CN109831139A - 一种减少杂波干扰的可控硅调速模块 - Google Patents
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Abstract
本发明电机调速技术领域，尤其涉及一种减少杂波干扰的可控硅调速模块。控制可控硅进行电机调速，达到了减少主电路杂波干扰，控制灵活的目的。包括单片机、转速检测电路、掉电检测电路、过零检测电路、可控硅控制电路、隔离电路、EEPROM存储模块及LED显示电路；所述单片机分别与转速检测电路、掉电检测电路、过零检测电路、隔离电路、EEPROM存储模块及LED显示电路相连；所述隔离电路与可控硅控制电路相连；所述可控硅控制电路及转速检测电路分别与电机相连。
Description
技术领域
本发明电机调速技术领域，尤其涉及一种减少杂波干扰的可控硅调速模块。
背景技术
针对电机的传统调速电路杂波干扰大、系统复杂。可控硅具有功率大，效率高，体积小，重量轻，无噪音，控制灵敏等优点，而且还具有使用小电流，小功率来控制大电流大功率的特点，其应用范围，前途都非常广泛。
用单片机实现可控硅过零调速，相比于变频调速，不仅可使可控硅的导通角控制由软件完成，触发电路有结构简单，控制灵活，精度可通过软件补偿，任意调节转速等特点，还可以避免类似移相调速，脉宽调速(PWM)，正弦脉宽调速(SPWM)等在调速过程中产生大量噪声和高次谐波，对电路器件耐压值要求较高的缺点。
为了改善传统电机调速杂波干扰大，系统复杂的缺点，本发明设计一种用工业单片机通过过零触发方式，控制可控硅进行电机调速的电路，达到了减少主电路杂波干扰，控制灵活的目的。
发明内容
本发明就是针对现有技术存在的缺陷，提供一种减少杂波干扰的可控硅调速模块。
为实现上述目的，本发明采用如下技术方案，包括单片机、转速检测电路、掉电检测电路、过零检测电路、可控硅控制电路、隔离电路、EEPROM存储模块及LED显示电路；
所述单片机分别与转速检测电路、掉电检测电路、过零检测电路、隔离电路、EEPROM存储模块及LED显示电路相连。
所述隔离电路与可控硅控制电路相连。
所述可控硅控制电路及转速检测电路分别与电机相连。
作为本发明的一种优选方案，所述单片机选用89C2051单片机。
作为本发明的另一种优选方案，所述单片机是接收220V交流电的过零信号，根据过零检测信号控制可控硅的导通时间；接收掉电检测电路送来的掉电信号；检测电机转速等级并在数码管上显示。
作为本发明的另一种优选方案，所述过零检测电路的最终目标是实现当交流电压通过零点时取出其脉冲。
作为本发明的另一种优选方案，所述掉电检测电路是当整流后的电源电压小于某一值时,认为电源被关闭,此时产生掉电信号 ,该信号作为单片机外部中断信号INT1,使单片机进入掉电保护程序。
作为本发明的另一种优选方案，所述LED显示电路是用数码管将存储在 EEPROM中的电机转速用数字显示出来 ,可以显示电机的转速等级。
作为本发明的另一种优选方案，所述可控硅控制电路通过带光隔离的双向可控硅驱动器MOC3052驱动可控硅，实现单片机对控硅的导通控制，从而达到转速控制的目的。
与现有技术相比本发明有益效果。
本发明为了改善传统电机调速杂波干扰大，系统复杂的缺点，设计一种用工业单片机通过过零触发方式，控制可控硅进行电机调速，达到了减少主电路杂波干扰，控制灵活的目的。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步说明。本发明保护范围不仅局限于以下内容的表述。
图1是本发明原理框图。
图2是本发明过零检测电路的电路图。
具体实施方式
如图1-2所示，本发明包括单片机、转速检测电路、掉电检测电路、过零检测电路、可控硅控制电路、隔离电路、EEPROM存储模块及LED显示电路。
所述单片机分别与转速检测电路、掉电检测电路、过零检测电路、隔离电路、EEPROM存储模块及LED显示电路相连。
所述隔离电路与可控硅控制电路相连。
所述可控硅控制电路及转速检测电路分别与电机相连。
作为本发明的一种优选方案，所述单片机选用89C2051单片机。
作为本发明的另一种优选方案，单片机是接收220V交流电的过零信号，根据过零检测信号控制可控硅的导通时间；接收掉电检测电路送来的掉电信号；检测电机转速等级并在数码管上显示。
作为本发明的另一种优选方案，过零检测电路的最终目标是实现当交流电压通过零点时取出其脉冲。
作为本发明的另一种优选方案，掉电检测电路是当整流后的电源电压小于某一值时,认为电源被关闭,此时产生掉电信号 ,该信号作为单片机外部中断信号INT1,使单片机进入掉电保护程序。
