CN109813530A - 一种多功能光学模组测试台座 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种多功能光学模组测试台座，包括：上压板、定位块、热传导片、探针模块、连接器压块和底座；定位块、热传导片安装在底座上，定位块至少包括第一定位块和第二定位块，并位于热传导片的上面，第一定位块和第二定位块组成错层凹槽，以使待测光学模组放入凹槽中；根据不同类型的所述待测光学模组，探针模块和连接器压块分别安装在上压板和所述底座上，或者分别安装在底座和上压板上，以使所述上压板和底座扣合时，使所述待测光学模组通电。本发明的多功能光学模组测试台座，能够避免因加工件的局限性造成的影响测试效率和精度的问题，同时也使得加工形式多样化，并且本发明的定位块形成的错层凹槽结构，减少了加工难度。

Description

一种多功能光学模组测试台座

技术领域

本发明涉及光学模组测试领域，尤其涉及一种多功能光学模组测试台座。

背景技术

光学模组广泛应用于手机、机器人、VR/AR以及各种智能视觉硬件市场等领域，随着光学模组产品需求的扩大，为了保证产品的良品率，提高用户的体验，光学模组的检测已成为生产过程中非常重要的一个环节。其中，模组测试台座是各检测设备的其中一部分，其可以承载并固定光学模组，且可以将模组运输至相应的测试位进行对应的光学性能检测。

然而，现有技术中，测试台座的通用性、定位性以及耐磨损性等诸多方面的性能还存在一些不足，例如，每个测试台座只能放置同一类型或相同系列的模组，当测试不同种类的光学模组时，便需要更换整个测试台座，这会对测试效率和精度均产生不良影响。又例如，现有技术测试台座的热传导片和定位块采用底部断差式组合结构定位模组，这种结构会使模组定位时的精度较差(偏移/倾斜量的精度)，如果不采用断差式，则要求定位块足够薄以使其不影响模组的测试，这又会造成定位块的磨损相对较快。因此，有必要发展一种新的光学模组测试台座，以使其能克服上述问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术的测试台座在通用性、定位性以及耐磨损性等方面的不足，提出一种多功能光学模组测试台座。

本发明的多功能光学模组测试台座，包括：上压板、定位块、热传导片、探针模块、连接器压块和底座；所述定位块、热传导片安装在所述底座上，所述定位块至少包括第一定位块和第二定位块，并位于所述热传导片的上面，所述第一定位块和第二定位块组成错层凹槽，以使待测光学模组放入所述凹槽中；根据不同类型的所述待测光学模组，所述探针模块和连接器压块分别安装在所述上压板和所述底座上，或者分别安装在所述底座和上压板上，以使所述上压板和底座扣合时，使所述待测光学模组通电。

在优选的实施方式中，所述待测光学模组上设有柔性电路板通电连接器，用于在测试时与所述探针模块接触连接，并在所述连接器压块进一步扣紧时使得所述待测光学模组通电。

在优选的实施方式中，所述定位块可拆卸地安装在所述底座上，并且根据所述待测光学模组的类型，所述定位块的大小和/或位置能够调节，或者所述定位块能够被更换。在优选的实施方式中，所述热传导片整体加工后固定在所述定位块的下面。更优选地，所述热传导片为陶瓷片，所述陶瓷片上设有一个以上的测温孔。

在优选的实施方式中，所述上压板上设有U型槽和螺孔，所述探针模块或者连接器压块能够沿着所述U型槽移动，所述连接器压块或探针模块通过所述螺孔可拆卸地安装在所述上压板上。在优选的实施方式中，所述上压板上还设有引导定位销，用于准确地控制所述探针模块或者连接器压块的偏移量。在优选的实施方式中，所述上压板可拆卸地连接在所述底座的一端。

在优选的实施方式中，所述第一定位块具有伸出的上边沿，所述第二定位块具有伸出的下边沿，所述上边沿和下边沿构成所述错层凹槽。所述待测光学模组放入所述错层凹槽后，能够与所述第一定位块和所述第二定位块形成回字形。

与现有技术相比，本发明的有益效果有：

本发明的多功能光学模组测试台座，能够根据光学模组的类型，调整探针模块和连接器压块的位置，避免了因加工件的局限性造成的影响测试效率和精度的问题，同时也使得加工形式多样化，并且本发明的定位块形成错层凹槽结构，避免了现有的断差式定位结构，较少了加工难度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他实施例的附图。

