CN109724622A - 一种光学系统标定设备 - Google Patents

一种光学系统标定设备 Download PDF

Info

Publication number
CN109724622A
CN109724622A CN201811597161.8A CN201811597161A CN109724622A CN 109724622 A CN109724622 A CN 109724622A CN 201811597161 A CN201811597161 A CN 201811597161A CN 109724622 A CN109724622 A CN 109724622A
Authority
CN
China
Prior art keywords
optical system
light
mirror
pedestal
calibration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201811597161.8A
Other languages
English (en)
Inventor
康玉思
谭向全
郭永飞
吴清文
张旭升
王忠素
姜爱民
陈立恒
申军立
郭亮
徐振邦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Changchun Institute of Optics Fine Mechanics and Physics of CAS
Original Assignee
Changchun Institute of Optics Fine Mechanics and Physics of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Changchun Institute of Optics Fine Mechanics and Physics of CAS filed Critical Changchun Institute of Optics Fine Mechanics and Physics of CAS
Priority to CN201811597161.8A priority Critical patent/CN109724622A/zh
Publication of CN109724622A publication Critical patent/CN109724622A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

本发明提供了一种光学系统标定设备,所述设备包括自准直经纬仪、校准镜、导光臂、基座和多个光学系统;所述光学系统、校准镜安装于所述基座上,各个光学系统以校准镜所在位置为圆心、分布于相同半径的圆周位置,各个光学系统相对于基座表面角度可调节;所述自准直经纬仪通过校准镜与基座准直;自准直经纬仪发出的光线经由导光臂分别进入各个光学系统。本发明通过调整光学系统在基座上的位姿,使得各个光学系统分布于自准直经纬仪准直,从而使得各个光学系统之间保持平行,具有基准统一、速度快、准确度高等优点。

