CN109738437A - 一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置及方法,该装置包括:传送装置、拍摄装置、控制装置、处理装置;其中传送装置用于对自愈电容器元件的薄膜进行传送;控制装置用于控制传送装置对自愈电容器元件的薄膜进行传送;拍摄装置用于拍摄传送装置传送的自愈电容器元件的薄膜;处理装置用于获取拍摄装置拍摄的自愈电容器元件的薄膜的图片,以及对图片上的自愈点进行测量计算。从而对金属化薄膜电容器上的自愈点实现了高效且准确的测量统计。

Description

一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置及方法
技术领域
本申请涉及电子元件以及电气技术领域,尤其涉及一种薄膜电容器自愈点测量装置及方法。
背景技术
本部分旨在为权利要求书中陈述的本申请实施例提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。
金属化薄膜电容器由金属化薄膜卷绕而成,其在运行或老化试验中可能发生自愈现象,自愈位置处的金属层会被蒸发从而形成自愈点。自愈点的大小、数量以及位置等与薄膜的品质、工艺的优劣、运行环境等密切相关,因此对自愈点进行统计测量是研究金属化膜电容器的常见和有效途径。
目前,对于自愈点的测量和统计工作主要采用人工方法,即人工观察薄膜表面,测量自愈点的面积并分段计数。就电力电容器而言,单只元件可能由长度达200m左右薄膜卷制而成,用人工的方法进行测量和统计工作量巨大,且容易遗漏,同时由于自愈点的形状不规则,人工对自愈点面积的计算极不精确。
因此如何高效且准确地对自愈点进行测量和统计,是亟待解决的问题。
发明内容
本申请实施例提供一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置及方法,实现对金属化薄膜电容器上的自愈点进行高效且准确的测量统计。
第一方面,本申请实施例提供的一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置包括:传送装置、拍摄装置、控制装置、处理装置;
所述传送装置,用于对自愈电容器元件的薄膜进行传送;
所述控制装置,用于控制所述传送装置对所述自愈电容器元件的薄膜进行传送;
所述拍摄装置,用于拍摄所述传送装置传送的自愈电容器元件的薄膜;
所述处理装置,用于获取所述拍摄装置拍摄的自愈电容器元件的薄膜的图片,以及对图片上的自愈点进行测量计算。
第二方面,本申请实施例还提供一种基于第一方面的装置的金属化薄膜电容器自愈点测量方法,该方法包括:
将拍摄装置拍摄到的自愈电容器元件的薄膜的N张图片进行去重处理,得到第一图片组,其中,N为大于等于2的整数;
对所述第一图片组的每组图片进行二值化处理,得到第二图片组;
根据第二图片组中的每组图片的图片边长和分辨率,确定图片中每个像素点的面积和边长;
将第二图片组中的每组图片的图像数据分别转换成为矩阵,提取出矩阵中所有值为1的元素,分别将相邻的值为1的元素进行组合形成自愈点区域;
根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每组图片中的每个像素点的边长,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标;根据第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标,确定每个自愈点的X轴坐标和Y轴坐标;
根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每个像素点的面积,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点的面积。
第三方面,本申请还提供了一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第二方面所述方法。
第四方面,本申请还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有执行上述第二方面所述方法的计算机程序。
本申请实施例中,通过传送装置、拍摄装置、控制装置、处理装置;其中传送装置用于对自愈电容器元件的薄膜进行传送;控制装置用于控制传送装置对自愈电容器元件的薄膜进行传送;拍摄装置用于拍摄传送装置传送的自愈电容器元件的薄膜;处理装置用于获取拍摄装置拍摄的自愈电容器元件的薄膜的图片,以及对图片上的自愈点进行测量计算。从而对薄膜电容器上的自愈点实现了高效且准确的测量统计。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:
