的组件工作最佳电流(20.4A)，对组件进行加热25min，断开电源，将具有一定温度的双玻组件的2/3浸入冰水混合物中10min，当组件温度与冰水混合物温度一致后取出；
(3)对处理后的双玻组件样品在标准测试条件下进行外观检查、EL测试及功率测试，并与步骤(1)中处理前双玻组件样品的测试结果进行对比，确认样品性能的变化。
实施例4
一种双玻组件抗温度冲击测试方法，包括如下步骤：
(1)对双玻组件样品在标准测试条件下进行外观检查、EL测试及功率测试，记录测试结果；
(2)将热点偶用导热胶固定在双玻组件表面，连接温度传感器进行温度监测，将双玻组件固定在试验支架上，将直流稳压稳流电源的正极、负极分别对应接到双玻组件的正极、负极，给双玻组件通入1倍的组件工作最佳电流(8.29A)，对组件进行加热35min，断开电源，将具有一定温度的双玻组件的2/3浸入冰水混合物中10min，当组件温度与冰水混合物温度一致后取出；
(3)对处理后的双玻组件样品在标准测试条件下进行外观检查、EL测试及功率测试，并与步骤(1)中处理前双玻组件样品的测试结果进行对比。
(4)重复步骤(2)、(3)，将处理前双玻组件样品的测试结果进行对比，确认样品性能的变化以及由于组件的异种材料热膨胀系数不同而造成的故障问题。
本发明实施例提供的双玻组件抗温度冲击测试方法，操作简单，时间短，温度、循环次数容易控制，以工作电流进行加热，更接近组件工作的实际状况，测试结果更加准确可靠，在较短时间内完成对双玻成品组件抗温度冲击性能的验证，确认样品迅速交替地暴露于超高温和超低温的试验环境中性能的变化情况。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换或改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
(1)对双玻组件样品进行外观检查、EL测试及功率测试；
(2)向所述双玻组件样品中通入电流对样品进行加热处理后，进行骤冷处理，使样品温度降低60-80℃；
(3)对处理后的双玻组件样品进行外观检查、EL测试及功率测试，并与处理前双玻组件样品的测试结果进行对比。
2.如权利要求1所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：所述电流为组件工作电流的1-2.5倍。
3.如权利要求2所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：所述组件工作电流为组件工作最佳电流。
4.如权利要求3所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：所述组件工作最佳电流为8.0-8.5A。
5.如权利要求1所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：所述加热处理时间25-35min。
6.如权利要求1所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：所述骤冷处理的方法为：将所述双玻组件样品浸入冰水混合物中，冷却处理5-10min。
7.如权利要求6所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：将所述双玻组件样品的1/2-2/3浸入冰水混合物中。
8.如权利要求1所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：步骤(2)中，所述双玻组件样品表面固定有温度传感器，用于监控组件温度。
9.如权利要求1所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于，还包括步骤(4)：重复步骤(2)、(3)，反复对双玻组件样品进行加热-骤冷处理和外观检查、EL测试及功率测试。
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