CN109731877B - 玻璃基板清洗的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种玻璃基板清洗的方法，涉及玻璃基板生产技术领域。本发明的主要技术方案为：一种玻璃基板清洗的方法，包括：采集所述颗粒检查设备、所述翻转设备、所述检查设备以及所述包装设备处的所述玻璃基板的堵片情况数据，并将堵片情况数据传输给所述处理设备；所述处理设备根据所述堵片情况数据采用预设运算方式，调节所述处理设备中比例积分微分控制器的调控系数；所述处理设备基于调节后的所述调控系数控制所述风刀设备中所述玻璃基板的传输速度。所述方法解决了因玻璃基板长时间在风刀设备中停留而导致的玻璃基板质量问题。

Description

玻璃基板清洗的方法

技术领域

本发明涉及玻璃基板生产技术领域，尤其涉及一种玻璃基板清洗的方法。

背景技术

玻璃基板是生产显示设备的必要部件，其在生产的过程中需要经历清洗的工序，以保证生产出的玻璃基板具有较高的清洁度，能够适用于制造显示设备。

现有的技术中，玻璃基板是使用连续自动化的生产设备进行生产的，是从一个工序自动的传输到下一工序中的，而玻璃基板清洗系统则是玻璃基板生产中清洗工序所使用的多个设备的集成体，玻璃基板在经过玻璃基板清洗系统后，能够依次完成清洗、风干、质量检查以及包装等工序。

但是现有技术中的玻璃基板清洗系统存在一定的技术问题，具体表现为：玻璃基板清洗系统是多个设备连续运作的，即玻璃基板是在多个设备中连续传输的，一旦处于风刀设备后方的设备出现异常情况，则玻璃基板就会拥堵在风刀设备中，即发生堵片的情况，而风刀设备较长时间的对玻璃基板作用，会使玻璃基板的表面留下水痕等的缺陷，影响玻璃基板的品质。所以上述技术问题急需解决。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种玻璃基板清洗的方法，主要目的是解决玻璃基板清洗系统中存在的容易堵片的技术问题。

为达到上述目的，本发明主要提供如下技术方案：

本发明实施例提供了一种玻璃基板清洗的方法，所述方法应用于玻璃基板清洗系统，所述玻璃基板清洗系统包括：依次连接的喷淋清洗设备、风刀设备、颗粒检查设备、翻转设备、检查设备、包装设备；所述喷淋清洗设备用于对玻璃基板进行清洗；所述风刀设备用于对喷淋清洗后的所述玻璃基板进行风干；所述颗粒检查设备用于检测风干后的所述玻璃基板表面的污染物；所述翻转设备用于将平置的所述玻璃基板翻转成立置；所述检查设备用于检查所述玻璃基板的表面缺陷和内部缺陷；所述包装设备用于将清洗后的所述玻璃基板打包；处理设备，所述处理设备用于控制所述玻璃基板清洗系统的工作；所述方法包括：

采集所述颗粒检查设备、所述翻转设备、所述检查设备以及所述包装设备处的所述玻璃基板的堵片情况数据，并将堵片情况数据传输给所述处理设备；

所述处理设备根据所述堵片情况数据采用预设运算方式，调节所述处理设备中比例积分微分控制器的调控系数；

所述处理设备基于调节后的所述调控系数控制所述风刀设备中所述玻璃基板的传输速度。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