图1为本申请实施例中提供的一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置;
图2为本申请实施例中提供的一种金属化薄膜电容器自愈点测量系统示意图;
图3为本申请实施例中提供的一种金属化薄膜电容器自愈点测量方法;
图4为本申请实施例中提供的一种重叠计算处理方法示意图;
图5为本申请实施例中提供的一种自愈点坐标示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
下面参考本申请的若干代表性实施方式,详细阐释本申请的原理和精神。
虽然本申请提供了如下述实施例或附图所示的方法操作步骤或装置结构,但基于常规或者无需创造性的劳动在所述方法或装置中可以包括更多或者更少的操作步骤或模块单元。在逻辑性上不存在必要因果关系的步骤或结构中,这些步骤的执行顺序或装置的模块结构不限于本申请实施例或附图所示的执行顺序或模块结构。所述的方法或模块结构的在实际中的装置或终端产品应用时,可以按照实施例或者附图所示的方法或模块结构进行顺序执行或者并行执行。
金属化电容器由表面蒸镀金属的介质薄膜卷绕而成,金属化电容器电极的厚度小于0.1μm,常用的电极材料为铝、锌或者它们的复合方式,薄的金属化电极使其具有自愈特性。金属化膜电容器以有机薄膜作为储能介质。由于介质薄膜在生产过程中不可避免地带有缺陷或杂质,形成“电弱点”。随着外施电压的升高,在电弱点处的薄膜会首先击穿,形成放电通道。电荷通过放电通道形成大电流,击穿点附近电流集中,同时由于金属电极非常薄,单位面积电极电阻(方阻)较大,电流流过时引起击穿点及周围局部的高温,高温使金属层迅速蒸发和向外扩散,绝缘恢复。局部的击穿不会影响到整个电容器,这一过程称为金属化膜电容器的“自愈”,自愈成功后的电容器又能继续可靠工作。金属化膜电容器的自愈特性在很大程度上防止了由于单个电弱点击穿引起的电容器失效,大大延长了电容器的使用寿命。同时,由于减小了电极所占的体积重量,在同样工作场强下,也大幅度提高了电容器的储能密度。
金属化膜自愈时所消耗的能量称为自愈能量,减小自愈能量可以减小击穿时电极被清除面积,提高电容器的寿命和工作可靠性。由于金属化膜电容器的自愈性能,储能介质的工作场强得到很大提高,因此在高储能密度电容器领域得到了广泛应用。金属化膜自愈时,自愈能量是衡量其自愈特性的一个重要参量,自愈时消耗的能量越小,越容易实现成功自愈,对电容器的性能影响也越小,电容器寿命越长。金属化膜的自愈是一个很复杂的过程,既有物理变化,又有化学反应。研究结果表明,金属化膜自愈影响因素包括电介质材料、外施电压、电容量、电极厚度、层间压强和热定型工艺等因素。
本申请实施例提供了一种用于对金属化薄膜电容器自愈点统计的装置及方法,对于薄膜电容器的自愈点的大小、数量和分布进行测量计算,从而研究电容器的性能。本申请实施例的目的在于解决目前金属化薄膜电容器自愈点测量与统计中,速度慢、精度差的问题。
图1示出了本申请实施例提供的一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置,所述薄膜电容器自愈点测量装置包括:传送装置、拍摄装置、控制装置、处理装置。
其中,传送装置,用于对自愈电容器元件的薄膜进行传送;控制装置,用于控制所述传送装置对所述自愈电容器元件的薄膜进行传送;拍摄装置,用于拍摄所述传送装置传送的自愈电容器元件的薄膜;处理装置,用于获取所述拍摄装置拍摄的自愈电容器元件的薄膜的图片,以及对图片上的自愈点进行测量计算。
可选地,传送装置包括放卷装置和收卷装置。如图1所示,放卷装置包括第一定位滚轴(4)和至少一个放卷轴(2),收卷装置包括第二定位滚轴(5)和至少一个收卷轴(1);其中,第一定位滚轴(4)和第二定位滚轴(5)用于将所述自愈电容器元件的薄膜(9)定位于拍摄装置的拍摄范围内。
可选地,本申请实施例中提供的传送装置中还可以包括传送带,在具体实施时将自愈电容器元件的薄膜放置在传送带上随之传送,即放卷轴(2)和所述收卷轴(1)用于使得传送带对自愈电容器元件的薄膜进行传送。
可选地,放卷装置还包括至少一个张力卷轴(3),用于控制自愈电容器元件的薄膜传送时的张力。
可选地,自愈电容器元件的薄膜在放卷轴(2)和收卷轴(1)间传送时经过张力卷轴(3)、第一定位滚轴(4)和第二定位滚轴(5)。
可选地,控制装置中还设置有速度传感器(10),控制装置通过速度传感器(10)检测转动速度。控制装置中还包括控制器(6),控制器(6)与速度传感器(10)相连。
可选地,拍摄装置根据转动速度设置拍摄间隔,根据拍摄间隔对传送中的自愈电容器元件的薄膜进行连续拍摄。
