CN109886376B - 电子装置品质期限管控方法、电子装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种电子装置品质期限的管控方法,其包括:获取电子装置的生产日期;根据生产日期计算电子装置的呆滞时间。本申请提供的电子装置品质期限的管控方法首先获取电子装置的生产日期,生产日期也就是电子装置制造成整机符合出厂的时间。然后根据生产日期计算电子装置的呆滞时间,也就是计算电子装置从出厂至今的时间长度。进而了解电子装置所处的状态,以便生产厂商能够更好地监控已生产的电子装置所处的状态,通过对于本型号或者其他型号的生产进度有一定的参考价值。同时品质人员可以查询即将超期的电子装置信息,提前根据实物状态判断电子装置是否有品质风险,以保证产品的质量。本申请还提供一种电子装置、终端设备以及存储介质。
Description
技术领域
本申请涉及电子技术领域,特别是涉及一种电子装置品质期限的管控方法、电子装置、终端设备以及存储介质。
背景技术
每台手机、平板电脑等电子装置生产出来之后往往并没办法第一时间或者在很短的时间内销售出去。如果电子装置生产之后一直滞留则随着时间的延长可能有些部件会发生老化,导致电子装置在出售前性能有所降低,而面对这种情况目前没有一个较好得管控方案。
发明内容
本申请提供一种电子装置品质期限的管控方法、电子装置、终端设备以及存储介质。
本申请采用的一个技术方案是:提供一种电子装置品质期限的管控方法,其包括:
获取电子装置的生产日期;
根据所述生产日期计算电子装置的呆滞时间。
本申请还提供一种电子装置,包括:
获取模块,用于获取电子装置的生产日期;
计算模块,用于根据所述生产日期计算电子装置的呆滞时间。
本申请还提供一种终端设备,其包括:
处理器、存储器以及存储在所述储存器上的计算机程序,所述处理器耦合所述存储器,所述处理器在工作时执行所述计算机程序以实现如以上所述的方法。
本申请还提供一种存储介质,其特征在于,存储有程序数据,所述程序数据被执行时实现如以上所述的方法。
本申请提供的电子装置品质期限的管控方法首先获取电子装置的生产日期,生产日期也就是电子装置制造成整机符合出厂的时间。然后根据生产日期计算电子装置的呆滞时间,也就是计算电子装置从出厂至今的时间长度。进而了解电子装置所处的状态,以便生产厂商能够更好地监控已生产的电子装置所处的状态,通过对于本型号或者其他型号的生产进度有一定的参考价值。如果有一些电子装置的呆滞时间已经超过最长的允许呆滞时间,则可以交由品质人员进行检测,以确保每台出库的电子装置符合品质要求。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请电子装置品质期限的管控方法一实施例的流程示意图;
图2是本申请电子装置品质期限的管控方法另一实施例的流程示意图;
图3是本申请电子装置一实施例中的结构示意图;
图4是本申请电子装置另一实施例中的结构示意图;
图5是本申请电子装置再一实施例中的结构示意图;
图6是本申请终端设备一实施例中的结构示意图;
图7是本申请存储介质一实施例中的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请,而非对本申请的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
每台手机、平板电脑等电子装置生产出来之后往往并没办法第一时间或者在很短的时间内销售出去。如果电子装置生产之后一直滞留则随着时间的延长可能有些部件会发生老化,导致电子装置在出售前性能有所降低,而面对这种情况目前没有一个较好得管控方案。本申请提供一种电子装置品质期限管控的方法针对成品电子装置的库存进行管控。进而可以对在仓库呆滞时间超过一定的期限,是有品质风险的电子装置进行品质返检操作,以保证电子装置的品质,同时对于电子装置的生产进度也可以给出相应的提示,以达到更好的管控。该电子装置品质期限的管控方法由MES系统(制造企业生产过程执行系统,是一套面向制造企业车间执行层的生产信息化管理系统)进行执行,以下通过各实施例做进一步介绍。
