CN109886894A - 激光打标图形校正值的计算方法、装置和计算机可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种激光打标图形校正值的计算方法。该方法包括：获得第一图形的初始尺寸，所述第一图形为根据初始参数进行打标的图形；根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值；按照所述校正参考值进行打标，获得打标后的第二图形；根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差；根据所述误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度；若是，则将所述校正参考值作为激光打标的校正值。本发明还公开了一种激光打标图形校正值的计算装置及计算机可读存储介质。本发明能够实现对激光打标过程进行校正，得到一个激光打标过程中的校正值，提高图形的打标精度。
Description
技术领域
本发明涉及激光打标技术领域，尤其涉及一种激光打标图形校正值的计算方法、装置和计算机可读存储介质。
背景技术
随着科技的发展，激光打标是激光技术的一个重要应用方向。激光打标是利用高能量密度的激光对工件进行局部的照射，使表层材料汽化或者发生颜色变化的化学反应，从而留下永久性标记的一种打标方法。尤其是振镜式激光打标以其速度快、精度高的特点得到了广泛的应用。
但目前，振镜式激光打标仍然存在一些问题，如离焦、非线性、环境电磁干扰等因素造成的误差，使激光打标的图形发生畸变，无法满足激光打标图形的精度。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种激光打标图形校正值的计算方法、装置和计算机可读存储介质，旨在实现对激光打标过程进行校正，得到一个激光打标过程中的校正值，提高图形的打标精度和效率。
为实现上述目的，本发明提供一种激光打标图形校正值的计算方法，所述激光打标图形校正值的计算方法包括以下步骤：
获得第一图形的初始尺寸，所述第一图形为根据初始参数进行打标的图形；
根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值；
按照所述校正参考值进行打标，获得打标后的第二图形；
根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差；
根据所述误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度；
若是，则将所述校正参考值作为激光打标的校正值。
可选地，所述激光打标图形校正值的计算方法还包括以下步骤：
若否，则将所述第二图形的尺寸设为初始尺寸，并返回步骤：根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值。
可选地，所述预设的算法为：
E-SCALEX＝SCALEX*E-X/E-X2，
E-SCALEY＝SCALEY*E-Y/E-Y2，
E_DISTORX＝BUCKETX-(fWorkSize*fWorkSize*((E_X1+E_X3)-2*E_X2))/(2*E_X2*E_Y2*E_Y2)
E_DISTORY＝BUCKETY-(fWorkSize*fWorkSize*((E_Y1+E_Y3)-2*E_Y2))/(2*E_Y2*E_X2*E_X2)
E_HORVERX＝PRRLX-1/tan(E_A*Pi/180)，
E_HORVERY＝PRRLY，
E_TRAPEDISTORX＝TRAPEX-(E_X1-E_X3)/(2*E_Y2)，
E_TRAPEDISTORY＝TRAPEY+(E_Y1-E_Y3)/(2*E_X2)，
其中，E_SCALEX、E_SCALEY为推荐的X、Y方向的比例校正参考值，E_DISTORX、E_DISTORY为推荐的X、Y方向的桶形校正参考值，E_HORVERX、E_HORVERY为推荐的X、Y方向的平行四边形校正参考值，E_TRAPEDISTORX、E_TRAPEDISTORY为推荐的X、Y方向的梯形校正参考值，E_X、E_Y、E_A为X、Y方向初始参数，E_X1、E_X2、E_X3、E_Y1、E_Y2、E_Y3为X、Y方向6个初始尺寸长度，Pi为π，SCALEX、SCALEY为上一次打标的X、Y方向的比例校正参考值，BUCKETX、BUCKETY为上一次打标的X、Y方向的桶形校正参考值，fWorkSize为振镜可扫描区域尺寸，PRRLX、PRRLY为上一次打标的X、Y方向的平行四边形校正参考值，TRAPEX、TRAPEY为上一次打标的X、Y方向的梯形校正参考值。
可选地，所述获得第一图形的初始尺寸的步骤包括：
