CN109901040A - 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法 - Google Patents

一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109901040A
CN109901040A CN201910278973.4A CN201910278973A CN109901040A CN 109901040 A CN109901040 A CN 109901040A CN 201910278973 A CN201910278973 A CN 201910278973A CN 109901040 A CN109901040 A CN 109901040A
Authority
CN
China
Prior art keywords
current
diode
reverse recovery
thyristor
recovery current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910278973.4A
Other languages
English (en)
Inventor
庞磊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xian Jiaotong University
Original Assignee
Xian Jiaotong University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xian Jiaotong University filed Critical Xian Jiaotong University
Priority to CN201910278973.4A priority Critical patent/CN109901040A/zh
Publication of CN109901040A publication Critical patent/CN109901040A/zh
Priority to CN201911169823.6A priority patent/CN110907790B/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/263Circuits therefor for testing thyristors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/146Measuring arrangements for current not covered by other subgroups of G01R15/14, e.g. using current dividers, shunts, or measuring a voltage drop
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0092Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring current only

Abstract

本公开揭示了一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统,包括:高精度高压直流电源DC、充电电阻r、电容C、电感L、晶闸管、晶闸管触发模块、二极管D、精密电阻R和示波器。本公开还揭示了一种对反向恢复电流进行测试的方法。本公开通过将正向高幅值电流和晶闸管关断产生的低幅值反向恢复电流进行分流,从而能够较好的解决反向恢复电流易受外界干扰的问题。

