CN109884367B - 一种居民用户负荷辨识模块的测试系统及方法 - Google Patents

一种居民用户负荷辨识模块的测试系统及方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种居民用电负荷辨识模块的测试系统,包括测试系统层、测试控制层和测试工装层。测试系统层包括上位机测试软件,测试控制层包括测试控制板,所述测试控制板包括微处理器MCU,串口1、串口2和串口3等;测试工装层包括A类型测试工装和B类型测试工装。其采用多串行通信切换技术,实现了串口的复用及扩展,提高了测试设备的利用率,输出多路串口,达到能测试多种类型辨识模块测试的目的。本发明还公开了居民用电负荷辨识模块的测试方法,该方法包括七个检测步骤,采用自动化测试流程控制,实现了辨识模块的自动化测试,提高了生产效率,减少了产品的故障率,实现了居民用电负荷辨识模块的批量测试。

Description

一种居民用户负荷辨识模块的测试系统及方法
技术领域
本发明属于智能电网、智能用电技术领域,尤其涉及一种新型居民用户负荷辨识模块的测试系统及方法。
背景技术
居民用电负荷辨识装置是一种新型的高级量测设备,其安装在居民用电的总进线处,采集居民用户总进线处的电压和电流信号,再通过智能算法辨识出用户的用电行为,得到细粒度的负荷信息,装置的应用范围比较广,可以应用于智能公寓、智慧家居等诸多场景,因此前景十分看好。随着户居民用电负荷辨识装置的大范围推广应用,其实现辨识功能的核心器件,辨识模块的生产加工数量也逐步增加,随之而来的便是辨识模块繁重的出厂测试任务。目前,相类似的模块的测试大部分采用的是手动测试,而手动测试则带来诸多问题,测试效率低,测试品种单一,测试时间长,成品的故障率高等,严重影响辨识模块的供货及时性及可靠性。
因此,需要一种居民用户负荷辨识模块的测试系统及方法以满足现有状况的需求。
发明内容
本发明针对现况的需求,提供一种居民用户负荷辨识模块的测试系统及方法,这是一种可以提高效率且成品率高的装置及防范,从而提高测试效率,保证模块的可靠性,满足供货交期及产品质量的要求。
本发明的技术方案为:一种居民用电负荷辨识模块的测试系统,其特征在于:包括测试系统层、测试控制层和测试工装层;
所述测试系统层包括上位机测试软件,所述测试软件,即居民用电负荷辨识模块测试系统软件,安装于服务器中;
所述测试控制层包括测试控制板,测试控制板包括微处理器MCU,串口1、串口2、串口3、通道切换控制1、通道切换控制2、指示灯显示电路和A类测试模块和B类测试模块;
所述微处理器MCU、串口1和测试系统依次连接;
所述微处理器MCU、串口2、通道切换控制1和A类测试模块依次连接;
所述微处理器MCU、串口3、通道切换控制2和B类测试模块依次连接;
所述指示灯显示电路、通道切换控制1和通道切换控制2均与微处理器MCU连接;
所述测试工装层包括A类型测试工装和B类型测试工装;A类型测试工装与A类测试模块连接;B类测试工装与B类测试模块连接。
更进一步的,所述测试系统层实现对辨识模块的控制,对辨识模块的控制包括用户管理、测试案例加载、测试流程控制、测试报告生成和测试统计。
更进一步的,所述A类型测试模块包括若干个测试串口和若干个A类型接口;所述A类型接口与对应的测试串口连接;
所述B类型测试模块包括若干个测试串口和若干个B类型接口;所述B类型接口与对应的测试串口连接。
更进一步的,A类型测试工装固定A类型的辨识模块,A类型的辨识模块的引脚全部引致所述测试工装层,A类型测试接口连接至A类型辨识测试工装,实现测试数据的交互,从而显示A类型测试模块的测试;B类型测试工装固定B类型的辨识模块,B类型的辨识模块的引脚全部引致测试工装层,B类型测试接口连接至B类型辨识测试工装,实现测试数据的交互,从而显示B类型辨识模块的测试。