图1是根据本发明实施例的多功能光学模组测试台座的结构示意图。

图2是根据本发明实施例的多功能光学模组测试台座的爆炸结构示意图。

图3是根据本发明实施例的上压板结构示意图。

图4是根据本发明实施例的定位块固定待测光学模组的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图通过具体实施例对本发明进行详细的介绍，以使更好的理解本发明，但下述实施例并不限制本发明的保护范围。另外，需要说明的是，下述实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构思，附图中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的形状、数量及比例可根据需要而改变，且其组件布局形态也可能更为复杂。

图1是根据本发明实施例的多功能光学模组测试台座的结构示意图。如图1所示，该测试台座包括上压板101、至少两块定位块102、热传导片103、探针模块104、连接器压块105以及底座106等。上压板101用于将待测光学模组扣合在测试台座内便于使其通电，上压板101可以根据测试需要和待测光学模组的类型，选择性的安装模组压块107、连接器压块105或者探针模块104等。定位块102用于将待测光学模组定位在合适位置便于其进行相应的光学性能测试，定位块102至少可以包括第一定位块A和第二定位块B，这样可以根据需要分开调整第一定位块A和第二定位块B的位置，同时也便于根据需要更换定位块。热传导片103用于对待测光学模组进行散热或者加热，并可根据需求在其上设置温度测试点及真空吸孔等。热传导片103可以整体加工后安装在定位块102的下面，这样第一定位块A和第二定位块B形成错层凹槽后，待测光学模组便可以放入该凹槽中，从而进一步与热传导片103接触，方便通过热传导片103调整待测光学模组的测试温度等。待测光学模组定位好位置后，其上的FPC(柔性电路板)通电连接器需要与探针模块104接触，然后经过连接器压块105的进一步扣紧以使待测光学模组通电。底座106用于承载定位块102、热传导片103、探针模块104或者连接器压块105等。

图2是根据本发明实施例的多功能光学模组测试台座的爆炸结构示意图，如图2所示的测试台座具体包括定位块201、热传导片202、探针模块203、制冷片204、电路板205、底座206以及待测光学模组207等。定位块201可拆卸地安装在底座上，并且根据待测光学模组的类型，定位块201的大小和/或位置能够调节，或者定位块201能够被更换。待测光学模组207固定在定位块201相应的定位槽中，定位块201可以根据待测光学模组207的FPC不同长度调整对应的距离，可调约为±3.5mm，如可以适用于最长约18mm的FPC，也可以根据不同类型的待测光学模组207更换不同的定位块201与热传导片202配合使用。在一个实施例中，待测光学模组207固定于定位槽之后，其背面(镜头的反面)可与热传导片202接触，制冷片204则固定在热传导片202的下面，这样可控制待测光学模组207处于合适的测试温度。同时，待测光学模组207的FPC通电连接器与位于底座206上的探针模块203接触，然后经连接器压块105、模组压块107等扣紧后使其与底座206上的电路板205连通，从而使待测光学模组207通电。

一般情况下，若根据不同类型的待测光学模组207更换热传导片202进行测试，会导致测试参数改变，这时还需要校正参数才能继续测试，影响测试效率，而本发明实施例的热传导片202是整体加工而成后直接固定在底座206上，这样在测试不同类型的待测光学模组207时，无需更换热传导片202，只需根据需要调整或更换定位块201、上压板、探针模块203、连接器压块或者电路板205等，避免了加工件的局限性造成的影响测试效率及精度的问题。

图3为根据本发明一个实施例的上压板结构示意图，该上压板上设有引导定位销301、U型槽302、螺孔303等。由于不同系列的光学模组的镜头、FPC大小以及通电连接器的位置等各不相同，例如，有的通电连接器朝上有的朝下，此时需要根据光学模组的类型来选择在上压板上安装对应的连接器压块或者探针模块等。若光学模组的通电连接器朝上(与镜头一致的方向设为朝上)，则可以通过引导定位销301和螺孔303的配合将探针模块安装在U型槽302上，同时与之对应的连接器压块则安装在底座上，这样当上压板扣合时，通电连接器便可以与其上的探针模块接触通电。反之，若光学模组的通电连接器朝下(与镜头相反的方向设为朝下)，则将探针模块安装在底座上，将连接器压块通过引导定位销301和螺孔303安装在U型槽302上。采用螺孔303以及U型槽302的设计结构，可以使连接器压块或探针模块等沿着U型槽302移动，方便更换、调整模组压块、连接器压块或探针模块等的位置。在本发明中，通过引导定位销301和螺孔303的配合将探针模块或者连接器压块安装在U型槽302上，具体地，连接器压块或探针模块等先沿着U型槽302移动，待移动到合适的位置时，再通过螺钉将其安装在上压板上，引导定位销301的作用是使探针模块或者连接器压块更加准确/精准地控制偏移量，探针模块或者连接器压块上与螺孔303对应的位置设有螺孔和/或凹槽，方便螺钉旋入使其安装在上压板上。

