CN109861689B - 一种参考频率的产生方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种参考频率的产生方法及装置，将晶体振荡器输出的原始频率信号进行分频，而后，获得分频的频率信号，从分频的频率信号中获得预设时间间隔的两个分频周期信号，然后计算出这两个分频周期信号的频率偏差值，利用该频率偏差值对晶体振荡器输出的原始频率信号进行补偿，从而获得补偿后的参考频率信号。该方法实现过程中，无需温度传感器测试系统，也不需要复杂且高成本的标准测试校准系统，降低实现的复杂度及设计成本，易于实现。

Description

一种参考频率的产生方法及装置

技术领域

本发明涉及集成电路设计领域，特别涉及一种参考频率的产生方法及装置。

背景技术

在集成电路芯片或电子系统中，通常采用晶体振荡器产生时钟信号参考频率信号。

在时钟信号的应用中，由晶体振荡器产生参考频率信号，进而基于参考频率信号，通过锁相环电路产生系统所需的本振信号，因此，在一些电子系统中，例如4G移动通信系统、GPS系统等，对参考频率信号的精度有很高的要求。然而，由于晶体本身的固有特性，会导致晶体振荡器输出的参考信号的频率随温度的变化而变化，通常地，随着温度的变化，晶体振荡器输出的频率围绕中心值有±15ppm的波动。为了满足这些高阶的需求，通常会采用具有温度补偿的晶体振荡器，其通过实时采集晶体振荡器的环境温度，通过算法或其他补偿方式对晶体振荡器的输出频率进行补偿，补偿时通过调整晶体振荡器中的可变电容，进而使得输出频率随温度变化的波动范围缩小，例如缩小到0.1-0.5ppm。

然而，温度补偿的晶体振荡器的实现方式中，需要高精度的温度传感器测量晶体振荡器的环境温度，这些都需要模拟电路来实现，并通过信号处理电路对晶体振荡器中的可变电容进行控制，在具体控制过程中，还要与实际测量值进行对比及校准，这需要设计标准测试校准系统，系统实现的复杂度及成本较高。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种参考频率的产生方法及装置，降低实现的复杂度，易于实现。

为实现上述目的，本发明有如下技术方案：

一种参考频率的产生方法，包括：

获得晶体振荡器的原始频率信号；

将所述原始频率信号进行分频，以获得分频的频率信号；

从所述分频的频率信号依次获得第一采样时刻的第一分频周期信号以及第二采样时刻的第二分频周期信号，所述第一采样时刻和所述第二采样时刻具有预设时间间隔；

根据所述第一分频周期信号以及所述第二分频周期信号，确定频率偏差值；

根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，以获得补偿后的参考频率信号。

可选地，通过分频电路将所述原始频率信号进行分频，所述从所述分频的频率信号分别获得第一采样时刻的第一分频周期信号以及第二采样时刻的第二分频周期信号，包括：

将所述分频电路在第一采样时刻产生的分频的频率信号进行存储，并在所述分频电路在第二采样时刻产生分频的频率信号时输出，存储并输出的第一采样时刻的频率信号为第一分频周期信号；

所述分频电路在第二采样时刻产生的分频的频率信号为第二分频周期信号。

可选地，所述预设时间间隔大于等于一个第一分频周期信号的周期。

可选地，所述原始频率信号为晶体振荡器的输出信号；则，

所述根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，包括：

根据所述频率偏差值，对所述晶体振荡器中可变电容的电容值进行控制，以实现对所述原始频率信号的补偿。

可选地，所述原始频率信号为晶体振荡器的输出信号，并以所述输出信号作为所述锁相环电路的输入参考频率信号；则，

所述根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，包括：

根据所述频率偏差值，对锁相环电路中的分频比进行控制，以实现对所述原始频率信号的补偿。

一种参考频率的产生装置，包括：

晶体振荡器，用于输出原始频率信号；

分频单元，用于将所述原始频率信号进行分频，以获得分频的频率信号；

间隔采样获取单元，用于从所述分频的频率信号依次获得第一采样时刻的第一分频周期信号以及第二采样时刻的第二分频周期信号，所述第一采样时刻和所述第二采样时刻具有预设时间间隔；