参见图1为本申请提供的电子装置品质期限的管控方法一实施例的流程示意图,该方法包括:步骤101和步骤102,其中:
步骤101:获取电子装置的生产日期。
首先,MES系统获取电子装置的生产日期。可以理解的,电子装置的生产日期一般为电子装置制造成整机符合出厂的时间。每台电子装置生产完成之后对电子装置的相关信息进行记录,登记在数据库中,该相关信息包括电子装置的生产日期、型号、批次,以及电子装置目前存在的位置等信息。步骤101中,MES系统直接访问上述数据库即可得到电子装置的出厂时间。可选地,上述数据库可以是MES系统内部的数据库,或者是MES系统之外的但与MES系统连接,可供MES系统访问的数据库。
可以理解的,每台电子装置都会有一个外包装,外包装的外表上记录有电子装置的生产日期,或者包装日期。MES系统可以直接扫描或者识别电子装置外包装上的相关图案,以获得获取电子装置的生产日期。具体的,MES可以通过字符直接识别呈现在电子装置外包装上的编码,或者通过扫描呈现在电子装置外包装上的相关图案,例如二维码或者条形码,以获取该电子装置的生产日期或者包装日期。如果MES系统获得的是电子装置的外包装日期,则直接以外包装日期代替电子装置的生产日期。可以理解的,电子装置的外包装上的日期有时候并非是电子装置完成整机生产的准确时间,例如电子装置的外包装盒子是提前预定,生产日期或者外包装日期是提前喷码或者印刷上去的,一般会预留一定的时间,但是有时候由于工程进度,或者突发事件,外包装盒子上所预留的时间并不会非常准确,但是一般也不会相差很大,因此可以将外包装盒子上的生产日期或者包装日期代替电子装置的生产日期。
步骤102:根据生产日期计算电子装置的呆滞时间。
步骤101获取电子装置的生产日期之后,根据该生产日期则可以计算出电子装置的呆滞时间。具体的,本申请管控的电子装置为电子装置生产完成之后一直滞留在库存中,没有销售出去,也没有出库至分销商处的电子装置。呆滞时间为上述这类电子装置在库存中滞留的时间。具体,一实施例中,根据生产日期计算电子装置的呆滞时间的步骤包括:电子装置的呆滞时间等于当前时间减去电子装置的生产日期。
在通过电子装置的外包装的盒子上的生产日期或者包装日期获取电子装置的产生日期的实施例中,如果在明知道某个批次的电子装置生产因某些事件被耽搁而导致实际生产日期明显晚于电子装置的外包装的盒子上所记录的生产日期或者包装日期。则根据生产日期计算电子装置的呆滞时间的步骤之后包括:将所述呆滞时间减去修正时间,以得到标定呆滞时间。标定呆滞时间为经过修正后的呆滞时间,则更符合电子装置实际呆滞时间。
本申请通过MES系统获取电子装置的生产日期,并根据该生产日期计算电子装置的呆滞时间,进而了解电子装置滞留在库存中的时间,进而了解电子装置所处的状态,以便生产厂商能够更好地监控已生产的了解电子装置所处的状态,通过对于本型号或者其他型号的生产进度有一定的参考价值。
本申请通过以上方案,库存中的电子装置在MES系统的校验下,如果当前日期减去电子装置的生产日期大于允许的呆滞时间(允许的呆滞时间,即为该呆滞时间内,电子装置的性能正常,电子装置中的部件没有出现老化,或者老化非常轻微,不影响出货,电子装置的品质符合出库要求),则系统报错,例如“此电子装置已超出品质人员维护的允许呆滞时间,请联系品质人员判定”。其他实施例中,也可以采用其他类似的措辞,此不做具体限定。可以理解的,品质人员根据电子装置实物的品质返检情况判断电子装置是否可以出货,如果可以,则允许正常出库。在确认电子装置品质足够好的情况下,可以通过MES系统适当延长此次出货电子装置允许的呆滞时间,让电子装置在保证品质的情况下正常出货。反之,如果MES系统检测后发现电子装置已经超过电子装置允许的呆滞时间,则对电子装置进行品质反检,如确实有出现瑕疵则进行维护后出货,或者作为促销或者打折商品出售等。
