CN109581895A - 测试工装控制方法及装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种测试工装控制方法及装置、电子设备及存储介质。以各光栅信号中，获取时间与当前时间的时间差小于预定间隔时长的各选定光栅信号的总时长作为控制测试工装的依据，在在所述总时长大于或等于预设累计时长时，控制测试工装停止运行。一方面可避免获取时间距离当前时间过长的光栅信号影响控制，提高控制准确性，另一方面，可避免以单次光栅信号的时长为依据进行控制过程中容易发生轻微去抖和过度去抖，导致不能准确控制测试工装的问题，提高控制准确性。

Description

测试工装控制方法及装置、电子设备及存储介质

技术领域

本申请涉及控制技术领域，特别是涉及一种测试工装控制方法及装置、电子设备及存储介质。

背景技术

工装，即工艺装备，指制造过程中所用的各种工具的总称。测试工装，即用于测试的工艺装备，通常用于测试产品是否达到出厂标准等。安全光栅，也称光电安全保护装置、红外线安全保护装置等，安全光栅通过发射红外线，产生保护光幕，当光幕被遮挡时，安全光栅发出遮光信号即光栅信号，基于光栅信号可控制具有潜在危险的设备停止运行，避免发生安全事故。安全光栅可以有效地避免安全事故的发生，避免操作人员及第三方的危险，减少事故的发生。

测试工装中一般都存在危险设备，即使是自动化测试工装中也难免需要操作人员干预，如果操作人员误操作，轻则造成财力损失，重则引起人员伤亡，所以安全光栅在测试工装中是必不可少的，可在设备附近安装安全光栅，安全光栅在检测到人员误操作该设备时会产生误操作信号，但是安全光栅比较灵敏，安全光栅本身抖动以及灰尘或衣角等其他异物瞬间扫过光幕可能会使安全光栅误采集到信号，即误信号，造成测试工装急停，影响生产效率。误信号可以采用去抖处理，但由于误信号的时间跟人为误操作的时间基本在同一量级上，轻微去抖达不到很好的效果，但过度去抖会留下人为误操作隐患，导致无法准确控制测试工装。

发明内容

基于此，有必要针对上述无法准确控制测试工装的技术问题，提供一种测试工装控制方法及装置、电子设备及存储介质。

一种测试工装控制方法，所述方法包括：

获取当前时间；

基于各光栅信号的获取时间，确定各选定光栅信号的总时长，所述选定光栅信号的获取时间与所述当前时间的时间差小于预定间隔时长；

在所述总时长大于或等于预设累计时长时，控制测试工装停止运行。

一种测试工装控制装置，所述装置包括：

时间获取模块，用于获取当前时间；

总时长确定模块，用于基于各光栅信号的获取时间，确定各选定光栅信号的总时长，所述选定光栅信号的获取时间与所述当前时间的时间差小于预定间隔时长；

控制模块，用于在所述总时长大于或等于预设累计时长时，控制测试工装停止运行。

一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。

上述测试工装控制方法及装置、电子设备和存储介质，以各光栅信号中各选定光栅信号的总时长作为控制测试工装的依据，其中，选定光栅信号的获取时间与当前时间的时间差小于预定间隔时长。在总时长大于或等于预设累计时长时，控制测试工装停止运行。一方面可避免获取时间距离当前时间过长的光栅信号影响控制，提高控制准确性，另一方面，可避免以单次光栅信号的时长为依据进行控制过程中容易发生轻微去抖和过度去抖，导致不能准确控制测试工装的问题，提高控制准确性。

附图说明

图1为一个实施例中测试工装控制方法的流程示意图；

图2为另一个实施例中测试工装控制方法的应用场景图；

图3为一个实施例中测试工装控制装置的结构框图；

图4为一个实施例中电子设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

在一个实施例中，如图1所示，提供了一种测试工装控制方法，包括步骤S110-S130。

S110：获取当前时间。

当前时间可以理解为当前控制系统(可以为计算机系统)的时间。

S120：基于各光栅信号的获取时间，确定各选定光栅信号的总时长，选定光栅信号的获取时间与当前时间的时间差小于预定间隔时长。

在每获取到光栅信号发送的一个光栅信号时，记录该光栅信号的获取时间以及对应的时长，即可实现各光栅信号的获取时间以及时长的记录。其中，获取时间可以为接收到该光栅信号的时间，或为安全光栅发送该光栅信号的时间，安全光栅在发送该光栅信号时携带该时间。为了避免利用单次光栅信号的时长进行判断导致不能准确控制测试工装的问题，在本实施例中，基于记录的各光栅信号的获取时间，确定各光栅信号中获取时间与当前时间的时间差小于预定间隔时长的各选定光栅信号的总时长作为控制测试工装的依据。可避免轻微去抖和过度去抖影响对测试工装的控制准确性。各选定光栅信号属于各光栅信号，各选定光栅信号的获取时间分别与当前时间的时间差小于预定间隔时长，以避免获取时间距离当前时间过长的光栅信号影响控制，提高控制准确性。