Description

一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法
技术领域
本公开属于高压直流输电及大功率半导体特性测试领域,具体涉及一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法。
背景技术
高压直流输电凭借在远距离大容量输电以及非同步联网等方面的技术优势,在我国得到了快速发展。目前,直流输电换流阀仍以晶闸管阀为主,其中,晶闸管的反向恢复特性对换流阀的设计、运行及检测具有重要影响。因此,反向恢复特性的测试是晶闸管运维技术研究中的重要环节。
对于超、特高压直流输电换流阀用晶闸管,其具有高压、大容量的特点,在匹配额定通态电流测试条件下,电流波形具有正向幅值高(几百至千安培),而反向幅值低(仅几安培)的特点。现有测量方法为满足流经正向大电流的要求,通常选用阻值很低(毫欧等级)的电阻分流器对晶闸管的反向恢复电流进行测量,从而使得反向恢复电流的测量绝对值很小,易受到纹波和外界因素的干扰,难以分辨晶闸管之间的差异以及同一晶闸管服役期间的特性变化。因此,为准确提取晶闸管服役期内反向恢复电流特征的变化规律,就需要解决好高压大容量晶闸管反向恢复电流的测量问题。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本公开的目的在于提供一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法,通过将正向高幅值电流与低幅值反向恢复电流分开,能够较好的解决反向恢复电流易受外界干扰的问题。
一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统,包括:高精度高压直流电源DC、充电电阻r、电容C、电感L、晶闸管、晶闸管触发模块、二极管D、精密电阻R和示波器;其中,
所述电容C和所述电感L构成LC振荡电路,用于产生大小和方向周期性变化的振荡电流;
所述高精度高压直流电源DC经所述充电电阻r并联在所述LC振荡电路中电容C的两端,用于为所述电容C充电;
所述晶闸管串联在所述LC振荡电路中,所述晶闸管门极和阴极与所述晶闸管触发模块串联;
所述二极管D和精密电阻R并联构成电流分流器并通过所述晶闸管串入所述LC振荡电路,用于对所述LC振荡电路振荡产生的高幅值正向电流和晶闸管产生的低幅值反向恢复电流进行分流;
所述示波器与由所述二极管D和精密电阻R并联构成的电流分流器通过同轴电缆相连,用于对分流后的低幅值反向恢复电流进行测试。
优选的,所述LC振荡电路振荡产生的高幅值正向电流和所述晶闸管产生的低幅值反向恢复电流分别由所述二极管D和精密电阻R导通。
优选的,所述二极管D为超快恢复二极管。
优选的,所述晶闸管置于温控系统中。
优选的,所述电流分流器中的二极管D和精密电阻R的数量根据电流流通情况调整配置。
优选的,所述电流分流器由含有相变材料的散热装置进行封装。
优选的,所述相变材料采用MgSO4·7H2O与KAl(SO4)2·12H2O按照3∶1的比例复合而成。
优选的,所述电流分流器外接有示波器,用于对所述低幅值反向恢复电流进行测量。
本公开还提供一种对反向恢复电流进行测试的方法,包括:
步骤1:LC振荡电路产生的正向高幅值电流经晶闸管流入二极管并实现由二极管和精密电阻并联构成的电流分流器两端的电压钳位;
步骤2:当LC振荡电路反向振荡时,晶闸管关断并产生反向恢复电流;
步骤3:所述反向恢复电流流过精密电阻并传送至示波器进行测量。
优选的,所述二极管为超快恢复二极管。
与现有技术相比,本公开带来的有益效果为:
1、通过将振荡电路产生的正向高幅值电流和晶闸管关断产生的低幅值反向恢复电流进行分流,能够较好的解决反向恢复电流易受外界干扰的问题;
2、本公开电路结构简单,能够实现系统小型化;
3、通过采用相变材料进行散热,既能够解决超快恢复二极管瞬态过热的问题,又能够控制分流器的体积大小。
附图说明
图1是本公开的一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统结构示意图;
图2是图1所示反向恢复电流测试系统中分流器测量波形图;
图3是图1所示反向恢复电流测试系统中电流分流器的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图1至图3和实施例对本公开的技术方案进行详细说明,应理解,以下说明仅是示例性的,并不构成对本公开所要求保护范围的限定。
如图1所示,一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统,包括:高精度高压直流电源DC、充电电阻r、电容C、电感L、晶闸管、晶闸管触发模块、二极管D和精密电阻R;其中,
所述电容C和所述电感L构成LC振荡电路,用于产生大小和方向周期性变化的振荡电流;
所述高精度高压直流电源DC经所述充电电阻r并联在所述LC振荡电路中电容C的两端,用于为所述电容C充电;
所述晶闸管串联在所述LC振荡电路中,所述晶闸管门极和阴极与所述晶闸管触发模块串联;
所述二极管D和精密电阻R并联构成电流分流器并通过所述晶闸管串入所述LC振荡电路,用于对所述LC振荡电路振荡产生的高幅值正向电流和晶闸管产生的低幅值反向恢复电流进行分流;
所述示波器与由所述二极管D和精密电阻R并联构成的电流分流器通过同轴电缆相连,用于对分流后的低幅值反向恢复电流进行测试。
上述实施例中,由高精度高压直流电源DC给电容C充电,充电完成后,通过手动触发的方式触发晶闸管触发模块产生触发信号并使晶闸管导通。同时,电容C开始放电并与电感L构成LC振荡电路,产生大小和方向周期性变化的振荡电流。其中,LC振荡电路产生的正向高幅值电流通过晶闸管,当LC振荡电路反向振荡时,晶闸管关断并产生反向恢复电流。由于二极管的正向导通,通过晶闸管的正向高幅值电流继续通过二极管D并能够实现由二极管D和精密电阻R构成的电流分流器两端的电压钳位,从而限制分流器两端的电压大小。
需要说明的是,本实施例中的二极管D采用超快恢复二级管,具有开关特性好、反向恢复时间超短的特点,因此能够极大缩短反向恢复时间和有效抑制反向恢复电流。
因为二极管D具有的以上特性,因此,反向恢复电流流过具有较大阻值的精密电阻R,并通过同轴电缆传送至与电流分流器相连的示波器进行记录,从而能够实现反向恢复电流的提取和测试。
由上述可知,本实施例通过由二极管D和精密电阻R构成的电流分流器,能够将正向高幅值电流与低幅值反向恢复电流分开,相比现有技术,本实施例所述方案能够较好解决反向恢复电流的测试易受外界干扰的问题。
另一个实施例中,所述晶闸管置于温控系统中。
该实施例中,将晶闸管置于温度可调且保持恒温的温控系统中,能够实现在不同温度条件下的反向恢复电流测试。
需要说明的是,随着温度升高,晶闸管的反向恢复特性会增大,但呈非线性变化,因此,本实施例不对其变化规律进行过多描述。
另一个实施例中,所述电流分流器由含有相变材料的散热装置进行封装。
二极管D在大通态电流下会导致瞬态结温过高,因此,本实施例通过采用含有相变材料的散热装置,利用相变材料具有吸收潜热大的特性吸收由瞬态高幅值电流脉冲流经二极管D产生的热量,从而能够避免二极管D瞬态结温过高的情况。
另一个实施例中,所述相变材料采用MgSO4·7H2O与KAl(SO4)2·12H2O按照3∶1的比例复合而成。
图2是本公开中电流分流器的结构示意图。如图2所示,电流分流器包括10个同型号的二极管D和10个同型号的精密电阻R并联组成。正向高幅值电流流经二极管D而低幅值反向恢复电流流经阻值较大的精密电阻R。
需要说明的是,图2只是示例性的,在实际应用中,二级管D和精密电阻R的数量可根据电流流通情况调整配置。
图3是电流分流器的测量波形示意图。如图3所示,由于二极管的D导通,正弦脉冲电流测量结果为二极管D的压降0.7~1.5V;反向恢复阶段,由于二极管D反向阻断,电流流经阻值较大的精密电阻R,从而放大反向恢复电流的测量信号。(这里需要进行解释的是,正向电流通常超过500A甚至上千A,反向电流仅有几百mA到几A。不用二极管的情况下,用1欧姆电阻测量正向电流会得到500V甚至1000V以上高压,而二极管能够将正向电压控制在1V左右。而反向恢复电流依然可以通过1欧姆左右的电阻进行测量而得到伏特等级的结果,相当于扩大了测量的信号)
本公开提出的一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统,将正向高幅值电流与低幅值反向恢复电流分开,较好地解决了测量信号小易受干扰的问题;同时,通过采用相变材料散热的方式,既解决了超快恢复二极管瞬态过热的问题,还控制了分流器的体积大小。因此,本公开在高压大功率晶闸管反向恢复电流的测量上更具优势。
尽管以上结合附图对本公开的实施方案进行了描述,但本公开并不局限于上述的具体实施方案和应用领域,上述的具体实施方案仅仅是示意性的、指导性的,而不是限制性的。本领域的普通技术人员在本说明书的启示下和在不脱离本公开权利要求所保护的范围的情况下,还可以做出很多种的形式,这些均属于本公开保护之列。

