CN109828880A - 一种8×12路的串口切换器 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种8×12路的串口切换器，包括一电路板，所述的电路板上设有选通电路、测试电路和输出串口；所述的测试电路设置八路，八路所述的测试电路的串口端均与输出串口相连接，八路所述的测试电路的使能控制端还与选通电路的使能输出端相连接；所述的选通电路选择任意一路测试电路的输出信号输出至输出串口；每路所述的测试电路设有一输入端组，所述的输入端组设有十二个输入端口。其优点在于：本发明通过设置选通电路，只需设置一个输出串口就能切换输出任意一路测试电路的测试信号，控制和操作方便；并且将电路集成到一个电路板上，使硬盘测试装置的电路结构整洁，布线简易，集成度高。

Description

一种8×12路的串口切换器

技术领域

本发明涉及硬盘测试技术领域，具体涉及一种8×12路的串口切换器。

背景技术

硬盘的测试过程主要是为了测试硬盘的性能及参数等，以获知硬盘的状态。目前的检测手段主要通过专用的硬盘测试装置对硬盘进行测试，为提高测试效率，硬盘测试装置能够同时测量多块硬盘，并输出其测试信号。现有的硬盘测试装置设有多路测试电路，多路测试电路可以同时对多块硬盘进行测试，然后将其测试的结果通过输出串口输出。硬盘测试装置需要设置与测试电路一一对应的输出串口，由于硬盘测试装置的内部电路为模块化电路，多个输出串口分别与多路测试电路连接的电路结构使硬盘测试装置的电路结构复杂，接线繁杂且线路布局混乱。

综上所述，现有技术中的硬盘测试装置一方面需要设置多个输出串口，增加了设备成本。另一方面使得硬盘测试装置的线路布局混乱，接线繁杂。

发明内容

为了解决上述现有技术存在的问题，本发明目的在于提供一种8×12路的串口切换器。本发明通过设置选通电路，只需设置一个输出串口就能切换输出任意一路测试电路的测试信号，控制和操作方便；并且将电路集成到一个电路板上，使硬盘测试装置的电路结构整洁，布线简易，集成度高。

本发明所述的一种8×12路的串口切换器，包括一电路板，所述的电路板上设有选通电路、测试电路和输出串口；所述的测试电路设置八路，八路所述的测试电路的串口端均与输出串口相连接，八路所述的测试电路的使能控制端还与选通电路的使能输出端相连接；所述的选通电路选择任意一路测试电路的输出信号输出至输出串口；每路所述的测试电路设有一输入端组，所述的输入端组设有十二个输入端口。

优选地，所述的选通电路包括优先编码器、译码器、第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关、第六开关、第七开关、第八开关、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻、第十六电阻、第十七电阻、第一发光二极管、第二发光二极管、第三发光二极管、第四发光二极管、第五发光二极管、第六发光二极管、第七发光二极管、第八发光二极管、电力电容器、第一电容、发声元件、第一三极管；

所述的优先编码器的使能输入脚接地，第一输入脚连接第一开关，第二输入脚连接第二开关，第三输入脚连接第三开关，第四输入脚连接第四开关，第五输入脚连接第五开关，第六输入脚连接第六开关，第七输入脚连接第七开关，第八输入脚连接第八开关；所述的第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关、第六开关、第七开关、第八开关并接后接地，所述的第一输入脚连接第一电阻，第二输入脚连接第二电阻，第三输入脚连接第三电阻，第四输入脚连接第四电阻，所述的第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻和优先编码器的电源脚Vss并接后接入电源端；

所述的电力电容器的正极连接优先编码器的电源脚Vss，负极连接第一电容，所述的第一电容一端连接电力电容器，另一端连接电源脚Vss，所述的电力电容器和第一电容的共点接地；

所述的第五输入脚连接第五电阻，第六输入脚连接第六电阻，第七输入脚连接第七电阻，第八输入脚连接第八电阻；所述的第五电阻、第六电阻、第七电阻和第八电阻并接后接入电源端；

所述的优先编码器的第一输出脚连接译码器的第一选择输入脚，第二输出脚连接译码器的第二选择输入脚，第三输出脚连接译码器的第三选择输入脚，优先编码输出脚连接译码器的锁存使能输入脚；所述的优先编码器的优先编码输出脚还通过第十七电阻连接第一三极管的基极，所述的第一三极管的发射极连接电源端，集电极连接发声元件后接地；