例如，当前时间为t，目前收到了4个光栅信号，分别为获取时间依次往后的光栅信号S1、光栅信号S2、光栅信号S3和光栅信号S4，光栅信号S1对应的获取时间为T1，时长为L1，光栅信号S2对应的获取时间为T2，时长为L2，光栅信号S3对应的获取时间为T3，时长为L3，光栅信号S4对应的获取时间为T4，时长为L4，预定间隔时长可以为LH，若在上述4个光栅信号中存在获取时间与当前时间T的时间差小于预定间隔时长的各选定光栅信号时，可获取各选定光栅信号的总时长。比如，上述4个光栅信号中光栅信号S3和光栅信号S4的获取时间分别与当前时间t的时间差小于预定间隔时长，则可将光栅信号S3和光栅信号S4作为各选定光栅信号，将光栅信号S3和光栅信号S4分别对应的时长的和(即总时长)作为后续控制测试工装的依据。

S130：在总时长大于或等于预设累计时长时，控制测试工装停止运行。

在确定各选定光栅信号的总时长后，即可根据总时长进行判断，根据判断结果对测试工作进行控制。具体地，将总时长与预设累计时长进行比较，在总时长大于或等于预设累计时长时，表示在预定间隔时长内，收到了总时长大于或等于预设累计时长的选定光栅信号，可确定这些选定光栅信号是由人为误操作导致的，此时可控制测试工装停止运行。

上述测试工装控制方法，以各光栅信号中各选定光栅信号的总时长作为控制测试工装的依据，其中，选定光栅信号的获取时间与当前时间的时间差小于预定间隔时长。在总时长大于或等于预设累计时长时，控制测试工装停止运行。一方面可避免获取时间距离当前时间过长的光栅信号影响控制，提高控制准确性，另一方面，可避免以单次光栅信号的时长为依据进行控制过程中容易发生轻微去抖和过度去抖，导致不能准确控制测试工装的问题，提高控制准确性。

在一个实施例中，确定各光栅信号中，获取时间与当前时间的时间差小于预定间隔时长的各选定光栅信号的总时长的步骤S120之前，还包括：在分别获取到安全光栅发送的各光栅信号时，记录各光栅信号的获取时间以及各光栅信号的时长。

即在基于总时长对测试工装进行控制过程中，获取到安全光栅送的光栅信号后，可对该光栅信号的获取时间和时长进行记录，以便后续使用。若在当前时间以及当前时间以前，没有任何光栅信号的记录，即表示在本次测试周期内(开启一次测试工装进行测试时，对应一次测试周期，若开工至测试工装停止运行后，再一次开启后，则另外对应一次测试周期)，还未收到安全光栅发送的光栅信号，说明未检测到人为对安全光栅所对应的设备进行误操作或该安全光栅未受到信号抖动以及灰尘或衣角等其他异物扫过安全光栅的光幕。此时，总时长可以理解为零，预设累计时长大于零，总时长必定小于预设累计时长，测试工装继续运行即可。获取到光栅信号后进行记录，在各光栅信号中，获取时间与当前时间的时间差小于预定间隔时长的各选定光栅信号的总时长大于或等于预设累计时长时，表示满足停止条件，为确保安全，可控制测试工装停止运行。

在一个实施例中，上述方法还包括：在获取到安全光栅发送的光栅信号时，若该光栅信号的时长大于或等于预设时长，则控制测试工装停止运行。

在控制测试工装的工作状态过程中，不但可通过将各光栅信号中，获取时间与当前时间的时间差小于预定间隔时长的各选定光栅信号的总时长与预设累计时长进行比较，以实现对测试工装的控制。还可通过各光栅信号中单个光栅信号的时长进行控制，即每获取到一个光栅信号，将其对应的时长与预设时长进行比较，基于单个光栅信号的时长过长容易导致安全事故的考虑(单个光栅信号的时长大于预设时长，可认为该光栅信号为人为误操作导致的误操作信号，人为误操作容易导致安全事故)，一旦发现有光栅信号的时长大于预设时长，则控制测试工装停止运行，提高安全性。在一个示例中，为减小记录数据量，记录的各光栅信号的时长小于预设时长，即在光栅信号的时长大于或等于预设时长时，表示满足停止条件，无需对其进行记录，控制测试工装停止运行。可以理解，在获取到安全光栅发送的光栅信号时，若该光栅信号的时长小于预设时长，则记录该光栅信号的获取时间以及该光栅信号的时长，则记录的各光栅信号的时长均小于预设时长。

