CN109541437B - 集成电路及系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种集成电路及系统，涉及电力电子技术领域，包括测试处理装置，以及与测试处理装置连接的多个功能模块；测试处理装置将接收的测试向量进行解码操作，以提取测试向量中携带的编码标识，以及，根据编码标识向对应的功能模块发送测试命令；功能模块用于接收测试命令，根据测试命令向测试处理装置反馈当前状态信息，该集成电路系统的多个功能模块在执行基本功能的同时，可根据测试向量对自身状态进行实时监测，并反馈状态信息至外部终端，无需外接测试工具和暂停集成电路系统的工作状态，即可完成对集成电路的内部功能的实时监测，具有便捷快速的优点，节约了所需的监测时间和工作量。

Description

集成电路及系统

技术领域

本发明涉及电力电子技术领域，尤其是涉及一种集成电路及系统。

背景技术

集成电路作为一种微小电子器件，是采用一定的工艺，把半导体装置、电容和电阻等元器件所构成的电路小型化的处理方式。集成电路具有体积小、寿命长、可靠性高和性能好等优点，因此，在工、民用电子设备如手机、计算机等得到了广泛的应用，同时在军事、通讯、遥控等方面也具有广泛的应用。

但是，为了保证集成电路的品质和性能，需要对集成电路的功能进行监测，现有的监测手段是采用外部测试工具对集成电路功能进行测试，主要方式是外部测试工具通过通讯接口发送控制命令至集成电路，集成电路执行控制命令获取内部功能状态，并将状态信息经通讯接口反馈至外部测试工具，外部测试工具根据得到的状态信息对集成电路的内部功能是否在正常工作进行分析判断。

采用现有的监测手段无法在集成电路工作时进行在线实时监测，需要将集成电路从原有工作系统中分离，再外接至外部测试工具上进行单个功能的监测，尤其是在对较为复杂的集成电路进行离线监测时，会消耗大量的时间，影响原工作系统的正常运行，监测的成本较高且效率较低。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种集成电路及系统，以缓解现有监测手段需要对集成电路进行离线监测，监测耗时且效率低的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种集成电路，该集成电路包括测试处理装置，以及与测试处理装置连接的多个功能模块；测试处理装置用于接收测试向量，对测试向量进行解码操作，以提取测试向量中携带的编码标识，以及，根据编码标识向对应的功能模块发送测试命令；其中，编码标识为功能模块的标识符；功能模块用于接收测试命令，根据测试命令向测试处理装置反馈当前状态信息；测试处理装置还用于将状态信息发送至外部终端。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，测试处理装置包括信号处理模块，以及与信号处理模块连接的多个测试模块，每个功能模块均通过测试模块与信号处理模块通信连接。

结合第一方面的第一种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，测试向量包括向量帧头，向量有效数据，以及向量帧尾；向量有效数据包括编码标识和测试项目标识；信号处理模块包括协议处理单元，以及与协议处理单元连接的命令产生单元和测试信息反馈单元；协议处理单元用于对接收到的测试向量进行解码操作，提取编码标识和测试项目标识；命令产生单元用于生成与测试项目标识匹配的测试命令，并将测试命令通过测试模块发送至编码标识对应的功能模块；测试信息反馈单元用于接收功能模块通过测试模块反馈的状态信息，并将状态信息发送至协议处理单元；协议处理单元还用于对状态信息进行编码操作，将编码后的状态信息发送至外部终端。

结合第一方面的第二种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，信号处理模块还包括与协议处理单元连接的缓存单元；缓存单元用于缓存状态信息，以及按照预设的功能模块的优先级将状态信息发送至协议处理单元，其中，优先级为预设在缓存单元中的，依据多个功能模块的重要程度设定的优先输出等级。

结合第一方面的第二种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，信号处理模块还包括：自动测试单元，自动测试单元与命令产生单元连接；自动测试单元用于向命令产生单元发送上电自动测试指令，以使命令产生单元根据上电自动测试指令生成上电自动测试命令，并将上电自动测试命令发送至编码标识对应的功能模块。

结合第一方面的第二种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式，其中，协议处理单元还包括系统测试接口；协议处理单元用于通过系统测试接口接收测试向量，以及经系统测试接口将状态信息输出至外部终端。

