CN109521458A - 防辐射性能的测试装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种防辐射性能的测试装置和方法。该装置包括:支撑件,支撑件以能够透过电磁波的材料制成,并具有预设规则形状,支撑件的两个相对的端面具有通孔,通孔的面积与端面的面积成预设比例,支撑件的外表面包覆有待测试的电磁屏蔽材料。根据本发明实施例提供的技术方案,可以测量具有形状结构的防电磁辐射产品的防辐射性能。
Description
技术领域
本发明涉及防电磁辐射技术领域,尤其涉及一种防辐射性能的测试装置和方法。
背景技术
随着电子工业的迅速发展,微波炉、冰箱和电脑等电器以及仪器设备等电子产品的普及与应用,电磁辐射的覆盖已经深入到人类生活的各个方面。特别是手机的迅猛发展,使得人们在日常生活中接触的电磁辐射从兆赫兹扩展到GHz(吉赫兹),在人们充分享受电气化时代方便与舒适的同时,也日渐感受到电磁辐射的危害。
在前述背景下,诸如电磁炉等家电产品虽然具有防电磁辐射的作用,但是应该注意的是,采用反射法进行防电磁辐射对于主动型辐射源的屏蔽效能较差,而采用吸收法进行防电磁辐射更具优势。我国评价民用防辐射产品的标准一般采用标准《SJ20524-1995材料屏蔽效能的测量方法》,但是该标准主要是针对材料采用法兰同轴测试装置,测量的结果是试样对垂直入射平面电磁波的屏蔽效能,而对于具有形状结构的民用防电磁辐射产品的防辐射性能,则没有具体的测量装置。
综上所述,现有技术中没有具体的测量装置,可以测量具有形状结构的防电磁辐射产品的防辐射性能。
发明内容
本发明实施例提供了一种防辐射性能的测试装置和方法,可以测量具有形状结构的防电磁辐射产品的防辐射性能。
第一方面,本发明实施例提供了一种防辐射性能的测试装置,装置包括:
支撑件,所述支撑件以能够透过电磁波的材料制成,并具有预设规则形状,所述支撑件的两个相对的端面具有通孔,所述通孔的面积与所述端面的面积成预设比例,所述支撑件的外表面包覆有待测试的电磁屏蔽材料。
根据本发明所述的防辐射性能的测试装置,所述能够透过电磁波的材料包括工程塑料、聚四氟乙烯或聚乙烯。
根据本发明所述的防辐射性能的测试装置,所述预设规则形状包括正方体、圆筒和长方体,所述通孔的形状取决于所述端面的形状,其中所述通孔的形状包括正方形、圆形和长方形。
根据本发明所述的防辐射性能的测试装置,所述正方体的长宽高均为100毫米,所述圆形的直径为5mm。
根据本发明所述的防辐射性能的测试装置,所述装置还包括:
电磁波发射组件,设置于所述支撑件外部;
电磁波接收组件,设置于所述支撑件内部。
根据本发明所述的防辐射性能的测试装置,所述电磁波发射组件和所述电磁波接收组件分别同向和反向放置,并且所述电磁波发射组件和所述支撑件之间的距离为0.2-1.0米;并且
所述电磁波发射组件、所述电磁波接收组件和所述通孔的中心线位于一条直线上。
根据本发明所述的防辐射性能的测试装置,所述装置还包括:
环状样品,所述环状样品以所述待测试的电磁屏蔽材料制成;
矢量网络分析仪,用于测量所述环状样品的防辐射性能;
其中,所述环状样品的内径为2-5毫米,外径为5-10毫米,所述环状样品的厚度为2-4毫米。
根据本发明所述的防辐射性能的测试装置,矢量网络分析仪还用于根据所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值与所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值,获取包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能。
第二方面,本发明实施例提供了一种防辐射性能的测试方法,方法包括:
获取具有预设规则形状的支撑件,其中,所述支撑件为腔体,所述支撑件以能够透过电磁波的材料制成,所述支撑件的两个相对的端面具有通孔,所述通孔的面积与所述端面的面积成预设比例;
在所述支撑件内部放置电磁波接收组件,在所述支撑件外部放置电磁波发射组件,在所述支撑件的外表面包覆待测试的电磁屏蔽材料;
根据所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值和所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值,获取包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,根据所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值和所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值,获取包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能,包括:
将所述电磁波接收组件和所述电磁波发射组件分别同向和反向放置,并分别测量同向和反向放置时所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值、和所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值;
根据所述同向和反向放置时所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值、和所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值,获取包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,所述根据所述同向和反向放置时所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值、和所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值,获取包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能,包括:
根据所述同向和反向放置时所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值、和所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值,获取所述电磁波接收组件和所述电磁波发射组件分别同向和反向放置时的屏蔽效能;
基于所述电磁波接收组件和所述电磁波发射组件分别同向和反向放置时的屏蔽效能,计算同向和反向放置时的两个屏蔽效能绝对值之和的平均值,作为最终测量结果;
基于所述最终测量结果,获取包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能;其中,
所述屏蔽效能为所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值与所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值之间的比值。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,放置时,所述电磁波发射组件、所述电磁波接收组件和所述通孔的中心线位于一条直线上。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,所述预设规则形状包括正方体、圆筒和长方体,所述通孔的形状取决于所述端面的形状,其中所述通孔的形状包括正方形、圆形和长方形。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,所述正方体的长宽高均为100毫米,所述圆形的直径为5mm。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,所述能够透过电磁波的材料包括工程塑料、聚四氟乙烯或聚乙烯,所述预设比例为1%-6%。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,方法还包括:
对未包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能进行测量,以比较包裹所述电磁屏蔽材料前后电磁波的衰减情况。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,方法还包括:
将所述待测试的电磁屏蔽材料制成环状样品,利用同轴法,对所述环状样品进行防电磁辐射测量,得到所述环状样品的防辐射性能。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,
基于所述环状样品的防辐射性能、和所述包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能,根据预设权重,获取总体的防辐射性能。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,所述环状样品的内径为2-5毫米,外径为5-10毫米。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,所述利用同轴法,对所述环状样品进行防电磁辐射测量,得到所述环状样品的防辐射性能,包括:
当所述环状样品的厚度薄于预设厚度时,将所述环状样品叠加至所述预设厚度;
利用同轴法,基于矢量网络分析仪,对所述环状样品进行防辐射测量,所述环状样品的尺寸取决于所述矢量网络分析仪的卡具尺寸。
根据本发明所述的防辐射性能的测试方法,所述预设厚度为2-4毫米。
本发明实施例提供的防辐射性能的测试装置和方法,可以测量具有形状结构的防电磁辐射产品的防辐射性能。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了本发明实施例的防辐射性能的测试方法的流程示意图;
