CN109541796A - 透镜曲率的矫正方法、装置、系统及光发射器 - Google Patents

透镜曲率的矫正方法、装置、系统及光发射器 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种透镜曲率的矫正方法、装置、系统及光发射器，涉及光学技术领域，该方法包括获取目标透镜的当前表面温度；获取与当前表面温度对应的矫正电压；其中，矫正电压为将目标透镜在当前表面温度下的形变进行矫正所需的电压；向目标透镜施加矫正电压。本发明考虑到温度对透镜形变的影响，能够将透镜的当前曲率矫正至额定曲率。

Description

透镜曲率的矫正方法、装置、系统及光发射器
技术领域
本发明涉及光学技术领域，尤其是涉及一种透镜曲率的矫正方法、装置、系统及光发射器。
背景技术
在诸如3D视觉结构光方案中，通常将光发射器作为TX红外发射部分，其出射图像的质量对视觉识别效果至关重要。但是在实际应用中，光发射器中的激光照射透镜后会产生大量的热量，使得透镜的表面温度升高，热膨胀会引起透镜的曲率发生变化，因而会对光发射器最终的出射图案造成负面影响，进而影响到最终的成像精度，使得最终的成像精度较差。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种透镜曲率的矫正方法、装置、系统及光发射器，考虑到温度对透镜形变的影响，能够将透镜的当前曲率矫正至额定曲率。
为了实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：
第一方面，本发明实施例提供了一种透镜曲率的矫正方法，该方法包括：获取目标透镜的当前表面温度；获取与所述当前表面温度对应的矫正电压；其中，所述矫正电压为将所述目标透镜在所述当前表面温度下的形变进行矫正所需的电压；向所述目标透镜施加所述矫正电压。
进一步，所述获取与所述当前表面温度对应的矫正电压的步骤，包括：从预设的关联表中查找与所述当前表面温度对应的矫正电压；其中，所述关联表中记录有目标透镜的表面温度与矫正电压的关联关系。
进一步，所述方法还包括：获取所述目标透镜在预设的多个表面温度所对应的形变参数；获取各个所述形变参数对应的矫正电压；将与同一形变参数具有对应关系的表面温度与矫正电压建立关联关系；基于具有关联关系的表面温度与矫正电压生成所述关联表。
进一步，所述获取所述目标透镜在预设的多个表面温度所对应的形变参数的步骤，包括：获取所述目标透镜在预设的多个表面温度下的实际曲率；根据所述目标透镜的额定曲率以及所述目标透镜在各所述表面温度下的实际曲率，计算所述目标透镜在各所述表面温度所对应的形变参数。
进一步，获取所述目标透镜在预设的多个表面温度下的实际曲率的步骤，包括：从预设的温度区间内等间隔选取多个温度值；将所述目标透镜的表面温度调节至选取的温度值，并获取所述目标透镜在选取的所述温度值下的实际曲率。
进一步，获取各个所述透镜形变参数对应的矫正电压的步骤，包括：根据杨氏方程计算各个所述透镜形变参数对应的矫正电压。
第二方面，本发明实施例还提供一种透镜曲率的矫正装置，该装置包括：温度检测模块，用于获取目标透镜的当前表面温度；矫正电压获取模块，用于获取与所述当前表面温度对应的矫正电压；其中，所述矫正电压为将所述目标透镜在所述当前表面温度下的形变进行矫正所需的电压；曲率矫正模块，用于向所述目标透镜施加所述矫正电压。
第三方面，本发明实施例提供了一种透镜曲率的矫正系统，包括：处理器和存储装置；所述存储装置上存储有计算机程序，所述计算机程序在被所述处理器运行时执行如第一方面任一项所述的透镜曲率的矫正方法。
第四方面，本发明实施例提供了一种光发射器，所述光发射器包括PCB基板和透镜，所述PCB基板上设置有温度传感器以及如第三方面所述的透镜曲率的矫正系统；所述温度传感器，用于探测所述透镜的当前表面温度；所述透镜曲率的矫正系统，用于基于所述透镜的当前表面温度，向所述透镜施加矫正电压。
进一步，所述光发射器还包括衍射光学元件；所述PCB基板上设置有垂直腔面发射体激光器阵列；所述垂直腔面发射体激光器阵列、所述透镜和所述衍射光学元件依次同轴设置。