可选地,本申请实施例提供的薄膜电容器自愈点测量装置还包括:光源(8),光源(8)用于在所述拍摄装置对所述自愈电容器元件的薄膜进行拍摄时补光,使得薄膜电容器上的自愈点更易识别。
基于图1所示的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,本申请实施例适用于如图2所示的金属化薄膜电容器自愈点测量系统,将自愈电容器元件的薄膜展开后,安装绕过张力卷轴和第二定位滚轴固定在收卷轴上。收卷轴由收卷电机驱动,通过控制器控制收卷电机对自愈电容器元件的薄膜进行传送,速度传感器检测膜速并将膜速信号输入控制器,控制器根据膜速控制收卷电机的转速,使膜速保持在合适的范围内,同时计算卷过的膜长为设定值时,控制摄像头对拍摄范围内的自愈电容器元件的薄膜拍摄图像。摄像头拍摄后得到的图片传送给软件系统进行图片处理,对薄膜电容器上的自愈点进行测量统计,最后将测量统计结果输出。
本申请实施例还提供了一种基于上述所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置的金属化薄膜电容器自愈点测量方法,如图3所示,该测量方法包括:
步骤301:将拍摄装置拍摄到的自愈电容器元件的薄膜的N张图片进行去重处理,得到第一图片组,其中,N为大于等于2的整数;
步骤302:对所述第一图片组的每组图片进行二值化处理,得到第二图片组;
步骤303:根据第二图片组中的每组图片的图片边长和分辨率,确定图片中每个像素点的面积和边长;
步骤304:将第二图片组中的每组图片的图像数据分别转换成为矩阵,提取出矩阵中所有值为1的元素,分别将相邻的值为1的元素进行组合形成自愈点区域;
步骤305:根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每组图片中的每个像素点的边长,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标;根据第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标,确定每个自愈点的X轴坐标和Y轴坐标;
步骤306:根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每个像素点的面积,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点的面积。
需要说明的是,上述步骤中,步骤301与步骤302的步骤顺序不限于此,也可以先对获取到的图片进行二值化处理,再对二值化处理后的图片进行去重分组。步骤304和步骤305的步骤顺序不限于此,也可以先确定每个自愈点的面积,再确定每个自愈点的位置分布情况(即X轴坐标和Y轴坐标)。
同样地,本申请对于步骤303、步骤304和步骤305的顺序也不做限制。
具体地,在步骤301中,首先提取N张图片中的每相邻M张图片组成预处理图片组,M为大于等于1的整数;再将每个所述预处理图片组中的重叠区域去掉,形成第一图片组。举例来说,如图4所示,当自愈电容器元件的薄膜(1)被拉动L长度(3)时,控制器控制摄像头对自愈电容器元件的薄膜表面拍照,摄像头拍摄范围(4)的长度为LC,且保持LC>L。拍摄到的每张照片上均有易于识别的长度标识(2),通过标识可以计算出每张图片的拍摄范围尺寸,并且以坐标数据的方式依次累加。由于LC>L,第N幅图片与第N+1幅图片之间有的长度的区域相互重叠,因此拍摄设定图片数后,除了最后一幅图片外,其他照片的末端的的长度范围不计算在统计范围内。即将图片与下一幅图片的坐标进行对比分析,得出图片与下一幅图片的重叠部分的坐标,并将其剪裁。因此得到的每张二值图都没有与别的二值图中有重叠的部分。进一步地,将所有二值图任意组合,形成第一图片组。
具体地,在步骤302中,若所述第一图片组为彩色图片,则对所述第一图片组的每组图片进行灰度转化,再对灰度转化后的第一图片组的每组图片进行二值化处理;或者若所述第一图片组为灰度图片,则对所述第一图片组的每组图片进行二值化处理。最终的目的是得到二值图像。二值图像是图像上的每一个像素只有两种可能的取值或灰度等级状态的图像,指在图像中灰度等级只有两种,图像中的任何像素不是0就是1,再无其他过渡的灰度值。
举例来说,若第一图片组为彩色照片,即金属层部分为深色,自愈点呈透光白色,则需要将彩色照片转化为灰度图。以RGB图片为例,可将任一通道(通常选择绿色通道即G通道)转换为单通道灰度图,此时,每一个像素点均为0-255的整数,0为黑色,255为白色。灰度图像是用不同饱和度的黑色来表示每个图像点,比如用8位0-255数字表示“灰色”程度,每个像素点只需要一个灰度值,8位即可。进一步地,将灰度值转化为二值图,即将大于设定阈值区间的像素点设置为1,小于设定阈值区间的像素点设置为0。本申请实施例中设定的阈值区间为155~245。