优选的，前述的玻璃基板清洗的方法，其中实时采集所述堵片情况数据；

所述调控系数根据实时的所述堵片情况数据动态调节；

所述处理设备根据动态调节的所述调控系数实时控制所述风刀设备中所述玻璃基板的传输速度。

优选的，前述的玻璃基板清洗的方法，其中所述堵片情况数据包括：

检查设备堵片与否数据C1、翻转设备堵片与否数据C2、颗粒检查设备堵片与否数据C3；

检查设备堵片超时数据T1、翻转设备堵片超时数据T2、颗粒检查设备堵片超时数据T3；

包装设备待机时间数据T4、检查设备检查速度增幅数据N1。

优选的，前述的玻璃基板清洗的方法，其中所述检查设备堵片与否数据C1由所述检查设备单片检查时间t1与预设检查时间对比获得；

所述翻转设备堵片与否数据C2由所述翻转设备单片翻转间隔时间t2与预设的翻转间隔时间对比获得；

所述颗粒检查设备堵片与否数据C3由所述颗粒检查设备单片检查间隔时间t3与预设的检查间隔时间对比获得；

所述检查设备堵片超时数据T1、所述翻转设备堵片超时数据T2以及所述颗粒检查设备堵片超时数据T3，均由所述检查设备单片检查时间t1与预设检查时间做差获得；

所述包装设备待机时间数据T4为在第一预设条件下，通过所述颗粒检查设备单片检查间隔时间t3与预设的包装设备待机时间做差获得；

所述检查设备检查速度增幅数据N1为在第二预设条件下，通过公式

获得；

其中，所述t为预设增幅时间。

优选的，前述的玻璃基板清洗的方法，其中所述调控系数包括：比例系数Kp、积分系数Ki、微分系数Kd；

所述调控系数通过所述预设运算方式调节的方式为：

所述比例系数Kp通过所述检查设备堵片与否数据C1、所述翻转设备堵片与否数据C2、所述颗粒检查设备堵片与否数据C3的叠加，判断调整预设百分比；

所述积分系数Ki依照函数公式

进行调节；

其中，所述Ki′为当前积分系数，所述a1、所述a2和所述a3为调节系数，所述b为预设常数；

所述微分系数Kd由所述检查设备检查速度增幅数据N1/2取整或取半整数获得，且当所述包装设备待机时间数据T4大于预设等待极限数值时，所述微分系数Kd的数值需加上常数b2。

优选的，前述的玻璃基板清洗的方法，其中所述第一预设条件为：

所述喷淋清洗设备、所述风刀设备、所述颗粒检查设备、所述翻转设备、所述检查设备、所述包装设备均无报警的情况下；

所述检查设备单片检查时间t1<t；

所述包装设备对应的包装架上的所述玻璃基板数量小于预设值。

优选的，前述的玻璃基板清洗的方法，其中所述第二预设条件为：

所述喷淋清洗设备、所述风刀设备、所述颗粒检查设备、所述翻转设备、所述检查设备、所述包装设备均无报警的情况下；

所述包装设备对应的包装架上的所述玻璃基板数量小于预设值。

借由上述技术方案，本发明玻璃基板清洗的方法至少具有下列优点：

本发明技术方案中，玻璃基板清洗的方法能够用于玻璃基板清洗系统中，用作对玻璃基板清洗系统中的玻璃基板传输速度的调整，其主要对系统中风刀设备中玻璃基板的传输速度进行调整，且采用的方法是通过采集颗粒检查设备、所述翻转设备、所述检查设备以及所述包装设备处的所述玻璃基板的堵片情况数据，并基于采集到的数据对处理设备中的比例积分微分控制器的调控系数进行调节，进而根据调节后的调控系数对风刀设备中的玻璃基板传输速度进行调整。由于在玻璃基板清洗系统中，颗粒检查设备、翻转设备、检查设备、包装设备均位于风刀设备之后，即玻璃基板先通过风刀设备再依次的通过颗粒检查设备、翻转设备、检查设备、包装设备，可见基于风刀设备后方的设备的堵片情况数据来调整风刀设备中玻璃基板传输速度，能够有效的调控整个玻璃基板清洗系统中玻璃基板的堵片问题，能够避免因颗粒检查设备、翻转设备、检查设备、包装设备中玻璃基板堵片，而引起风刀设备中玻璃基板的堵片，进而避免了玻璃基板在风刀设备中长时间停留，解决了因玻璃基板长时间在风刀设备中停留而导致的玻璃基板质量问题。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种玻璃基板清洗系统的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种玻璃基板清洗的方法流程图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

如图1所示，本发明实施例提供的一种玻璃基板清洗的方法，该方法应用于玻璃基板清洗系统，所述玻璃基板清洗系统包括：依次连接的喷淋清洗设备1、风刀设备2、颗粒检查设备3、翻转设备4、检查设备5、包装设备6；所述喷淋清洗设备1用于对玻璃基板进行清洗；所述风刀设备2用于对喷淋清洗后的所述玻璃基板进行风干；所述颗粒检查设备3用于检测风干后的所述玻璃基板表面的污染物，例如颗粒形态的杂质；所述翻转设备4用于将平置的所述玻璃基板翻转成立置，即将平置传输的玻璃基板翻转成竖直放置的状态，以便于后续的检查工作；所述检查设备5用于检查所述玻璃基板的表面缺陷和内部缺陷，例如结节、铂金残留、玻璃基板边部裂纹检查、边部研磨质量检查、以及进一步的对玻璃基板的表面质量扫描等；所述包装设备6用于将清洗后的所述玻璃基板打包，例如通过打包机器人将玻璃基板放置在玻璃基板A字架上；处理设备7，所述处理设备7用于控制所述玻璃基板清洗系统中的所有设备的工作，例如控制所有设备中玻璃基板传输的速度。