所述的译码器的第一使能输入脚连接电源端，第二使能输入脚接地，电源脚Vss连接电源端，第一输出脚连接第一发光二极管的负极，第一发光二极管的正极连接第九电阻；所述的译码器的第二输出脚连接第二发光二极管的负极，第二发光二极管的正极连接第十电阻；所述的译码器的第三输出脚连接第三发光二极管的负极，第三发光二极管的正极连接第十一电阻；所述的译码器的第四输出脚连接第四发光二极管的负极，第四发光二极管的正极连接第十二电阻；所述的译码器的第五输出脚连接第五发光二极管的负极，第五发光二极管的正极连接第十三电阻；所述的译码器的第六输出脚连接第六发光二极管的负极，第六发光二极管的正极连接第十四电阻；所述的译码器的第七输出脚连接第七发光二极管的负极，第七发光二极管的正极连接第十五电阻；所述的译码器的第八输出脚连接第八发光二极管的负极，第八发光二极管的正极连接第十六电阻；在所述的第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻和第十六电阻并接后的共点接入电源端。

优选地，所述的优先编码器为74LS148型编码器，所述的译码器为74LS137型编码器。

优选地，八路所述的测试电路依次为电路结构相同的第一测试电路、第二测试电路、第三测试电路、第四测试电路、第五测试电路、第六测试电路、第七测试电路、第八测试电路；所述的输出串口设有二十四个端口；

所述的第一测试电路包括第十八电阻和第二三极管，还包括六个CD4066开关，依次为第一CD4066开关、第二CD4066开关、第三CD4066开关、第四CD4066开关、第五CD4066开关和第六CD4066开关，六个所述的CD4066开关的VDD脚连接后通过第十八电阻连接第二三极管的集电极，并在其连接后的共点接入电源端；所述的第二三极管的发射极接地，基极连接译码器的其中一个输出脚；八路测试电路设有八个三极管，八个三极管的基极分别连接所述的译码器的八个输出脚，一一对应；所述的第一测试电路的六个CD4066开关的控制引脚短接后接入在第十八电阻与第二三极管的集电极之间；

所述的CD4066开关包括八个输入/输出脚，分别为SIN A1脚、SIN A2脚、SIN B1脚、SIN B2脚、SIN C1脚、SIN C2脚、SIN D1脚、SIN D2脚；每个所述的CD4066开关连接两个输入端口，所述的CD4066开关的SIN A2脚和SIN B1脚连接其一输入端口，SIN D2脚和SIN C1脚连接其二输入端口；所述的第一CD4066开关的SIN A1脚连接输出串口的二号端口，SIN B2脚连接输出串口的一号端口，SIN D1脚连接三号端口，SIN C2脚连接四号端口；所述的第二CD4066开关的SIN A1脚连接输出串口的六号端口，SIN B2脚连接输出串口的五号端口，SIND1脚连接七号端口，SIN C2脚连接八号端口；所述的第三CD4066开关的SIN A1脚连接输出串口的十号端口，SIN B2脚连接输出串口的九号端口，SIN D1脚连接十一号端口，SIN C2脚连接十二号端口；所述的第四CD4066开关的SIN A1脚连接输出串口的十四号端口，SIN B2脚连接输出串口的十三号端口，SIN D1脚连接十五号端口，SIN C2脚连接十六号端口；所述的第五CD4066开关的SIN A1脚连接输出串口的十八号端口，SIN B2脚连接输出串口的十七号端口，SIN D1脚连接十九号端口，SIN C2脚连接二十号端口；所述的第六CD4066开关的SIN A1脚连接输出串口的二十二号端口，SIN B2脚连接输出串口的二十一号端口，SIN D1脚连接二十三号端口，SIN C2脚连接二十四号端口；

所述的第二测试电路、第三测试电路、第四测试电路、第五测试电路、第六测试电路、第七测试电路、第八测试电路内的CD4066开关与输出串口的连接结构与第一测试电路相同。

本发明所述的一种8×12路的串口切换器，其优点在于：

1、通过设置选通电路，只需设置一个输出串口就能切换输出任意一路测试电路的测试信号，控制和操作方便；并且由于只需设置一个输出串口，可以将电路集成到一个电路板上，使硬盘测试装置的电路结构整洁，布线简易，集成度高。

2、选通电路在优先编码器的输入脚连接开关，然后将优先编码器连接译码器，再将译码器的输出脚连接测试电路，同时连接发光二极管，测试电路连接输出串口。可以通过控制单个开关的闭合控制某一路测试电路的信号输出到输出串口中。控制稳定，电路实现简易，操作方便。

3、优先编码器选用74LS148型编码器，译码器选用74LS137型编码器。上述型号的编码器和译码器信号传输快，控制稳定。

4、测试电路通过设置六个CD4066开关，并通过其与输出串口和选通电路的连接结构，能够对硬盘进行测试，获取硬盘的相关参数。测试过程稳定，能根据选通电路将任意一路测试电路的信号输出至输出串口处。

附图说明

图1是本发明一种8×12路的串口切换器的结构示意图；

图2是本发明一种8×12路的串口切换器的选通电路的电路结构示意图；

图3是本发明一种8×12路的串口切换器的测试电路的电路结构示意图；

图4是本发明一种8×12路的串口切换器的输出串口的结构示意图。

附图标记说明：1-电路板，2-选通电路，31-第一测试电路，32-第二测试电路，33-第三测试电路，34-第四测试电路，35-第五测试电路，36-第六测试电路，37-第七测试电路，38-第八测试电路，4-输出串口，5-输入端组。

具体实施方式

如图1至图4所示，本发明所述的一种8×12路的串口切换器，包括一电路板1，所述的电路板1上设有选通电路2、测试电路和输出串口4；所述的测试电路设置八路，八路所述的测试电路的串口端J1均与输出串口4相连接，八路所述的测试电路的使能控制端还与选通电路2的使能输出端相连接；所述的选通电路2选择任意一路测试电路的输出信号输出至输出串口4；每路所述的测试电路设有一输入端组5，所述的输入端组5设有十二个输入端口。输入端组5连接进行测试的硬盘，使硬盘通过测试电路进行测试。

所述的选通电路2包括优先编码器U110、译码器U111、第一开关K1、第二开关K2、第三开关K3、第四开关K4、第五开关K5、第六开关K6、第七开关K7、第八开关K8、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10、第十一电阻R11、第十二电阻R12、第十三电阻R13、第十四电阻R14、第十五电阻R15、第十六电阻R16、第十七电阻R17、第一发光二极管LED1、第二发光二极管LED2、第三发光二极管LED3、第四发光二极管LED4、第五发光二极管LED5、第六发光二极管LED6、第七发光二极管LED7、第八发光二极管LED8、电力电容器CE、第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、发声元件LS1、第一三极管Q1；

所述的优先编码器U110的使能输入脚EI接地，第一输入脚I0连接第一开关K1，第二输入脚I1连接第二开关K2，第三输入脚I2连接第三开关K3，第四输入脚I3连接第四开关K4，第五输入脚I4连接第五开关K5，第六输入脚I5连接第六开关K6，第七输入脚I6连接第七开关K7，第八输入脚I7连接第八开关K8；所述的第一开关K1、第二开关K2、第三开关K3、第四开关K4、第五开关K5、第六开关K6、第七开关K7、第八开关K8并接后接地，所述的第一输入脚I0连接第一电阻R1，第二输入脚I1连接第二电阻R2，第三输入脚I2连接第三电阻R3，第四输入脚I3连接第四电阻R4，所述的第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4和优先编码器U110的电源脚Vss并接后接入电源端；

所述的电力电容器CE的正极连接优先编码器U110的电源脚Vss，负极连接第一电容C1，所述的第一电容C1一端连接电力电容器CE，另一端连接电源脚Vss，所述的电力电容器CE和第一电容C1的共点接地；

所述的第五输入脚I4连接第五电阻R5，第六输入脚I5连接第六电阻R6，第七输入脚I6连接第七电阻R7，第八输入脚I7连接第八电阻R8；所述的第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7和第八电阻R8并接后接入电源端；

所述的优先编码器U110的第一输出脚A0连接译码器U111的第一选择输入脚A，第二输出脚A1连接译码器U111的第二选择输入脚B，第三输出脚A2连接译码器U111的第三选择输入脚C，优先编码输出脚GS连接译码器U111的锁存使能输入脚GL；所述的优先编码器U110的优先编码输出脚GS还通过第十七电阻R17连接第一三极管Q1的基极，所述的第一三极管Q1的发射极连接电源端，集电极连接发声元件LS1后接地；所述的优先编码器U110的第一输出脚A0通过第二电容C2接地，第二输出脚A1通过第三电容C3接地，第三输出脚A2通过第四电容C4接地；

所述的译码器U111的第一使能输入脚G1连接电源端，第二使能输入脚G2接地，电源脚Vss连接电源端，第一输出脚Y0连接第一发光二极管LED1的负极，第一发光二极管LED1的正极连接第九电阻R9；所述的译码器U111的第二输出脚Y1连接第二发光二极管LED2的负极，第二发光二极管LED2的正极连接第十电阻R10；所述的译码器U111的第三输出脚Y2连接第三发光二极管LED3的负极，第三发光二极管LED3的正极连接第十一电阻R11；所述的译码器U111的第四输出脚Y3连接第四发光二极管LED4的负极，第四发光二极管LED4的正极连接第十二电阻R12；所述的译码器U111的第五输出脚Y4连接第五发光二极管LED5的负极，第五发光二极管LED5的正极连接第十三电阻R13；所述的译码器U111的第六输出脚Y5连接第六发光二极管LED6的负极，第六发光二极管LED6的正极连接第十四电阻R14；所述的译码器U111的第七输出脚Y6连接第七发光二极管LED7的负极，第七发光二极管LED7的正极连接第十五电阻R15；所述的译码器U111的第八输出脚Y7连接第八发光二极管LED8的负极，第八发光二极管LED8的正极连接第十六电阻R16；所述的第九电阻R9、第十电阻R10、第十一电阻R11、第十二电阻R12、第十三电阻R13、第十四电阻R14、第十五电阻R15和第十六电阻R16并接后的共点接入电源端。

所述的优先编码器U110为74LS148型编码器，所述的译码器U111为74LS137型编码器。本实施例中所述的电源端为5V电源端。

八路所述的测试电路依次为电路结构相同的第一测试电路31、第二测试电路32、第三测试电路33、第四测试电路34、第五测试电路35、第六测试电路36、第七测试电路37、第八测试电路38；所述的输出串口4设有二十四个端口；

所述的第一测试电路31包括第十八电阻R18和第二三极管Q2，还包括六个CD4066开关，依次为第一CD4066开关U11、第二CD4066开关U12、第三CD4066开关U13、第四CD4066开关U14、第五CD4066开关U15和第六CD4066开关U16，六个所述的CD4066开关的VDD脚连接后通过第十八电阻R18连接第二三极管Q2的集电极，并在其连接后的共点接入电源端；所述的第二三极管Q2的发射极接地，基极连接译码器U111的其中一个输出脚；八路测试电路设有八个三极管，八个三极管的基极分别连接所述的译码器U111的八个输出脚，一一对应；所述的第一测试电路31的六个CD4066开关的控制引脚短接后接入在第十八电阻R18与第二三极管Q2的集电极之间。本实施例中，译码器的八个输出脚即为选通电路的使能输出端，测试电路中的三极管的基极即为测试电路的使能控制端。译码器的某一输出脚将信号输出至测试电路的使能控制端，使该测试电路输出信号至输出串口中。输出串口与上位机连接，上位机通过输出串口控制测试电路的测试过程。

所述的CD4066开关包括八个输入/输出脚，分别为SIN A1脚、SIN A2脚、SIN B1脚、SIN B2脚、SIN C1脚、SIN C2脚、SIN D1脚、SIN D2脚；每个所述的CD4066开关连接两个输入端口，所述的CD4066开关的SIN A2脚和SIN B1脚连接其一输入端口，SIN D2脚和SIN C1脚连接其二输入端口；所述的第一CD4066开关U11的SIN A1脚连接输出串口4的二号端口，SINB2脚连接输出串口4的一号端口，SIN D1脚连接三号端口，SIN C2脚连接四号端口；所述的第二CD4066开关U12的SIN A1脚连接输出串口4的六号端口，SIN B2脚连接输出串口4的五号端口，SIN D1脚连接七号端口，SIN C2脚连接八号端口；所述的第三CD4066开关U13的SINA1脚连接输出串口4的十号端口，SIN B2脚连接输出串口4的九号端口，SIN D1脚连接十一号端口，SIN C2脚连接十二号端口；所述的第四CD4066开关U14的SIN A1脚连接输出串口4的十四号端口，SIN B2脚连接输出串口4的十三号端口，SIN D1脚连接十五号端口，SIN C2脚连接十六号端口；所述的第五CD4066开关U15的SIN A1脚连接输出串口4的十八号端口，SIN B2脚连接输出串口4的十七号端口，SIN D1脚连接十九号端口，SIN C2脚连接二十号端口；所述的第六CD4066开关U16的SIN A1脚连接输出串口4的二十二号端口，SIN B2脚连接输出串口4的二十一号端口，SIN D1脚连接二十三号端口，SIN C2脚连接二十四号端口；

所述的第二测试电路32、第三测试电路33、第四测试电路34、第五测试电路35、第六测试电路36、第七测试电路37、第八测试电路38内的CD4066开关与输出串口4的连接结构与第一测试电路31相同。

本发明的工作原理为：每个测试电路包括六个CD4066开关，CD4066开关拥有八个输入/输出引脚，且输入/输出引脚之间可以通用。每个CD4066开关的其中四个输入/输出引脚外接形成接口，用于连接进行测试的硬盘。另外的四个输入/输出引脚连接到输出串口中，每个引脚连接一个端口，共连接四个端口。一个测试电路包含六个CD4066开关，每个CD4066开关的四个引脚连接输出串口4的四个端口，将输出串口4的二十四个端口接满。六个CD4066开关的输出信号通过上述线路输出到输出串口处。六个CD4066开关的VDD脚一起连接到一个三极管的集电极，该三极管的基极连接到译码器的其中一个输出脚。八路测试电路各设有一个三级管，分别连接到译码器的八个输出脚，一一对应。译码器的选择输入脚与优先编码器的输出脚一一对应连接，用于接收编码器的输出信号。优先编码器的八个输入脚分别连接八个开关，当其中某个开关闭合时，该输入脚有信号输入。该信号通过优先编码器进行信号转换，并输入到译码器中，译码器对该信号进行处理，并通过对应的一个输出脚输出信号至与该输出脚相连的三极管的基极中。该三极管的基极接收信号，使该三极管导通，使与该三极管相连的CD4066开关感应信号，使该三极管所在的测试电路输出信号至输出串口中。如图3、图4所示，六个CD4066开关的二十四个输出脚与输出串口的二十四个端口一对一连接。

下面举例说明本发明的工作流程：

将第一开关K1至第八开关K8连接外接按钮，将第一发光二极管LED1至第八发光二极管LED8作为指示灯。八路测试电路同时进行硬盘测试，输出串口连接上位机，上位机通过输出串口控制第一测试电路的测试过程。当需要控制第一测试电路的测试时，按下与第一开关相对应的外接按钮，第一开关闭合，优先编码器与第一开关相连接的第一输入脚有信号输入，该信号通过优先编码器和译码器的编译，译码器的第一输出脚输出编译后的信号至第一三极管的基极。同时第一发光二极管亮起，第一发光二极管所在的指示灯亮起，显示输出的测试信号为第一测试电路的测试信号。第一三极管的基极接收信号导通，使第一测试电路内的CD4066开关感应信号，使第一测试电路输出信号至输出串口处，上位机通过输出串口控制第一测试电路的测试过程。

此时如需切换控制其他测试电路，如第三测试电路，可以使第一开关复位。此时第一开关断开，输出串口处无信号输出。按下与第三开关相对应的外接按钮，使第三开关闭合，优先编码器与第三开关相连接的第三输入脚有信号输入，该信号通过优先编码器和译码器的编译，译码器的第三输出脚输出编译后的信号至第三测试电路的三级管的基极。同时第三发光三极管亮起，显示输出的测试信号为第三测试电路的测试信号。第三测试电路的三极管的基极接收信号导通，使第三测试电路内的CD4066开关感应信号，使第三测试电路输出信号至输出串口处，上位机通过输出串口控制第一测试电路的测试过程。

通过设置选通电路，只需设置一个输出串口就能切换输出任意一路测试电路的测试信号，控制和操作方便；并且由于只需设置一个输出串口，可以将电路集成到一个电路板上，使硬盘测试装置的电路结构整洁，布线简易，集成度高。

对于本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及形变，而所有的这些改变以及形变都应该属于本发明权利要求的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种8×12路的串口切换器，包括一电路板(1)，其特征在于，所述的电路板(1)上设有选通电路(2)、测试电路和输出串口(4)；所述的测试电路设置八路，八路所述的测试电路的串口端(J1)均与输出串口(4)相连接，八路所述的测试电路的使能控制端还与选通电路(2)的使能输出端相连接；所述的选通电路(2)选择任意一路测试电路的输出信号输出至输出串口(4)；每路所述的测试电路设有一输入端组(5)，所述的输入端组(5)设有十二个输入端口。

2.根据权利要求1所述一种8×12路的串口切换器，其特征在于，所述的选通电路(2)包括优先编码器(U110)、译码器(U111)、第一开关(K1)、第二开关(K2)、第三开关(K3)、第四开关(K4)、第五开关(K5)、第六开关(K6)、第七开关(K7)、第八开关(K8)、第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)、第四电阻(R4)、第五电阻(R5)、第六电阻(R6)、第七电阻(R7)、第八电阻(R8)、第九电阻(R9)、第十电阻(R10)、第十一电阻(R11)、第十二电阻(R12)、第十三电阻(R13)、第十四电阻(R14)、第十五电阻(R15)、第十六电阻(R16)、第十七电阻(R17)、第一发光二极管(LED1)、第二发光二极管(LED2)、第三发光二极管(LED3)、第四发光二极管(LED4)、第五发光二极管(LED5)、第六发光二极管(LED6)、第七发光二极管(LED7)、第八发光二极管(LED8)、电力电容器(CE)、第一电容(C1)、第二电容(C2)、第三电容(C3)、第四电容(C4)、发声元件(LS1)、第一三极管(Q1)；

所述的优先编码器(U110)的使能输入脚EI接地，第一输入脚I0连接第一开关(K1)，第二输入脚I1连接第二开关(K2)，第三输入脚I2连接第三开关(K3)，第四输入脚I3连接第四开关(K4)，第五输入脚I4连接第五开关(K5)，第六输入脚I5连接第六开关(K6)，第七输入脚I6连接第七开关(K7)，第八输入脚I7连接第八开关(K8)；所述的第一开关(K1)、第二开关(K2)、第三开关(K3)、第四开关(K4)、第五开关(K5)、第六开关(K6)、第七开关(K7)、第八开关(K8)并接后接地，所述的第一输入脚I0连接第一电阻(R1)，第二输入脚I1连接第二电阻(R2)，第三输入脚I2连接第三电阻(R3)，第四输入脚I3连接第四电阻(R4)，所述的第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)、第四电阻(R4)和优先编码器(U110)的电源脚Vss并接后接入电源端；

所述的电力电容器(CE)的正极连接优先编码器(U110)的电源脚Vss，负极连接第一电容(C1)，所述的第一电容(C1)一端连接电力电容器(CE)，另一端连接电源脚Vss，所述的电力电容器(CE)和第一电容(C1)的共点接地；

所述的第五输入脚I4连接第五电阻(R5)，第六输入脚I5连接第六电阻(R6)，第七输入脚I6连接第七电阻(R7)，第八输入脚I7连接第八电阻(R8)；所述的第五电阻(R5)、第六电阻(R6)、第七电阻(R7)和第八电阻(R8)并接后接入电源端；

所述的优先编码器(U110)的第一输出脚A0连接译码器(U111)的第一选择输入脚A，第二输出脚A1连接译码器(U111)的第二选择输入脚B，第三输出脚A2连接译码器(U111)的第三选择输入脚C，优先编码输出脚GS连接译码器(U111)的锁存使能输入脚GL；所述的优先编码器(U110)的优先编码输出脚GS还通过第十七电阻(R17)连接第一三极管(Q1)的基极，所述的第一三极管(Q1)的发射极连接电源端，集电极连接发声元件(LS1)后接地；所述的优先编码器(U110)的第一输出脚A0通过第二电容(C2)接地，第二输出脚A1通过第三电容(C3)接地，第三输出脚A2通过第四电容(C4)接地；