另外，在本发明中，上压板101可拆卸地连接在底座106的一端，这样方便根据测试需要更换上压板，本发明对可拆卸的具体实现方式不进行限定，例如，在一个实施例中，上压板101通过螺孔螺钉的方式安装在底座一侧。

图4是根据本发明实施例的定位块固定待测光学模组的结构示意图，如图4所示，待测光学模组401开始以倾斜的方式放入第一定位块402和第二定位块403形成的错层凹槽内，可以通过手持或通过工具夹持待测光学模组401首先避开第一定位块402伸出的上边沿404后，再慢慢倾斜待测光学模组401使其避开第二定位块403伸出的下边沿405，直至其完全落入凹槽内，待测光学模组401、第一定位块402以及第二定位块403最终形成的俯视效果图类似于回字形。该结构避免了现有的断差式定位结构，无需将热传导片分割后与定位块形成断差式，较少了加工难度。通过本实施例的方案，可以通过调整定位块以实现较小公差，且同轴度一致性较高。另外，也可以根据需要，将多个定位块设计成其他定位槽结构，这样使得加工形式可多样化。

上述热传导片可采用陶瓷片，与现有的铜质或不锈钢相比，陶瓷片具有更好的耐磨损性，且该陶瓷片底部设有多个(一个以上)测温孔，这种设置可使NTC(负温度系数热敏电阻)测温时接触性更好，且不会造成短路。

区别于现有技术，本发明实施例提供了一种可适用于各种光学模组的多功能性测试台座，能够根据光学模组的类型调整或更换定位块、探针模块、连接器压块，或者可以方便的更换整个上压板等。上压板设置了U形槽、螺孔等，可以方便安装探针模块、连接器压块等或者调整相应的位置等。定位块采用多个加工件形式，组成错层凹槽结构，且其位置大小等可调。采用本发明的设计结构，避免了因加工件的局限性造成的影响测试效率和精度的问题，同时也使得加工形式多样化。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

需要指出，根据实施的需要，可将本申请中描述的各个部件拆分为更多部件，也可将两个或多个部件或者部件的部分操作组合成新的部件，以实现本发明的目的。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种多功能光学模组测试台座，其特征在于，包括：

上压板、定位块、热传导片、探针模块、连接器压块和底座；

所述定位块、热传导片安装在所述底座上，所述定位块至少包括第一定位块和第二定位块，并位于所述热传导片的上面，所述第一定位块和第二定位块组成错层凹槽，以使待测光学模组放入所述凹槽中；

根据不同类型的所述待测光学模组，所述探针模块和连接器压块分别安装在所述上压板和所述底座上，或者分别安装在所述底座和上压板上，以使所述上压板和底座扣合时，使所述待测光学模组通电。

2.根据权利要求1所述的多功能光学模组测试台座，其特征在于，所述定位块可拆卸地安装在所述底座上，并且根据所述待测光学模组的类型，所述定位块的大小和/或位置能够调节，或者所述定位块能够被更换。

3.根据权利要求1所述的多功能光学模组测试台座，其特征在于，所述热传导片整体加工后固定在所述定位块的下面。

4.根据权利要求3所述的多功能光学模组测试台座，其特征在于，所述热传导片为陶瓷片，所述陶瓷片上设有一个以上的测温孔。

5.根据权利要求1所述的多功能光学模组测试台座，其特征在于，所述上压板上设有U型槽和螺孔，所述连接器压块或探针模块通过所述螺孔可拆卸地安装在所述U型槽上，且能够沿着所述U型槽移动。

6.根据权利要求1所述的多功能光学模组测试台座，其特征在于，所述上压板上还设有引导定位销，用于准确控制所述探针模块或者连接器压块的偏移量。

7.根据权利要求1所述的多功能光学模组测试台座，其特征在于，所述上压板可拆卸地连接在所述底座的一端。

8.根据权利要求1所述的多功能光学模组测试台座，其特征在于，所述第一定位块具有伸出的上边沿，所述第二定位块具有伸出的下边沿，所述上边沿和下边沿构成所述错层凹槽。

9.根据权利要求1-8任一所述的多功能光学模组测试台座，其特征在于，所述待测光学模组放入所述错层凹槽后，可与所述第一定位块和所述第二定位块形成回字形。