可以理解的,通过本申请提供的技术方案,品质人员可以通过MES系统查询即将超期的手机信息,比如允许呆滞时间定为是30天,可以通过MES系统中的查询功能,查询目前已经呆滞20天的机器,并提前根据实物状态判断电子装置是否有品质风险,如果没有,则可以延长此次电子装置的允许呆滞时间,以保证正常品质的电子装置可以正常出货,并保证电子装置的品质符合要求。
参加图2,为本申请电子装置品质期限的管控方法另一实施例的流程示意图。该方法包括步骤201至步骤203,其中步骤201和步骤202分别与上一实施例的步骤101和步骤102一致,此不赘述,具体的:
步骤201:获取电子装置的生产日期。
步骤202:根据生产日期计算电子装置的呆滞时间。
步骤203:根据电子装置的呆滞时间统计多台电子装置的呆滞状态,并对多台电子装置的呆滞状态进行等级划分,以形成不同提示效果。
可以理解的,库存中包括一个型号的多台电子装置,或者不同型号的多台电子装置。步骤203可以通过多台电子装置的呆滞时间统计库存中所有电子装置的呆滞状态,并对这些电子装置的呆滞状态进行等级划分,比如有些电子装置的呆滞时间是2个月,有些是4个月,有些是半年,有些是1年,有些是1年半。即根据电子装置的呆滞时间进行等级的划分,不同等级都是哪些型号的电子装置,数量各是多少,因此能够给生产厂商或者销售部分形成不同的提示效果,进而根据不同等级的数量以及状态分布保持或者修正生产和销售的策略。采用该技术前,一般是通过人为盘点,需要对库存的所有电子装置进行盘点,工作量大,判断容易出错且出现漏盘点的情况,而本申请通过MES系统自动进行获取,计算、统计,大大提高效率,且不易出现遗漏的情况。
可选地,一实施例中,对多台电子装置的呆滞状态进行等级划分的步骤之后还包括:以图片或者表格方式输出各个等级的分布结果。可以理解的,如果分散地给出库存电子装置的呆滞时间,数量,型号等数量往往难以直观的全面了解库存的状态。本实施中通过图片或者表格的形式将电子装置的呆滞时间与电子装置型号、生产批次、数量、存储位置,以及预售情况等信息关联起来,并整合在一张图表中,从不同维度,不同图形,例如折线图、饼图、柱状图、雷达图以及热力地图等形式进行展现,从而使得电子装置的管理人员或者销售人员能够清楚明了地了解目前电子装置的库存情况。
可选地,一实施例中,MES系统上可以设置各种和电子装置相关的查询选项,例如呆滞时间、电子装置的产品批次、型号,以及存放地址等。品质人员可以通过各选项,从不同维度切入去了解库存中电子装置的状态。如果是以图表的形式呈现,则可以由品质人员自行选择图标的类型,以及多维信息选项,例如:呆滞时间+数量,呆滞时间+型号,呆滞时间+产品批次等,具体包括呆滞时间、电子装置的产品批次、型号以及数量中的至少两个。
如图3所示,为本申请电子装置一实施例的的结构示意图,该电子装置100包括获取模块10和计算模块20,其中:
获取模块10,用于获取电子装置的生产日期。
计算模块20,用于根据所述生产日期计算电子装置的呆滞时间。
如图4所示,再一实施例中,本申请提供的电子装置100除了包括获取模块10和计算模块20,还包括统计模块30,其中获取模块10和计算模块20与上一实施例描述的一致,此不赘述,具体的:
统计模块30,用于根据所述电子装置的呆滞时间统计多台电子装置的呆滞状态,并对多台电子装置的呆滞状态进行等级划分,以形成不同提示效果。
如图5所示,再一实施例中,电子装置100除了包括获取模块10、计算模块20以及统计模块30外,还包括修正模块40,其中获取模块10、计算模块20以及统计模块30与上一实施例描述的一致,此不赘述,具体的:
修正模块40,用于将所述呆滞时间减去修正时间,以得到标定呆滞时间。
在本申请所提供的实施方式中,应该理解到,所揭露的电子装置、电子设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施方式仅仅是示意性的,例如,所述模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施方式方案的目的。