具体的，玻璃基板清洗系统是由上述的喷淋清洗设备1、风刀设备2、颗粒检查设备3、翻转设备4、检查设备5、包装设备6，以及其他辅助设备组成，玻璃基板能够首先经过喷淋清洗设备1，并依次的经过风刀设备2、颗粒检查设备3、翻转设备4、检查设备5、包装设备6，进而实现清洗、风干、检查以及包装等工作。上述的喷淋清洗设备1、风刀设备2、颗粒检查设备3、翻转设备4、检查设备5、包装设备6可以通过传输设备串联起来，例如传输板链，并且可以是每个设备中均单独的设置有传输设备。此外，为了便于上述喷淋清洗设备1、风刀设备2、颗粒检查设备3、翻转设备4、检查设备5、包装设备6的控制，设置有处理设备7对上述设备进行控制，例如通过设置的处理设备7对上述的设备的自身的处理器进行指令的发送，在通过上述设备自身的处理器进行具体的控制。进一步的，为了实现玻璃基板清洗系统的堵片的检测，可以在每个设备处分别设置计数器、计时器等检测部件，通过计数器、计时器记录每个设备处的玻璃基板的数量，以及记录每个基板在对应设备处停留的时间，并将所有的计数器与处理设备7连接。

本发明实施例提供的一种玻璃基板清洗的方法，如图2所示，该方法包括：

101、采集所述颗粒检查设备、所述翻转设备、所述检查设备以及所述包装设备处的所述玻璃基板的堵片情况数据，并将所述堵片情况数据传输给所述处理设备。

具体的，可以通过设置在颗粒检查设备、翻转设备、检查设备以及包装设备处的计数器、计时器来采集玻璃基板在每个设备处的堵片情况数据，具体的堵片数据可以包括玻璃基板在颗粒检查设备、翻转设备、检查设备以及包装设备处的停留时间、当前玻璃基板在对应设备中停留的时间与预设的停留时间的差值、每个设备处的玻璃基板的数量等，或者根据后续的处理需要设置所要采集的数据类型。处理设备可以通过有线连接的方式或者无线连接的方式与上述的计数器、计时器连接，处理设备可以控制计数器、计时器的数据采集，例如实时采集或者阶段性采集等。处理设备可以直接接收和使用堵片情况数据进行运算，或者通过数字信号与电信号转换设备将接收到的数据进行转换，之后在进行运算。

所述堵片情况数据包括：

检查设备堵片与否数据C1、翻转设备堵片与否数据C2、颗粒检查设备堵片与否数据C3；检查设备堵片超时数据T1、翻转设备堵片超时数据T2、颗粒检查设备堵片超时数据T3；包装设备待机时间数据T4、检查设备检查速度增幅数据N1。

其中，所述检查设备堵片与否数据C1为检查设备处是否有玻璃基板堵片的数据，即是与否的判断，如堵片则计数器记录为1，反之记录为0；同样翻转设备堵片与否数据C2是翻转设备处是否有玻璃基板堵片的数据，即是与否的判断，如堵片则计数器记录为1，反之记录为0；同样颗粒检查设备堵片与否数据C3是颗粒检查设备处是否有玻璃基板堵片的数据，也是与否的判断，如堵片则计数器记录为1，反之记录为0。

所述检查设备堵片超时数据T1、所述翻转设备堵片超时数据T2以及所述颗粒检查设备堵片超时数据T3，均可以由检查设备单片检查时间t1(即正常工作的情况下检查一片玻璃基板所需要的时间)与预设检查时间做差获得，预设检查时间为处理设备中预先设置的用于检查的时间。

所述包装设备待机时间数据T4是包装设备等待包装玻璃基板的时间，可以由计时器检测获得。

所述检查设备检查速度增幅数据N1可以根据预设的公式

获得；所述t为预设增幅时间，可以根据工作人员在生产中的经验获得，可以设置的较检查一片玻璃基板的时间稍短，例如检查一片玻璃基板的预设时间为28秒，则预设增幅时间可以设置为26秒。