更进一步的,所述A类测试模块包括测试串口1、测试串口2、A类型接口1和A类型接口2;所述测试串口1和测试串口2并列的与通道切换控制1连接,A类型接口1与测试串口1连接;A类型接口2与测试串口2连接;
所述B类测试模块包括测试串口3、测试串口4、B类型接口1和B类型接口2;所述测试串口3和测试串口4并列的与通道切换控制2连接,B类型接口1与测试串口3连接;B类型接口2与测试串口4连接。
更近一步的,所述A类型测试工装包括A类型工装1和A类型工装2;所述B类型测试工装包括B类型工装1和B类型工装2;所述A类型工装1和A类型接口1连接;A类型工装2与A类型接口2连接;B类型工装1和B类型接口1连接,B类型工装2与B类型接口2连接。
更进一步的,所述微处理器MCU接收测试系统层的控制,实施测试流程;微处理器MCU将测试结果和故障信息上传至测试系统;微处理器MCU控制指示灯显示电路显示测试中的故障问题。
更进一步的,所述通道切换控制1实现串口通道的切换,将输入串口在测试串口1和测试串口2之间转换,实现串口的复用和扩展;所述通道切换控制2实现串口通道的切换,将输入串口在测试串口3和测试串口4之间转换,实现串口的复用和扩展;
一种居民用户负荷辨识模块的测试方法,包括如下步骤:
步骤(一)、将待测辨识模块安装在测试工装;
步骤(二)、使用测试系统层中的上位机测试软件确定待测辨识模块的类型,加载检测程序;
步骤(三)、通过串口1将步骤(二)中加载的检测程序发送至测试控制层中的测试主板;
步骤(四)、测试主板接收检测程序并进行自检;检测测试主板和测试工装层的测试工装是否正常;若正常,至步骤(五)继续检测;若异常,指示灯发出警告,检测结束。
步骤(五)、微处理器MCU同时对检测测试接口1和测试接口3进行检测,若正常对测试接口1执行A类测试程序;对测试接口3执行B类测试程序,随后至步骤(六);若异常,指示灯发出警告,检测结束;
步骤(六)、微处理器MCU控制切换将串口1切换至测试接口2,串口3切换至测试接口4,并检测测试接口3和测试接口4是否正常,若正常,对测试接口2执行A类测试程序,对测试接口4执行B类测试程序,随后至步骤(七);若异常,指示灯发出警告,检测结束;
步骤(七)、生成测试报告,检测结束。
有益效果:本发明的一种居民用户负荷辨识模块的测试系统,本发明采用多串行通信切换技术,实现了串口的复用及扩展,提高了测试设备的利用率,输出多路串口,达到能测试多种类型辨识模块测试的目的。整个测试系统具有多种类型接口,适配不同的测试工装,在同一测试系统内能满足不同类型辨识模块测试的接口要求,系统具有很强的实际应用价值。本发明的一种居民用户负荷辨识模块的测试方法,采用自动化测试流程控制,实现了辨识模块的自动化测试,提高了生产效率,减少了产品的故障率,实现了居民用电负荷辨识模块的批量测试。
附图说明:
图1一种居民用户负荷辨识模块测试系统的结构图;
图2一种居民用户负荷辨识模块的测试方法流程图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例,进一步阐明本发明,应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围,在阅读了本发明之后,本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。
一种居民用户负荷辨识模块的测试系统,包括三层控制结构,分别为测试系统层、测试控制层和测试工装层。
测试系统层为上位机测试软件,测试软件安装于服务其中,实现负荷辨识模块测试的控制,包括用户管理、测试案例加载、测试流程控制、测试报告生成和测试统计。
所述测试控制层包括模块测试执行单位,即测试控制板。所述测试控制板内包括微处理器MCU、串口1、串口2、串口3、通道切换控制1、第二切换控制、指示灯显示电路、A类测试模块和B类测试模块。