在一个实施例中，记录光栅信号的获取时间以及光栅信号的时长之后，还包括步骤：将该光栅信号的时长叠加至累计时长。

在本实施例中，基于各光栅信号的获取时间，确定各选定光栅信号的总时长，包括：将记录的累计时长作为总时长。

即每记录完一个光栅信号的获取时间和时长后，可将该光栅信号的时长叠加至累计时长，累计时长增大。例如，该光栅信号的时长为500毫秒，在本次叠加前，累计时长为500毫秒，叠加之后，累计时长变为1000毫秒。即可将该累计时长作为上述总时长。

在一个实施例中，上述方法，还包括：当累计时长中存在待删除时长时，将待删除时长从累计时长中删除，待删除时长对应的光栅信号的获取时间，与当前时间的时间差大于或者等于预定间隔时长。

将待删除时长从累计时长中删除可以理解为累计时长减去该待删除时长。例如，在当前时间，已获取到了三个光栅信号，即光栅信号S1(时长为L1)、光栅信号S2(时长为L2)和光栅信号S3(时长为L3)，进行时长叠加累计后，累计时长为L1+L2+L3，但是在上述三个信号中，光栅信号S1的获取时间与当前时间的时间差大于或者等于预定间隔时长，则该光栅信号S1的时长即为待删除时长，则需要将累计时长减去该待删除时长，更新累计时长，累计时长变为L2+L3。若在获得光栅信号S4(时长为L4)，将其叠加到累计时长中，则累计时长变为L2+L3+L4，上述当前时间也随之往后推移，然而此时光栅信号S2的获取时间与当前时间的时间差大于或者等于预定间隔时长，则该光栅信号S2的时长即为待删除时长，则需要将累计时长减去该待删除时长，更新累计时长，累计时长变为L3+L4。其中，在累计时长大于或等于预设累计时长时，控制测试工装停止运行，则可将累计时长清零。

在一个实施例中，在控制测试工装停止运行之后，还包括：将累计时长清零。为了保证下一次的准确控制，在本次控制过程中，将测试工装停止运行后，需要将本次控制过程中的累计时长清零。

在一个实施例中，预定间隔时长大于预设累计时长，预设累计时长大于预设时长。

预定间隔时长、预设累计时长以及预设时长均可预先设置，且可根据历史经验设置。为了提高控制的准确性，可设置预定间隔时长大于预设累计时长，预设累计时长大于预设时长。

在一个实施例中，控制测试工装停止运行之后，还可包括：将记录的各光栅信号的获取时间以及各光栅信号的时长清除。

为了避免本次控制过程中，获取的光栅信号的获取时间以及各光栅信号的时长对后续控制过程的影响，提高检测准确性，本次在控制测试工装停止后，后续若再需要开启测试工装进行测试，在对测试工装控制过程中，不应将之前控制过程中获得的光栅信号的获取时间和时长应用到后续控制过程中，即控制测试工装停止运行之后，还需将记录的各光栅信号的获取时间以及各光栅信号的时长清除，减少干扰，提高控制准确性。

下面以一具体实施例对上述测试工装控制方法过程加以说明。

首先，可将采集到的安全光栅发送的光栅信号分为两种，一种是安全光栅本身的信号抖动或灰尘、衣角等其他异物瞬间扫过光幕而产生的误信号，简称为误信号，产生误信号的信号源称为误信号源。另一种是误操作、人为干预测试而产生的误操作信号，简称为误操作信号。误信号不应该触发急停信号，如果触发了急停信号则属于误报，而误操作信号应该立刻急停测试工装。

上述测试工装控制方法可通过测试工装系统实现，如图2所示，在测试工装的设备外围安装安全光栅，设备处在安全光栅的光幕之外，即不对光幕遮挡。在安全光栅检测到光幕被遮挡，会生成光栅信号，并发送给控制系统，获取到光栅信号后，先进行去抖处理，即将光栅信号与去抖时长x(即预设时长)进行比较，小于去抖时长x的光栅信号不会触发急停信号，即不会控制测试工装停止，以此来滤掉安全光栅本身的信号抖动或灰尘、衣角等其他异物瞬间扫过光幕而产生的误信号。大于或等于去抖时长x的光栅信号会触发急停信号，即控制测试工装停止运行。

