CN109817273B - 一种nand性能测试方法及其系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种NAND性能测试方法及其系统;其中,NAND性能测试方法,包括以下步骤:S1,上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包;S2,将命令包发送给NFC,NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NAND Flash的配置;S3,在相同环境下,NFC通过描述符对不同配置的NAND Flash进行读写操作,并进行读写性能测试;S4,将各个配置下的性能数据反馈至上位机;S5,将性能数据自动导入excel中,并生成数据对比文件和图示。本发明通过上位机自动完成对NAND Flash各个模式组合的配置,同时也可以对各个配置下的NAND Flash性能数据进行计算,比较和展示;提高了NAND性能测试的效率,节约了人力成本,能够更好地满足需求。
Description
技术领域
本发明涉及固态硬盘性能测试技术领域,更具体地说是指一种NAND性能测试方法及其系统。
背景技术
NAND Flash固态存储器以其读写性能高、体积小、重量轻、抗震动、发热量小等优点已经在众多领域被广泛应用,NAND Flash固态存储器的关键技术也成为了研究热点。为了适应各个领域的需求,NAND Flash具备了很强的兼容性,有着各种模式的选择,于此同时也具有着很强的时效性,可以随时通过cmd进行切换。
为SSD选择出最合理的NAND模式,成为了一个非常重要的任务,而目前采用的技术为:主要通过人工阅读NAND Flash芯片手册,通过set feature(设置特性)命令进行对NANDFlash各个模式的配置,再通过描述符对NAND Flash进行读写测试;测试过程都是重复性劳动,浪费人力资源的同时,又不能自动的对各个模式下NAND Flash读写性能进行测试和比较,效果不佳,无法满足需求。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷,提供一种NAND性能测试方法及其系统。
为实现上述目的,本发明采用于下技术方案:
一种NAND性能测试方法,包括以下步骤:
S1,上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包;
S2,将命令包发送给NFC,NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NAND Flash的配置;
S3,在相同环境下,NFC通过描述符对不同配置的NAND Flash进行读写操作,并进行读写性能测试;
S4,将各个配置下的性能数据反馈至上位机;
S5,将性能数据自动导入excel中,并生成数据对比文件和图示。
其进一步技术方案为:所述S1中,上位机按切换的NAND Flash模式要求,以XML的形式在算法构造出所需的命令包。
其进一步技术方案为:所述S2中,命令包通过串口发送给NFC。
其进一步技术方案为:所述S3还包括:NFC通过描述符对NAND Flash进行模式的切换。
其进一步技术方案为:所述S4中,各个配置下的性能数据通过串口反馈至上位机。
其进一步技术方案为:所述S5中,上位机分析数据并进行各种模式性能比较,最终通过excel的图标进行展现各个模式组合下NAND Flash的性能。
一种NAND性能测试系统,包括构造单元,发送配置单元,读写单元,反馈单元,及数据处理单元;
所述构造单元,用于上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包;
所述发送配置单元,用于将命令包发送给NFC,NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NAND Flash的配置;
所述读写单元,用于在相同环境下,NFC通过描述符对不同配置的NAND Flash进行读写操作,并进行读写性能测试;
所述反馈单元,用于将各个配置下的性能数据反馈至上位机;
所述数据处理单元,用于将性能数据自动导入excel中,并生成数据对比文件和图示。
其进一步技术方案为:所述构造单元中,上位机按切换的NAND Flash模式要求,以XML的形式在算法构造出所需的命令包。
其进一步技术方案为:所述发送配置单元中,命令包通过串口发送给NFC;所述读写单元还包括:NFC通过描述符对NAND Flash进行模式的切换。
其进一步技术方案为:所述反馈单元中,各个配置下的性能数据通过串口反馈至上位机;所述数据处理单元中,上位机分析数据并进行各种模式性能比较,最终通过excel的图标进行展现各个模式组合下NAND Flash的性能。
本发明与现有技术相比的有益效果是:通过上位机自动完成对NAND Flash各个模式组合的配置,同时也可以对各个配置下的NAND Flash性能数据进行计算,比较和展示;提高了NAND性能测试的效率,节约了人力成本,能够更好地满足需求。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
图1为现有技术手动测试的示意框图;
图2为本发明一种NAND性能测试方法的流程图;
图3为本发明NAND性能测试的示意框图;
图4为本发明一种NAND性能测试系统的方框图。
10 构造单元 20 发送配置单元
30 读写单元 40 反馈单元
50 数据处理单元
具体实施方式
为了更充分理解本发明的技术内容,下面结合具体实施例对本发明的技术方案进一步介绍和说明,但不局限于此。
如图1到图4所示的具体实施例,其中,如图1所示,现有技术中,主要通过阅读NANDFlash芯片手册,通过设置特性命令进行对NAND Flash各个模式的配置,再通过描述符对NAND Flash进行读写测试;测试过程都是重复性劳动,浪费人力资源的同时,又不不能自动的对各个模式下NAND Flash读写性能进行测试和比较。
如图2至图3所示,本发明公开了一种NAND性能测试方法,包括以下步骤:
S1,上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包;