根据预设图形进行打标，获得打标后的第一图形；
接收用户输入的所述第一图形的测量尺寸，获得所述第一图形的初始尺寸。
可选地，所述根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差的步骤包括：
接收用户输入的所述第二图形的测量尺寸，获得所述第二图形的尺寸；
对所述第二图形的尺寸与初始参数进行计算，获得所述第二图形的误差。
可选地，所述根据所述第二图形的误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度的步骤包括：
对所述误差值与预设的误差阈值进行比较，根据对比结果判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度。
可选地，初始参数的校正参数值为1。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种激光打标图形校正值的计算装置，所述激光打标图形校正值的计算装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的激光打标图形校正值的计算程序，所述激光打标图形校正值的计算程序被所述处理器执行时实现如上所述的激光打标图形校正值的计算方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有激光打标图形校正值的计算程序，所述激光打标图形校正值的计算程序被处理器执行时实现上述的激光打标图形校正值的计算方法的步骤。
本发明提供一种激光打标图形校正值的计算方法、装置和计算机存储介质。在该方法中，获得第一图形的初始尺寸，所述第一图形为根据初始参数进行打标的图形；根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值；按照所述校正参考值进行打标，获得打标后的第二图形；根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差；根据误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度；若是，则将所述校正参考值作为激光打标的校正值。通过上述方式，本发明能够通过对预先设置的图形的尺寸进行计算，获得一个校正值的参考值，然后对参考值进行验证，判断参考值满不满足要求，若满足要求，则该参考值为校正值，就获得了校正需要的参考值。本发明能对激光打标过程进行校正，减少图形的畸变程度，使图形的精度满足一定的要求，保证了一定的图形的精度。
附图说明
图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的装置结构示意图；
图2为本发明激光打标图形校正值的计算方法第一实施例的流程示意图；
图3为本发明激光打标图形校正值的计算方法第二实施例的流程示意图；
图4为本发明激光打标图形校正值的计算方法第三实施例的过程示意图；
图5为本发明激光打标图形校正值的计算方法初始参数图形；
图6为本发明激光打标图形校正值的计算方法第四实施例的流程示意图；
图7为本发明激光打标图形校正值的计算方法第五实施例的流程示意图；
图8为本发明激光打标图形校正值的计算方法第六实施例的流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
如图1所示，图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的装置结构示意图。
本发明实施例终端可以是PC，也可以是智能手机、平板电脑、便携计算机等具有数据处理功能的终端设备。
如图1所示，该终端可以包括：处理器1001，例如CPU，网络接口1004，用户接口1003，存储器1005，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
可选地，终端还可以包括摄像头、RF(Radio Frequency，射频)电路，传感器、音频电路、Wi-Fi模块等等。其中，传感器比如光传感器、运动传感器以及其他传感器。具体地，光传感器可包括环境光传感器及接近传感器，其中，环境光传感器可根据环境光线的明暗来调节显示屏的亮度，接近传感器可在移动终端移动到耳边时，关闭显示屏和/或背光。作为运动传感器的一种，重力加速度传感器可检测各个方向上(一般为三轴)加速度的大小，静止时可检测出重力的大小及方向，可用于识别移动终端姿态的应用(比如横竖屏切换、相关游戏、磁力计姿态校准)、振动识别相关功能(比如计步器、敲击)等；当然，移动终端还可配置陀螺仪、气压计、湿度计、温度计、红外线传感器等其他传感器，在此不再赘述。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的终端结构并不构成对终端的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及激光打标图形校正值的计算程序。
