CN109887455A - 一种显示面板及显示装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示面板及显示装置,其中,可以包括:阵列基板、位于阵列基板上的多条数据线,与数据线电连接的多个检测单元、多个数据检测端子组、以及与每个检测单元对应电连接的控制检测端子组;检测单元用于在加载到电连接的控制检测端子组的控制下,将电连接的数据检测端子组与对应的数据线电连接。通过使至少两个检测单元共用至少部分数据检测端子组,这样可以降低数据检测端子组的数量,从而可以降低布线复杂度以及降低占用空间。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种显示面板及显示装置。
背景技术
在显示面板的制作过程中,信号线可能会发生例如断路、短路等不良,从而导致显示面板存在显示不良的问题。并且为了避免元器件的浪费,一般在显示面板制作完成后且在显示面板组装驱动IC(Integrated Circuit,集成电路)之前,对显示面板进行检测,以确定显示面板是否存在不良。一般,为了达到对显示面板中不同不良的检测目的,通常在显示面板中会设置多个检测单元,以及使每个检测单元一一对应多个数据检测端子组和控制检测端子组。这样在对显示面板进行检测时,将外部检测装置的检测探针分别压在数据检测端子组和控制检测端子组上,以向显示面板的信号线输入信号,从而检测显示面板是否存在不良。然而,检测端子越多,导致布线复杂以及导致检测端子占用的空间越大。
发明内容
本发明实施例提供了一种显示面板及显示装置,用以降低检测端子的数量,以降低布线复杂度以及降低占用的空间。
本发明实施例提供了一种显示面板,包括:阵列基板、位于所述阵列基板上的多条数据线,与所述数据线电连接的多个检测单元、多个数据检测端子组、以及与每个所述检测单元对应电连接的控制检测端子组;
所述检测单元用于在加载到电连接的控制检测端子组的控制下,将电连接的数据检测端子组与对应的数据线电连接;并且,至少两个所述检测单元共用至少部分数据检测端子组。
可选地,在本发明实施例中,所述多个检测单元包括第一检测单元和第二检测单元;所述控制检测端子组包括:与所述第一检测单元对应电连接的第一控制检测端子组以及与所述第二检测单元对应电连接的第二控制检测端子组;
所述第一检测单元还分别与各所述数据检测端子组以及所述数据线电连接,用于在所述第一控制检测端子组的控制下将所述数据线与对应的数据检测端子组电连接;
所述第二检测单元还分别与所述数据线以及部分数据检测端子组电连接,用于在所述第二控制检测端子组的控制下将所述数据线与对应的数据检测端子组电连接。
可选地,在本发明实施例中,所述显示面板包括多个像素单元,各所述像素单元包括多个子像素,一列子像素对应电连接一条数据线;其中,部分列子像素包括一种颜色子像素,其余列子像素包括N种颜色子像素,N≥2且为整数;一种颜色子像素对应一个数据检测端子组和一个第一控制检测端子组;
所述第一检测单元包括:多个第一晶体管和多个第二晶体管;其中,具有一种颜色子像素的每一子像素列一一对应一个第一晶体管,具有N种颜色子像素的每一子像素列一一对应一个第二晶体管;
各所述第一晶体管的栅极均与对应颜色的同一第一控制检测端子组电连接,源极均与对应的同一数据检测端子组电连接,漏极均与对应的数据线电连接;
各所述第二晶体管的栅极均与对应颜色的同一第一控制检测端子组电连接,源极均与对应的同一数据检测端子组电连接,漏极均与对应的数据线电连接。
可选地,在本发明实施例中,N=2,相邻两个子像素列中的一列包括交替排列的第一颜色子像素和第三颜色子像素,另一列包括第二颜色子像素。
可选地,在本发明实施例中,所述显示面板包括多个像素单元,各所述像素单元包括沿行排列的M种颜色子像素,一列子像素对应连接一条数据线;其中,M≥3且为整数,同一列子像素的颜色相同;一种颜色子像素对应一个数据检测端子组和一个第一控制检测端子组;
所述第一检测单元包括:多个第三晶体管;其中,每条所述数据线一一对应一个第三晶体管;