结合第一方面的第一种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第六种可能的实施方式，其中，测试模块包括命令解析单元和反馈处理模块；命令解析单元用于对测试命令进行解析，触发功能模块执行解析后的测试命令；反馈处理单元用于接收功能模块执行测试命令后反馈的状态信息，并将状态信息发送至测试处理装置。

结合第一方面的第六种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第七种可能的实施方式，其中，功能模块包括监控点和测试点；功能模块通过测试点与命令解析单元连接，以及，通过监控点与反馈处理单元连接。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第八种可能的实施方式，其中，测试处理装置还用于接收状态监控信息，其中，状态监控信息携带有所要监控的功能模块的编码标识；以及，获取编码标识对应的功能模块的状态信息，将获取的状态信息发送至外部终端。

第二方面，本发明实施例还提供一种集成电路系统，该集成电路系统包括外部终端，还包括第一方面所述的集成电路。

本发明实施例带来了以下有益效果：

本发明实施例提供的一种集成电路及系统，该集成电路包括测试处理装置，以及和测试处理装置连接的多个功能模块，测试处理装置接收测试向量，并对测试向量进行解码操作，根据提取出的测试向量中携带的编码标识，向对应的功能模块发送测试命令；功能模块根据接收的测试命令向测试处理装置反馈当前状态信息；测试处理装置接收功能模块反馈的状态信息后，将编码后的状态信息发送至外部终端。该集成电路系统的多个功能模块在执行基本功能的同时，可根据测试向量对自身状态进行实时监测，并反馈状态信息至外部终端，无需外接测试工具和暂停集成电路系统的工作状态，即可完成对集成电路的内部功能的实时监测，具有便捷快速的优点，节约了所需的监测时间和工作量。

本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种集成电路测试系统架构；

图2为本发明实施例提供的一种集成电路的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种集成电路的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种信号处理模块的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的一种测试模块和功能模块的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

通常，集成电路可以包括多个模块，每个模块可以具有独立的功能，如形成一个独立的主设备，该主设备还可以下设多个从设备等等，对于这类集成电路的功能测试，通常需要采用离线监测的方式，通过外部测试工具或者调试系统对集成电路功能进行测试。图1示出了一种集成电路测试系统架构，包括调试系统和集成电路，以该集成电路包括多个主设备和多个从设备为例进行说明，主设备与从设备之间可以通过总线互联模块通信连接。调试系统包括调试接口，通过该调试接口连接外部终端等上位机，实现对集成电路的功能测试。

但是图1所示的测试系统架构难以在集成电路工作时进行在线实时监测，导致监测效率较低。基于此，本发明实施例提供的一种集成电路及系统，可以对集成电路进行在线监测，以提高监测效率。

为便于对本实施例进行理解，首先对本发明实施例所公开的一种集成电路进行详细介绍，

实施例一：

本发明实施例提供了一种集成电路，图2示出了一种集成电路的结构示意图，该集成电路包括测试处理装置20，以及与测试处理装置连接的多个功能模块10，其中，为了便于说明，图2中仅仅示出了两个功能模块，具体实现时，该功能模块的数量可以根据实际使用情况进行设置，本发明实施例对此不进行限制。

具体实现时，上述测试处理装置用于接收测试向量，对测试向量进行解码操作，以提取测试向量中携带的编码标识，以及，根据编码标识向对应的功能模块发送测试命令；功能模块用于接收测试命令，根据测试命令向测试处理装置反馈当前状态信息；进一步，测试处理装置还用于将状态信息发送至外部终端。

在实际应用中，上述测试向量通常是外部终端输入的测试向量，对集成电路的各个功能模块进行测试，为了避免遗漏测试向量中的有用信息，保护测试向量的有效性，上述测试向量可以包括向量帧头，向量有效数据，以及向量帧尾；上述编码标识和测试项目标识可以存储在向量有效数据中。其中，该编码标识通常为功能模块的标识符；上述测试处理装置可以根据上述测试项目标识生成与测试项目标识匹配的测试命令。具体地，测试处理装置通过识别向量帧头，触发对测试向量的接收功能，以及通过识别向量帧尾，停止对测试向量的接收工作，具体向量帧头和向量帧尾的帧格式、匹配方式，可以根据实际情况进行设定，本发明实施例对此不进行限制。