Description

一种光学系统标定设备
技术领域
本发明涉及光学设备领域,尤其涉及一种光学系统标定设备。
背景技术
使用光学系统进行测量是常用手段,使用多组光学系统对同一目标进行测量,可以通过识别光学系统之间的变化来测量目标的变化,因此对多组光学系统之间的位姿标定,尤其是平行性的标定具有十分重要意义。然而现有技术,对于多个光学系统的平行性标存在着基准不统一、效率低、精度差等问题。
发明内容
为此,需要提供一种光学系统标定设备,用以解决现有技术中光学系统的平行性标定基准不统一、导致效率低、精度差等问题。
为实现上述目的,发明人提供了一种光学系统标定设备,所述设备包括自准直经纬仪、校准镜、导光臂、基座和多个光学系统;
所述光学系统、校准镜安装于所述基座上,各个光学系统以校准镜所在位置为圆心、分布于相同半径的圆周位置,各个光学系统相对于基座表面角度可调节;
所述自准直经纬仪通过校准镜与基座准直;自准直经纬仪发出的光线经由导光臂分别进入各个光学系统。
进一步地,所述设备包括旋转装置,所述旋转装置与导光臂传动连接,所述导光臂能够在旋转装置的驱动下发生转动,以使得自准直经纬仪发出的光线分别进入各个光学系统。
进一步地,所述导光臂包括2块相互平行的平板玻璃,导光臂的平板玻璃与自准直经纬仪发出的光线呈45°夹角。
进一步地,所述光学系统的数量为三组,三组光学系统以校准镜为圆心呈品字形分布。
进一步地,所述光学系统的数量为四组,四组光学系统以校准镜为圆心呈正方形均匀分布。
进一步地,所述光学系统的数量为多组,多组光学系统以校准镜为圆心呈圆周分布。
进一步地,各个光学系统相同。
本发明提供了一种光学系统标定设备,所述设备包括自准直经纬仪、校准镜、导光臂、基座和多个光学系统;所述光学系统、校准镜安装于所述基座上,各个光学系统以校准镜所在位置为圆心、分布于相同半径的圆周位置,各个光学系统相对于基座表面角度可调节;所述自准直经纬仪通过校准镜与基座准直;自准直经纬仪发出的光线经由导光臂分别进入各个光学系统。本发明通过调整光学系统在基座上的位姿,使得各个光学系统分布于自准直经纬仪准直,从而使得各个光学系统之间保持平行,具有基准统一、速度快、准确度高等优点。
附图说明
图1为本发明一实施例涉及的光学系统标定设备的结构示意图;
图2为本发明一实施例涉及的光学系统光学系统分布的示意图;
图3为本发明一实施例涉及的光学系统标定方法的流程图;
附图标记:
1、自准直经纬仪;2、校准镜;3、导光臂;4、光学系统;5、基座。
具体实施方式
为使本发明专利的实用目的、技术实施方案、方案优点更加清楚,下面将根据发明专利附图来对本专利具体实施方案进行细化。在附图中,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。基于该实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。下面结合附图对本实施例进行详细说明。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明保护范围的限制。
请参阅图1,为本发明一实施例涉及的光学系统标定设备的结构示意图。所述设备包括自准直经纬仪1、校准镜2、导光臂3、基座5和多个光学系统4;
所述光学系统4、校准镜2安装于所述基座上,各个光学系统4以校准镜2所在位置为圆心、分布于相同半径的圆周位置,各个光学系统4相对于基座5表面角度可调节。在本实施方式中,所述校准镜2可以是一块平板玻璃。优选的,基座上设置有多个角度调节装置,所述角度调节装置包括与光学系统大小相适配的机架,光学系统可嵌套在所述机架上,所述机架安装在基座的台面上,光学系统可以相对于机架向内或向外倾斜,进而调整光学系统在基座上的位姿。
在本实施方式中,所述光学系统为由一个或多个光学镜片组成的结构,如可以是一个凸透镜、平面镜、半透半反镜等。优选的,各个光学系统相同。
在本实施方式中,所述设备包括旋转装置,所述旋转装置与导光臂传动连接,所述导光臂能够在旋转装置的驱动下发生转动,以使得自准直经纬仪发出的光线分别进入各个光学系统。所述旋转装置可以是电机。所述导光臂包括2块相互平行的平板玻璃,导光臂的平板玻璃与自准直经纬仪发出的光线呈45°夹角。所述自准直经纬仪通过校准镜与基座准直;自准直经纬仪发出的光线经由导光臂分别进入各个光学系统。
所述设备包括旋转装置,所述旋转装置与导光臂传动连接,所述导光臂能够在旋转装置的驱动下发生转动,以使得自准直经纬仪发出的光线分别进入各个光学系统。
在本实施方式中,所述光学系统的数量为多组,多组光学系统以校准镜为圆心呈圆周分布。如图2所示,在某些实施例中,所述光学系统的数量为三组,三组光学系统以校准镜为圆心呈品字形分布。在另一些实施例中,所述光学系统的数量为四组,四组光学系统以校准镜为圆心呈正方形均匀分布。简言之,只要是具有相同圆心的圆周分布的光学系统均适用于本发明所述的设备进行标定。
如图3所示,为本发明一实施例涉及的光学系统标定方法的流程图;所述方法包括以下步骤:
首先进入步骤S301调节自准直经纬仪通过校准镜与基座准直。所述准直是指光路垂直,即自准直经纬仪发出的光线光路与基座垂直,是否垂直判断依据是自准直经纬仪发出的光斑入射至基座上的平板玻璃(即校准镜)后,返回的光斑是否与发射光斑重合。
而后进入步骤S302自准直经纬仪发出的光经由可旋转的导光臂导光后,分别进入基座上各个光学系统;
而后进入步骤S303调整光学系统在基座上的位姿,使得各个光学系统之间分别与自准直经纬仪准直。调整完成后,各个光学系统之间保持平行。优选的,各个光学系统相同。
本发明通过基座上的平板玻璃建立自准直经纬仪和基座之间的准直关系,通过导光臂建立自准直经纬仪和品字形布置的光学系统之间的平行关系,进而使以基座上的平板玻璃为圆心、圆周分布的光学系统之间实现平行布置。
需要说明的是,尽管在本文中已经对上述各实施例进行了描述,但并非因此限制本发明的专利保护范围。因此,基于本发明的创新理念,对本文所述实施例进行的变更和修改,或利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,直接或间接地将以上技术方案运用在其他相关的技术领域,均包括在本发明的专利保护范围之内。

Claims (7)