同一颜色子像素列对应的第三晶体管的栅极均与所述颜色子像素对应的同一第一控制检测端子组电连接,源极均与所述颜色子像素对应的同一数据检测端子组电连接,漏极均与对应的数据线电连接。
可选地,在本发明实施例中,所述第二检测单元包括:多个第四晶体管;其中,一条所述数据线对应一个所述第四晶体管;
各所述第四晶体管的栅极均与同一所述第二控制检测端子组电连接,各所述第四晶体管的漏极与对应的数据线电连接;并且,部分第四晶体管的源极与一个所述数据检测端子组对应电连接,其余第四晶体管的源极与另一个所述数据检测端子组对应电连接。
可选地,在本发明实施例中,所述显示面板还包括:位于所述阵列基板上且与每一所述数据线一一对应电连接的源极扇出线;其中,奇数列源极扇出线和偶数列源极扇出线异层设置;
以相邻的两条源极扇出线为扇出线组,奇数列扇出线组中的各源极扇出线对应的第四晶体管的源极均与一个所述数据检测端子组对应电连接,偶数列扇出线组中的各源极扇出线对应的第四晶体管的源极均与另一个所述数据检测端子组对应电连接。
可选地,在本发明实施例中,所述显示面板还包括:位于所述阵列基板上且与每一所述数据线一一对应电连接的源极扇出线;其中,各所述源极扇出线同层同材质;
奇数列源极扇出线对应的第四晶体管的源极均与一个所述数据检测端子组对应电连接,偶数列源极扇出线对应的第四晶体管的源极均与另一个所述数据检测端子组对应电连接。
可选地,在本发明实施例中,每个所述数据检测端子组包括相对设置于所述阵列基板两侧的左侧数据检测端子和右侧数据检测端子;和/或,
每个所述控制检测端子组包括相对设置于所述阵列基板两侧的左侧控制检测端子和右侧控制检测端子。
相应地,本发明实施例还提供了一种显示装置,包括本发明实施例提供的上述显示面板。
本发明有益效果如下:
本发明实施例提供的显示面板及显示装置,通过使至少两个检测单元共用至少部分数据检测端子组,这样可以降低数据检测端子组的数量,从而可以降低布线复杂度以及降低占用空间。
附图说明
图1为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图;
图2为本发明实施例提供的显示面板的具体结构示意图之一;
图3为本发明实施例提供的显示面板的具体结构示意图之二;
图4为本发明实施例提供的显示面板的具体结构示意图之三;
图5为本发明实施例提供的显示面板的具体结构示意图之四。
具体实施方式
为了使本发明的目的,技术方案和优点更加清楚,下面结合附图,对本发明实施例提供的显示面板及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。应当理解,下面所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下,本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。需要注意的是,附图中各图形的尺寸和形状不反映真实比例,目的只是示意说明本发明内容。并且自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。
本发明实施例提供了一种显示面板,如图1所示,可以包括:阵列基板100、位于阵列基板100上的多条数据线110,与数据线110电连接的多个检测单元、多个数据检测端子组、以及与每个检测单元对应电连接的控制检测端子组;其中,检测单元用于在电连接的控制检测端子组的控制下,将电连接的数据检测端子组与对应的数据线电连接;并且,至少两个检测单元共用至少部分数据检测端子组。
本发明实施例提供的显示面板,通过使至少两个检测单元共用至少部分数据检测端子组,这样可以降低数据检测端子组的数量,从而可以降低布线复杂度以及降低占用空间。
在具体实施时,在本发明实施例中,如图1与图2所示,多个检测单元可以包括第一检测单元121和第二检测单元122;控制检测端子组可以包括:与第一检测单元121对应电连接的第一控制检测端子组141_k(1≤k≤K,且k为整数,K为第一控制检测端子组的总数,图2以K=3为例)以及与第二检测单元122对应电连接的第二控制检测端子组142;