进一步，所述透镜包括液体透镜、微流体透镜和压电透镜中的一种。
本发明实施例提供的一种透镜曲率的矫正方法、装置、系统及光发射器，首先基于目标透镜的当前表面温度获取对应的矫正电压；其中，矫正电压为将目标透镜在当前表面温度下的形变进行矫正所需的电压；然后向目标透镜施加矫正电压，以将目标透镜的当前曲率矫正至目标透镜的额定曲率。本实施例提供的透镜曲率的矫正方法考虑到温度对透镜形变的影响，通过施加与透镜表面温度对应的矫正电压将目标透镜的当前曲率矫正至额定曲率。
本公开的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，或者，部分特征和优点可以从说明书推知或毫无疑义地确定，或者通过实施本公开的上述技术即可得知。
为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了本发明实施例所提供的一种电子设备的结构示意图；
图2示出了本发明实施例所提供的一种光发射器的结构示意图；
图3示出了本发明实施例所提供的一种准直透镜的结构示意图；
图4示出了本发明实施例所提供的一种透镜曲率的矫正方法的流程图；
图5示出了本发明实施例所提供的一种透镜曲率的矫正装置的结构框图。
图标：202-PCB基板；204-垂直腔面发射体激光器阵列；206-温度传感器；208-透镜；210-衍射光学元件；302-第一导电层；304-第一衬底；306-绝缘层；308-第二衬底；310-第二导电层；312-绝缘液体。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
目前在实际应用中，对液体透镜施加预设的电压，液体透镜所达到的实际曲率并非是理论曲率，曲率误差会导致液体透镜难以实现准确聚焦，也会对将液体透镜作为组成部件的光学设备的使用效果造成影响。
发明人在研究过程中发现，温度会严重影响电压对透镜曲率进行控制的准确性。比如，由激光元件、准直透镜和光学衍射元件组成的光发射器，其中，可以采用液体透镜作为准直透镜；准直透镜不可避免的会被激光照射，激光产生的热量造成准直透镜发生形变，使得光发射器最终出射图像的品质较差。基于此，本发明实施例提供的一种透镜曲率的矫正方法、装置、系统及光发射器，以下对本发明实施例进行详细介绍。
实施例一：
首先，参照图1来描述用于实现本发明实施例的透镜曲率的矫正方法、装置、系统及光发射器的示例电子设备100。
如图1所示的一种电子设备的结构示意图，电子设备100包括一个或多个处理器102、一个或多个存储装置104、输入装置106、输出装置108以及图像采集装置110，这些组件通过总线系统112和/或其它形式的连接机构(未示出)互连。应当注意，图1所示的电子设备100的组件和结构只是示例性的，而非限制性的，根据需要，所述电子设备也可以具有其他组件和结构。
所述处理器102可以是中央处理单元(CPU)或者具有数据处理能力和/或指令执行能力的其它形式的处理单元，并且可以控制所述电子设备100中的其它组件以执行期望的功能。
所述存储装置104可以包括一个或多个计算机程序产品，所述计算机程序产品可以包括各种形式的计算机可读存储介质，例如易失性存储器和/或非易失性存储器。所述易失性存储器例如可以包括随机存取存储器(RAM)和/或高速缓冲存储器(cache)等。所述非易失性存储器例如可以包括只读存储器(ROM)、硬盘、闪存等。在所述计算机可读存储介质上可以存储一个或多个计算机程序指令，处理器102可以运行所述程序指令，以实现下文所述的本发明实施例中(由处理器实现)的客户端功能以及/或者其它期望的功能。在所述计算机可读存储介质中还可以存储各种应用程序和各种数据，例如所述应用程序使用和/或产生的各种数据等。
所述输入装置106可以是用户用来输入指令的装置，并且可以包括键盘、鼠标、麦克风和触摸屏等中的一个或多个。
所述输出装置108可以向外部(例如，用户)输出各种信息(例如，图像或声音)，并且可以包括显示器、扬声器等中的一个或多个。
所述图像采集装置110可以拍摄用户期望的图像(例如照片、视频等)，并且将所拍摄的图像存储在所述存储装置104中以供其它组件使用。