在图1所示的终端中，网络接口1004主要用于连接后台服务器，与后台服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于连接客户端(用户端)，与客户端进行数据通信；而处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的激光打标图形校正值的计算程序，并执行以下操作：
获得第一图形的初始尺寸，所述第一图形为根据初始参数进行打标的图形；
根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值；
按照所述校正参考值进行打标，获得打标后的第二图形；
根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差；
根据所述误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度；
若是，则将所述校正参考值作为激光打标的校正值。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的激光打标图形校正值的计算程序，还执行以下操作：
若否，则将所述第二图形的尺寸设为初始尺寸，并返回步骤：根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的激光打标图形校正值的计算程序，还执行以下操作：
所述预设的算法为：
E-SCALEX＝SCALEX*E-X/E-X2，
E-SCALEY＝SCALEY*E-Y/E-Y2，
E_DISTORX＝BUCKETX-(fWorkSize*fWorkSize*((E_X1+E_X3)-2*E_X2))/(2*E_X2*E_Y2*E_Y2)
E_DISTORY＝BUCKETY-(fWorkSize*fWorkSize*((E_Y1+E_Y3)-2*E_Y2))/(2*E_Y2*E_X2*E_X2)
E_HORVERX＝PRRLX-1/tan(E_A*Pi/180)，
E_HORVERY＝PRRLY，
E_TRAPEDISTORX＝TRAPEX-(E_X1-E_X3)/(2*E_Y2)，
E_TRAPEDISTORY＝TRAPEY+(E_Y1-E_Y3)/(2*E_X2)，
其中，E_SCALEX、E_SCALEY为推荐的X、Y方向的比例校正参考值，E_DISTORX、E_DISTORY为推荐的X、Y方向的桶形校正参考值，E_HORVERX、E_HORVERY为推荐的X、Y方向的平行四边形校正参考值，E_TRAPEDISTORX、E_TRAPEDISTORY为推荐的X、Y方向的梯形校正参考值，E_X、E_Y、E_A为X、Y方向初始参数，E_X1、E_X2、E_X3、E_Y1、E_Y2、E_Y3为X、Y方向6个初始尺寸长度，Pi为π，SCALEX、SCALEY为上一次打标的X、Y方向的比例校正参考值，BUCKETX、BUCKETY为上一次打标的X、Y方向的桶形校正参考值，fWorkSize为振镜可扫描区域尺寸，PRRLX、PRRLY为上一次打标的X、Y方向的平行四边形校正参考值，TRAPEX、TRAPEY为上一次打标的X、Y方向的梯形校正参考值。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的激光打标图形校正值的计算程序，还执行以下操作：
根据预设图形进行打标，获得打标后的第一图形；
接收用户输入的所述第一图形的测量尺寸，获得所述第一图形的初始尺寸。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的激光打标图形校正值的计算程序，还执行以下操作：
接收用户输入的所述第二图形的测量尺寸，获得所述第二图形的尺寸；
对所述第二图形的尺寸与初始参数进行计算，获得所述第二图形的误差。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的激光打标图形校正值的计算程序，还执行以下操作：
对所述误差值与预设的误差阈值进行比较，根据对比结果判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的激光打标图形校正值的计算程序，还执行以下操作：
初始参数的校正参数值为1。
本发明激光打标图形校正值的计算设备的具体实施例与下述激光打标图形校正值的计算方法各实施例基本相同，在此不作赘述。