A类测试模块包括相互连接的测试串口1和A类型接口1,相互连接的测试串口2和A类型接口2;
测试工装层包括A类测试工装和B类测试工装,所述A类测试工装包括A类测试工装1和A类测试工装2,B类测试工装包括B类工装1和B类测试工装2。其中A类型测试工装实现固定A类型的辨识模块,将A类型辨识模块的引脚全部引致测试工装,A类型测试接口连接至A类型辨识测试工装,实现测试数据的交互,从而显示A类型辨识模块的测试。其中B类型测试工装实现固定B类型的辨识模块,将B类型辨识模块的引脚全部引致测试工装,B类型测试接口连接至B类型辨识测试工装,实现测试数据的交互,从而显示B类型辨识模块的测试。
微处理器MCU为主要控制核心器件,连接各个功能,控制其他子,接收测试系统层的控制,实现测试流程,并将测试结果上传至测试系统层,同时还上报故障及控制指示灯显示电路显示测试问题。微处理器MCU与其他各个的连接关系如下:测试系统层、串口1与微处理器MCU连接,串口1主要是微处理器MCU测试系统层的通讯通道,实现与测试系统的通讯。
微处理器MCU、串口2、通道切换控制1、测试串口1、A类型接口1和A类型工装1依次连接;微处理器MCU、串口2、通道切换控制1、测试串口2、A类型接口2和A类型工装2依次连接;串口2主要是与A类型测试模块通讯,其通过第一通道切换与测试串口1和测试串口2连接,并最终输出至A类型模块接口。
微处理器MCU、串口3、通道切换控制2、测试串口3、B类型接口1和B类型工装1依次连接,微处理器、串口3、通道切换控制2、测试串口4、B类型接口2和B类型工装2依次连接。串口3主要是与B类测试模块通讯,其通过通道切换控制2与测试串口3和测试串口4连接,并最终输出至B类型模块接口。可以看出,通道切换控制1和通道切换控制2实现串口通道的切换,将输入串口在两个测试串口之间转换,实现串口的复用和扩展。
测试控制版中的微处理器MCU控制测试通道相连,如附图1所示,本实施例中的测试通道从上到下共计四个,依序分别明明为1通道、2通道、3通道和4通道。通道切换控制实现串口通道的切换,将输入串口在两个测试串口之间转换。当选中1通道后,测试控制版中的微处理器MCU通过串口2与测试串口1进行数据通讯,测试串口1对应A类型接口1的A类型工装1;若选中2通道后,测试控制版中的微处理器MCU通过串口2与测试串口2进行数据通讯,测试串口2对应A类型接口2的A类型工装2;这样就实现了两个A类型辨识模块的测试。如果选中3通道,测试控制版中的微处理器MCU通过串口2与测试串口3进行数据通讯,测试串口3对应B类型接口1的B类型工装1;选中4通道后,测试控制版中的微处理器MCU通过串口2与测试串口4进行数据通讯,测试串口4对应B类型接口2的B类型工装2,同样实现了两个B类型辨识模块的测试。
一种居民用户负荷辨识模块的测试方法,包括如下步骤:
步骤(一)、将待测辨识模块安装在测试工装;
步骤(二)、使用测试系统层中的上位机测试软件确定待测辨识模块的类型,加载检测程序;
步骤(三)、通过串口1将步骤(二)中加载的检测程序发送至测试控制层中的测试主板;
步骤(四)、测试主板接收检测程序并进行自检;检测测试主板和测试工装层的测试工装是否正常;若正常,至步骤(五)继续检测;若异常,指示灯发出警告,检测结束。
步骤(五)、微处理器MCU同时对检测测试接口1和测试接口3进行检测,若正常,对测试接口1执行A类测试程序;对测试接口3执行B类测试程序,随后至步骤(六);若异常,指示灯发出警告,检测结束。
步骤(六)、微处理器MCU控制切换将串口1切换至测试接口2,串口3切换至测试接口4,并检测测试接口3和测试接口4是否正常,若正常,对测试接口2执行A类测试程序,对测试接口4执行B类测试程序,随后至步骤(七);若异常,指示灯发出警告,检测结束。