图2示出了本发明实施例的同轴法测量材料的防辐射性能的示意图;
图3示出了本发明实施例的屏蔽盒法采用的支撑件的结构示意图;
图4示出了本发明实施例的屏蔽盒法测量支撑件的屏蔽效能的示意图;
图5示出了本发明实施例的镀FeNi防辐射布料的同轴检测结果;
图6示出了本发明实施例的采用非晶粉作为吸波剂的防辐射涂料的同轴检测结果。
具体实施方式
下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例,为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细描述。应理解,此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明,并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说,本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本发明一实施例可提供一种防辐射性能的测试方法,参考图1,图1示出了本发明实施例的防辐射性能的测试方法100的流程示意图,该方法包括:
S110,获取具有预设规则形状的支撑件;其中,支撑件为腔体,支撑件以能够透过电磁波的材料制成,支撑件的两个相对的端面具有通孔,通孔的面积与端面的面积成预设比例;
S120,在支撑件内部放置电磁波接收组件,在支撑件外部放置电磁波发射组件,在支撑件的外表面包覆待测试的电磁屏蔽材料;
S130,根据电磁波接收组件的电磁辐射值和电磁波发射组件的电磁辐射值,获取包覆有待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能。
利用本发明提供的上述方案,通过在支撑件外表面包覆待测试的电磁屏蔽材料,并根据电磁波接收组件接收的电磁辐射值和电磁波发射组件发射的电磁辐射值,可以测量具有形状结构的防电磁辐射产品的防辐射性能。
下面对本发明采用的同轴法和屏蔽盒法的原理进行介绍,具体如下:
<同轴法测量材料的屏蔽效能>
参考图2,图2示出了本发明实施例的同轴法测量材料的防辐射性能的示意图。
如图2所示,将待测试的电磁屏蔽材料加工成环状样品,利用同轴法,基于矢量网络分析仪,对环状样品进行防电磁辐射测量,得到环状样品的防辐射性能。
其中,该环状样品的尺寸(例如,外径)取决于矢量网络分析仪的卡具尺寸,并且,环状样品的内径形状和尺寸分别取决于如图2所示的插入环状样品中的同轴法测试所采用的轴的形状和尺寸,这是为了防止环状样品与同轴法测试采用的轴之间产生空隙,影响测量结果的精确度。
作为一个示例,环状样品的外径为5-10mm,例如7mm、8mm,环状样品的内径为2-5毫米(mm),例如3mm。
应该注意的是,如果待测环状样品比较薄,可以将环状样品多片叠加至预设厚度,其中预设厚度可以为2-4mm,例如3mm。这是由于如果太薄,会导致电磁波直接穿过环状样品,如果太厚,将导致电磁波基本不透过环状样品,上述两种情况下,均无法测量材料的防辐射性能。综上,需要将环状样品的厚度设置在预设厚度之内,以提高测量结果的准确度。
将环状样品的截面垂直于电磁波传播方向、并且与电场和磁场方向平行放置,通过矢量网络分析仪或者其他能够测量入射电磁波衰减的仪器,对电磁屏蔽材料的防辐射性能进行测量,测量得到材料的屏蔽效能,其中屏蔽效能为电磁辐射原值与穿过环状样品发生衰减的电磁辐射值之间的比值。
如图2所示,电磁波传播方向为箭头方向(即横坐标方向)。图2中的两条曲线,其中一条为磁场变化曲线,另一条为电场变化曲线。电磁波为电场和磁场相互变化的一种波动,电场和磁场相互垂直,同时电场和磁场方向与传播方向垂直,本发明实施例的测量基于电磁波入射方向,与环状样品的截面垂直,并且电场和磁场与环状样品的截面平行。
<屏蔽盒法测量支撑件的屏蔽效能>
参考图3和图4,其中图3示出了本发明实施例的屏蔽盒法采用的支撑件的结构示意图,图4示出了本发明实施例的屏蔽盒法测量支撑件的屏蔽效能的示意图。
参考图3,采用对电磁波能够透过的塑料或者聚四氟乙烯、聚乙烯等聚合物,制备具有预设规则形状的支撑件,支撑件的预设规则形状可以为正方体、圆筒和长方体。在一个实施例中,如3a所示,支撑件可以为长宽高均为100毫米(100mm*100mm*100mm)的正方体。在另一实施例中,如3b所示,支撑件可以为圆筒。
其中,支撑件为腔体,支撑件的两个相对的端面具有通孔。在一个实施例中,如图3所示,通孔可以为直径为5mm的圆形,通孔的形状均为圆形仅是示例性的。在其他实施例中,通孔的形状取决于端面的形状,换句话说,端面的形状与通孔的形状一一对应,当端面形状为正方形时,通孔的形状也为正方形。在其他实施例中,通孔的形状可以为圆形、长方形等。
此外,通孔的面积与端面的面积成预设比例,预设比例为1%-6%,例如3%、4%等。