参照图2，图2为本发明激光打标图形校正值的计算方法第一实施例的流程示意图，所述激光打标图形校正值的计算方法包括：
步骤S100，获得第一图形的初始尺寸，所述第一图形为根据初始参数进行打标的图形；
本实施例适用于激光打标过程中对激光打标过程进行校正，使图形畸变程度较小，提高打标精度。本实施例中的初始参数可以为设定的带有两条横竖对称轴的矩形的长度值，即田字形矩形(具体图形参见图5)的边长。先根据初始参数进行打标的图形为第一图形，第一图形的尺寸大小(包括：横向的实际值边长、纵向的实际值边长等)为初始尺寸。该第一图形是在没有进行校正的情况下进行打标后的图形，图形有一定的比例、平行四边形、梯形、枕形等多方面失真，精度误差较大，无法满足图形的精度要求。
步骤S200，根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值；
本实施例中，在得到预设图形的初始尺寸后，对图形的尺寸进行计算，得到图形的参考值，该预设的计算算法为：
E-SCALEX＝SCALEX*E-X/E-X2，
E-SCALEY＝SCALEY*E-Y/E-Y2，
E_DISTORX＝BUCKETX-(fWorkSize*fWorkSize*((E_X1+E_X3)-2*E_X2))/(2*E_X2*E_Y2*E_Y2)
E_DISTORY＝BUCKETY-(fWorkSize*fWorkSize*((E_Y1+E_Y3)-2*E_Y2))/(2*E_Y2*E_X2*E_X2)
E_HORVERX＝PRRLX-1/tan(E_A*Pi/180)，
E_HORVERY＝PRRLY，
E_TRAPEDISTORX＝TRAPEX-(E_X1-E_X3)/(2*E_Y2)，
E_TRAPEDISTORY＝TRAPEY+(E_Y1-E_Y3)/(2*E_X2)，
其中，E_SCALEX、E_SCALEY为推荐的X、Y方向的比例校正参考值，E_DISTORX、E_DISTORY为推荐的X、Y方向的桶形校正参考值，E_HORVERX、E_HORVERY为推荐的X、Y方向的平行四边形校正参考值，E_TRAPEDISTORX、E_TRAPEDISTORY为推荐的X、Y方向的梯形校正参考值，E_X、E_Y、E_A为X、Y方向初始参数，E_X1、E_X2、E_X3、E_Y1、E_Y2、E_Y3为X、Y方向6个初始尺寸长度，Pi为π，SCALEX、SCALEY为上一次打标的X、Y方向的比例校正参考值，BUCKETX、BUCKETY为上一次打标的X、Y方向的桶形校正参考值，fWorkSize为振镜可扫描区域尺寸，PRRLX、PRRLY为上一次打标的X、Y方向的平行四边形校正参考值，TRAPEX、TRAPEY为上一次打标的X、Y方向的梯形校正参考值。
在该算法中，计算第一图形的校正参考值时，上一次的校正参考值为初始参数的校正参数值，默认为1，利用上述公式，可以对预设图形的初始尺寸进行公式计算，得到参考值。即在没有进行校正的初始条件下，按照初始参数的图形进行打标后，测量第一图形的各项数据，将实测值输入软件，通过软件内的预设的算法进行计算得出一个校正参考值，从而得到校正参考值，该校正参考值为8个校正参数，即通过8个计算公式，获得图形的8个校正参数，通过8个校正参数对图形进行校正，该8个校正参数分别为X、Y方向的比例、桶形、平行四边形、梯形校正参考值。即每次校正都需利用这8个公式进行计算，通过这8个校正参考值同时对图形进行校正。
步骤S300，按照所述校正参考值进行打标，获得打标后的第二图形；
在获得参考值后，可以依据该参考值进行第二次打标，获得第二次打标的图形，该第二次打标的图形为第二图形，该第二图形是经过校正后进行打标的图形，第二图形与设置的初始参数的图形形状类似，图形的精度比未校正进行打标的图形精度要高，保真效果好，该第二图形是用于验证校正参考值是否满足精度。
步骤S400，根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差；
在获得第二图形和初始参数后，就可以根据第二图形与初始参数的图形的差别，判断所述第二图形的误差，进而判断计算出来的校正参考值是否满足校正的精度的要求。判断第二图形和初始参数的差别可以通过多种方式进行比较，比如：测量第二图形的尺寸，根据第二图形的尺寸和初始参数的尺寸进行计算，计算差别值，进而根据差别值的大小进行判断。
步骤S500，根据所述误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度；
在获得第二图形的误差后，根据第二图形的误差进行判断，判断校正参考值是否满足预设的校正精度。可以通过误差值的大小进行判断。比如，可以设置一个阈值，根据阈值与误差值的大小比较，判断校正参考值是否满足预设的校正精度。若误差值小于阈值，则校正参考值满足预设的校正精度，若误差值大于阈值，则校正参考值不满足预设的校正精度。