进一步，上述测试处理装置在接收测试向量后，对测试向量进行解码操作，以获得测试向量中向量有效数据，具体的测试向量解码方式，可以根据实际情况设定，本发明实施例对此不进行限制。

值得说明的是，外部终端或功能模块均可发出测试向量，用于触发集成电路的功能测试。具体地，测试处理装置时刻查询外部终端发送的信号，以及功能模块的输出信号，上述测试处理装置中预设置向量帧头和向量帧尾，当检测到信号的帧头与预设置的向量帧头相匹配时，接收该信号，并当检测到信号的帧尾与预设置的向量帧尾相匹配时，停止继续接收信号。

进一步，在上述集成电路的工作过程中，功能模块还根据运行需要，会对自身状态或其他功能模块的状态进行测试，具体地，功能模块将测试向量发送至测试处理装置，用于进行状态测试。该测试向量可以预先存储在对应的功能模块中。此外，功能模块还用于执行上述集成电路的各个功能，其中，具体功能模块的个数以及可实现的功能，根据实际情况进行设定，本发明实施例对此不进行限制。

本发明实施例提供的一种集成电路，该集成电路包括测试处理装置，以及和测试处理装置连接的多个功能模块，测试处理装置接收测试向量，并对测试向量进行解码操作，根据提取出的测试向量中携带的编码标识，向对应的功能模块发送测试命令；功能模块根据接收的测试命令向测试处理装置反馈当前状态信息；测试处理装置接收功能模块反馈的状态信息后，将编码后的状态信息发送至外部终端。该集成电路系统的多个功能模块在执行基本功能的同时，可根据测试向量对自身状态进行实时监测，并反馈状态信息至外部终端，无需外接测试工具和暂停集成电路系统的工作状态，即可完成对集成电路的内部功能的实时监测，具有便捷快速的优点，节约了所需的监测时间和工作量。

通常，集成电路包括多个功能模块，各个功能模块的功能运行命令以及测试命令均不同，为了便于对不同的功能模块进行互不影响的状态监测，测试处理装置还包括信号处理模块，以及与该信号处理模块连接的多个测试模块，每个功能模块均通过测试模块与信号处理模块通信连接。

在图2所示的集成电路的基础上，本发明实施例还提供了另一种集成电路，如图3所示的另一种集成电路的结构示意图，该集成电路包括信号处理模块202，以及多个测试模块40，其中，功能模块可以为图1所示的集成电路中的主设备、从设备以及总线互连模块。为了便于说明，图3中仅仅示出了两个测试模块，具体实现时，该测试模块的数量可以根据实际使用情况进行设置，本发明实施例对此不进行限制。

进一步，由于接收到的测试向量包括向量帧头、向量有效数据，以及向量帧尾；为了提取向量有效数据，图4示出了一种信号处理模块的结构示意图，该信号处理模块还包括协议处理单元204，以及与协议处理单元连接的命令产生单元206和测试信息反馈单元208，其中，图4所示的实线信号流向为测试向量的流向，虚线信号流向为状态信息的流向。

上述协议处理单元用于对接收到的测试向量进行解码操作，提取编码标识和测试项目标识；具体地，该协议处理单元解码获得测试向量中的向量有效数据，并将向量有效数据中的编码标识和测试项目标识发送至命令产生单元，以便于命令产生单元根据编码标识和测试项目标识触发对应的测试模块。

上述命令产生单元用于生成与测试项目标识匹配的测试命令，并将测试命令通过测试模块发送至编码标识对应的功能模块；具体地，该命令产生单元接收协议处理单元发送的编码标识和测试项目标识，根据编码标识锁定需要测试的功能模块及与该功能模块通信连接的测试模块，以及将所生成的与测试项目标识匹配的测试命令发送至测试模块，以便于触发测试模块对功能模块进行测试。

