CN109708723B - 一种雷达物位计 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种雷达物位计,包括波导体和透镜,波导体内形成有导波通路和安装腔,透镜安装至安装腔,透镜的上端面上形成有锥形段,锥形段包括伸入导波通路内的加载段和位于导波通路外的加载缓冲段。本发明提供的雷达物位计,透镜的上端面上设置有锥形段,降低了透镜对电磁波的反射作用,使电磁波更多的进入透镜,从而提高雷达物位计的测量精度;并且,该雷达物位计的锥形段包括加载段和加载缓冲段,加载段伸入导波通路中,接收电磁波,加载缓冲段可使电磁波经过加载段后,更多的向下传播,减少电磁波向四周散射,进一步提高雷达物位计的测量准确度。
Description
技术领域
本发明涉及物位计领域,特别是一种雷达物位计。
背景技术
现有的雷达物位计,在其导波通路与透镜上端的连接处,电磁波损失严重,导致雷达物位计的精度降低,测量准确度得不到保证。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种雷达物位计,本雷达物位计的导波通路与透镜上端的连接处电磁波损失小,雷达物位计整体的测量精度高。
为了达到本发明的目的,本发明采取的技术方案如下:
本发明提供了一种雷达物位计,包括波导体和透镜,所述波导体内形成有导波通路和安装腔,所述透镜安装至所述安装腔,所述透镜的上端面上形成有锥形段,所述锥形段包括伸入所述导波通路内的加载段和位于所述导波通路外的加载缓冲段。
本发明的技术方案与现有技术相比,具有如下有益效果:
本发明提供的雷达物位计,透镜的上端面上设置有锥形段,降低了透镜对电磁波的反射作用,使经过导波通路传导的电磁波更多地进入透镜,从而提高雷达物位计的测量精度;并且,该雷达物位计的锥形段包括加载段和加载缓冲段,加载段伸入导波通路中,接收电磁波,加载缓冲段可使电磁波经过加载段后,更多地向下传播,减少电磁波向四周散射,进一步提高雷达物位计的测量准确度。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述。
附图说明
附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案,并不构成对本发明技术方案的限制。
图1为本发明实施例一中所述的雷达物位计的结构示意图;
图2为图1中A部结构的放大示意图;
图3为本发明实施例一中所述的雷达物位计的分解示意图;
图4为本发明实施例二中所述的雷达物位计的结构示意图;
图5为图4中B部结构的放大示意图。
其中,图1-图5中附图标记与部件名称之间的关系为:
1-波导体,11-导波通路,111-锥形开口,12-安装腔,2-透镜,21-锥形段,211-加载段,212-加载缓冲段,3-锥形件,3’-柱形件,4-支撑块,40-间隙。
具体实施方式
下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。
实施例一
本发明实施例提供了一种雷达物位计,如图1至图3所示,包括波导体1和透镜2,波导体1内形成有导波通路11和安装腔12,透镜2安装至安装腔12,透镜2的上端面上形成有锥形段21,锥形段21包括伸入导波通路11内的加载段211和位于导波通路11外的加载缓冲段212。
本发明实施例提供的雷达物位计,透镜2的上端面上设置有锥形段21,这样当导波通路11的电磁波通过锥形段21进入透镜2内时,降低了透镜2对电磁波的反射作用,使电磁波更多地进入透镜2,从而提高雷达物位计的测量精度;并且,该雷达物位计的锥形段21包括加载段211和加载缓冲段212,加载段211伸入导波通路11中,接收电磁波,加载缓冲段212可使电磁波经过加载段211后,更多地向下传播,减少电磁波向四周散射,进一步提高雷达物位计的准确度。
可选地,如图2所示,锥形段21的外侧壁面与透镜2的上端面之间形成拐角,拐角处设有吸波材料。
锥形段21的外侧壁面与透镜2的上端面之间形成拐角,在拐角处电磁波容易发生反射,在该拐角位置设置吸波材料可有效减少电磁波的反射。
可选地,吸波材料为内部中空的锥形件3,锥形件3套设在加载缓冲段212的下部,且锥形件3的下端面与透镜2的上端面相抵。进一步地,锥形件3内的中空部分呈锥形或柱形。
如图1和图2所示即为锥形件3的中空部分呈锥形的结构示意图。
吸波材料为锥形件3,且锥形件3内的中空部分呈锥形,使得锥形件3的形状与加载缓冲段212的形状相适配,以便锥形件3套设在加载缓冲段212上。此外,锥形件3可与透镜2的加载缓冲段212很好地贴合,以便限制锥形件3的位置,防止锥形件3移动。