具体地,在步骤303中,根据第二图片组中的每组图片中的像素点数量(分辨率的长宽乘积)和第二图片组中的每组图片的长度和宽度,计算出每个像素点的面积,以及每个像素点的边长。
在步骤304之前,本申请实施例提供的方法还包括:将所述第二图片组的每组图片滤除小于设定面积大小的区域。举例来说,用设定面积的正方形区域所谓结构元素,基于形态学开运算算法去噪处理。形态学开运算,即先将目标区域范围“变小”,造成图像的边界收缩,可以用来消除小的无意义的噪声点。再使目标区域范围“变大”,将目标区域接触的背景点合并到目标物中,使得目标边界向外部扩张。可以用来填补目标区域中某些空洞以及消除包含在目标区域中的小颗粒噪声。具体实施时,可以设置结构元素为面积不大于0.1mm2的正方形区域,用形态学开运算算法滤除图片中的小于0.1mm2的白色噪声点。少于0.1mm2的区域会被过滤掉。
具体地,在步骤304中,将处理后的图片作为元素为0或者1的矩阵进行运算;数字图像数据可以用矩阵来表示,可以采用矩阵理论和矩阵算法对数字图像进行分析和处理。例如,二值图像的像素数据就是一个矩阵,矩阵的行对应图像的高(单位为像素),矩阵的列对应图像的宽(单位为像素),矩阵的元素对应图像的像素。进一步地,提取矩阵中所有值为1的元素,将相邻的值为1的元素组成一个区域,作为一个自愈点区域。
进一步地,在步骤305中,根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每组图片中的每个像素点的边长,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标;再将每个自愈点区域的该区域所有元素的X轴坐标和Y轴坐标的平均值作为该自愈点的位置坐标。举例来说,如长宽分别为L(水平方向)、W(垂直方向)的图片,其图片分辨率为M×N,每个像素点为边长T的正方形,则若某像素点的位置为(m,n)(即第m行与第n列),则图片所在的平面中,该像素点的坐标位置为(nT,mT)。
具体地,在步骤305中,根据图片分辨率得到第二图片组的每组图片中每个自愈点区域中的元素个数,再将每个自愈点区域中的元素个数乘以每个像素点的面积,得到每个自愈点的面积。即自愈点的面积=自愈点区域中的元素个数(即像素个数)×每个像素点对应的面积。其中针对每个自愈点的识别计算结果如下表1所示:
表1
图5示出了本申请实施例中的自愈点位置坐标图。进一步地,保存每个自愈点的位置坐标和每个自愈点的面积,通过标识可以计算出每张图片的拍摄范围尺寸,并且以坐标数据的方式将每张照片的自愈点数据依次累加。因此可以统计出自愈点面积的概率分布、自愈点的位置分布、自愈点数量随位置坐标的变换、自愈点面积随位置坐标的变化等信息。
综上所述,本申请实施例中,通过传送装置、拍摄装置、控制装置、处理装置;其中传送装置用于对自愈电容器元件的薄膜进行传送;控制装置用于控制传送装置对自愈电容器元件的薄膜进行传送;拍摄装置用于拍摄传送装置传送的自愈电容器元件的薄膜;处理装置用于获取拍摄装置拍摄的自愈电容器元件的薄膜的图片,以及对图片上的自愈点进行测量计算。从而通过利用图像识别处理算法对自愈电容器元件的薄膜上的自愈点实现了高效且准确的测量统计。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上所述的具体实施例,对本申请的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本申请的具体实施例而已,并不用于限定本申请的保护范围,凡在本申请的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (14)

1.一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,包括:传送装置、拍摄装置、控制装置、处理装置;
所述传送装置,用于对自愈电容器元件的薄膜进行传送;
所述控制装置,用于控制所述传送装置对所述自愈电容器元件的薄膜进行传送;
所述拍摄装置,用于拍摄所述传送装置传送的自愈电容器元件的薄膜;
所述处理装置,用于获取所述拍摄装置拍摄的自愈电容器元件的薄膜的图片,以及对图片上的自愈点进行测量计算。
2.如权利要求1所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,所述传送装置包括放卷装置和收卷装置;
所述放卷装置包括第一定位滚轴和至少一个放卷轴,所述收卷装置包括第二定位滚轴和至少一个收卷轴;其中,所述第一定位滚轴和所述第二定位滚轴用于将所述自愈电容器元件的薄膜定位于拍摄装置的拍摄范围内。