若是，则步骤S600，将所述校正参考值作为激光打标的校正值。
若参考值满足预设的校正精度，则所述参考值为校正值。这样，就得到了校正过程中的校正值，可以根据校正值进行校正。
本发明提供一种激光打标图形校正值的计算方法、装置和计算机存储介质。在该方法中，获得第一图形的初始尺寸，所述第一图形为根据初始参数进行打标的图形；根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值；按照所述校正参考值进行打标，获得打标后的第二图形；根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差；根据所述误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度；若是，则将所述校正参考值作为激光打标的校正值。通过上述方式，本发明能够通过对预先设置的图形的尺寸进行计算，获得一个校正值的参考值，然后对参考值进行验证，判断参考值满不满足要求，若满足要求，则该参考值为校正值，就获得了校正需要的参考值。本发明能对激光打标过程进行校正，减少图形的畸变程度，使图形的精度满足一定的要求，保持了一定的图形的精度。
请参阅图3，图3为本发明激光打标图形校正值的计算方法第二实施例的流程示意图。
基于上述实施例，本实施例还包括：
步骤S500，根据所述第二图形的误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度；
在获得第二图形的误差后，根据第二图形的误差进行判断，判断校正参考值是否满足预设的校正精度。可以通过误差值的大小进行判断。比如，可以设置一个阈值，根据阈值与误差值的大小比较，判断校正参考值是否满足预设的校正精度。若误差值小于阈值，则校正参考值满足预设的校正精度，若误差值大于阈值，则校正参考值不满足预设的校正精度。
若否，则步骤S700，将所述第二图形的尺寸设为初始尺寸，并返回步骤S200：根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值。
若第二图形的误差值不满足预设的校正精度，则将第二图形的尺寸设为初始尺寸，并返回执行步骤：根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值。这样，就使校正参考值的计算过程为一个重复循环过程，如果校正参考值不满足预设的精度要求就一直计算下去，直到校正参考值的精度满足预设的精度要求为止。
进一步地，可以参阅图4，图4为本发明激光打标图形校正值的计算方法第三实施例的过程示意图。
基于上述实施例，本实施例实施过程如下：
(1)在没有校正的初始条件初始参数下，绘制图形见图5。(2)标刻图形，测量图形中相关的各项数据实测值。(3)实测值通过预设的算法计算得出一组手工校正参考值。(4)使用手工校正参考值进行打标，判断校正参考值的精度。(5)重复(2)、(3)、(4)，直至达到要求的校正精度。
即详细实施过程如下：
1、在没有校正的初始条件下，绘制100mm×100mm的矩形，见图5；
2、标刻图形，测量下图中显示的X1、X2、X3、Y1、Y2、Y3、a的数据；
3、将测量得到的X1、X2、X3、Y1、Y2、Y3、a值输入至软件；
4、通过软件内植入的预设算法计算得出一组手工校正参考值；
5、将计算得到的手工校正参考值直接返回参数列表中；
6、再次标刻图形，测量下图中显示的X1、X2、X3、Y1、Y2、Y3、a的数据；
7、分析测量的数据是否达到精度的要求，没有达到，重复3、4、5、6；
8、若精度达到要求，结束。
以上过程为本实施例完整的计算激光打标图形校正值的计算过程，通过该过程能有效进行校正值的计算，减少校正值的计算时间，提高激光打标校正的效率。
请参阅图6，图6为本发明激光打标图形校正值的计算方法第四实施例的流程示意图。
基于上述实施例，本实施例中，步骤S100包括：
步骤S110，根据预设图形进行打标，获得打标后的第一图形；
本实施例获得预设的图形的初始尺寸的方式，是先根据预设图形进行打标，获得打标的第一图形，即通过打标，获得打标后的第一个图形。该第一个图形为第一图形。
步骤S120，接收用户输入的所述第一图形的测量尺寸，获得所述第一图形的初始尺寸。
在获得第一预设图形后，用户测量第一图形的实际尺寸，包括各个边长的长度和边长之间的角度，将测量尺寸进行输入，该输入的测量的尺寸为初始尺寸。即该初始尺寸为第一图形的实际测量尺寸。
请参阅图7，图7为本发明激光打标图形校正值的计算方法第五实施例的流程示意图。
基于上述实施例，本实施例中，步骤S400包括：