频率偏差值获取单元，用于根据所述第一分频周期信号以及所述第二分频周期信号，确定频率偏差值；

补偿单元，用于根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，以获得补偿后的参考频率信号。

可选地，所述分频单元包括分频电路和存储输出单元；其中，

所述存储输出单元，用于将所述分频电路在第一采样时刻产生的分频的频率信号进行存储，并在所述分频电路在第二采样时刻产生分频的频率信号时输出，存储并输出的第一采样时刻的频率信号为第一分频周期信号；

所述分频电路在第二采样时刻产生的分频的频率信号为第二分频周期信号。

可选地，所述预设时间间隔大于等于一个第一分频周期信号的周期。

可选地，所述原始频率信号为晶体振荡器的输出信号；则，

所述补偿单元中，根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，包括：

根据所述频率偏差值，对所述晶体振荡器中可变电容的电容值进行控制，以实现对所述原始频率信号的补偿。

可选地，所述原始频率信号为晶体振荡器的输出信号，且所述输出信号作为所述锁相环电路的输入参考频率信号；则，

所述补偿单元中，根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，包括：

根据所述频率偏差值，对锁相环电路中的分频比进行控制，以实现对所述原始频率信号的间接补偿。

本发明实施例提供的参考频率的产生方法及装置，将晶体振荡器输出的原始频率信号进行分频，而后，获得分频的频率信号，从分频的频率信号中获得具有时间间隔的两个不同采样时刻的分频周期信号，通过这两个采样时刻的分频周期信号，确定频率偏差值，利用该频率偏差值对原始频率信号进行补偿，从而获得补偿后的参考频率信号。在该方案中，原始频率信号为晶体振荡器输出的未进行补偿的频率信号，在输出过程中，晶体振荡器所处环境的温度会缓慢变化，晶体振荡器输出频率随时间也缓慢变化，通过分频可以将频率信号周期放大，进而可以将预设时间间隔的两个采样时刻的分频周期信号的偏差值进行放大，该偏差值体现了晶体振荡器输出频率随温度变化的情况，放大的偏差值便于识别和量化，进而，可以通过该偏差值对原始频率信号进行补偿，该方法实现过程中，无需温度传感器测试系统，也不需要复杂且高成本的标准测试校准系统，降低实现的复杂度及设计成本，即降低模拟电路的实现，便于工艺移植和实现。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了根据本发明实施例参考频率的产生方法的流程示意图；

图2示出了晶体振荡器输出的未进行补偿的频率信号的波形示意图；

图3示出了晶体振荡器输出频率信号经过分频后的频率信号的波形示意图；

图4示出了根据本发明一实施例进行频率补偿的晶体振荡器的结构示意图；

图5示出了根据本发明另一实施例进行频率补偿的晶体振荡器的结构示意图；

图6示出了根据本发明实施例的参考频率的产生装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

正如背景技术中的描述，由于晶体本身的固有特性，会导致晶体振荡器输出的参考信号的频率随温度的变化而变化，目前，多采用温度补偿的晶体振荡器，通过实时采集晶体振荡器的环境温度，通过算法或其他补偿方式对晶体振荡器的输出频率进行补偿，然而，该实现方式中，需要设计高精度的温度传感器以及标准测试校准系统等，系统实现的复杂度及成本较高。

本申请提出了一种参考频率的产生方法及装置，旨在降低实现的复杂度，该方案中，原始频率信号为晶体振荡器输出的未进行补偿的频率信号，在输出过程中，晶体振荡器所处环境的温度会缓慢变化，晶体振荡器输出频率随时间也缓慢变化，通过分频获得的分频周期信号的周期增大，同时将预设时间间隔的两个采样时刻的分频周期信号之间的频率偏差值进行放大，该频率偏差值体现了晶体振荡器输出频率随温度变化的情况，放大的频率偏差值便于识别和量化，进而，可以根据该偏差值对原始频率信号进行补偿，该方法实现过程中，无需温度传感器测试系统，也不需要复杂且高成本的标准测试校准系统，降低实现的复杂度及设计成本，易于实现。