第一检测单元121还分别与各数据检测端子组130_q(1≤q≤Q,且q为整数,Q为数据检测端子组的总数,图2以Q=3为例)以及各数据线110电连接,用于在第一控制检测端子组141的控制下将数据线110与对应的数据检测端子组130电连接;
第二检测单元122分别与数据线110以及部分数据检测端子组电连接,用于在第二控制检测端子组142的控制下将数据线110与对应的数据检测端子组130电连接。
下面结合具体实施例,对本发明进行详细说明。需要说明的是,本实施例是为了更好的解释本发明,但不限制本发明。
实施例一、
在具体实施时,在本发明实施例中,如图2所示,显示面板可以包括多个像素单元,各像素单元包括多个子像素,一列子像素对应电连接一条数据线;其中,部分列子像素可以包括一种颜色子像素,其余列子像素可以包括N种颜色子像素,N≥2且为整数。例如,如图2所示,部分列子像素可以包括第二颜色子像素S2。可以使N=2,则其余列子像素可以包括2种颜色子像素,例如交替排列的第一颜色子像素S1和第三颜色子像素S3。其中,第一颜色子像素、第二颜色子像素、第三颜色子像素可以从红色子像素、绿色子像素以及蓝色子像素中进行任意选取,例如可以使第一颜色子像素为红色子像素,第二颜色子像素为绿色子像素,第三颜色子像素为蓝色子像素。或者,其余列子像素也可以包括3种颜色子像素,例如依次排列的第一颜色子像素S1、第三颜色子像素S3以及第四颜色子像素S4。具体地,第一颜色子像素、第二颜色子像素、第三颜色子像素以及第四颜色子像素可以从红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素以及白色子像素中进行任意选取,例如可以使第一颜色子像素为红色子像素,第二颜色子像素为绿色子像素,第三颜色子像素为蓝色子像素,第四颜色子像素为白色子像素。当然,在实际应用中,可以根据实际应用环境来设计显示面板中子像素的颜色,在此不作限定。
在具体实施时,在本发明实施例中,如图2所示,一种颜色子像素对应一个数据检测端子组和一个控制检测端子组。不同颜色子像素对应的数据检测端子组不同,且不同颜色子像素对应的控制检测端子组不同。例如,第一颜色子像素S1对应一个数据检测端子组130_1和一个第一控制检测端子组141_1。第二颜色子像素S2对应一个数据检测端子组130_2和一个第一控制检测端子组141_2。第三颜色子像素S3对应一个数据检测端子组130_3和一个第一控制检测端子组141_3。
在具体实施时,在本发明实施例中,如图2所示,第一检测单元121可以包括:多个第一晶体管M1和多个第二晶体管M2;其中,具有一种颜色子像素的每一子像素列一一对应一个第一晶体管M1,具有N种颜色子像素的每一子像素列一一对应一个第二晶体管M2。例如,第二颜色子像素S2所在的子像素列中的每一列一一对应一个第一晶体管M1,交替排列的第一颜色子像素S1和第三颜色子像素S3所在的子像素列中的每一列一一对应一个第二晶体管M2。并且,各第一晶体管M1的栅极均与对应颜色的同一第一控制检测端子组电连接,源极均与对应的同一数据检测端子组电连接,漏极均与对应的数据线电连接。并且,各第二晶体管的栅极均与对应颜色的同一第一控制检测端子组电连接,源极均与对应的同一数据检测端子组电连接,漏极均与对应的数据线电连接。
在具体实施时,在本发明实施例中,相邻两个子像素列中的一列包括交替排列的第一颜色子像素和第三颜色子像素,另一列包括第二颜色子像素。例如,如图2所示,奇数列子像素可以包括交替排列的第一颜色子像素S1和第三颜色子像素S3,偶数列子像素可以包括第二颜色子像素S2。这样使得奇数列子像素电连接的数据线一一对应两个第二晶体管M2。其中,第一颜色子像素S1对应的每个第二晶体管M2的栅极均与第一颜色子像素S1对应的同一第一控制检测端子组141_1电连接,源极均与对应的同一数据检测端子组130_1电连接,漏极均与对应的数据线110电连接。第三颜色子像素S3对应的每个第二晶体管M2的栅极均与第三颜色子像素S3对应的同一第一控制检测端子组141_3电连接,源极均与对应的同一数据检测端子组130_3电连接,漏极均与对应的数据线110电连接。并且,偶数列子像素电连接的数据线一一对应一个第一晶体管M1。第二颜色子像素S2对应的每个第一晶体管M1的栅极均与第二颜色子像素S2对应的同一第一控制检测端子组141_2电连接,源极均与对应的同一数据检测端子组130_2电连接,漏极均与对应的数据线110电连接。