步骤S410，接收用户输入的所述第二图形的测量尺寸，获得所述第二图形的尺寸；
在本实施例中，获得第二图形后，用户对第二图形进行手工测量，输入用户进行测量的测量尺寸值，该实际测量尺寸为第二图形的尺寸。该第二图形的尺寸用于计算第二图形与初始参数之间的误差。
步骤S420，对所述第二图形的尺寸与初始参数进行计算，获得所述第二图形的误差。
在获得第二图形和初始参数后，就可以根据第二图形与初始参数的图形的差别，判断所述第二图形的误差，进而判断计算出来的校正参考值是否满足校正的精度的要求。判断第二图形和初始参数的差别通过测量第二图形的尺寸，根据第二图形的尺寸和初始参数的尺寸进行计算，计算差别值，进而根据差别值的大小进行判断。
请参阅图8，图8为本发明激光打标图形校正值的计算方法第六实施例的流程示意图。
基于上述实施例，本实施例中，步骤S500包括：
步骤S510，对所述误差值与预设的误差阈值进行比较，根据对比结果判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度；
若是，则步骤S520：所述校正参考值满足预设的校正精度；
若否，则步骤S530：所述校正参考值不满足预设的校正精度。
通过对误差值与预设的误差阈值进行比较，判断误差值的大小是否小于阈值来判断参考值是否满足预设的校正精度，若误差值的大小小于预设的阈值，则校正参考值满足预设的校正精度，若误差值的大小大于预设的阈值，则校正参考值不满足预设的校正精度。本实施例是列举了一种误差值的判断方法。
此外，本发明实施例还提出一种计算机可读存储介质。
本发明计算机可读存储介质上存储有激光打标图形校正值的计算程序，所述激光打标图形校正值的计算程序被处理器执行时实现如上所述的激光打标图形校正值的计算方法的步骤。
其中，在所述处理器上运行的激光打标图形校正值的计算程序被执行时所实现的方法可参照本发明激光打标图形校正值的计算方法各个实施例，此处不再赘述。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种激光打标图形校正值的计算方法，其特征在于，所述激光打标图形校正值的计算方法包括以下步骤：
获得第一图形的初始尺寸，所述第一图形为根据初始参数进行打标的图形；
根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值；
按照所述校正参考值进行打标，获得打标后的第二图形；
根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差；
根据所述误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度；
若是，则将所述校正参考值作为激光打标的校正值。
2.如权利要求1所述的激光打标图形校正值的计算方法，其特征在于，所述激光打标图形校正值的计算方法还包括以下步骤：
若否，则将所述第二图形的尺寸设为初始尺寸，并返回步骤：根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值。
3.如权利要求1所述的激光打标图形校正值的计算方法，其特征在于，所述预设的算法为：
E-SCALEX＝SCALEX*E-X/E-X2，
E-SCALEY＝SCALEY*E-Y/E-Y2，
E_DISTORX＝BUCKETX-(fWorkSize*fWorkSize*((E_X1+E_X3)-2*E_X2))/(2*E_X2*E_Y2*E_Y2)
E_DISTORY＝BUCKETY-(fWorkSize*fWorkSize*((E_Y1+E_Y3)-2*E_Y2))/(2*E_Y2*E_X2*E_X2)
E_HORVERX＝PRRLX-1/tan(E_A*Pi/180)，
E_HORVERY＝PRRLY，
E_TRAPEDISTORX＝TRAPEX-(E_X1-E_X3)/(2*E_Y2)，
E_TRAPEDISTORY＝TRAPEY+(E_Y1-E_Y3)/(2*E_X2)，
其中，E_SCALEX、E_SCALEY为推荐的X、Y方向的比例校正参考值，E_DISTORX、E_DISTORY为推荐的X、Y方向的桶形校正参考值，E_HORVERX、E_HORVERY为推荐的X、Y方向的平行四边形校正参考值，E_TRAPEDISTORX、E_TRAPEDISTORY为推荐的X、Y方向的梯形校正参考值，E_X、E_Y、E_A为X、Y方向初始参数，E_X1、E_X2、E_X3、E_Y1、E_Y2、E_Y3为X、Y方向6个初始尺寸长度，Pi为π，SCALEX、SCALEY为上一次打标的X、Y方向的比例校正参考值，BUCKETX、BUCKETY为上一次打标的X、Y方向的桶形校正参考值，fWorkSize为振镜可扫描区域尺寸，PRRLX、PRRLY为上一次打标的X、Y方向的平行四边形校正参考值，TRAPEX、TRAPEY为上一次打标的X、Y方向的梯形校正参考值。