102、所述处理设备根据所述堵片情况数据采用预设运算方式，调节所述处理设备中比例积分微分控制器的调控系数。

具体的，可以使用预设的公式以及调节方式，根据采集到的堵片情况数据进行比例积分微分控制器的调控系数的调节。

所述调控系数可以包括：比例系数Kp、积分系数Ki、微分系数Kd。比例系数Kp用于调节传输速度的幅度变化，即在原始传输速度上增加或减少一定幅度的速度；积分系数Ki用于调节传输速度在原始数值到调整一定幅度数值所经历的时间，即调速经历的时间；微分系数Kd用于整个调节过程所经历的的时间，使整个调节过程平稳的进行。

其中，调控系数通过所述预设运算方式调节的方式为：

所述比例系数Kp可以通过检查设备堵片与否数据C1、翻转设备堵片与否数据C2、颗粒检查设备堵片与否数据C3的叠加，判断调整预设百分比。

具体的，由于检查设备堵片与否数据C1、翻转设备堵片与否数据C2、颗粒检查设备堵片与否数据C3为判断是与否得到的数据0或1，所以在检查设备堵片与否数据C1、翻转设备堵片与否数据C2、颗粒检查设备堵片与否数据C3均为1时将比例系数Kp调整较大的百分比例，例如调整40-60％；而在仅有两个设备的堵片与否数据为1时将比例系数Kp调整次一级的百分比例，例如调整30-50％，并且在仅有两个设备堵片时如果是颗粒检查设备未堵C3为0，则说明整个清洗系统已经逐渐疏通开了，可以不对比例系数Kp调整，或者调整较小的幅度，例如10％；如果检查设备堵片与否数据C1、翻转设备堵片与否数据C2、颗粒检查设备堵片与否数据C3均为0，即均为发生堵片的情况，则可以不对比例系数Kp调整。

所述积分系数Ki可以依照函数公式

进行调节其中，Ki′为当前积分系数，a1、a2和a3为调节系数，所述b为预设常数。

具体的，调节系数a1、a2、a3以及预设常数b均可以通过凑试法获得。其中，凑试法是在长期的生产实践中总结出来的一种整定方法，是技术人员常用的一种方法，可以是结合具体生产经验以及调节后的积分系数Ki对后续的调速的影响，来选取调节系数a1、a2、a3以及预设常数b，当选定之后将调节系数a1、a2、a3以及预设常数b存入处理设备中，用于具体生产中的积分系数Ki的调节。

微分系数Kd由所述检查设备检查速度增幅数据N1/2取整或取半整数获得，且当所述包装设备待机时间数据T4大于预设等待极限数值时，所述微分系数Kd的数值需加上常数b2。

具体的，上述的取半整数即N1/2之后小数点后方的小数位数据直接取0.5，例如2>N1>3时，微分系数Kd取1.5。预设等待极限数值是生产人员根据生产的节拍，对包装设备设置的最大的待机时间。常数b2也可以根据凑试法获得，即在处理设备使用本方法工作之前，通过工作人员的的反复验证，根据经验选取的常数，并将该常数b2存入处理设备中，作为当所述包装设备待机时间数据T4大于预设等待极限数值时，微分系数Kd的增加值。

103、所述处理设备基于调节后的所述调控系数控制所述风刀设备2中所述玻璃基板的传输速度。

具体的，当处理设备的比例积分微分控制器根据采集的堵片情况数据调节了调控系数之后，则处理设备便会自动实现对风刀设备22的传输速度的调整。该调整是基于原有的处理设备中控制整个玻璃基板清洗系统时所设定的程序上的调整，即当调控系数改变之后，比例积分微分控制器就会在原有的控制程序的基础上输出调整指令，实现对风刀设备22的速度调整。

本发明技术方案中，玻璃基板清洗的方法能够用于玻璃基板清洗系统中，用作对玻璃基板清洗系统中的玻璃基板传输速度的调整，其主要对系统中风刀设备22中玻璃基板的传输速度进行调整，且采用的方法是通过采集颗粒检查设备、所述翻转设备、所述检查设备以及所述包装设备处的所述玻璃基板的堵片情况数据，并基于采集到的数据对处理设备中的比例积分微分控制器的调控系数进行调节，进而根据调节后的调控系数对风刀设备22中的玻璃基板传输速度进行调整。由于在玻璃基板清洗系统中，颗粒检查设备、翻转设备、检查设备、包装设备均位于风刀设备22之后，即玻璃基板先通过风刀设备22再依次的通过颗粒检查设备、翻转设备、检查设备、包装设备，可见基于风刀设备22后方的设备的堵片情况数据来调整风刀设备22中玻璃基板传输速度，能够有效的调控整个玻璃基板清洗系统中玻璃基板的堵片问题，能够避免因颗粒检查设备、翻转设备、检查设备、包装设备中玻璃基板堵片，而引起风刀设备22中玻璃基板的堵片，进而避免了玻璃基板在风刀设备22中长时间停留，解决了因玻璃基板长时间在风刀设备22中停留而导致的玻璃基板质量问题。