示例性地，用于实现根据本发明实施例的一种透镜曲率的矫正方法、装置、系统及光发射器的示例电子设备可以被实现为诸如各种类型的摄像头、望远镜、医疗器械、工业相机等光学设备上。
实施例二：
首先，为便于理解，本实施例提供了一种将透镜作为主要组件的光学设备，示例性说明了一种透镜的应用环境。参照图2所示的一种光发射器的结构示意图，该光发射器包括PCB(Printed Circuit Board，印刷电路板)基板202和透镜208，PCB基板202上设置有温度传感器206和透镜曲率的矫正系统；温度传感器206，用于探测透镜208的当前表面温度；透镜曲率的矫正系统，用于基于透镜208的当前表面温度，向透镜208施加矫正电压，从而可以将透镜208的当前曲率矫正至透镜208的额定曲率。
上述透镜208为球面的准直透镜，该额定曲率可以理解为透镜208在正常工作时的规定曲率，诸如透镜208在出厂时设置的初始曲率。
本实施例所提及的透镜曲率的矫正系统，包括：处理器和存储装置；存储装置上存储有计算机程序，计算机程序在被处理器运行时，基于透镜208的当前表面温度，将透镜208的当前曲率矫正至透镜208的额定曲率。其中，处理器可以是诸如高通骁龙芯片、联发科芯片。
本实施例给出的光发射器还包括衍射光学元件210；PCB基板202上设置有垂直腔面发射体激光器阵列204；且垂直腔面发射体激光器阵列204、透镜208(也即准直透镜)和衍射光学元件210依次同轴设置。
具体而言，垂直腔面发射体激光器阵列204是一种出光方向垂直于谐振腔表面的f-p激光器，用于发射激光光线；激光光线进入准直透镜，由准直透镜将激光光线变成一束平行的准直光柱并发射至衍射光学元件210；衍射光学元件210是光刻机中一系列可动的镜片，用于对准直光柱的光强分布进行控制，并发射出整形光束。
上述的准直透镜直接被激光光线照射，其曲率易受温度影响而发生变化，因此，将该准直透镜为基于介质上电润湿(Electro Wetting On Dielectric，EWOD)原理的曲率可调的透镜，诸如液体透镜、微流体透镜和压电透镜中的一种，当然，以上仅为示例性说明，不应当被视为限制，实际应用中还可以采用其它曲率可调的透镜。
介质上电润湿是一种电控表面张力驱动方式，它是通过在介质膜下面的微电极阵列上施加电势来改变介质膜与表面液体的润湿特性。基于此，准直透镜可以主要由上下极板和上下极板之间的液体构成；比如，如图3所示的一种准直透镜的结构示意图，该准直透镜的下极板由第一衬底304、第一衬底304上覆盖的第一导电层302构成，和绝缘层306构成，上极板由第二衬底308和覆盖于第二衬底308外表面的第二导电层310构成，在第二衬底308和第一导电层302之间填充不易挥发的绝缘液体312(如硅油)，在第一衬底304和第二衬底308之间填充绝缘层306。上述的第一衬底304通常为玻璃基板；第二衬底308可以为弹性的聚合物薄膜，也可以同第一衬底304为玻璃基板。
此外，在第一导电层302的上表面还可以覆盖一层疏水层(图中未示出)，疏水层可以保证绝缘液体312运动过程的平滑和稳定。
在一种具体的实现方式中，在光发射器使用过程中，温度传感器按照预设的时间间隔(比如每隔1秒)探测透镜208的当前表面温度，并将当前表面温度发送至透镜曲率的矫正系统；透镜曲率的矫正系统首先基于透镜208的当前表面温度，确定在该当前表面温度下透镜208的曲率会发生的形变参数；然后根据形变参数计算将透镜208的曲率矫正至额定曲率所需要施加的电压，基于介质上电润湿原理，将计算得到的电压施加于透镜208，以将透镜208的当前曲率矫正至透镜208的额定曲率。
实施例三：
参照图4所示的一种透镜曲率的矫正方法的流程图，该方法可应用于多种光学设备，诸如上一实施例所提供的光发射器，具体包括如下步骤：
步骤S402，获取目标透镜的当前表面温度。
以上一实施例所提供的光发射器为例，可以通过温度传感器获取目标透镜的当前表面温度。温度传感器可以实时检测目标透镜的表面温度，当然也可以按照预设时间间隔检测目标透镜的表面温度，并将最近一次获得的表面温度确定为当前表面温度。此外，上述的目标透镜可以是上一实施例提供的光发射器中曲率可调的准直透镜。
