CN109540943A - 一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台 - Google Patents

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Abstract

一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台，包括薄板、黏土块以及金属管，其中，薄板为圆形板，外径大于金属管的内径，薄板的中央处设有小孔；黏土块置于金属管中；使用时，将待检测样本置于黏土块上，并将薄板盖于待检测样本上，通过薄板上的小孔对待检测样本进行检测；通过本发明的实施，合理的配置薄板与金属管的相对位置，并将待检测的零件通过黏土块置于薄板的小孔下，使检测时的待检测物体表面只有中心小孔区域的试样面参与衍射，消除了非中心的衍射；试样压平在样品台后，每次高度都不变化，不需要高度调整，以上两方面的共同作用，大大提高了单晶取向检测的精度，提高了检测工作的效率。

Description

一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台
技术领域
本发明属于检测技术领域，具体涉及一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台。
背景技术
X射线衍射法是检测材料晶体结构的主要手段，目前应用多晶衍射仪进行单晶取向检测的方法已有研究报道，较Laue法有过程简单、周期短，能够满足生产大量单晶取向检测的需要。多晶衍射仪进行单晶取向检测时，需要配备旋转装置对晶体进行旋转，以使晶体在旋转至某一角度时满足布拉格衍射条件，在接收器接受到衍射信号，获得衍射谱图，最后计算出取向角度，这种方法通常称为旋转晶体法。旋转法检测单晶取向的精度与旋转装置的设计密切相关，该装置包括旋转台和样品台，样品台由上、下面平行的金属条和橡皮泥组成，使用时将试样压平固定在金属条上，再将此样品台固定在旋转台上，每次都需要将试样检测面调整至设备检测面，检测效率和精度较低。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供了一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台。
本发明通过以下技术方案得以实现。
本发明提供的一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台，包括薄板、黏土块以及金属管，其中，薄板为圆形板，外径大于金属管的内径，薄板的中央处设有小孔；黏土块置于金属管中；使用时，将待检测样本置于黏土块上，并将薄板盖于待检测样本上，通过薄板上的小孔对待检测样本进行检测。
进一步的，所述薄板为金属薄板。
进一步的，所述薄板中央处设置的小孔的孔径大小为3-10mm。
进一步的，所述薄板的外径大小与金属管的外径大小相同。
进一步的，所述金属管的上下两端面相互平行。
进一步的，所述薄板的厚度为0.1-1mm。
进一步的，所述黏土块使用橡皮泥制成。
进一步的，将待检测样本置于黏土块上时，通过挤压黏土块使待检测样本的上表面与金属管的上端面平齐。
本发明的有益效果在于：通过本发明的实施，合理的配置薄板与金属管的相对位置，并将待检测的零件通过黏土块置于薄板的小孔下，使检测时的待检测物体表面只有中心小孔区域的试样面参与衍射，消除了非中心的衍射；试样压平在样品台后，每次高度都不变化，不需要高度调整，以上两方面的共同作用，大大提高了单晶取向检测的精度，提高了检测工作的效率。
附图说明
图1是本发明的结构示意图；
图中：1-薄板，2-待检测样本，3-黏土块，4-金属管。
具体实施方式
下面进一步描述本发明的技术方案，但要求保护的范围并不局限于所述。
如图1所示，一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台，包括薄板1、黏土块3以及金属管4，其中，薄板1为圆形板，外径大于金属管4的内径，薄板1的中央处设有小孔；黏土块3置于金属管4中；使用时，将待检测样本2置于黏土块3上，并将薄板1盖于待检测样本2上，通过薄板1上的小孔对待检测样本进行检测。
进一步的，所述薄板1为金属薄板。
进一步的，所述薄板1中央处设置的小孔的孔径大小为3-10mm。
进一步的，所述薄板1的外径大小与金属管4的外径大小相同。
进一步的，所述金属管4的上下两端面相互平行。
进一步的，所述薄板1的厚度为0.1-1mm。
进一步的，所述黏土块3使用橡皮泥制成。
进一步的，将待检测样本2置于黏土块3上时，通过挤压黏土块3使待检测样本2的上表面与金属管4的上端面平齐。
现有的多晶衍射仪增加可升降旋转台后，将试样压平固定在金属条上，再将带样品的金属条固定在旋转台上，由于试样每次压平后高度不固定，每次都需要将试样检测面调整至设备检测面。这样的方法，试样检测面的区域大小不固定，研究表明非中心区域的衍射会造成检测的谱峰宽化，从而影响检测精度；其次，每次高度的定位误差影响精度，高度调整操作影响检测的效率。
使用本发明的样品台后，只有中心小孔区域的试样面参与衍射，消除了非中心的衍射；待检测样本2压平在样品台后，每次高度都不变化，不需要(或只需定期校验调整)高度调整，以上两方面的共同作用，提高了单晶取向检测精度和效率。