当然,也可以使偶数列子像素包括交替排列的第一颜色子像素S1和第三颜色子像素S3,奇数列子像素可以包括第二颜色子像素S2,在此不作限定。
在具体实施时,在本发明实施例中,如图2所示,第二检测单元122可以包括:多个第四晶体管M4;其中,一条数据线110一一对应一个第四晶体管M4。并且,各第四晶体管M4的栅极均与同一第二控制检测端子组142电连接,各第四晶体管M4的漏极与对应的数据线110电连接;并且,部分第四晶体管M4的源极与一个数据检测端子组对应电连接,其余第四晶体管M4的源极与另一个数据检测端子组对应电连接。例如,部分第四晶体管M4的源极与数据检测端子组130_1对应电连接,其余第四晶体管M4的源极与另一个数据检测端子组130_3对应电连接。
在具体实施时,在本发明实施例中,如图2所示,显示面板还可以包括:位于阵列基板100上且与每一数据线110一一对应电连接的源极扇出线210;其中,奇数列源极扇出线和偶数列源极扇出线异层设置。奇数列源极扇出线同层同材质设置,即采用同一构图工艺制作奇数列源极扇出线。偶数列源极扇出线同层同材质设置,即采用同一构图工艺制作偶数列源极扇出线。具体地,以相邻的两条源极扇出线为扇出线组,例如,每一个扇出线组可以包括一条奇数列源极扇出线和一条偶数列源极扇出线。图2中具有两个扇出线组,奇数列扇出线组中的各源极扇出线210对应的第四晶体管M4的源极均与一个数据检测端子组130_1对应电连接,偶数列扇出线组中的各源极扇出线210对应的第四晶体管的源极均与另一个数据检测端子组130_3对应电连接。
一般显示面板中子像素的数量较多,这样使得负载较大。为了降低输入信号的负载,在具体实施时,在本发明实施例中,如图2所示,每个数据检测端子组130_q可以包括相对设置于阵列基板100两侧的左侧数据检测端子130a_q和右侧数据检测端子130b_q。这样可以使外部检测装置的输入同一信号的检测探针分别压在左侧数据检测端子130a_q和右侧数据检测端子130b_q上,提高输入信号的驱动能力。
为了降低输入信号的负载,在具体实施时,在本发明实施例中,如图2所示,每个控制检测端子组包括相对设置于阵列基板两侧的左侧控制检测端子和右侧控制检测端子。例如,第一控制检测端子组141_k包括左侧第一控制检测端子组141a_k和右侧第一控制检测端子组141b_k,第二控制检测端子组142包括左侧第二控制检测端子142a和右侧第二控制检测端子142b。
下面以图2所示的显示面板的结构为例,对显示面板的检测过程进行说明。
在对显示面板的显示区进行检测时,外部检测装置的控制检测探针分别压在第二控制检测端子组142上,对第二控制检测端子组142加载对应的信号,以控制电连接的第四晶体管M4截止。外部检测装置的控制检测探针分别压在第一控制检测端子组141_1、141_2以及141_3上,对第一控制检测端子组141_1、141_2以及141_3加载对应的信号,以控制电连接的第一晶体管M1和第二晶体管M2对应导通。并且,外部检测装置的数据检测探针分别压在数据检测端子组130_1、130_2、130_3上,对数据检测端子组130_1、130_2、130_3加载数据信号。这样导通的第一晶体管M1和第二晶体管M2可以将数据检测端子组130_1、130_2、130_3加载的数据信号传输到数据线110上。从而在子像素中的薄膜晶体管打开时,可以将数据信号传输到子像素中,以通过检测显示区的效果来判断显示区的数据线是否存在短路或断路等不良。
在对源极扇出线210进行检测时,外部检测装置的控制检测探针分别压在第一控制检测端子组141_1、141_2以及141_3上,对第一控制检测端子组141_1、141_2以及141_3加载对应的信号,以控制电连接的第一晶体管M1和第二晶体管M2均截止。外部检测装置的控制检测探针分别压在第二控制检测端子组142上,对第二控制检测端子组142加载对应的信号,以控制电连接的第四晶体管M4导通。并且,外部检测装置的数据检测探针分别压在数据检测端子组130_1和130_3上,对数据检测端子组130_1和130_3加载数据信号。这样导通的第四晶体管M4可以将数据检测端子组130_1和130_3加载的数据信号传输到源极扇出线210和数据线110上。从而在子像素中的薄膜晶体管打开时,可以将数据信号传输到子像素中,以通过检测显示区的显示效果来判断源极扇出线是否存在短路或断路等不良。