在具体实施中，本发明实施例提供的玻璃基板清洗的方法，其优选实时采集堵片情况数据；调控系数根据实时的堵片情况数据动态调节；处理设备根据动态调节的调控系数实时控制风刀设备22中玻璃基板的传输速度。

具体的，通过实时的采集堵片情况数据，能够使处理设备得知玻璃基板清洗系统的实时工作状态，即时刻的了解颗粒检查设备、翻转设备、检查设备以及包装设备处的堵片情况，并且基于实时检测的数据来调整调控系数，能够实现对玻璃基板清洗系统中玻璃基板的传输情况的实时调节，避免因阶段性检测、调节存在空挡时间，而导致的在空挡时间堵片情况的出现；且实时的调控风刀设备22中玻璃基板的传输速度，能够使每次的调控幅度较小，使整个生产过程玻璃基板的传输平稳化。

在具体实施中，其中检查设备堵片与否数据C1由检查设备单片检查时间t1与预设检查时间对比获得，当检查设备单片检查时间t1大于预设检查时间，则检查设备堵片与否数据C1为1，反之为0。

具体的，检查设备单片检查时间t1为正常工作的情况下检查一片玻璃基板所需要的时间，该时间可以由工作人员根据具体的生产情况而定，例如可以为28-35秒。预设检查时间也可以有工作人员根据具体的生产情况而设定。

在具体实施中，其中翻转设备堵片与否数据C2由翻转设备单片翻转间隔时间t2与预设的翻转间隔时间对比获得，当翻转设备单片翻转间隔时间t2大于预设的翻转间隔时间，则翻转设备堵片与否数据C2为1，反之为0。

具体的，翻转设备单片翻转间隔时间t2是翻转设备翻转两片玻璃基板中间间断的时间，预设的翻转间隔时间为预先设置在处理设备或者翻转设备中的翻转两片玻璃基板中间间断的时间，当发生堵片时，翻转设备翻转了当前玻璃基板之后，需要等待翻转下一片玻璃基板的时间就会加长，进而出现C2为1的情况。

在具体实施中，其中颗粒检查设备堵片与否数据C3由所述颗粒检查设备单片检查间隔时间t3与预设的检查间隔时间对比获得，当颗粒检查设备单片检查间隔时间t3大于预设的检查间隔时间，则颗粒检查设备堵片与否数据C3为1，反之为0。

具体的，颗粒检查设备单片检查间隔时间t3，其是颗粒检查设备检查相邻传输过来的两片玻璃基板之间间隔的时间，预设的检查间隔时间为预先存储在处理设备中的检查两片玻璃基板之间间隔的时间，当发生堵片的情况时，实际的检查两个玻璃基板所间隔的时间就会加长，进而产生C3为1的情况。

在具体实施中，其中包装设备待机时间数据T4优选在在第一预设条件下获得。

具体的，所述第一预设条件为：喷淋清洗设备、风刀设备22、颗粒检查设备、翻转设备、检查设备、包装设备均无报警的情况下，即所有设备均正常工作无发生严重堵片导致停机的情况，或者无其他故障的情况；以及检查设备单片检查时间t1<t的情况，其中t为根据具体生产节拍设定的预设增幅时间，或者t为根据凑试法设定的预设增幅时间，例如26秒；以及包装设备对应的包装架上的玻璃基板数量小于预设值，即包装架未装满的情况，例如小于500片。

在具体实施中，其中检查设备检查速度增幅数据N1优选在第二预设条件下获得。

具体的，所述第二预设条件为：喷淋清洗设备、风刀设备22、颗粒检查设备、翻转设备、检查设备、包装设备均无报警的情况下；包装设备对应的包装架上的玻璃基板数量小于预设值。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。

存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。

计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

本领域技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (7)