步骤S404，获取与当前表面温度对应的矫正电压；其中，矫正电压为将目标透镜在当前表面温度下的形变进行矫正所需的电压。
发明人在研究过程中发现，温度变化会造成透镜的曲率发生变化，当前曲率即为当前表面温度所造成的目标透镜的曲率发生形变后的结果；对目标透镜施加与当前表面温度相对应的矫正电压，以将目标透镜的当前曲率矫正至目标透镜的额定曲率；其中，额定曲率为目标透镜在正常工作时的规定曲率，诸如目标透镜在出厂时设置的初始曲率。
本实施例中的矫正电压可以是预先通过实验测得的，诸如，检测目标透镜在当前表面温度下的实际曲率，根据目标透镜的实际曲率与目标透镜的额定曲率得到目标透镜的形变参数，基于该形变参数，计算将目标透镜的形变矫正至恢复额定曲率所需要的电压，该电压即为与当前表面温度相对应的矫正电压。
步骤S406，向目标透镜施加矫正电压。通过给目标透镜施加矫正电压，可以将目标透镜的当前曲率矫正至目标透镜的额定曲率。
诸如，对于如图3所示的准直透镜(对应目标透镜)，当上极板采用了弹性的聚合物薄膜时，可以通过向上下电极(也即第二导电层和第一导电层)施加矫正电压，由于电势效应两个电极间将产生引力，挤压绝缘液体造成聚合物薄膜发生性变，进而将目标透镜的当前曲率矫正至目标透镜的额定曲率。
当上极板采用了玻璃基板时，可以通过向目标透镜施加矫正电压，利用电场控制导电玻璃之间液晶的折射率，并藉由折射率的分布来将目标透镜的当前曲率矫正至目标透镜的额定曲率。
本发明实施例提供的透镜曲率的矫正方法，首先基于目标透镜的当前表面温度获取对应的矫正电压；其中，矫正电压为将目标透镜在当前表面温度下的形变进行矫正所需的电压；然后向目标透镜施加矫正电压，以将目标透镜的当前曲率矫正至目标透镜的额定曲率。本实施例提供的透镜曲率的矫正方法考虑到温度对透镜形变的影响，通过施加与透镜表面温度对应的矫正电压将目标透镜的当前曲率矫正至额定曲率。
本实施例给出了一种获取与当前表面温度对应的矫正电压的具体实施方式，即：从预设的关联表中查找与当前表面温度对应的矫正电压；其中，关联表中记录有目标透镜的表面温度与矫正电压的关联关系。
在本实施例中，关联表中的表面温度和矫正电压是基于目标透镜的形变参数建立关联关系的。目标透镜的表面温度不同时，通过镜头测试设备所检测到的目标透镜的形变参数也是对应变化的，对于每个形变参数均有唯一对应的矫正电压；基于此，将与同一形变参数相对应的表面温度、矫正电压之间建立关联关系，并记录于关联表中。
为便于理解，本实施例给出了一种关联表的生成方式，可以参照如下步骤执行：
步骤1，获取目标透镜在预设的多个表面温度所对应的形变参数。
上述的形变参数可以是采用trioptics PRO系列的镜头测试设备对目标透镜的形变进行检测来获取的。将目标透镜放置于加温底座上，通过加温底座的温度模拟不同的实际应用中目标透镜的表面温度。在每个表面温度下，均由镜头测试设备检测目标透镜的曲率的形变参数。
步骤2，获取各个形变参数对应的矫正电压。在一种具体的实施示例中，该矫正电压的获取可以是根据杨氏方程计算各个透镜形变参数对应的矫正电压。其中，杨氏方程可参照如下公式：
其中，V为矫正电压，θ0为矫正电压为0时固液交界面之间的接触角，ε0真空介电常数，εr为绝缘介质层(也即液晶或绝缘液体)的介电常数，d为绝缘介质层的厚度，γLV为固液交界面处的表面张力。
可以理解的是，以上仅为示例性说明，不应当被视为限制，对于不同类型的目标透镜，还可以采用其它方式计算矫正电压。
步骤3，将与同一形变参数具有对应关系的表面温度与矫正电压建立关联关系；基于具有关联关系的表面温度与矫正电压生成关联表。
为便于理解，本实施例给出了获取目标透镜在预设的多个表面温度所对应的形变参数的一种实现方式，可以参照如下步骤执行：
第一步，获取目标透镜在预设的多个表面温度下的实际曲率。其中，预设的多个表面温度可以是首先从预设的温度区间内等间隔选取多个温度值；诸如，从-20℃至80℃的温度区间内，每间隔5℃选取一个温度值，依次为-20℃、-15℃、-10℃、……30℃、35℃、40℃、……、80℃；然后采用加温底座将目标透镜的表面温度逐一调节至选取的温度值，并通过镜头测试设备获取目标透镜在选取的温度值下的实际曲率。