为了更好地理解本申请的技术方案和技术效果，以下将结合流程图对具体的实施例进行详细的描述。

参考图1所示，在步骤S01，晶体振荡器输出原始频率信号。

该晶体振荡器可以为通用的晶体振荡器，用于产生振荡频率，本申请实施例中，该晶体振荡器输出的为原始频率信号，也就是晶体振荡器电路工作后直接输出而没有进行过任何补偿的频率信号。

在步骤S02，将所述原始频率信号进行分频，以获得分频的频率信号。

可以根据具体的需要，选择合适的分频比的值，可以通过具有该分频比的分频电路来实现对原始频率信号的分频，在对原始频率信号进行分频之后，获得分频的频率信号。

该分频的频率信号为近似周期信号，这里之所以称作近似周期信号，是因为晶体振荡器的输出受环境温度的影响，输出信号的频率会随着温度的变化而变化，频率随温度的变化通常在十几个ppm之内，同时，在一个较小的时间间隔内，温度的变化量会很小，所以，晶体振荡器的输出信号的频率变化也很小，故为近似周期信号，为表述方便，本发明中，将该近似的周期信号统称为周期信号。这里，信号的周期值定义为某一时刻的信号中紧紧相邻的两个上升沿或紧紧相邻的两个下降沿之间的时间差值；周期值的倒数就表示信号的频率，如前所述，因信号的周期值是定义为某一时刻的周期值，所以，对应的信号的频率也表示的是某一时刻的频率值。为了描述方便，把本发明中晶体振荡器在某一时刻输出信号的频率(或周期)表述为晶体振荡器输出信号的频率(或周期)。

通过分频，可以将晶体振荡器的输出信号的频率放缓，也即得到的分频信号的信号周期增大。这样，可以将较小时间间隔内温度变化而导致的晶体振荡器输出信号频率的差异累积放大，也即分频后，获得的分频信号的相邻(或任意)两个输出信号的周期值的差值比分频前信号的相邻(或任意)两个输出信号的周期值的差值要大，于是，分频后的分频信号的相邻(或任意)两个输出信号的周期值的差值易于量化并进行补偿。

为了便于理解，将结合附图2和附图3对原始频率信号和分频的频率信号进行说明。原始频率信号为晶体振荡器输出的未进行补偿的频率信号，由于晶体本身随环境温度变化的特性，当环境温度随时间缓慢变化时，晶体振荡器输出信号的频率随时间也是缓慢变化，参考图2所示，原始频率信号F_u，其周期记做T_u(i)，其中i＝0,1,2…N，N为大于2的正整数，假设此时T_u(0)、T_u(1)、T_u(2)…的值在逐渐变大，但变化值极小，此时，可以近似地认为相邻周期之间的周期值基本相等，例如T_u(0)≈T_u(1)≈T_u(2)≠T_u(m)，其中m为大于2的整数，也即T_u(1)与T_u(0)的差值△t1以及T_u(2)与T_u(1)之间的差值△t2趋近于零，但非相邻周期之间的周期差值会变大，且非相邻周期之间的间隔越大，该差值将会越大。

分频的频率信号是对上述晶体振荡器输出的原始频率信号进行分频后得到的信号，如图3所示，分频的频率信号F_L是对图2中的信号进行分频后获得，其周期记做T_L(j)，其中j＝0,1,2…K，K为大于2的正整数，由于进行过分频处理，信号F_L的相邻周期之间的周期差值变大，如图3所示，其中，T_L(0)≠T_L(1)≠T_L(2)≠T_L(m)，其中m为大于2的整数。也就是说，分频后，相邻周期之间的周期值的差值被放大，使得相邻周期之间的周期值的差值易于检测和量化，例如可以通过逐渐增加分频比，使得相邻周期之间的周期值的差值随着分频比的增加而增大，例如T_u(1)与T_u(0)的差值△t1以及T_u(2)与T_u(1)之间的差值△t2，成为一个易于检测和量化的值。

这样，基于分频的频率信号易于频率差值的检测和量化，以补偿由于晶体振荡器随温度变化而导致的频率变化。

在步骤S03，从所述分频的频率信号依次获得第一采样时刻的第一分频周期信号以及第二采样时刻的第二分频周期信号，所述第一采样时刻和所述第二采样时刻具有预设时间间隔。

对输出的分频的频率信号进行采样，分别获得不同采样时刻的周期信号，也就是采样时刻所在周期的分频的频率信号，在具体实现时，可以根据具体的设计需要，来设置不同采样时刻的时间间隔，例如可以为一个或几个采样周期。