1.一种玻璃基板清洗的方法，其特征在于，所述方法应用于玻璃基板清洗系统，所述玻璃基板清洗系统包括：依次连接的喷淋清洗设备、风刀设备、颗粒检查设备、翻转设备、检查设备、包装设备；所述喷淋清洗设备用于对玻璃基板进行清洗；所述风刀设备用于对喷淋清洗后的所述玻璃基板进行风干；所述颗粒检查设备用于检测风干后的所述玻璃基板表面的污染物；所述翻转设备用于将平置的所述玻璃基板翻转成立置；所述检查设备用于检查所述玻璃基板的表面缺陷和内部缺陷；所述包装设备用于将清洗后的所述玻璃基板打包；处理设备，所述处理设备用于控制所述玻璃基板清洗系统的工作；所述方法包括：

采集所述颗粒检查设备、所述翻转设备、所述检查设备以及所述包装设备处的所述玻璃基板的堵片情况数据，并将所述堵片情况数据传输给所述处理设备；

所述处理设备根据所述堵片情况数据采用预设运算方式，调节所述处理设备中比例积分微分控制器的调控系数；

所述处理设备基于调节后的所述调控系数控制所述风刀设备中所述玻璃基板的传输速度。

2.根据权利要求1所述的玻璃基板清洗的方法，其特征在于，

实时采集所述堵片情况数据；

所述调控系数根据实时的所述堵片情况数据动态调节；

所述处理设备根据动态调节的所述调控系数实时控制所述风刀设备中所述玻璃基板的传输速度。

3.根据权利要求1所述的玻璃基板清洗的方法，其特征在于，所述堵片情况数据包括：

检查设备堵片与否数据C1、翻转设备堵片与否数据C2、颗粒检查设备堵片与否数据C3；

检查设备堵片超时数据T1、翻转设备堵片超时数据T2、颗粒检查设备堵片超时数据T3；

包装设备待机时间数据T4、检查设备检查速度增幅数据N1。

4.根据权利要求3所述的玻璃基板清洗的方法，其特征在于，

所述检查设备堵片与否数据C1由所述检查设备单片检查时间t1与预设检查时间对比获得；

所述翻转设备堵片与否数据C2由所述翻转设备单片翻转间隔时间t2与预设的翻转间隔时间对比获得；

所述颗粒检查设备堵片与否数据C3由所述颗粒检查设备单片检查间隔时间t3与预设的检查间隔时间对比获得；

所述检查设备堵片超时数据T1、所述翻转设备堵片超时数据T2以及所述颗粒检查设备堵片超时数据T3，均由所述检查设备单片检查时间t1与预设检查时间做差获得；

所述包装设备待机时间数据T4为在第一预设条件下，通过所述颗粒检查设备单片检查间隔时间t3与预设的包装设备待机时间做差获得；

所述检查设备检查速度增幅数据N1为在第二预设条件下，通过公式

获得；

其中，所述t为预设增幅时间。

5.根据权利要求4所述的玻璃基板清洗的方法，其特征在于，

所述调控系数包括：比例系数Kp、积分系数Ki、微分系数Kd；

所述调控系数通过所述预设运算方式调节的方式为：

所述比例系数Kp通过所述检查设备堵片与否数据C1、所述翻转设备堵片与否数据C2、所述颗粒检查设备堵片与否数据C3的叠加，判断调整预设百分比；

所述积分系数Ki依照函数公式

进行调节；

其中，所述Ki′为当前积分系数，所述a1、所述a2和所述a3为调节系数，所述b为预设常数；

所述微分系数Kd由所述检查设备检查速度增幅数据N1/2取整或取半整数获得，且当所述包装设备待机时间数据T4大于预设等待极限数值时，所述微分系数Kd的数值需加上常数b2。

6.根据权利要求4所述的玻璃基板清洗的方法，其特征在于，所述第一预设条件为：

所述喷淋清洗设备、所述风刀设备、所述颗粒检查设备、所述翻转设备、所述检查设备、所述包装设备均无报警的情况下；

所述检查设备单片检查时间t1<t；

所述包装设备对应的包装架上的所述玻璃基板数量小于预设值。

7.根据权利要求4所述的玻璃基板清洗的方法，其特征在于，所述第二预设条件为：

所述喷淋清洗设备、所述风刀设备、所述颗粒检查设备、所述翻转设备、所述检查设备、所述包装设备均无报警的情况下；

所述包装设备对应的包装架上的所述玻璃基板数量小于预设值。

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