第二步，根据目标透镜的额定曲率以及目标透镜在各表面温度下的实际曲率，计算目标透镜在各表面温度所对应的形变参数。
上述的形变参数可通过如下算式进行表示：
ΔR(Ti)＝R1(Ti)-R0
其中，Ti为目标透镜的各表面温度，ΔR(Ti)为目标透镜在各表面温度的形变参数，R1(Ti)为目标透镜在各表面温度的实际曲率，R0为目标透镜的额定曲率。
为了提高形变参数的准确性，上述的形变参数可以是多次形变参数的形变参数平均值。为便于理解，以下给出了几种形变参数平均值的获取方法：
方法一：首先，当将目标透镜的表面温度调节至某一温度值时，通过镜头测试设备多次(比如30次)获取目标透镜的曲率，计算多个曲率的平均值，并将曲率平均值作为当前表面温度对应的实际曲率。进而，各表面温度对应的实际曲率均为曲率平均值。然后，根据目标透镜的额定曲率以及目标透镜在各表面温度下的实际曲率，计算目标透镜在各表面温度所对应的形变参数，该形变参数可通过如下算式进行表示。
方法二：将目标透镜在各表面温度下每次获取的实际曲率，均与目标透镜的额定曲率做差，获得一个形变参数，重复多次执行上述过程，在各表面温度下均得到多个形变参数，再计算多个形变参数的平均值，根据形变参数平均值计算所需施加的矫正电压，该形变参数平均值可通过如下算式进行表示。
其中，n为在同一表面温度下重复获得形变参数的次数。
基于上述的关联表，本实施例给出了获取与当前表面温度对应的矫正电压的一种实现方式，可以参照如下步骤执行：首先，将获取的当前表面温度与关联表中记录的全部表面温度进行比较，确定与当前表面温度之间具有最小温差的表面温度；比如，当获取的当前表面温度为42℃时，将42℃匹配至关联表中记录的40℃的表面温度。然后，基于关联表中记录的关联关系，获取与表面温度(也即40℃的表面温度)相对应的矫正电压。
综上所述，本实施例提供的上述透镜曲率的矫正方法，考虑到了温度造成的曲率误差，从而获取与当前表面温度相对应的矫正电压，并向目标透镜施加矫正电压，以将目标透镜的当前曲率矫正至目标透镜的额定曲率。利用与表面温度相对应的矫正电压，可以将目标透镜的当前曲率矫正至额定曲率。
实施例四：
对于实施例三中所提供的透镜曲率的矫正方法，本发明实施例提供了一种透镜曲率的矫正装置，参见图5所示的一种透镜曲率的矫正装置的结构框图，包括：
温度获取模块502，用于获取目标透镜的当前表面温度。
矫正电压获取模块504，用于获取与当前表面温度对应的矫正电压；其中，矫正电压为将目标透镜在当前表面温度下的形变进行矫正所需的电压。
曲率矫正模块506，用于向目标透镜施加矫正电压。
本发明实施例提供的上述透镜曲率的矫正装置，首先基于目标透镜的当前表面温度获取对应的矫正电压；其中，矫正电压为将目标透镜在当前表面温度下的形变进行矫正所需的电压；然后向目标透镜施加矫正电压，以将目标透镜的当前曲率矫正至目标透镜的额定曲率。本实施例提供的透镜曲率的矫正装置考虑到温度对透镜形变的影响，通过施加与透镜表面温度对应的矫正电压将目标透镜的当前曲率矫正至额定曲率。
在一种实施方式中，上述的矫正电压获取模块504还用于从预设的关联表中查找与当前表面温度对应的矫正电压；其中，关联表中记录有目标透镜的表面温度与矫正电压的关联关系。
在一种实施方式中，上述的矫正电压获取模块504还用于获取目标透镜在预设的多个表面温度所对应的形变参数；获取各个形变参数对应的矫正电压；将与同一形变参数具有对应关系的表面温度与矫正电压建立关联关系；基于具有关联关系的表面温度与矫正电压生成关联表。
在一种实施方式中，上述的矫正电压获取模块504还用于获取目标透镜在预设的多个表面温度下的实际曲率；根据目标透镜的额定曲率以及目标透镜在各表面温度下的实际曲率，计算目标透镜在各表面温度所对应的形变参数。
在一种实施方式中，上述的矫正电压获取模块504还用于从预设的温度区间内等间隔选取多个温度值；将目标透镜的表面温度调节至选取的温度值，并获取目标透镜在选取的温度值下的实际曲率。
在一种实施方式中，上述的矫正电压获取模块504还用于根据杨氏方程计算各个透镜形变参数对应的矫正电压。
本实施例所提供的装置，其实现原理及产生的技术效果和前述方法实施例三相同，为简要描述，装置实施例部分未提及之处，可参考前述方法实施例三中相应内容。