上述测试信息反馈单元用于接收功能模块通过测试模块反馈的状态信息，并将状态信息发送至协议处理单元。

上述协议处理单元还用于对状态信息进行编码操作，将编码后的状态信息发送至外部终端；具体地，为了确保能将状态信息完整无误地发送至外部终端，该协议处理单元还用于将测试信息反馈单元发送的状态信息按着预设的输出帧格式进行编码处理，并将编码后的状态信息输出至外部终端，即按着预设置的状态帧头和状态帧尾，在状态信息的前端增加状态帧头，同时在状态信息的尾端增加状态帧尾，完成对状态的编码处理。具体的状态帧头和状态帧尾的组成方式和编码方式，可以根据实际情况设定，本发明实施例对此不进行限制。

在实际应用时，为了在集成电路初始上电状态下，以确保该集成电路各个功能的良好性，需要对集成电路的内部功能进行自动测试，因此，信号处理模块还包括自动测试单元，如图4所示的自动测试单元210，该自动测试单元与命令产生单元连接；自动测试单元用于向命令产生单元发送上电自动测试指令，以使命令产生单元根据上电自动测试指令生成上电自动测试命令，并将上电自动测试命令发送至编码标识对应的功能模块。

具体实现时，上述自动测试单元包括预设测试顺序和预设的上电自动测试指令，集成电路上电后，该自动测试单元按照预设测试顺序依次将预设的上电自动测试指令发送至命令产生单元，命令产生单元根据上电自动测试指令生成上电自动测试命令。

以该集成电路包括两个功能模块，每个功能模块包括两个测试点为例进行说明，该集成电路在上电自动测试时，采用逐一测试的测试方法对依次对第一功能模块和第二功能模块进行测试，其中，在对第一功能模块进行测试时，依次对第一个测试点和第二个测试点进行测试，在对第二功能模块进行测试时，依次对第三个测试点和第四个测试点进行测试。每次待测试点的状态信息反馈完成后，自动测试单元对命令产生单元发起新的上电自动测试指令。

具体的集成电路的功能模块及测试点的个数，以及，各个功能模块的测试顺序和对应的测试点测试顺序，均是由实际情况而定的，本发明实施例对此不进行限制。值得说明的是，测试顺序可以为逐一测试，也可以为同步测试。值得说明的是，集成电路的自动测试单元可由上电触发启动，也可由外部终端触发启动，具体的触发启动的方式，可以根据实际情况进行设定，本发明实施例对此不进行限制。

通常，集成电路与外部终端需要经系统测试接口进行数据传输，因此，协议处理单元还包括系统测试接口，如图4所示的系统测试接口212。具体地，协议处理单元用于通过系统测试接口接收测试向量，以及经系统测试接口将状态信息输出至外部终端。具体地，系统测试接口类型可以为JIAG(Joint Test Action Group，联合测试工作组)、UART(UniversalAsynchronous Receive Transmitter，通用串口接收器)、IIC(Inter IntegratedCircuit，集成电路总线)或SPI(Serial Peripheral Interface，同步外设接口)等类型的串行接口或COM等类型的多个并行接口，具体的系统测试接口类型，根据实际情况进行设定，本发明实施例对此不进行限制。

此外，上述集成电路内部各个模块及单元之间进行通信时，各个模块及单元之间的通讯接口类型可以为JTAG、UART、IIC或SPI串行接口或COM多个并行接口，具体的通讯接口类型，根据实际情况进行设定，本发明实施例对此不进行限制。

进一步，信号处理模块在完成对状态的编码后，将状态信息经测试处理装置的系统测试接口发送至外部终端，由于系统测试接口的数量有限，而功能模块发送至信号处理模块的状态信息可能为一个或多个，为了避免状态信息在通讯传输过程出现拥堵甚至错误，信号处理模块还包括与协议处理单元连接的缓存单元，如图4所示的缓存单元214，该缓存单元用于缓存状态信息，以及按照预设的功能模块的优先级将状态信息发送至协议处理单元。

其中，缓存单元中预设了各个功能模块的优先级，该优先级是依据多个所述功能模块的重要程度设定的优先输出等级。具体实现时，缓存单元将接收到的各个状态信息进行缓存，并根据状态信息携带的编码标识，确定发出该状态信息的工作模块，缓存单元根据上述的预设定的状态优先级，将优先级高的状态信息经协议处理单元编码后从系统测试接口发送至外部终端。