为了便于描述，在本申请实施例中，将不同的采样时刻分别记做第一采样时刻和第二采样时刻，第一采样时刻和第二采样时刻之间具有预设的间隔时间，由于晶体振荡器输出频率随环境温度变化的固有特性，如果在该预设的间隔时间内，环境温度发生变化，那么，第一采样时刻和第二采样时刻所对应的输出频率值会有所不同。

可以通过不同的实现方式来分别获得第一采样时刻的第一分频周期信号以及第二采样时刻的第二分频周期信号。在本申请的一些实施例中，可以通过对分频电路的输出信号进行存储并输出之后来实现，具体的，包括：

将所述分频电路在第一采样时刻产生的分频的频率信号进行存储，并在所述分频电路在第二采样时刻产生分频的频率信号时输出，存储并输出的第一采样时刻的频率信号为第一分频周期信号；

所述分频电路在第二采样时刻产生的分频的频率信号为第二分频周期信号。

其中，第一采样时刻和第二采样时刻是不同的采样时间点，所述第一采样时刻在时间轴上早于所述的第二采样时刻。

在该实施例中，将某一采样时刻的频率信号进行存储而后再输出，相当于将该采样时刻的频率信号进行了采样及保持。可以通过电路设计及控制，来控制第一采样时刻和第二采样时刻之间的时间差值，也就是两个采样时刻的时间间隔，更优地，选择第一采样时刻与所述分频电路输出信号发生上升沿变换(或下降沿变换)的时刻对齐，同样，选择第二采样时刻与所述分频电路输出信号发生上升沿变换(或下降沿变换)的时刻对齐，而且，可以选择两个采样时刻的时间间隔大于等于一个所述第一分频周期信号的周期。这里，所述第一分频周期信号的周期定义为所述分频信号中与第一采样时刻紧紧相邻的两个上升沿(或与某一采样时刻紧紧相邻的两个下降沿)之间的时间差值。所述第二分频周期信号的周期定义为所述分频信号中与第二采样时刻紧紧相邻的两个上升沿(或与某一采样时刻紧紧相邻的两个下降沿)之间的时间差值。

在步骤S04，根据所述第一分频周期信号以及所述第二分频周期信号，确定频率偏差值。

第一分频周期信号和第二分频周期信号都是从分频后的频率信号中获得的，这样，通过比较所述第一分频周期信号的周期和所述第二分频周期信号的周期，可以量化出这两个不同采样时刻的分频信号的周期的差值，也即频率差值，用于体现由于温度随时间变化而导致的晶体振荡器输出频率随时间的变化。

可以通过多种方式来确定出该频率偏差值，在本申请一些实施例中，具体的，包括：

将所述第一分频周期信号的周期与所述第二分频周期信号的周期的时间差值转换为数字信号值；

将所述数字信号值转换为对应两个不同采样时刻的频率偏差值。

可以通过时间到数字转换器(Time-to-Digital converter，TDC)将所述第一分频周期信号的周期与所述第二分频周期信号的周期的时间差值转换为数字信号值，再将时间到数字转换器转换获得的数字信号值进行归一化处理，在归一化处理之后，将所述的归一化的数字信号值转换为相应的频率偏差值，该频率偏差值即为两个不同采样时刻，即第一采样时刻和第二采样时刻对应的晶体振荡器输出频率变化的偏差值。

在步骤S05，通过所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，以获得补偿后的参考频率信号。

采用上述的频率偏差值，可以对原始频率信号进行直接补偿，例如可以采用对晶体振荡器电路本身的可变电容的电容值进行控制的补偿方法，进行补偿之后的晶体振荡器输出频率信号可作为不随环境温度变化的参考频率信号。

采用上述的频率偏差值，还可以对原始频率信号进行间接补偿，例如在锁相环或频率综合器电路中，基于上述的频率偏差值，通过控制锁相环或频率综合器电路中的分频比，可以获得不随环境温度变化的锁相环或频率综合器输出信号，也即间接补偿了原始频率信号随温度变化的影响。