然而，当去抖时长x值设置太小时，也即轻微去抖，不能达到很好的过滤误信号的效果，当x值设置比较大时，也即过度去抖，就存在人为干涉测试和误操作的隐患，例如操作人员可以快速的穿过光幕来操作按键，由于光幕被遮挡的时间小于去抖时长x，会被过滤掉，不会触发急停信号，仅通过去抖时长x无法准确的判断出两种信号并进行过滤，即无法实现准确控制。

根据历史充分收集两种信号(误操作信号和误信号)分析可知，信号抖动和异物瞬间扫过光幕产生的误信号，与人为干涉测试、误操作等产生的误操作信号存在不同，前者是离散的偶然的，后者是规律的且频繁的。基于此，本实施例的方法将小于去抖时长x的光栅信号保存(去抖时长x的值可直接使用推荐值，也可根据实际情况计算得出)，将该光栅信号记录在内存中，并将预定间隔时长内收到的时长小于去抖时长x的光栅信号的总时长与预设累计时长进行对比(预设累计时长可根据现场实际情况设置)，当总时长小于预设累计时长时，判断为误信号，测试工装正常运行；当总时长大于或等于预设累计时长时，判断为误操作信号，即可确定安全光栅检测到误操作，控制测试工装急停。本案通过时长累加的方法来区分误信号与误操作信号，补偿去抖时长x无法区分两者的不足，最终实现测试工装中防误报误操作，提高控制准确性，且可有效适应各中情况，可适用于各产品的测试工装的控制。另外，还可有效地避免安全光栅本身的信号抖动或灰尘、衣角等其他异物瞬间扫过光幕而产生的误信号引起的测试工装急停，从而提高测试效率。

下面结合一个具体实施例对上述测试工装原理加以说明，以误信号(时长小于去抖时长的光栅信号)为例，其中，去抖时长x为800毫秒，预设累计时长k为1000毫秒，预定间隔时长T为3000毫秒。

首先，若测试工装在正常运行过程中安全光栅产生了一个时长为100毫秒的光栅信号S1，由于时长100小于x，不会触发测试工装急停，Sum初始是为0，将触发时间100累加入Sum中，此时Sum为100，由于Sum小于k，因此也不会触发急停信号。在预定间隔时长T内安全光栅一般情况下，不会连续产生信号抖动超过k的，如果发生了，表示安全光栅已经损坏或安全光栅质量不过关。因此，此方法能正确识别误信号，并在收到光栅信号S1后经过T时长后丢弃该光栅信号，即收到该光栅信号后经过T时长后，将Sum中该光栅信号的时长减掉。在收到每个光栅信号后均进行上述处理。

比如，假设某操作人员未熟读工艺手册或操作流程规范，在测试工装运行过程中对正在测试工装线上设备进行操作，安全光栅生成光栅信号。根据该操作人员手速快慢可将光栅信号分为时长小于x和时长大于x两种情况。

首先分析速度很快的情况，进行第一次操作，此时触发安全光栅生成的光栅信号的时长小于x，不会触发急停信号，但会累加至Sum中，此时Sum小于k。由于误操作或人为干预测试需多次操作按键，第二次进行操作时，虽然触发产生的光栅信号的时长还是小于x，但是累加到Sum中后，Sum已经达到了预设累计时长k，此时便会立刻触发急停信号控制测试工装停止运行。若第二次进行操作时，产生的光栅信号的时长还是小于x，累加到Sum后，Sum也还未达到k，则不会触发急停信号控制测试装置停止。进行第三次操作时，产生的光栅信号的时长还是小于x，累加到Sum后，Sum也还未达到k，则不会触发急停信号控制测试装置停止，但在上述三个光栅信号中，第一次操作产生的光栅信号的获取时间与当前时间的时间差已大于或者等于预定间隔时长，此时，需要将Sum中该光栅信号的时长删除，Sum减小。例如，上述产生的三个光栅信号的时长累计后得到的Sum为900毫秒，预设累计时长为1000毫秒，Sum没有超过预设累计时长，但第一次操作产生的光栅信号(时长为500毫秒)的获取时间与当前时间的时间差为3000毫秒，等于预定间隔时长T，此时，需将Sum中该光栅信号的时长删除，即减去该光栅信号的时长500毫秒，则Sum变为400毫秒。若第三次进行操作时，虽然触发产生的光栅信号的时长还是小于x，但是累加到Sum中后，Sum已经达到了预设累计时长k，此时便会立刻触发急停信号控制测试工装停止运行。