4.如权利要求1所述的激光打标图形校正值的计算方法，其特征在于，所述获得第一图形的初始尺寸的步骤包括：
根据预设图形进行打标，获得打标后的第一图形；
接收用户输入的所述第一图形的测量尺寸，获得所述第一图形的初始尺寸。
5.如权利要求1所述的激光打标图形校正值的计算方法，其特征在于，所述根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差的步骤包括：
接收用户输入的所述第二图形的测量尺寸，获得所述第二图形的尺寸；
对所述第二图形的尺寸与初始参数进行计算，获得所述第二图形的误差。
6.如权利要求1所述的激光打标图形校正值的计算方法，其特征在于，所述根据所述第二图形的误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度的步骤包括：
对所述误差值与预设的误差阈值进行比较，根据对比结果判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度。
7.如权利要求1所述的激光打标图形校正值的计算方法，其特征在于，初始参数的校正参数值为1。
8.一种激光打标图形校正值的计算装置，其特征在于，所述激光打标图形校正值的计算装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的激光打标图形校正值的计算程序，所述激光打标图形校正值的计算程序被所述处理器执行时实现如下步骤：
获得第一图形的初始尺寸，所述第一图形为根据初始参数进行打标的图形；
根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算，得到所述初始参数的校正参考值；
按照所述参考值进行打标，获得打标后的第二图形；
根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差；
根据所述第二图形的误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度；
若是，则将所述校正参考值作为激光打标的校正值。
9.如权利要求8所述的激光打标图形校正值的计算装置，其特征在于，所述激光打标图形校正值的计算程序被所述处理器执行时还实现如下步骤：
E-SCALEX＝SCALEX*E-X/E-X2，
E-SCALEY＝SCALEY*E-Y/E-Y2，
E_DISTORX＝BUCKETX-(fWorkSize*fWorkSize*((E_X1+E_X3)-2*E_X2))/(2*E_X2*E_Y2*E_Y2)
E_DISTORY＝BUCKETY-(fWorkSize*fWorkSize*((E_Y1+E_Y3)-2*E_Y2))/(2*E_Y2*E_X2*E_X2)
E_HORVERX＝PRRLX-1/tan(E_A*Pi/180)，
E_HORVERY＝PRRLY，
E_TRAPEDISTORX＝TRAPEX-(E_X1-E_X3)/(2*E_Y2)，
E_TRAPEDISTORY＝TRAPEY+(E_Y1-E_Y3)/(2*E_X2)，
其中，E_SCALEX、E_SCALEY为推荐的X、Y方向的比例校正参考值，E_DISTORX、E_DISTORY为推荐的X、Y方向的桶形校正参考值，E_HORVERX、E_HORVERY为推荐的X、Y方向的平行四边形校正参考值，E_TRAPEDISTORX、E_TRAPEDISTORY为推荐的X、Y方向的梯形校正参考值，E_X、E_Y、E_A为X、Y方向初始参数，E_X1、E_X2、E_X3、E_Y1、E_Y2、E_Y3为X、Y方向6个初始尺寸长度，Pi为π，SCALEX、SCALEY为上一次打标的X、Y方向的比例校正参考值，BUCKETX、BUCKETY为上一次打标的X、Y方向的桶形校正参考值，fWorkSize为振镜可扫描区域尺寸，PRRLX、PRRLY为上一次打标的X、Y方向的平行四边形校正参考值，TRAPEX、TRAPEY为上一次打标的X、Y方向的梯形校正参考值。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有激光打标图形校正值的计算程序，所述激光打标图形校正值的计算程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述激光打标图形校正值的计算方法的步骤。
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