Claims (10)

1.一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统,包括:高精度高压直流电源DC、充电电阻r、电容C、电感L、晶闸管、晶闸管触发模块、二极管D、精密电阻R和示波器;其中,
所述电容C和所述电感L构成LC振荡电路,用于产生大小和方向周期性变化的振荡电流;
所述高精度高压直流电源DC经所述充电电阻r并联在所述LC振荡电路中电容C的两端,用于为所述电容C充电;
所述晶闸管串联在所述LC振荡电路中,所述晶闸管的门极和阴极与所述晶闸管触发模块串联;
所述二极管D和精密电阻R并联构成电流分流器并与所述晶闸管串入所述LC振荡电路,用于对所述LC振荡电路振荡产生的高幅值正向电流和晶闸管产生的低幅值反向恢复电流进行分流;
所述示波器与由所述二极管D和精密电阻R并联构成的电流分流器通过同轴电缆相连,用于对分流后的低幅值反向恢复电流进行测试。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,优选的,所述LC振荡电路振荡产生的高幅值正向电流和所述晶闸管产生的低幅值反向恢复电流分别由所述二极管D和精密电阻R导通。
3.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,所述二极管D为超快恢复二极管。
4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述晶闸管置于温控系统中。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述电流分流器中的二极管D和精密电阻R的数量根据电流流通情况调整配置。
6.根据权利要求1或5所述的系统,其特征在于,所述电流分流器由含有相变材料的散热装置进行封装。
7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,所述相变材料采用MgSO4·7H2O与KAl(SO4)2·12H2O按照3∶1的比例复合而成。
8.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述电流分流器外接有示波器,用于对所述低幅值反向恢复电流进行测量。
9.一种根据权利要求8所述的系统对反向恢复电流进行测试的方法,包括:
步骤1:LC振荡电路产生的正向高幅值电流经晶闸管流入二极管D并实现由二极管D和精密电阻R并联构成的电流分流器两端的电压钳位;
步骤2:当LC振荡电路反向振荡时,晶闸管关断并产生反向恢复电流;
步骤3:所述反向恢复电流流过精密电阻R并传送至示波器进行测试。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述二极管D为超快恢复二极管。
CN201910278973.4A 2019-04-08 2019-04-08 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法 Pending CN109901040A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910278973.4A CN109901040A (zh) 2019-04-08 2019-04-08 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法
CN201911169823.6A CN110907790B (zh) 2019-04-08 2019-11-25 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910278973.4A CN109901040A (zh) 2019-04-08 2019-04-08 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109901040A true CN109901040A (zh) 2019-06-18