进一步，缓存单元发送到协议处理单元的状态信息的个数可以为一个或者多个，具体的状态信息的个数与系统测试接口的个数及允许同时输出信息的最大量有关，具体状态信息的个数、系统测试接口的个数以及系统测试接口允许同时输出信息的最大量可以根据实际情况进行设定，本发明实施例对此不进行限制。

由于每个功能模块包括多个测试点和监测点，每个测试点都对应于功能模块的某个信号或状态，为了获悉测试命令中所要求测试的具体测试点，测试模块需要对测试命令进行进一步解析操作，图5示出了一种测试模块和功能模块的结构示意图。其中，图5所示的测试模块40包括命令解析单元402和反馈处理模块404，该命令解析单元用于对测试命令进行解析，触发功能模块执行解析后的测试命令；该反馈处理单元用于接收功能模块执行测试命令后反馈的状态信息，并将状态信息发送至测试处理装置。进一步，功能模块通过测试点T2与命令解析单元连接，以及，通过监控点T1与反馈处理单元连接。具体实现时，各个功能模块所包括的监测点和测试点的具体个数，可以根据实际情况进行设定，本发明实施例对此不进行限制。

具体地，上述命令解析单元对接收到的测试命令进行解析，提取该测试命令所包含的功能模块的测试位置信息，将该测试位置信息与功能模块对应的测试点相匹配，并触发功能模块对该测试点的状态进行测试，其中，功能模块通过测试点与命令解析单元连接。进一步，功能模块在执行基本功能时，可能会存在影响测试点状态的情况，因此，在触发功能模块对该测试点的状态进行测试的过程中，命令解析模块还可能对功能模块发出干预命令，用于对功能模块正在执行的基本功能进行干预。具体地，干预命令可以预先存储在命令解析模块中，也可以由命令解析模块从测试命令中提取获得，具体干预命令的获得方式可以根据实际情况进行设定，本发明实施例对此不进行限制。

上述反馈处理单元用于接收功能模块执行测试命令后反馈的状态信息，并将状态信息发送至测试处理装置，其中，功能模块通过监控点与反馈处理单元连接。具体实现时，监控点接收测试点发送的状态信息，并将该功能模块的编码标识及状态信息一同发送至测试处理装置，以便于测试处理装置对该功能模块的编码标识及状态信息进行编码。

进一步，测试处理装置还用于接收状态监控信息，其中，状态监控信息携带有所要监控的功能模块的编码标识；以及，获取编码标识对应的功能模块的状态信息，将获取的状态信息发送至外部终端。

功能模块还用于接收测试处理装置从状态监控信息中所提取的监控命令，根据该监控命令对对应的测试点的状态信息进行不间断监控，以及判断测试点的状态信息是否在预设状态阈值内，如果否，则将该状态信息经监控点发送至测试处理装置。其中，状态阈值为测试点的安全运行范围。

缓存单元还可以对超过预设状态阈值的状态信息进行插队操作，即优先输出超过预设状态阈值的状态信息，进行状态预警。缓存单元对各个状态信息的具体发送顺序等可以根据实际需要进行设定，本发明实施例对此不进行限制。

进一步，测试处理装置还用于接收暂停监控信息，其中，暂停监控信息携带有所要暂停监控的功能模块的编码标识。功能模块还用于接收测试处理装置从暂停监控信息中所提取的暂停命令，根据该暂停命令，停止对对应的测试点进行的监控操作。