作为本发明的另一种优选方案，数码显示电路是用数码管将存储在 EEPROM中的电机转速用数字显示出来 ,可以显示电机的转速等级。
作为本发明的另一种优选方案，可控硅控制电路通过带光隔离的双向可控硅驱动器MOC3052驱动可控硅，实现单片机对控硅的导通控制，从而达到转速控制的目的。
过零检测的最终目标是实现当交流电压通过零点时取出其脉冲。其工作过程为:当通过正半周较高电压时,光电管D1,T1导通V0为低电平,当正半周电压反向接近零点时D1达不到导通电压的值而截止,从而使T1截止V0为高电平;同样当通过负半周较高电压时,光电管D2,T2导通V0为低电平,当负半周电压正向接近零点时D2达不到导通电压的值而截止,从而使T2截止V0为高电平。通过这个正负交越零点时的正脉冲信号向单片机89C2051发出外部中断INT0,单片机根据该信号,经过一定的延时后控制可控硅导通。
采用双向可控硅过零触发方式,由单片机控制双向可控硅的通断,通过改变每个控制周期内可控硅导通和关断交流完整全波(或半波)信号的个数来调节负载功率,进而达到调速的目的。由于INT0信号反映工频电压过零时刻,因此只要在外中断0的中断服务程序中完成控制门的开启与关闭,并利用中断服务次数对控制量N(在每个控制周期内可控硅导通的正弦波个数)进行计数和判断,即每中断1次,对N进行减1计数。如N≠0,保持控制电平为“1”,继续打开控制门;如N=0,则使控制电平复位为“0”,关闭控制门,使可控硅过零触发脉冲不再通过。这样就可以按照控制处理得到的控制量的要求,实现可控硅的过零控制,从而达到按控制量控制的效果,实现速度可调。
可以理解的是，以上关于本发明的具体描述，仅用于说明本发明而并非受限于本发明实施例所描述的技术方案，本领域的普通技术人员应当理解，仍然可以对本发明进行修改或等同替换，以达到相同的技术效果；只要满足使用需要，都在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种减少杂波干扰的可控硅调速模块，其特征在于，包括单片机、转速检测电路、掉电检测电路、过零检测电路、可控硅控制电路、隔离电路、EEPROM存储模块及LED显示电路；
所述单片机分别与转速检测电路、掉电检测电路、过零检测电路、隔离电路、EEPROM存储模块及LED显示电路相连；
所述隔离电路与可控硅控制电路相连；
所述可控硅控制电路及转速检测电路分别与电机相连。
2.根据权利要求1所述的一种减少杂波干扰的可控硅调速模块，其特征在于：所述单片机选用89C2051单片机。
3.根据权利要求1所述的一种减少杂波干扰的可控硅调速模块，其特征在于：所述单片机是接收220V交流电的过零信号，根据过零检测信号控制可控硅的导通时间；接收掉电检测电路送来的掉电信号；检测电机转速等级并显示。
4.根据权利要求1所述的一种减少杂波干扰的可控硅调速模块，其特征在于：所述过零检测电路的最终目标是实现当交流电压通过零点时取出其脉冲。
5.根据权利要求1所述的一种减少杂波干扰的可控硅调速模块，其特征在于：所述掉电检测电路是当整流后的电源电压小于某一值时,认为电源被关闭,此时产生掉电信号 ,该信号作为单片机外部中断信号INT1,使单片机进入掉电保护程序。
6.根据权利要求1所述的一种减少杂波干扰的可控硅调速模块，其特征在于：所述LED显示电路是用数码管将存储在 EEPROM中的电机转速用数字显示出来 ,可以显示电机的转速等级。
7.根据权利要求1所述的一种减少杂波干扰的可控硅调速模块，其特征在于：所述可控硅控制电路通过带光隔离的双向可控硅驱动器MOC3052驱动可控硅，实现单片机对控硅的导通控制，从而达到转速控制的目的。
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| CN201711185870.0A CN109831139A (zh) | 2017-11-23 | 2017-11-23 | 一种减少杂波干扰的可控硅调速模块 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111786597A (zh) * | 2020-07-01 | 2020-10-16 | 厦门鼎安电子有限公司 | 一种交流单相电机的调速方法 |
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2017
- 2017-11-23 CN CN201711185870.0A patent/CN109831139A/zh active Pending
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