S2,将命令包发送给NFC(近距离无线通讯),NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NAND Flash的配置;
S3,在相同环境下,NFC通过描述符对不同配置的NAND Flash进行读写操作,并进行读写性能测试;
S4,将各个配置下的性能数据反馈至上位机;
S5,将性能数据自动导入excel中,并生成数据对比文件和图示。
其中,NAND Flash的工作模式主要分为三类:SLC/TLC模式,异步/同步模式,和SDR/DDR模式;每种模式可以相互组合,满足各种应用场景的需求。
其中,在所述S1中,上位机按切换的NAND Flash模式要求,以XML的形式在算法构造出所需的命令包。
其中,在所述S2中,命令包通过串口发送给NFC。
其中,所述S3还包括:NFC通过描述符对NAND Flash进行模式的切换。
其中,所述S4中,各个配置下的性能数据通过串口反馈至上位机。
进一步地,所述S5中,上位机分析数据并进行各种模式性能比较,最终通过excel的图标进行展现各个模式组合下NAND Flash的性能。
本发明针对NFC异常处理场景作出方法上的改进,最大可能性地提高了对NFC通道的利用率,以及异常处理的效率。
本发明针对手动进行NAND Flash测试的问题,设计了一套自动NAND Flash性能测试方法,来解决以上问题,提高了性能测试的效率,节约了人力成本。
如图4所示,本发明还公开了一种NAND性能测试系统,包括构造单元10,发送配置单元20,读写单元30,反馈单元40,及数据处理单元50;
所述构造单元10,用于上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包;
所述发送配置单元20,用于将命令包发送给NFC,NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NAND Flash的配置;
所述读写单元30,用于在相同环境下,NFC通过描述符对不同配置的NAND Flash进行读写操作,并进行读写性能测试;
所述反馈单元40,用于将各个配置下的性能数据反馈至上位机;
所述数据处理单元50,用于将性能数据自动导入excel中,并生成数据对比文件和图示。
其中,所述构造单元10中,上位机按切换的NAND Flash模式要求,以XML的形式在算法构造出所需的命令包。
其中,所述发送配置单元20中,命令包通过串口发送给NFC;所述读写单元30还包括:NFC通过描述符对NAND Flash进行模式的切换。
进一步地,所述反馈单元40中,各个配置下的性能数据通过串口反馈至上位机;所述数据处理单元50中,上位机分析数据并进行各种模式性能比较,最终通过excel的图标进行展现各个模式组合下NAND Flash的性能。
本发明通过上位机自动完成对NAND Flash各个模式组合的配置,同时也可以对各个配置下的NAND Flash性能数据进行计算,比较和展示;提高了NAND性能测试的效率,节约了人力成本,能够更好地满足需求。
上述仅以实施例来进一步说明本发明的技术内容,以便于读者更容易理解,但不代表本发明的实施方式仅限于此,任何依本发明所做的技术延伸或再创造,均受本发明的保护。本发明的保护范围以权利要求书为准。
Claims (10)
1.一种NAND性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包;
S2,将命令包发送给NFC,NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NANDFlash的配置;
S3,在相同环境下,NFC通过描述符对不同配置的NANDFlash进行读写操作,并进行读写性能测试;
S4,将各个配置下的性能数据反馈至上位机;
S5,由上位机将性能数据自动导入excel中,并生成数据对比文件和图示。
2.根据权利要求1所述的一种NAND性能测试方法,其特征在于,所述S1中,上位机按切换的NANDFlash模式要求,以XML的形式在算法构造出所需的命令包。
3.根据权利要求1所述的一种NAND性能测试方法,其特征在于,所述S2中,命令包通过串口发送给NFC。
4.根据权利要求1所述的一种NAND性能测试方法,其特征在于,所述S3还包括:NFC通过描述符对NANDFlash进行模式的切换。
5.根据权利要求1所述的一种NAND性能测试方法,其特征在于,所述S4中,各个配置下的性能数据通过串口反馈至上位机。
6.根据权利要求1所述的一种NAND性能测试方法,其特征在于,所述S5中,上位机分析数据并进行各种模式性能比较,最终通过excel的图标进行展现各个模式组合下NANDFlash的性能。
7.一种NAND性能测试系统,其特征在于,包括构造单元,发送配置单元,读写单元,反馈单元,及数据处理单元;
所述构造单元,用于上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包;
所述发送配置单元,用于将命令包发送给NFC,NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NANDFlash的配置;
所述读写单元,用于在相同环境下,NFC通过描述符对不同配置的NAND Flash进行读写操作,并进行读写性能测试;
所述反馈单元,用于将各个配置下的性能数据反馈至上位机;
所述数据处理单元,用于由上位机将性能数据自动导入excel中,并生成数据对比文件和图示。
8.根据权利要求7所述的一种NAND性能测试系统,其特征在于,所述构造单元中,上位机按切换的NANDFlash模式要求,以XML的形式在算法构造出所需的命令包。
9.根据权利要求7所述的一种NAND性能测试系统,其特征在于,所述发送配置单元中,命令包通过串口发送给NFC;所述读写单元还包括:NFC通过描述符对NANDFlash进行模式的切换。
10.根据权利要求7所述的一种NAND性能测试系统,其特征在于,所述反馈单元中,各个配置下的性能数据通过串口反馈至上位机;所述数据处理单元中,上位机分析数据并进行各种模式性能比较,最终通过excel的图标进行展现各个模式组合下NANDFlash的性能。
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