通常地，参考图4所示，晶体振荡器包括振荡器OSC、晶体XTAL和晶体两端的可变电容C1、C2，通过改变可变电容C1、C2的电容值，可以改变晶体振荡器的原始频率信号Fu的频率值，在本申请一些实施例中，晶体振荡器的原始频率信号Fu为晶体振荡器直接产生的频率信号，将该原始频率信号经过分频之后，确定出分频后两个不同采样时刻的对应频率信号的频率偏差值，根据该频率偏差值，可以通过控制改变晶体振荡器的可变电容C1、C2的电容值，来对晶体振荡器直接输出的原始频率信号Fu进行补偿，从而，实现晶体振荡器的温度补偿。

在本申请的另一些实施例中，参考图5所示，晶体振荡器的原始频率信号Fu作为锁相环电路的外部参考时钟信号，该参考时钟信号是没有温度补偿的时钟信号。将该晶体振荡器的原始频率信号Fu经过分频之后，确定出分频后两个不同采样时刻的对应频率信号的频率偏差值，根据该频率偏差值，可以通过控制锁相环的分频电路的分频比，获得不随环境温度变化的锁相环电路输出信号Fo，也即实现了对晶体振荡器输出的原始频率信号Fu的间接补偿。

以上对本申请实施例的参考频率的产生方法进行了详细的描述，在该方法中，无需温度传感器测试系统，也不需要复杂且高成本的标准测试校准系统，通过分频，可以将晶体振荡器的输出信号的频率放缓，也即得到的分频信号的信号周期增大。这样，可以将较小时间间隔内温度变化而导致的晶体振荡器输出信号频率的差异累积放大，也即分频后，获得的分频信号的相邻(或任意)两个输出信号的周期值的差值比分频前信号的相邻(或任意)两个输出信号的周期值的差值要大，于是，分频后的分频信号的相邻(或任意)两个输出信号的周期值的差值易于量化并进行补偿，而且电路易于实现，降低了实现的复杂度及设计成本。

此外，本申请还提出了实现上述方法的参考频率的产生装置，参考图6所示，包括：

晶体振荡器100，用于输出原始频率信号；

分频单元110，用于将所述原始频率信号进行分频，以获得分频的频率信号；

间隔采样获取单元120，用于从所述分频的频率信号依次获得第一采样时刻的第一分频周期信号以及第二采样时刻的第二分频周期信号，所述第一采样时刻和所述第二采样时刻具有预设时间间隔；

频率偏差值获取单元130，用于根据所述第一分频周期信号以及所述第二分频周期信号，确定频率偏差值；

补偿单元140，用于根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，以获得补偿后的参考频率信号。

进一步地，所述分频单元110包括分频电路1101和存储输出单元1102，；其中，

所述存储输出单元1102，用于将所述分频电路在第一采样时刻产生的分频的频率信号进行存储，并在所述分频电路在第二采样时刻产生分频的频率信号时输出，存储并输出的第一采样时刻的频率信号为第一分频周期信号；

所述分频电路1101在第二采样时刻产生的分频的频率信号为第二分频周期信号。

其中，第一采样时刻与第二采样时刻为不同的采样时间点，所述第一采样时刻在时间轴上早于所述的第二采样时刻。

进一步地，选择第一采样时刻与所述分频电路输出信号发生上升沿变换(或下降沿变换)的时刻对齐，同样，选择第二采样时刻与所述分频电路输出信号发生上升沿变换(或下降沿变换)的时刻对齐，而且，可以选择两个采样时刻的时间间隔大于等于一个所述第一分频周期信号的周期。这里，所述第一分频周期信号的周期定义为所述分频信号中与第一采样时刻紧紧相邻的两个上升沿(或与某一采样时刻紧紧相邻的两个下降沿)之间的时间差值。所述第二分频周期信号的周期定义为所述分频信号中与第二采样时刻紧紧相邻的两个上升沿(或与某一采样时刻紧紧相邻的两个下降沿)之间的时间差值。