3.如权利要求2所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,所述放卷装置还包括至少一个张力卷轴,用于控制所述自愈电容器元件的薄膜传送时的张力。
4.如权利要求2或3任一项所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,包括:
所述自愈电容器元件的薄膜在所述放卷轴和所述收卷轴间传送时经过所述张力卷轴、所述第一定位滚轴和所述第二定位滚轴。
5.如权利要求1所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,所述控制装置设置有速度传感器;
所述控制装置通过所述速度传感器检测转动速度。
6.如权利要求5所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,所述拍摄装置根据所述转动速度设置拍摄间隔,根据所述拍摄间隔对传送中的所述自愈电容器元件的薄膜进行连续拍摄。
7.如权利要求1所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,还包括:光源,所述光源用于在所述拍摄装置对所述自愈电容器元件的薄膜进行拍摄时补光。
8.一种基于上述权利要求1至7任一项所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置的薄膜电容器自愈点测量方法,其特征在于,所述测量方法包括:
将拍摄装置拍摄到的自愈电容器元件的薄膜的N张图片进行去重处理,得到第一图片组,其中,N为大于等于2的整数;
对所述第一图片组的每组图片进行二值化处理,得到第二图片组;
根据第二图片组中的每组图片的图片边长和分辨率,确定图片中每个像素点的面积和边长;
将第二图片组中的每组图片的图像数据分别转换成为矩阵,提取出矩阵中所有值为1的元素,分别将相邻的值为1的元素进行组合形成自愈点区域;
根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每组图片中的每个像素点的边长,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标;根据第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标,确定每个自愈点的X轴坐标和Y轴坐标;
根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每个像素点的面积,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点的面积。
9.如权利要求8所述的金属化薄膜电容器自愈点测量方法,其特征在于,所述将拍摄装置拍摄到的自愈电容器元件的薄膜的N张图片进行去重处理,得到第一图片组,包括:
提取N张图片中的每相邻M张图片组成预处理图片组,M为大于等于1的整数;
将每个所述预处理图片组中的重叠区域去掉,形成第一图片组。
10.如权利要求8所述的金属化薄膜电容器自愈点测量方法,其特征在于,所述对所述第一图片组的每组图片进行二值化处理,包括:
若所述第一图片组为彩色图片,则对所述第一图片组的每组图片进行灰度转化,再对灰度转化后的第一图片组的每组图片进行二值化处理;或者
若所述第一图片组为灰度图片,则对所述第一图片组的每组图片进行二值化处理。
11.如权利要求8所述的金属化薄膜电容器自愈点测量方法,其特征在于,在将第二图片组中的每组图片的图像数据分别转换成为矩阵表示之前,所述方法还包括:
将所述第二图片组的每组图片分割为设定面积大小的正方形区域,滤除小于设定面积大小的区域。
12.如权利要求8所述的金属化薄膜电容器自愈点测量方法,其特征在于,所述根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每个像素点的面积,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点的面积,包括:
根据第二图片组中的每组图片的分辨率得到第二图片组的每组图片中每个自愈点区域中的元素个数;
将自愈点区域中的元素个数乘以每个像素点的面积,得到每个自愈点的面积。
13.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求8至12任一所述方法。
14.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有执行权利要求8至12任一所述方法的计算机程序。
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