步骤(七)、生成测试报告,检测结束。

Claims (2)

1.一种居民用电负荷辨识模块的测试系统,其特征在于:包括测试系统层、测试控制层和测试工装层;
所述测试系统层包括上位机测试软件,所述上位机测试软件,安装于上位机服务器中;
所述测试控制层包括测试控制板,所述测试控制板包括微处理器MCU、串口1、串口2、串口3、通道切换控制1、通道切换控制2、指示灯显示电路和A类测试模块和B类测试模块;
所述微处理器MCU、串口1和测试系统依次连接;
所述微处理器MCU、串口2、通道切换控制1和A类测试模块依次连接;
所述微处理器MCU、串口3、通道切换控制2和B类测试模块依次连接;
所述指示灯显示电路、通道切换控制1和通道切换控制2均与微处理器MCU连接;
所述测试工装层包括A类型测试工装和B类型测试工装;A类型测试工装与A类测试模块连接;B类测试工装与B类测试模块连接;
A类型测试工装固定A类型的辨识模块,A类型的辨识模块的引脚全部引致所述测试工装层;B类型测试工装固定B类型的辨识模块,B类型的辨识模块的引脚全部引致测试工装层;
所述A类型测试模块包括若干个测试串口和若干个A类型接口;所述A类型接口与对应的测试串口连接;
所述B类型测试模块包括若干个测试串口和若干个B类型接口;所述B类型接口与对应的测试串口连接;
A类型接口连接至A类型测试工装,实现测试数据的交互,进行A类型测试模块的测试;B类型接口连接至B类型测试工装,实现测试数据的交互,进行B类型辨识模块的测试;
所述A类测试模块包括测试串口1、测试串口2、A类型接口1和A类型接口2;所述测试串口1和测试串口2并列的与通道切换控制1连接,A类型接口1与测试串口1连接;A类型接口2与测试串口2连接;
所述B类测试模块包括测试串口3、测试串口4、B类型接口1和B类型接口2;所述测试串口3和测试串口4并列的与通道切换控制2连接,B类型接口1与测试串口3连接;B类型接口2与测试串口4连接;
所述A类型测试工装包括A类型工装1和A类型工装2;所述B类型测试工装包括B类型工装1和B类型工装2;所述A类型工装1和A类型接口1连接;A类型工装2与A类型接口2连接;B类型工装1和B类型接口1连接,B类型工装2与B类型接口2连接;
所述微处理器MCU接收测试系统层的控制,实施测试流程;微处理器MCU将测试结果和故障信息上传至测试系统;微处理器MCU控制指示灯显示电路显示故障问题;
所述通道切换控制1将输入串口在测试串口1和测试串口2之间转换,实现串口的复用和扩展;所述通道切换控制2将输入串口在测试串口3和测试串口4之间转换,实现串口的复用和扩展。
2.一种基于权利要求1所述的居民用电负荷辨识模块的测试系统的测试方法,其特征在于:
包括如下步骤:
步骤(一)、将待测辨识模块安装在测试工装;
步骤(二)、使用测试系统层中的上位机测试软件确定待测辨识模块的类型,加载检测程序;
步骤(三)、通过串口1将步骤(二)中加载的检测程序发送至测试控制层中的测试控制板;
步骤(四)、测试控制板接收检测程序并进行自检;检测测试控制板和测试工装层的测试工装是否正常;若正常,至步骤(五)继续检测;若异常,指示灯发出警告,检测结束;
步骤(五)、微处理器MCU同时对测试串口1和测试串口3进行检测,若正常,对测试串口1执行A类测试程序;对测试串口3执行B类测试程序,随后至步骤(六);若异常,指示灯发出警告,检测结束;
步骤(六)、微处理器MCU控制切换将串口2切换至测试串口2,串口3切换至测试串口4,并检测测试串口2和测试串口4是否正常,若正常,对测试接口2执行A类测试程序,对测试接口4执行B类测试程序,随后至步骤(七);若异常,指示灯发出警告,检测结束;
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