可选地,如图1、图2所示,加载缓冲段212外套设有支撑块4,支撑块4的上端面与安装腔12的内壁面相抵,支撑块4的下端面与透镜2的上端面相抵,支撑块4的内侧壁面与加载缓冲段212的外侧壁面之间具有间隙40,吸波材料(即锥形件3)设置于间隙40内。
在波导体1与透镜2之间设置支撑块4,使支撑块4的上端面和外侧壁面均与安装腔12贴合,支撑块4的下端面与透镜2的上端面相抵,支撑块3的内部可容纳透镜2的加载缓冲段212。通过支撑块4对透镜2进行支撑固定,避免波导体1内部结构设计地过于复杂(将波导体1的内部加工出锥形孔),简化了波导体1的内部结构,提高了波导体1的加工效率。此外,通过支撑块4对透镜2进行支撑,使得透镜2的上端面均承受载荷,避免了锥形段21受力过大。
可选地,如图2所示,加载缓冲段212的高度大于加载段211的高度。例如:加载段211与加载缓冲段212的高度之比可为2:3。
可选地,锥形段21的锥角α为30°-60°。
将锥形段21的锥角α设置为30°-60°,可有效减少电磁波的反射现象,保证电磁波更多地从导波通路11进入透镜2的锥形段21中。
可选地,导波通路11的下部部分为锥形开口111,锥形开口111的形状与加载段211的形状相适配。这样设置,可使得加载段211与导波通路11更好地配合。
实施例二
本实施例与实施例一的主要区别在于:吸波材料的结构。
在本实施例中,如图4和图5所示,吸波材料为内部中空的柱形件3’,柱形件3’套设在加载缓冲段212的下部,且柱形件3’的下端面与透镜2的上端面相抵。
可选地,柱形件3’内的中空部分呈锥形或柱形。
如图4和图5所示即为柱形件3’的中空部分呈柱形的结构示意图。
将吸波材料设置为柱形件3’,并套设在加载缓冲段212的下部,可减少电磁波在拐角(锥形段21与透镜2的上端面之间的拐角)处的反射。此外,柱形件3’更容易加工,有利于降低雷达物位计整体的制造成本。
在本发明中的描述中,需要说明的是,术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的结构具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
虽然本申请所揭露的实施方式如上,但所述的内容仅为便于理解本申请而采用的实施方式,并非用以限定本申请。任何本申请所属领域内的技术人员,在不脱离本申请所揭露的精神和范围的前提下,可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化,但本申请的专利保护范围,仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。
Claims (7)
1.一种雷达物位计,包括波导体和透镜,其特征在于:所述波导体内形成有导波通路和安装腔,所述透镜安装至所述安装腔,所述透镜的上端面上形成有锥形段,所述锥形段的锥角为30°-60°,所述锥形段包括伸入所述导波通路内的加载段和位于所述导波通路外的加载缓冲段,所述锥形段的外侧壁面与所述透镜的上端面之间形成拐角,所述拐角处设有吸波材料,
所述加载缓冲段外套设有支撑块,所述支撑块的上端面与所述安装腔的内壁面相抵,所述支撑块的下端面与所述透镜的上端面相抵,所述支撑块的内侧壁面与所述加载缓冲段的外侧壁面之间具有间隙,所述吸波材料设置于所述间隙内。
2.根据权利要求1所述的雷达物位计,其特征在于:所述吸波材料为内部中空的锥形件,所述锥形件套设在所述加载缓冲段的下部,且所述锥形件的下端面与所述透镜的上端面相抵。
3.根据权利要求2所述的雷达物位计,其特征在于:所述锥形件内的中空部分呈锥形或柱形。
4.根据权利要求1所述的雷达物位计,其特征在于:所述吸波材料为内部中空的柱形件,所述柱形件套设在所述加载缓冲段的下部,且所述柱形件的下端面与所述透镜的上端面相抵。
5.根据权利要求4所述的雷达物位计,其特征在于:所述柱形件内的中空部分呈锥形或柱形。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的雷达物位计,其特征在于:所述加载缓冲段的高度大于所述加载段的高度。
7.根据权利要求1-5中任一项所述的雷达物位计,其特征在于:所述导波通路的下部部分为锥形开口,所述锥形开口的形状与所述加载段的形状相适配。
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