另外,在本发明各个实施方式中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
本申请还提供一种终端设备,如图6所示为该终端设备200一实施例的结构示意图,该终端设备200包括处理器210、存储器220以及存储在存储器210上的计算机程序,处理器210耦合存储器210。处理器210在工作时执行计算机程序以实现以上各实施例所描述的电子装置品质期限的管控方法,其中该方法可以是MES侧实现的方法。
如图7所示,本申请还提供一种存储介质300,存储有程序数据310,该程序数据310被执行时实现以上各实施例所描述的电子装置品质期限的管控方法,其中该方法可以是MES侧实现的方法。
可以理解的,以上软件集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)或处理器(processor)执行本发明各个实施方式所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random AccessMemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述仅为本申请的实施方式,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种电子装置品质期限的管控方法,其特征在于,包括:
扫描电子装置外包装上的相关图案以获取电子装置的生产日期;
根据所述生产日期计算电子装置的呆滞时间;
根据所述电子装置的呆滞时间、允许的呆滞时间统计多台电子装置的呆滞状态,并对多台电子装置的呆滞状态进行等级划分,以形成不同提示效果;
在所述呆滞时间超过所述允许的呆滞时间时,响应于电子装置的返检结果为保证品质而延长所述允许的呆滞时间。
2.根据权利要求1所述的电子装置品质期限的管控方法,其特征在于,所述根据所述生产日期计算电子装置的呆滞时间的步骤包括:
所述电子装置的呆滞时间等于当前时间减去所述电子装置的生产日期。
3.根据权利要求1所述的电子装置品质期限的管控方法,其特征在于,所述相关图案为条形码或者二维码。
4.根据权利要求1所述的电子装置品质期限的管控方法,其特征在于,所述对多台电子装置的呆滞状态进行等级划分的步骤之后还包括:
以图片或者表格方式输出各个等级的分布结果。
5.根据权利要求1所述的电子装置品质期限的管控方法,其特征在于,所述根据所述生产日期计算电子装置的呆滞时间的步骤之后包括:
将所述呆滞时间减去修正时间,以得到标定呆滞时间。
6.一种电子装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取电子装置的生产日期;
计算模块,用于根据所述生产日期计算电子装置的呆滞时间;
统计模块,用于根据所述电子装置的呆滞时间、允许的呆滞时间统计多台电子装置的呆滞状态,并对多台电子装置的呆滞状态进行等级划分,以形成不同提示效果;
修正模块,用于在所述呆滞时间超过所述允许的呆滞时间时,响应于电子装置的返检结果为保证品质而延长所述允许的呆滞时间。
7.根据权利要求6所述的电子装置,其特征在于,还包括:
输出模块,用于输出各个等级的分布结果。
8.根据权利要求6所述的电子装置,其特征在于,所述修正模块还用于将所述呆滞时间减去修正时间,以得到标定呆滞时间。
9.一种终端设备,其特征在于,包括:
处理器、存储器以及存储在所述存储器上的计算机程序,所述处理器耦合所述存储器,所述处理器在工作时执行所述计算机程序以实现如权利要求1~5任一项所述的方法。
10.一种存储介质,其特征在于,存储有程序数据,所述程序数据被执行时实现如权利要求1~5任一项所述的方法。
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