Family

ID=66955508

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910278973.4A Pending CN109901040A (zh) 2019-04-08 2019-04-08 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法
CN201911169823.6A Active CN110907790B (zh) 2019-04-08 2019-11-25 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911169823.6A Active CN110907790B (zh) 2019-04-08 2019-11-25 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (2) CN109901040A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110907790A (zh) * 2019-04-08 2020-03-24 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法
CN113156289A (zh) * 2020-12-18 2021-07-23 国网辽宁省电力有限公司经济技术研究院 非全控型半导体器件反向恢复电流高精度测试装置及方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115128322A (zh) * 2021-03-19 2022-09-30 大唐恩智浦半导体(徐州)有限公司 用于监测电流源的电流检测电路和集成电路

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101202317A (zh) * 2006-12-15 2008-06-18 富准精密工业(深圳)有限公司 发光二极管散热装置组合
CN101320076A (zh) * 2008-07-23 2008-12-10 潘敏智 一种快恢复二极管的反向动态漏电流测试方法及测试电路
CN201607513U (zh) * 2010-01-15 2010-10-13 深圳市瑞凌实业股份有限公司 二极管反向恢复时间简易测试电路
CN103048602A (zh) * 2012-12-13 2013-04-17 国网智能电网研究院 一种大功率半导体器件开通特性试验装置
US20140002117A1 (en) * 2012-06-28 2014-01-02 Kaijam M. Woodley System for measuring soft starter current and method of making same
CN104714074A (zh) * 2015-02-02 2015-06-17 华中科技大学 一种晶闸管导通压降测量系统及测量方法
CN107544009A (zh) * 2016-06-28 2018-01-05 株洲中车时代电气股份有限公司 晶闸管电流波形测试装置及方法
CN207992389U (zh) * 2017-11-29 2018-10-19 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八三七厂) 一种二极管全动态老化电路
CN109239570A (zh) * 2018-10-31 2019-01-18 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) 一种二极管正向电流浪涌实验电路
CN109557443A (zh) * 2018-11-30 2019-04-02 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) 一种整流、开关、肖特基二极管高温性能测试电路