1.一种光学系统标定设备,其特征在于,所述设备包括自准直经纬仪、校准镜、导光臂、基座和多个光学系统;
所述光学系统、校准镜安装于所述基座上,各个光学系统以校准镜所在位置为圆心、分布于相同半径的圆周位置,各个光学系统相对于基座表面角度可调节;
所述自准直经纬仪通过校准镜与基座准直;自准直经纬仪发出的光线经由导光臂分别进入各个光学系统。
2.如权利要求1所述的光学系统标定设备,其特征在于,所述设备包括旋转装置,所述旋转装置与导光臂传动连接,所述导光臂能够在旋转装置的驱动下发生转动,以使得自准直经纬仪发出的光线分别进入各个光学系统。
3.如权利要求1所述的光学系统标定设备,其特征在于,所述导光臂包括2块相互平行的平板玻璃,导光臂的平板玻璃与自准直经纬仪发出的光线呈45°夹角。
4.如权利要求1所述的光学系统标定设备,其特征在于,所述光学系统的数量为三组,三组光学系统以校准镜为圆心呈品字形分布。
5.如权利要求1所述的光学系统标定设备,其特征在于,所述光学系统的数量为四组,四组光学系统以校准镜为圆心呈正方形均匀分布。
6.如权利要求1所述的光学系统标定设备,其特征在于,所述光学系统的数量为多组,多组光学系统以校准镜为圆心呈圆周分布。
7.如权利要求1或4或5或6所述的光学系统标定设备,其特征在于,各个光学系统相同。
CN201811597161.8A 2018-12-26 2018-12-26 一种光学系统标定设备 Pending CN109724622A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811597161.8A CN109724622A (zh) 2018-12-26 2018-12-26 一种光学系统标定设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811597161.8A CN109724622A (zh) 2018-12-26 2018-12-26 一种光学系统标定设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109724622A true CN109724622A (zh) 2019-05-07

Family

ID=66296502

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811597161.8A Pending CN109724622A (zh) 2018-12-26 2018-12-26 一种光学系统标定设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109724622A (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN202522207U (zh) * 2012-03-23 2012-11-07 中国科学院西安光学精密机械研究所 多功能光轴平行性校正仪
CN102878952A (zh) * 2012-09-25 2013-01-16 中国科学院西安光学精密机械研究所 光轴平行性标定系统及标定方法
CN105091792A (zh) * 2015-05-12 2015-11-25 西安邮电大学 一种标定多光轴光学系统光轴平行度的装置及其标定方法
CN105865493A (zh) * 2016-06-16 2016-08-17 沈阳飞机工业(集团)有限公司 一种用于惯导组件校准的夹具及校准方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN202522207U (zh) * 2012-03-23 2012-11-07 中国科学院西安光学精密机械研究所 多功能光轴平行性校正仪
CN102878952A (zh) * 2012-09-25 2013-01-16 中国科学院西安光学精密机械研究所 光轴平行性标定系统及标定方法
CN105091792A (zh) * 2015-05-12 2015-11-25 西安邮电大学 一种标定多光轴光学系统光轴平行度的装置及其标定方法
CN105865493A (zh) * 2016-06-16 2016-08-17 沈阳飞机工业(集团)有限公司 一种用于惯导组件校准的夹具及校准方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
凌军等: "几种光轴平行性测试方法的比较与探讨", 《应用光学》 *
崔兆龙: "大口径平行光管结构优化设计", 《中国优秀硕士学位论文群文数据库·工程科技Ⅱ辑》 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6644146B2 (ja) 回転レーザの鉛直軸線を検査及び/又は較正する方法
US7359047B2 (en) Device for checking or calibrating the angle-dependent alignment of a high-precision test piece
CN1644296B (zh) 激光加工设备
CN105021211A (zh) 一种基于自准直仪的姿态测试装置及方法
CN108801294B (zh) 一种针对空间旋转多光轴系统的多光轴平行性调校方法
CN102914260A (zh) 基于光电式两轴准直仪的转台分度误差检测方法
CN103512728A (zh) 全范围多光轴一致性标定装置和方法
CN108801061B (zh) 一种分立式目标位置测试装置和测试方法
CN108196377B (zh) 一种扫描机构光路调试装置及调试方法
CN102798357A (zh) 双管测角装置及方法
CN105716593A (zh) 一种用于光电侦察系统定向定位精度测试的测试装置及测试方法
CN102384730A (zh) 一种激光小角度测量装置及回转轴系
CN114415389A (zh) 一种含有多个反射镜的光机系统装调方法
CN105510000A (zh) 光学瞄准用标定检测方法
CN107817094A (zh) 一种高精度同向双光轴以及多光轴平行性调校方法
CN109724621A (zh) 一种光学系统标定方法
CN114046965A (zh) 一种飞机多型航电设备光轴校准装置及校准方法
CN104697552B (zh) 一种二维自准直仪的失准角标定方法
CN104748945B (zh) 角反射器或角反射器阵列光轴指向一致性检测系统及方法
CN106225649A (zh) 光栅刻划刀俯仰角的测量装置及其测量方法
CN109959350A (zh) 棱镜直角工作面垂直度的检测方法及装置
CN109724622A (zh) 一种光学系统标定设备
CN101592519B (zh) 一种同步反射分布光度计
CN107806856B (zh) 一种模拟目标空间姿态的实验检测装置及方法
RU2016109398A (ru) Способ калибровки крупногабаритного оптико-электронного аппарата и устройство для его осуществления

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20190507

RJ01 Rejection of invention patent application after publication