进一步地，所述频率偏差值获取单元130包括：

时间到数字转换器，用于将所述第一分频周期信号的周期与所述第二分频周期信号的周期的时间差值转换为数字信号值；

频率偏差获取单元，用于将所述数字信号值转换为对应的频率偏差值。该频率偏差值即为两个采样时刻(第一采样时刻和第二采样时刻)对应的晶体振荡器输出频率变化的偏差值。

进一步地，参考图4所示，所述原始频率信号为晶体振荡器的输出信号；则，

所述补偿单元中，根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，包括：

根据所述频率偏差值，对所述晶体振荡器中可变电容的电容值进行控制，以实现对所述原始频率信号的直接补偿。

进一步地，参考图5所示，所述原始频率信号为晶体振荡器的输出信号，并且该输出信号作为所述锁相环电路的输入参考频率信号；则，

所述补偿单元中，根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，包括：

根据所述频率偏差值，对锁相环电路中的分频比进行控制，以实现对所述原始频率信号的间接补偿。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，虽然本发明已以较佳实施例披露如上，然而并非用以限定本发明。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何的简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (8)

1.一种参考频率的产生方法，其特征在于，包括：

获得晶体振荡器的原始频率信号；

将所述原始频率信号进行分频，以获得分频的频率信号；

从所述分频的频率信号依次获得第一采样时刻的第一分频周期信号以及第二采样时刻的第二分频周期信号，所述第一采样时刻和所述第二采样时刻具有预设时间间隔，所述预设时间间隔大于等于一个第一分频周期信号的周期；

根据所述第一分频周期信号以及所述第二分频周期信号，确定频率偏差值；

根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，以获得补偿后的参考频率信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过分频电路将所述原始频率信号进行分频，所述从所述分频的频率信号分别获得第一采样时刻的第一分频周期信号以及第二采样时刻的第二分频周期信号，包括：

将所述分频电路在第一采样时刻产生的分频的频率信号进行存储，并在所述分频电路在第二采样时刻产生分频的频率信号时输出，存储并输出的第一采样时刻的频率信号为第一分频周期信号；

所述分频电路在第二采样时刻产生的分频的频率信号为第二分频周期信号。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述原始频率信号为晶体振荡器的输出信号；则，

所述根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，包括：

根据所述频率偏差值，对所述晶体振荡器中可变电容的电容值进行控制，以实现对所述原始频率信号的补偿。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述原始频率信号为晶体振荡器的输出信号，并以所述输出信号作为锁相环电路的输入参考频率信号；则，

所述根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，包括：

根据所述频率偏差值，对锁相环电路中的分频比进行控制，以实现对所述原始频率信号的补偿。

5.一种参考频率的产生装置，其特征在于，包括：

晶体振荡器，用于输出原始频率信号；

分频单元，用于将所述原始频率信号进行分频，以获得分频的频率信号；

间隔采样获取单元，用于从所述分频的频率信号依次获得第一采样时刻的第一分频周期信号以及第二采样时刻的第二分频周期信号，所述第一采样时刻和所述第二采样时刻具有预设时间间隔，所述预设时间间隔大于等于一个第一分频周期信号的周期；

频率偏差值获取单元，用于根据所述第一分频周期信号以及所述第二分频周期信号，确定频率偏差值；

补偿单元，用于根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，以获得补偿后的参考频率信号。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述分频单元包括分频电路和存储输出单元；其中，

所述存储输出单元，用于将所述分频电路在第一采样时刻产生的分频的频率信号进行存储，并在所述分频电路在第二采样时刻产生分频的频率信号时输出，存储并输出的第一采样时刻的频率信号为第一分频周期信号；

所述分频电路在第二采样时刻产生的分频的频率信号为第二分频周期信号。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述原始频率信号为晶体振荡器的输出信号；则，

所述补偿单元中，根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，包括：

根据所述频率偏差值，对所述晶体振荡器中可变电容的电容值进行控制，以实现对所述原始频率信号的补偿。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述原始频率信号为晶体振荡器的输出信号，且所述输出信号作为锁相环电路的输入参考频率信号；则，

所述补偿单元中，根据所述频率偏差值，对所述原始频率信号进行补偿，包括：

根据所述频率偏差值，对锁相环电路中的分频比进行控制，以实现对所述原始频率信号的间接补偿。

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