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19619399A1 (de) * 1996-05-14 1997-11-20 Telefunken Microelectron Schaltvorrichtung mit einem Leistungs-FET und einer induktiven Last
DE19709545A1 (de) * 1997-03-07 1998-09-10 Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh Schaltsteuerung einer Betriebsschaltung
JP5572962B2 (ja) * 2009-02-20 2014-08-20 日産自動車株式会社 半導体装置
CN103954893B (zh) * 2014-05-09 2018-11-27 国家电网公司 一种用于电压源换流器的晶闸管分流检测电路及检测方法
CN205539373U (zh) * 2016-01-13 2016-08-31 武汉水院电气有限责任公司 一种直流限流断路器高压大电流脉冲冲击试验平台
CN109901040A (zh) * 2019-04-08 2019-06-18 西安交通大学 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101202317A (zh) * 2006-12-15 2008-06-18 富准精密工业(深圳)有限公司 发光二极管散热装置组合
CN101320076A (zh) * 2008-07-23 2008-12-10 潘敏智 一种快恢复二极管的反向动态漏电流测试方法及测试电路
CN201607513U (zh) * 2010-01-15 2010-10-13 深圳市瑞凌实业股份有限公司 二极管反向恢复时间简易测试电路
US20140002117A1 (en) * 2012-06-28 2014-01-02 Kaijam M. Woodley System for measuring soft starter current and method of making same
CN103048602A (zh) * 2012-12-13 2013-04-17 国网智能电网研究院 一种大功率半导体器件开通特性试验装置
CN104714074A (zh) * 2015-02-02 2015-06-17 华中科技大学 一种晶闸管导通压降测量系统及测量方法
CN107544009A (zh) * 2016-06-28 2018-01-05 株洲中车时代电气股份有限公司 晶闸管电流波形测试装置及方法
CN207992389U (zh) * 2017-11-29 2018-10-19 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八三七厂) 一种二极管全动态老化电路
CN109239570A (zh) * 2018-10-31 2019-01-18 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) 一种二极管正向电流浪涌实验电路
CN109557443A (zh) * 2018-11-30 2019-04-02 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) 一种整流、开关、肖特基二极管高温性能测试电路

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
岳珂 等: "载流子寿命与高压晶闸管反向恢复特性的关系", 《高电压技术》 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110907790A (zh) * 2019-04-08 2020-03-24 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法
CN110907790B (zh) * 2019-04-08 2022-03-11 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法
CN113156289A (zh) * 2020-12-18 2021-07-23 国网辽宁省电力有限公司经济技术研究院 非全控型半导体器件反向恢复电流高精度测试装置及方法
CN113156289B (zh) * 2020-12-18 2022-11-11 国网辽宁省电力有限公司经济技术研究院 非全控型半导体器件反向恢复电流高精度测试装置及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN110907790A (zh) 2020-03-24
CN110907790B (zh) 2022-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109901040A (zh) 一种高压大功率晶闸管反向恢复电流测试系统及测试方法
CN101762778B (zh) 一种功率模块测试系统及其测试方法
CN103592592A (zh) Igbt开关特性测试电路和测试方法
CN105044581B (zh) 一种SiC IGBT串联阀组动态均压特性和反向恢复特性的测试方法及测试电路
CN104422849A (zh) 一种短路模拟试验电路及其试验方法
CN106026334B (zh) 超级电容三段式充电电路及其为超级电容快速充电的方法
CN201766490U (zh) 基于igbt桥式开关拓扑的驱动电路及其保护模块
CN105262068A (zh) 一种高压直流断路器及其控制方法
CN105811765A (zh) 一种用于在线测量功率晶体管导通压降的电压钳位电路
CN103278758A (zh) 一种大功率晶闸管关断特性测试方法及其测试装置
CN101826720B (zh) 双级矩阵变换器箝位吸收一体化电路
CN106034369B (zh) 一种具有短路保护电路的led电源
CN109765470A (zh) 温度电流精确可控的功率半导体器件特性测试方法
CN102377326B (zh) 基于igbt桥式开关拓扑的驱动电路及其保护模块
CN103176124A (zh) 一种基于半波法的大功率晶闸管关断特性测试方法
CN104714074A (zh) 一种晶闸管导通压降测量系统及测量方法
CN102097963A (zh) 三相全控整流装置及其整流限流方法
CN103023004B (zh) 一种浪涌抑制电路
CN205004741U (zh) 基于单个igbt的双向桥式开关短路故障限流器
CN207426787U (zh) 一种电源及其充电电路
CN102611090B (zh) 电容脉冲放电装置、电容投切开关
CN107947771A (zh) 一种igbt保护电路
CN104411035A (zh) 一种无需辅助绕组供电的led驱动电路
CN106603078A (zh) 一种提高adc采样精度的电路
CN106166990A (zh) 一种启动电源电路

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20190618

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication