CN109818116A - 一种介质波导滤波器及其频率的调试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种介质波导滤波器及其频率的调试方法，该介质波导滤波器包括介质单腔，所述介质单腔包括相对的第一表面和第二表面，所述第一表面和第二表面沿介质波导滤波器的高度方向隔开，所述第一表面上设置有盲孔。本发明通过在介质单腔上设置盲孔，从而可实现降低介质波导滤波器的频率的目的，可保证介质单腔外形的一致性，满足了使用要求。
Description
【技术领域】
本发明涉及射频通信技术领域，尤其是涉及一种介质波导滤波器及其频率的调试方法。
【背景技术】
滤波器作为一种选频装置广泛应用于通信领域，是通信系统里的关键部件，随着通信系统的发展，对滤波器的要求不断提高，受限于腔体尺寸及重量要求，小型化、轻量化逐渐成为一种趋势。利用介质材料的高介电常数及材料的高Q值，介质波导滤波器可以大幅减小产品尺寸，重量也相对应减小，具有插损小，温漂小等优点。
由于加工误差，介质常数波动导致介质波导滤波器的谐振频率无一致性，为了补偿谐振频率，传统的腔体滤波器还可以用螺杆调试补偿频率，但由于是介质波导滤波器，无法增加螺杆，通常做法为降低频率，则加大外形尺寸，提高频率，则减少外形尺寸，但是介质加工完之后无法增加外形尺寸来降低频率，无法满足使用要求。
【发明内容】
本发明的目的在于克服上述技术的不足，提供一种可实现降低频率的介质波导滤波器及其频率的调试方法。
本发明的第一方面提供一种介质波导滤波器，包括介质单腔，所述介质单腔包括相对的第一表面和第二表面，所述第一表面和第二表面沿介质波导滤波器的高度方向隔开，所述第一表面上设置有盲孔。
进一步地，所述盲孔的内壁和盲孔的底部均设有金属层。
进一步地，所述金属层为银层、铜层或金层。
进一步地，所述盲孔的外边缘设有倒圆角。
进一步地，所述倒圆角的半径小于所述介质单腔的第一表面的最短边边长与所述盲孔的半径之差；所述倒圆角的半径与频率呈正比例关系。
进一步地，所述盲孔的深度小于所述介质单腔的高度；所述盲孔的深度与频率呈反比例关系。
进一步地，所述盲孔的截面形状为圆形、方形或椭圆形。
本发明的第二方面提供一种介质波导滤波器频率的调试方法，包括以下步骤：当介质波导滤波器的频率需要降低时，在介质波导滤波器的介质单腔的第一表面上设置盲孔。
进一步地，还包括以下步骤：当介质波导滤波器的频率需要提高时，在所述盲孔的外边缘设置倒圆角。
进一步地，还包括以下步骤：当介质波导滤波器的频率需要进一步降低时，增加所述盲孔的深度；当介质波导滤波器的频率需要进一步提高时，增大所述倒圆角的半径。
本发明通过在介质单腔上设置盲孔，从而可实现降低介质波导滤波器的频率的目的，可保证介质单腔外形的一致性，满足了使用要求。
【附图说明】
图1为本发明一实施例提供的一种介质波导滤波器的结构示意图；
图2是图1所示介质波导滤波器的盲孔的深度变化与频率的关系曲线图；
图3为本发明另一实施例提供的一种介质波导滤波器的结构示意图；
图4是图3所示介质波导滤波器的倒圆角的半径变化与频率的关系曲线图。
【具体实施方式】
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的描述。
参考图1，本发明一实施例提供的一种介质波导滤波器，包括方形的实心介质单腔10。介质单腔10的四个角上分别设有倒圆角101，可提高耦合能量。介质单腔10包括相对的第一表面11和第二表面，第一表面11和第二表面沿介质波导滤波器的高度方向隔开，第一表面11的中心位置上设置有盲孔12，通过设置的盲孔12，本发明可不必增加介质单腔10的外形即可实现降低频率，从而实现了介质波导滤波器的频率的调试，同时保证了介质单腔10外形的一致性。盲孔12的深度与频率降低的大小对应，在实际操作时，可根据频率实际降低的大小设置盲孔12的深度。