进一步，本实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理设备运行时执行上述实施例三提供的任一项方法的步骤。
本发明实施例所提供的一种透镜曲率的矫正方法、装置、系统及光发射器的计算机程序产品，包括存储了程序代码的计算机可读存储介质，程序代码包括的指令可用于执行前面方法实施例中所述的方法，具体实现可参见方法实施例，在此不再赘述。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本发明的具体实施方式，用以说明本发明的技术方案，而非对其限制，本发明的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (11)

1.一种透镜曲率的矫正方法，其特征在于，所述方法包括：
获取目标透镜的当前表面温度；
获取与所述当前表面温度对应的矫正电压；其中，所述矫正电压为将所述目标透镜在所述当前表面温度下的形变进行矫正所需的电压；
向所述目标透镜施加所述矫正电压。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取与所述当前表面温度对应的矫正电压的步骤，包括：
从预设的关联表中查找与所述当前表面温度对应的矫正电压；其中，所述关联表中记录有目标透镜的表面温度与矫正电压的关联关系。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取所述目标透镜在预设的多个表面温度所对应的形变参数；
获取各个所述形变参数对应的矫正电压；
将与同一形变参数具有对应关系的表面温度与矫正电压建立关联关系；
基于具有关联关系的表面温度与矫正电压生成所述关联表。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取所述目标透镜在预设的多个表面温度所对应的形变参数的步骤，包括：
获取所述目标透镜在预设的多个表面温度下的实际曲率；
根据所述目标透镜的额定曲率以及所述目标透镜在各所述表面温度下的实际曲率，计算所述目标透镜在各所述表面温度所对应的形变参数。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，获取所述目标透镜在预设的多个表面温度下的实际曲率的步骤，包括：
从预设的温度区间内等间隔选取多个温度值；
将所述目标透镜的表面温度调节至选取的温度值，并获取所述目标透镜在选取的所述温度值下的实际曲率。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，获取各个所述透镜形变参数对应的矫正电压的步骤，包括：
根据杨氏方程计算各个所述透镜形变参数对应的矫正电压。
7.一种透镜曲率的矫正装置，其特征在于，所述装置包括：
温度获取模块，用于获取目标透镜的当前表面温度；
矫正电压获取模块，用于获取与所述当前表面温度对应的矫正电压；其中，所述矫正电压为将所述目标透镜在所述当前表面温度下的形变进行矫正所需的电压；
曲率矫正模块，用于向所述目标透镜施加所述矫正电压。
8.一种透镜曲率的矫正系统，其特征在于，包括：处理器和存储装置；
所述存储装置上存储有计算机程序，所述计算机程序在被所述处理器运行时执行如前述权利要求1-6任一项所述的透镜曲率的矫正方法。
9.一种光发射器，其特征在于，所述光发射器包括PCB基板和透镜，所述PCB基板上设置有温度传感器以及如权利要求8所述的透镜曲率的矫正系统；
所述温度传感器，用于探测所述透镜的当前表面温度；
所述透镜曲率的矫正系统，用于基于所述透镜的当前表面温度，向所述透镜施加矫正电压。
10.根据权利要求9所述的光发射器，其特征在于，所述光发射器还包括衍射光学元件；所述PCB基板上设置有垂直腔面发射体激光器阵列；
所述垂直腔面发射体激光器阵列、所述透镜和所述衍射光学元件依次同轴设置。
11.根据权利要求10所述的光发射器，其特征在于，所述透镜包括液体透镜、微流体透镜和压电透镜中的一种。
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