实施例二、
本实施例对应的显示面板的结构示意图如图3所示,其针对实施例一中的实施方式进行了变形。下面仅说明本实施例与实施例一的区别之处,其相同之处在此不作赘述。
在具体实施时,在本发明实施例中,如图3所示,显示面板可以包括多个像素单元,各像素单元包括沿行排列的M种颜色子像素,一列子像素对应连接一条数据线;其中,M≥3且为整数,同一列子像素的颜色相同。例如,如图3所示,各像素单元包括沿行排列的3种颜色子像素:第一颜色子像素S1、第二颜色子像素S2以及第三颜色子像素S3。当然,各像素单元包括沿行排列的4种颜色子像素:第一颜色子像素S1、第二颜色子像素S2、第三颜色子像素S3以及第四颜色子像素S4,在此不作限定。
在具体实施时,在本发明实施例中,如图3所示,一种颜色子像素对应一个数据检测端子组和一个第一控制检测端子组。例如,第一颜色子像素S1所在的子像素列均对应第一控制检测端子组141_1和数据检测端子组130_1。第二颜色子像素S2所在的子像素列均对应第一控制检测端子组141_2和数据检测端子组130_2。第三颜色子像素S3所在的子像素列均对应第一控制检测端子组141_3和数据检测端子组130_3。
在具体实施时,在本发明实施例中,如图3所示,第一检测单元可以包括:多个第三晶体管M3;其中,每条数据线110一一对应一个第三晶体管M3。并且,同一颜色子像素列对应的第三晶体管的栅极均与颜色子像素对应的同一第一控制检测端子组电连接,源极均与颜色子像素对应的同一数据检测端子组电连接,漏极均与对应的数据线电连接。例如,第一颜色子像素S1所在的子像素列对应的第三晶体管M3的栅极均与第一颜色子像素S1对应的同一第一控制检测端子组141_1电连接,源极均与第一颜色子像素S1对应的数据检测端子组130_1电连接,漏极均与对应的数据线110电连接。第二颜色子像素S2所在的子像素列对应的第三晶体管M3的栅极均与第二颜色子像素S2对应的同一第一控制检测端子组141_2电连接,源极均与第二颜色子像素S2对应的数据检测端子组130_2电连接,漏极均与对应的数据线110电连接。第三颜色子像素S3所在的子像素列对应的第三晶体管M3的栅极均与第三颜色子像素S3对应的同一第一控制检测端子组141_3电连接,源极均与第三颜色子像素S3对应的数据检测端子组130_3电连接,漏极均与对应的数据线110电连接。
在对显示面板的显示区进行检测时,外部检测装置的控制检测探针分别压在第二控制检测端子组142上,对第二控制检测端子组142加载对应的信号,以控制电连接的第四晶体管M4截止。外部检测装置的控制检测探针分别压在第一控制检测端子组141_1、141_2以及141_3上,对第一控制检测端子组141_1、141_2以及141_3加载对应的信号,以控制电连接的第三晶体管M3对应导通。并且,外部检测装置的数据检测探针分别压在数据检测端子组130_1、130_2、130_3上,对数据检测端子组130_1、130_2、130_3加载数据信号。这样导通的第三晶体管M3可以将数据检测端子组130_1、130_2、130_3加载的数据信号传输到数据线110上。从而在子像素中的薄膜晶体管打开时,可以将数据信号传输到子像素中,以通过检测显示区的效果来判断显示区的数据线是否存在短路或断路等不良。
实施例三、
本实施例对应的显示面板的结构示意图如图4所示,其针对实施例一中的实施方式进行了变形。下面仅说明本实施例与实施例一的区别之处,其相同之处在此不作赘述。
在具体实施时,在本发明实施例中,如图4所示,显示面板还可以包括:位于阵列基板上且与每一数据线一一对应电连接的源极扇出线210;其中,各源极扇出线210同层同材质,即采用同一构图工艺制作各源极扇出线210。具体地,奇数列源极扇出线210对应的第四晶体管M4的源极均与一个数据检测端子组130_1对应电连接,偶数列源极扇出线对应的第四晶体管M4的源极均与另一个数据检测端子组130_3对应电连接。