综上，本发明实施例提供的集成电路系统具有以下有益效果：

(1)测试模块可以在功能模块工作状态下进行监测，不影响集成电路的正常工作，具有高效性；

(2)无需外接测试工具，可以随时随地进行集成电路功能的状态监测，具有便捷性；

(3)具有上电自动测试功能，以确保集成电路处于正常状态，保证了集成电路的使用安全性；

(4)采用监控方式可以对功能模块的状态信息进行不间断监控，并对非状态阈值内的情况进行预警，可以使监控人员及时针对预警情况进行集成电路的硬件状态分析。

(5)将集成电路的功能以模块化进行划分，便于监测人员根据非正常状态信息立即锁定非正常工作的功能模块，具有维修便捷性。

实施例二：

在上述实施例的基础上，本发明实施例还提供了一种集成电路系统，该集成电路系统包括外部终端，还包括上述实施例所述的集成电路。

本发明实施例提供的集成电路系统，与上述实施例提供的集成电路具有相同的技术特征，所以也能解决相同的技术问题，达到相同的技术效果。

本发明实施例所提供的集成电路系统，其实现原理及产生的技术效果和前述集成电路的实施例相同，为简要描述，系统实施例部分未提及之处，可参考前述实施例中相应内容。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的集成电路系统的具体工作过程，可以参考前述集成电路方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的集成电路及系统，可以通过其它的方式实现。以上所描述的集成电路及系统实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

最后应说明的是：以上实施例，仅为本发明的具体实施方式，用以说明本发明的技术方案，而非对其限制，本发明的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种集成电路，其特征在于，包括：测试处理装置，以及与所述测试处理装置连接的多个功能模块；

所述测试处理装置用于接收测试向量，对所述测试向量进行解码操作，以提取所述测试向量中携带的编码标识，以及，根据所述编码标识向对应的所述功能模块发送测试命令；其中，所述编码标识为所述功能模块的标识符；

所述功能模块用于接收所述测试命令，根据所述测试命令向所述测试处理装置反馈当前状态信息；

所述测试处理装置还用于将所述状态信息发送至外部终端；

所述测试处理装置包括信号处理模块，以及与所述信号处理模块连接的多个测试模块，每个所述功能模块均通过所述测试模块与所述信号处理模块通信连接；

所述测试向量包括向量帧头，向量有效数据，以及向量帧尾；所述向量有效数据包括所述编码标识和测试项目标识；

所述信号处理模块包括协议处理单元，以及与所述协议处理单元连接的命令产生单元和测试信息反馈单元；

所述协议处理单元用于对接收到的所述测试向量进行解码操作，提取所述编码标识和所述测试项目标识；

所述命令产生单元用于生成与所述测试项目标识匹配的所述测试命令，并将所述测试命令通过所述测试模块发送至所述编码标识对应的所述功能模块；

所述测试信息反馈单元用于接收所述功能模块通过所述测试模块反馈的所述状态信息，并将所述状态信息发送至所述协议处理单元；

所述协议处理单元还用于对所述状态信息进行编码操作，将编码后的所述状态信息发送至外部终端。

2.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述信号处理模块还包括与所述协议处理单元连接的缓存单元；

所述缓存单元用于缓存所述状态信息，以及按照预设的所述功能模块的优先级将所述状态信息发送至所述协议处理单元，其中，所述优先级为预设在所述缓存单元中的，依据多个所述功能模块的重要程度设定的优先输出等级。

3.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述信号处理模块还包括：自动测试单元，所述自动测试单元与所述命令产生单元连接；

所述自动测试单元用于向所述命令产生单元发送上电自动测试指令，以使所述命令产生单元根据所述上电自动测试指令生成上电自动测试命令，并将所述上电自动测试命令发送至所述编码标识对应的所述功能模块。

4.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述协议处理单元还包括系统测试接口；

所述协议处理单元用于通过所述系统测试接口接收所述测试向量，以及经所述系统测试接口将所述状态信息输出至所述外部终端。

5.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述测试模块包括命令解析单元和反馈处理模块；

所述命令解析单元用于对所述测试命令进行解析，触发所述功能模块执行解析后的所述测试命令；

所述反馈处理单元用于接收所述功能模块执行所述测试命令后反馈的所述状态信息，并将所述状态信息发送至所述测试处理装置。

6.根据权利要求5所述的集成电路，其特征在于，所述功能模块包括监控点和测试点；

所述功能模块通过所述测试点与所述命令解析单元连接，以及，通过所述监控点与所述反馈处理单元连接。

7.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述测试处理装置还用于接收状态监控信息，其中，所述状态监控信息携带有所要监控的功能模块的编码标识；以及，

获取所述编码标识对应的所述功能模块的状态信息，将获取的所述状态信息发送至所述外部终端。

8.一种集成电路系统，其特征在于，所述系统包括外部终端，还包括权利要求1～7任一项所述的集成电路。

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