然后分析手速很慢的情况，即安全光栅发送的光栅信号的时长大于x时，会触发急停信号，控制测试工装停止运行。如此，通过本实施例的方法能正确识别误操作信号，并立刻触发急停信号，提高控制准确性。

应该理解的是，虽然图1的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，如图3所示，提供了一种测试工装控制装置，包括：

时间获取模块310，用于获取当前时间；

总时长确定模块320，用于确定各光栅信号中，获取时间与当前时间的时间差小于预定间隔时长的各选定光栅信号的总时长；

控制模块330，用于在总时长大于或等于预设累计时长时，控制测试工装停止运行。

在一个实施例中，还包括：记录模块，用于在分别获取到安全光栅发送的各光栅信号时，记录各光栅信号的获取时间以及各光栅信号的时长。

在一个示例中，记录模块，用于在获取到安全光栅发送的光栅信号时，若该光栅信号的时长小于预设时长，则记录该光栅信号的获取时间以及该光栅信号的时长。即记录的各光栅信号的时长均小于预设时长。

在一个实施例中，上述装置还包括：累计模块，用于将该光栅信号的时长叠加至累计时长；

总时长确定模块320，用于将记录的累计时长作为总时长。

在一个实施例中，上述装置还包括：删除模块，用于当累计时长中存在待删除时长时，将待删除时长从累计时长中删除，待删除时长对应的光栅信号的获取时间，与当前时间的时间差大于或者等于预定间隔时长。

在一个实施例中，控制模块330，用于在获取到安全光栅发送的光栅信号时，若该光栅信号的时长大于或等于预设时长，则控制测试工装停止运行。

在一个实施例中，上述装置还包括：清零模块，用于在控制模块330控制测试工装停止运行后，将累计时长清零。

在一个实施例中，预定间隔时长大于预设累计时长，预设累计时长大于预设时长。

在一个实施例中，上述装置还可包括：清除模块，用于在控制模块330控制测试工装停止运行后，将记录的各光栅信号的获取时间以及各光栅信号的时长清除。

关于测试工装控制装置的具体限定可以参见上文中对于测试工装控制方法的限定，在此不再赘述。上述测试工装控制装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于电子设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于电子设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种电子设备，该电子设备可以是电动汽车中的电机控制器，其内部结构图可以如图4所示。该电子设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该电子设备的处理器用于提供计算和控制能力。该电子设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该电子设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种测试工装控制方法。

本领域技术人员可以理解，图4中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的电子设备的限定，具体的电子设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供一种电子设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述方法的步骤。

在一个实施例中，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，该计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种测试工装控制方法，所述方法包括：

获取当前时间；

基于各光栅信号的获取时间，确定各选定光栅信号的总时长，所述选定光栅信号的获取时间与所述当前时间的时间差小于预定间隔时长；

在所述总时长大于或等于预设累计时长时，控制测试工装停止运行。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定各光栅信号中，获取时间与所述当前时间的时间差小于预定间隔时长的各选定光栅信号的总时长之前，还包括：

在分别获取到安全光栅发送的各所述光栅信号时，记录各所述光栅信号的获取时间以及各所述光栅信号的时长。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

记录所述光栅信号的获取时间以及所述光栅信号的时长之后，还包括步骤：将该光栅信号的时长叠加至累计时长；

基于各光栅信号的获取时间，确定各选定光栅信号的总时长，包括：将记录的所述累计时长作为所述总时长。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括：当所述累计时长中存在待删除时长时，将所述待删除时长从所述累计时长中删除，所述待删除时长对应的光栅信号的获取时间，与所述当前时间的时间差大于或者等于所述预定间隔时长。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

在获取到所述安全光栅发送的光栅信号时，若该光栅信号的时长大于或等于预设时长，则控制所述测试工装停止运行。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述预定间隔时长大于所述预设累计时长，所述预设累计时长大于所述预设时长。

7.一种测试工装控制装置，所述装置包括：

时间获取模块，用于获取当前时间；

总时长确定模块，用于基于各光栅信号的获取时间，确定各选定光栅信号的总时长，所述选定光栅信号的获取时间与所述当前时间的时间差小于预定间隔时长；

控制模块，用于在所述总时长大于或等于预设累计时长时，控制测试工装停止运行。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

记录模块，用于在分别获取到安全光栅发送的各所述光栅信号时，记录各所述光栅信号的获取时间以及各所述光栅信号的时长。

9.一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述装置的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的装置的步骤。