所述的译码器(U111)的第一使能输入脚G1连接电源端，第二使能输入脚G2接地，电源脚Vss连接电源端，第一输出脚Y0连接第一发光二极管(LED1)的负极，第一发光二极管(LED1)的正极连接第九电阻(R9)；所述的译码器(U111)的第二输出脚Y1连接第二发光二极管(LED2)的负极，第二发光二极管(LED2)的正极连接第十电阻(R10)；所述的译码器(U111)的第三输出脚Y2连接第三发光二极管(LED3)的负极，第三发光二极管(LED3)的正极连接第十一电阻(R11)；所述的译码器(U111)的第四输出脚Y3连接第四发光二极管(LED4)的负极，第四发光二极管(LED4)的正极连接第十二电阻(R12)；所述的译码器(U111)的第五输出脚Y4连接第五发光二极管(LED5)的负极，第五发光二极管(LED5)的正极连接第十三电阻(R13)；所述的译码器(U111)的第六输出脚Y5连接第六发光二极管(LED6)的负极，第六发光二极管(LED6)的正极连接第十四电阻(R14)；所述的译码器(U111)的第七输出脚Y6连接第七发光二极管(LED7)的负极，第七发光二极管(LED7)的正极连接第十五电阻(R15)；所述的译码器(U111)的第八输出脚Y7连接第八发光二极管(LED8)的负极，第八发光二极管(LED8)的正极连接第十六电阻(R16)；所述的第九电阻(R9)、第十电阻(R10)、第十一电阻(R11)、第十二电阻(R12)、第十三电阻(R13)、第十四电阻(R14)、第十五电阻(R15)和第十六电阻(R16)并接后的共点接入电源端。

3.根据权利要求2所述一种8×12路的串口切换器，其特征在于，所述的优先编码器(U110)为74LS148型编码器，所述的译码器(U111)为74LS137型编码器。

4.根据权利要求2所述一种8×12路的串口切换器，其特征在于，八路所述的测试电路依次为电路结构相同的第一测试电路(31)、第二测试电路(32)、第三测试电路(33)、第四测试电路(34)、第五测试电路(35)、第六测试电路(36)、第七测试电路(37)、第八测试电路(38)；所述的输出串口(4)设有二十四个端口；

所述的第一测试电路(31)包括第十八电阻(R18)和第二三极管(Q2)，还包括六个CD4066开关，依次为第一CD4066开关(U11)、第二CD4066开关(U12)、第三CD4066开关(U13)、第四CD4066开关(U14)、第五CD4066开关(U15)和第六CD4066开关(U16)，六个所述的CD4066开关的VDD脚连接后通过第十八电阻(R18)连接第二三极管(Q2)的集电极，并在其连接后的共点接入电源端；所述的第二三极管(Q2)的发射极接地，基极连接译码器(U111)的其中一个输出脚；八路测试电路设有八个三极管，八个三极管的基极分别连接所述的译码器(U111)的八个输出脚，一一对应；所述的第一测试电路(31)的六个CD4066开关的控制引脚短接后接入在第十八电阻(R18)与第二三极管(Q2)的集电极之间；

所述的CD4066开关包括八个输入/输出脚，分别为SIN A1脚、SIN A2脚、SIN B1脚、SINB2脚、SIN C1脚、SIN C2脚、SIN D1脚、SIN D2脚；每个所述的CD4066开关连接两个输入端口，所述的CD4066开关的SIN A2脚和SIN B1脚连接其一输入端口，SIN D2脚和SIN C1脚连接其二输入端口；所述的第一CD4066开关(U11)的SIN A1脚连接输出串口(4)的二号端口，SIN B2脚连接输出串口(4)的一号端口，SIN D1脚连接三号端口，SIN C2脚连接四号端口；所述的第二CD4066开关(U12)的SIN A1脚连接输出串口(4)的六号端口，SIN B2脚连接输出串口(4)的五号端口，SIN D1脚连接七号端口，SIN C2脚连接八号端口；所述的第三CD4066开关(U13)的SIN A1脚连接输出串口(4)的十号端口，SIN B2脚连接输出串口(4)的九号端口，SIN D1脚连接十一号端口，SIN C2脚连接十二号端口；所述的第四CD4066开关(U14)的SIN A1脚连接输出串口(4)的十四号端口，SIN B2脚连接输出串口(4)的十三号端口，SIND1脚连接十五号端口，SIN C2脚连接十六号端口；所述的第五CD4066开关(U15)的SIN A1脚连接输出串口(4)的十八号端口，SIN B2脚连接输出串口(4)的十七号端口，SIN D1脚连接十九号端口，SIN C2脚连接二十号端口；所述的第六CD4066开关(U16)的SIN A1脚连接输出串口(4)的二十二号端口，SIN B2脚连接输出串口(4)的二十一号端口，SIN D1脚连接二十三号端口，SIN C2脚连接二十四号端口；

所述的第二测试电路(32)、第三测试电路(33)、第四测试电路(34)、第五测试电路(35)、第六测试电路(36)、第七测试电路(37)、第八测试电路(38)内的CD4066开关与输出串口(4)的连接结构与第一测试电路(31)相同。