Claims (8)

1.一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台，其特征在于：包括薄板(1)、黏土块(3)以及金属管(4)，其中，薄板(1)为圆形板，外径大于金属管(4)的内径，薄板(1)的中央处设有小孔；黏土块(3)置于金属管(4)中；使用时，将待检测样本(2)置于黏土块(3)上，并将薄板(1)盖于待检测样本(2)上，通过薄板(1)上的小孔对待检测样本进行检测。
2.如权利要求1所述的提高单晶取向检测精度和效率的样品台，其特征在于：所述薄板(1)为金属薄板。
3.如权利要求1所述的提高单晶取向检测精度和效率的样品台，其特征在于：所述薄板(1)中央处设置的小孔的孔径大小为3-10mm。
4.如权利要求1所述的提高单晶取向检测精度和效率的样品台，其特征在于：所述薄板(1)的外径大小与金属管(4)的外径大小相同。
5.如权利要求1所述的提高单晶取向检测精度和效率的样品台，其特征在于：所述金属管(4)的上下两端面相互平行。
6.如权利要求1所述的提高单晶取向检测精度和效率的样品台，其特征在于：所述薄板(1)的厚度为0.1-1mm。
7.如权利要求1所述的提高单晶取向检测精度和效率的样品台，其特征在于：所述黏土块(3)使用橡皮泥制成。
8.如权利要求1所述的提高单晶取向检测精度和效率的样品台，其特征在于：将待检测样本(2)置于黏土块(3)上时，通过挤压黏土块(3)使待检测样本(2)的上表面与金属管(4)的上端面平齐。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201096732Y (zh) * 2007-08-24 2008-08-06 比亚迪股份有限公司 一种x射线衍射样品架
CN202453307U (zh) * 2011-12-27 2012-09-26 国家纳米技术与工程研究院 一种适合x射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台
CN203037596U (zh) * 2013-01-21 2013-07-03 山东轻工业学院 X射线衍射仪样品台
CN203053897U (zh) * 2013-01-12 2013-07-10 山东轻工业学院 X射线衍射仪块状样品台
CN203606306U (zh) * 2013-11-12 2014-05-21 中国石油大学(北京) 一种适用于50mm×10mm×3mm挂片的X射线衍射实验装置
CN107525817A (zh) * 2016-06-15 2017-12-29 株式会社理学 X射线衍射装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201096732Y (zh) * 2007-08-24 2008-08-06 比亚迪股份有限公司 一种x射线衍射样品架
CN202453307U (zh) * 2011-12-27 2012-09-26 国家纳米技术与工程研究院 一种适合x射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台
CN203053897U (zh) * 2013-01-12 2013-07-10 山东轻工业学院 X射线衍射仪块状样品台
CN203037596U (zh) * 2013-01-21 2013-07-03 山东轻工业学院 X射线衍射仪样品台
CN203606306U (zh) * 2013-11-12 2014-05-21 中国石油大学(北京) 一种适用于50mm×10mm×3mm挂片的X射线衍射实验装置
CN107525817A (zh) * 2016-06-15 2017-12-29 株式会社理学 X射线衍射装置

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