在对源极扇出线210进行检测时,外部检测装置的控制检测探针分别压在第一控制检测端子组141_1、141_2以及141_3上,对第一控制检测端子组141_1、141_2以及141_3加载对应的信号,以控制电连接的第一晶体管M1和第二晶体管M2均截止。外部检测装置的控制检测探针分别压在第二控制检测端子组142上,对第二控制检测端子组142加载对应的信号,以控制电连接的第四晶体管M4导通。并且,外部检测装置的数据检测探针分别压在数据检测端子组130_1和130_3上,对数据检测端子组130_1和130_3加载数据信号。这样导通的第四晶体管M4可以将数据检测端子组130_1和130_3加载的数据信号传输到源极扇出线210和数据线110上。从而在子像素中的薄膜晶体管打开时,可以将数据信号传输到子像素中,以通过检测显示区的显示效果来判断源极扇出线是否存在短路或断路等不良。
实施例四、
本实施例对应的显示面板的结构示意图如图5所示,其针对实施例二中的实施方式进行了变形。下面仅说明本实施例与实施例二的区别之处,其相同之处在此不作赘述。
在具体实施时,在本发明实施例中,如图5所示,显示面板还可以包括:位于阵列基板上且与每一数据线一一对应电连接的源极扇出线210;其中,各源极扇出线210同层同材质,即采用同一构图工艺制作各源极扇出线210。具体地,奇数列源极扇出线210对应的第四晶体管M4的源极均与一个数据检测端子组130_1对应电连接,偶数列源极扇出线对应的第四晶体管M4的源极均与另一个数据检测端子组130_3对应电连接。
在对源极扇出线210进行检测时,,外部检测装置的控制检测探针分别压在第一控制检测端子组141_1、141_2以及141_3上,对第一控制检测端子组141_1、141_2以及141_3加载对应的信号,以控制电连接的第三晶体管M3均截止。外部检测装置的控制检测探针分别压在第二控制检测端子组142上,对第二控制检测端子组142加载对应的信号,以控制电连接的第四晶体管M4导通。并且,外部检测装置的数据检测探针分别压在数据检测端子组130_1和130_3上,对数据检测端子组130_1和130_3加载数据信号。这样导通的第四晶体管M4可以将数据检测端子组130_1和130_3加载的数据信号传输到源极扇出线210和数据线110上。从而在子像素中的薄膜晶体管打开时,可以将数据信号传输到子像素中,以通过检测显示区的显示效果来判断源极扇出线是否存在短路或断路等不良。
基于同一发明构思,本发明实施例还提供了一种显示装置,包括本发明实施例提供的上述显示面板。该显示装置解决问题的原理与前述显示面板相似,因此该显示装置的实施可以参见前述显示面板的实施,重复之处在此不再赘述。
在具体实施时,在本发明实施例中,显示装置可以为:手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的,在此不做赘述,也不应作为对本发明的限制。
本发明实施例提供的显示面板及显示装置,通过使至少两个检测单元共用至少部分数据检测端子组,这样可以降低数据检测端子组的数量,从而可以降低布线复杂度以及降低占用空间。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种显示面板,其特征在于,包括:阵列基板、位于所述阵列基板上的多条数据线,与所述数据线电连接的多个检测单元、多个数据检测端子组、以及与每个所述检测单元对应电连接的控制检测端子组;
所述检测单元用于在加载到电连接的控制检测端子组的控制下,将电连接的数据检测端子组与对应的数据线电连接;并且,至少两个所述检测单元共用至少部分数据检测端子组。
2.如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述多个检测单元包括第一检测单元和第二检测单元;所述控制检测端子组包括:与所述第一检测单元对应电连接的第一控制检测端子组以及与所述第二检测单元对应电连接的第二控制检测端子组;