盲孔12的深度小于介质单腔10的高度。盲孔12的深度与频率呈反比例关系，如图2所示，随着盲孔12的深度越深，频率越来越低。当介质波导滤波器需要进一步降低频率时，只需增加盲孔12的深度至相应的数值即可，从而进一步实现了介质波导滤波器的频率的调试。
盲孔12的内壁和盲孔12的底部均设有金属层(图上未示出)，以提高耦合能量。金属层的设置可以通过例如电镀、溅射等工艺方式进行。金属层优选为银层。可以理解地，金属层还可以是例如铜层、金层等等。
盲孔12的截面形状为圆形，可以理解地，盲孔12的截面形状也可以是例如方形、椭圆形等等形状，可根据实际情况进行设置。
参考图3，在另一实施例中，当介质波导滤波器的频率降低后，若需要提高频率，则可以在盲孔12的外边缘设置倒圆角13，从而可实现介质波导滤波器的频率的进一步的调试。倒圆角13的半径与频率提高的大小对应，在实际操作时，可根据频率实际提高的大小设置倒圆角13的半径大小。
倒圆角13的半径小于介质单腔10的第一表面11的最短边边长与盲孔12的半径之差。倒圆角13的半径与频率呈正比例关系，如图4所示，随着倒圆角13的半径越来越大，频率越来越高。当介质波导滤波器需要进一步提高频率时，只需增大倒圆角13的半径至相应的数值即可，从而进一步实现了介质波导滤波器的频率的调试。
本发明还提供了一种介质波导滤波器频率的调试方法，包括以下步骤：当介质波导滤波器的频率需要降低时，在介质波导滤波器的介质单腔10的第一表面11的中心位置上设置盲孔12。盲孔12的深度与频率降低的大小对应，即需要频率降低多少，就设置多少深度的盲孔12。
当介质波导滤波器的频率需要提高时，在盲孔12的外边缘设置倒圆角13。倒圆角13的半径与频率提高的大小对应。
当介质波导滤波器的频率需要进一步降低时，增加盲孔12的深度。增加的盲孔12的深度与频率进一步降低的大小对应。
当介质波导滤波器的频率需要进一步提高时，增大倒圆角13的半径。增大的倒圆角13的半径与频率进一步提高的大小对应。
以上实施例仅表达了本发明的优选实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，如对各个实施例中的不同特征进行组合等，这些都属于本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种介质波导滤波器，其特征在于：包括介质单腔，所述介质单腔包括相对的第一表面和第二表面，所述第一表面和第二表面沿介质波导滤波器的高度方向隔开，所述第一表面上设置有盲孔。
2.根据权利要求1所述的介质波导滤波器，其特征在于：所述盲孔的内壁和盲孔的底部均设有金属层。
3.根据权利要求2所述的介质波导滤波器，其特征在于：所述金属层为银层、铜层或金层。
4.根据权利要求1所述的介质波导滤波器，其特征在于：所述盲孔的孔口边缘设有倒圆角。
5.根据权利要求4所述的介质波导滤波器，其特征在于：所述倒圆角的半径小于所述介质单腔的第一表面的最短边边长与所述盲孔的半径之差；所述倒圆角的半径与频率呈正比例关系。
6.根据权利要求1所述的介质波导滤波器，其特征在于：所述盲孔的深度小于所述介质单腔的高度；所述盲孔的深度与频率呈反比例关系。
7.根据权利要求1所述的介质波导滤波器，其特征在于：所述盲孔的截面形状为圆形、方形或椭圆形。
8.一种介质波导滤波器频率的调试方法，其特征在于：包括以下步骤：
当介质波导滤波器的频率需要降低时，在介质波导滤波器的介质单腔的第一表面上设置盲孔。
9.根据权利要求8所述的介质波导滤波器频率的调试方法，其特征在于：还包括以下步骤：
当介质波导滤波器的频率需要提高时，在所述盲孔的外边缘设置倒圆角。
10.根据权利要求9所述的介质波导滤波器频率的调试方法，其特征在于：还包括以下步骤：
当介质波导滤波器的频率需要进一步降低时，增加所述盲孔的深度；
当介质波导滤波器的频率需要进一步提高时，增大所述倒圆角的半径。
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