所述第一检测单元还分别与各所述数据检测端子组以及所述数据线电连接,用于在所述第一控制检测端子组的控制下将所述数据线与对应的数据检测端子组电连接;
所述第二检测单元还分别与所述数据线以及部分数据检测端子组电连接,用于在所述第二控制检测端子组的控制下将所述数据线与对应的数据检测端子组电连接。
3.如权利要求2所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板包括多个像素单元,各所述像素单元包括多个子像素,一列子像素对应电连接一条数据线;其中,部分列子像素包括一种颜色子像素,其余列子像素包括N种颜色子像素,N≥2且为整数;一种颜色子像素对应一个数据检测端子组和一个第一控制检测端子组;
所述第一检测单元包括:多个第一晶体管和多个第二晶体管;其中,具有一种颜色子像素的每一子像素列一一对应一个第一晶体管,具有N种颜色子像素的每一子像素列一一对应一个第二晶体管;
各所述第一晶体管的栅极均与对应颜色的同一第一控制检测端子组电连接,源极均与对应的同一数据检测端子组电连接,漏极均与对应的数据线电连接;
各所述第二晶体管的栅极均与对应颜色的同一第一控制检测端子组电连接,源极均与对应的同一数据检测端子组电连接,漏极均与对应的数据线电连接。
4.如权利要求3所述的显示面板,其特征在于,N=2,相邻两个子像素列中的一列包括交替排列的第一颜色子像素和第三颜色子像素,另一列包括第二颜色子像素。
5.如权利要求2所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板包括多个像素单元,各所述像素单元包括沿行排列的M种颜色子像素,一列子像素对应连接一条数据线;其中,M≥3且为整数,同一列子像素的颜色相同;一种颜色子像素对应一个数据检测端子组和一个第一控制检测端子组;
所述第一检测单元包括:多个第三晶体管;其中,每条所述数据线一一对应一个第三晶体管;
同一颜色子像素列对应的第三晶体管的栅极均与所述颜色子像素对应的同一第一控制检测端子组电连接,源极均与所述颜色子像素对应的同一数据检测端子组电连接,漏极均与对应的数据线电连接。
6.如权利要求2-5任一项所述的显示面板,其特征在于,所述第二检测单元包括:多个第四晶体管;其中,一条所述数据线对应一个所述第四晶体管;
各所述第四晶体管的栅极均与同一所述第二控制检测端子组电连接,各所述第四晶体管的漏极与对应的数据线电连接;并且,部分第四晶体管的源极与一个所述数据检测端子组对应电连接,其余第四晶体管的源极与另一个所述数据检测端子组对应电连接。
7.如权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板还包括:位于所述阵列基板上且与每一所述数据线一一对应电连接的源极扇出线;其中,奇数列源极扇出线和偶数列源极扇出线异层设置;
以相邻的两条源极扇出线为扇出线组,奇数列扇出线组中的各源极扇出线对应的第四晶体管的源极均与一个所述数据检测端子组对应电连接,偶数列扇出线组中的各源极扇出线对应的第四晶体管的源极均与另一个所述数据检测端子组对应电连接。
8.如权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板还包括:位于所述阵列基板上且与每一所述数据线一一对应电连接的源极扇出线;其中,各所述源极扇出线同层同材质;
奇数列源极扇出线对应的第四晶体管的源极均与一个所述数据检测端子组对应电连接,偶数列源极扇出线对应的第四晶体管的源极均与另一个所述数据检测端子组对应电连接。
9.如权利要求2-5任一项所述的显示面板,其特征在于,每个所述数据检测端子组包括相对设置于所述阵列基板两侧的左侧数据检测端子和右侧数据检测端子;和/或,
每个所述控制检测端子组包括相对设置于所述阵列基板两侧的左侧控制检测端子和右侧控制检测端子。
10.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求1-9任一项所述的显示面板。
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