参考图4,在支撑件的外表面包覆待测试的电磁屏蔽材料,在支撑件内部放置电磁波接收组件(例如接收天线),在支撑件外部放置电磁波发射组件(例如发射天线)。
将接收天线和发射天线分别同向和反向放置,使得接收天线、发射天线、和两个通孔的中心线位于一条直线上。并分别测量同向(如4a所示)和反向(如4b所示)放置时发射天线发射的电磁辐射值、和接收天线接收的电磁辐射值。
根据发射天线发射的电磁辐射值、和接收天线接收的穿过包覆有电磁屏蔽材料的支撑件发生衰减的电磁辐射值,获取接收天线和发射天线分别同向和反向放置时的屏蔽效能,其中,屏蔽效能为发射天线发射的电磁辐射值与接收天线接收的电磁辐射值之间的比值。
基于接收天线和发射天线分别同向和反向放置时的屏蔽效能,计算同向和反向放置时的两个屏蔽效能绝对值之和的平均值,作为最终测量结果,进而获取包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能。
其中,发射天线和支撑件之间的距离为0.2-1.0米。在一个实施例中,在距离支撑件0.5米的地方放置发射天线。
矢量网络分析仪,用于接收电磁波和发射电磁波,并根据发射的电磁波与接收的电磁波,获取包覆有待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能;发射天线的作用是将矢量网络分析仪发出的电磁波通过发射天线发射出去,而通过接收天线接收的电磁波,再通过诸如电缆传入矢量网络分析仪。
应该注意的是,在支撑件上包裹的电磁屏蔽材料的状态与在防辐射产品上使用的状态一致,从而能够更准确的评价防电磁辐射产品的防电磁辐射性能。
此外,相同材质和尺寸的支撑件至少有两个,用于比较包裹防电磁辐射产品前后电磁波的衰减。
通过本发明的上述方案,通过采用屏蔽盒法测量支撑件的防辐射性能,可以测量具有形状结构的防电磁辐射产品的防辐射性能。
以下通过具体的实例,描述本发明实施例的可选的具体处理过程。
本发明实施例可以利用诸如同轴法或弓形法,测量材料的防辐射性能,下面以同轴法测量材料的防辐射性能作为示例进行介绍,具体步骤如下:
<实施例1-镀FeNi防辐射布料的检测>
将采用磁控溅射镀覆1微米厚FeNi薄膜的化纤布用金属冲子冲压成诸如内径3毫米外径7毫米的圆环,将多个圆环按照同一个方向排列至厚度为3.1毫米厚,测量电磁辐射在10MHz(兆赫)到18GHz范围内的衰减。
在一个实施例中,如图5所示,图5示出了本发明实施例的镀FeNi防辐射布料的同轴法检测结果,测量电磁辐射在10MHz到10GHz范围内的衰减。
将采用磁控溅射镀覆1微米厚FeNi薄膜的化纤布包裹100mm*100mm*100mm的立方体工程塑料支撑件的表面,其中,该支撑件是空心的腔体,用于将柔性的防辐射材料固定成一定形状,并且在该支撑件的两个相对的端面上开有圆孔。
接下来,将接收天线放入支撑件中,将发射天线放置于距离支撑件0.5米的位置处。其中,发射天线与支撑件之间的距离取决于发射天线的功率和/或频率,并使得圆孔、发射天线和接收天线的中心线位于一条直线上,该圆孔主要是为了将接收天线放在支撑件中,并将天线与矢量网络分析仪的连线从孔中连接出来。
将接收天线与发射天线分别同向、反向放置;同向方向测量一次、反向方向测量一次,分别获取发射天线发射的电磁辐射值和接收天线接收的电磁辐射值;基于电磁辐射值,得到同向、反向放置时的屏蔽效能,取二次测量所得的屏蔽效能的绝对值之和的平均值作为最终测量结果。如图5所示,横轴表示频率,纵轴表示电磁波的衰减幅度,在不同频率下,电磁波的衰减幅度不同,纵轴采用的是对数表达方式,即分贝(dB),得到的最终屏蔽效能为p=800。
其中,矢量网络分析仪,用于接收电磁波和发射电磁波,并根据发射的电磁波与接收的电磁波,获取包覆有镀FeNi防辐射布料的支撑件的防辐射性能;发射天线的作用是将矢量网络分析仪发出的电磁波通过发射天线发射出去,而通过接收天线接收的电磁波,再通过诸如电缆传入矢量网络分析仪。
基于同轴法,测量材料的屏蔽效能;基于屏蔽盒法,测量支撑件的屏蔽效能;根据预设权重,对材料的屏蔽效能和支撑件的屏蔽效能进行计算,得到综合屏蔽效能。例如,在一个实施例中,按照50%、50%的权重对材料的屏蔽效能和支撑件的屏蔽效能进行计算。在其他实施例中,按照30%、70%的权重对材料的屏蔽效能和支撑件的屏蔽效能进行计算。
<实施例2-防电磁辐射涂料的检测>
将采用非晶粉作为吸波剂防电磁辐射涂料制成诸如内径3mm(毫米)外径7毫米的圆环,将多个圆环按照同一个方向排列到厚度为诸如3.1毫米厚,测量电磁辐射在10MHz到10GHz范围内的衰减。在一个实施例中,如图6所示,图6示出了本发明实施例的采用非晶粉作为吸波剂的防辐射涂料的同轴检测结果,测量电磁辐射在10MHz到10GHz范围内的衰减。
将非晶粉作为吸波剂制成的涂料涂敷在100mm*100mm*100mm的立方体的聚四氟乙烯制成的支撑件的表面,其中,该支撑件是空心的腔体,用于将柔性的防辐射材料固定成一定形状,并且在该支撑件的两个相对的端面上开有圆孔。
接下来,将接收天线放入支撑件中,将发射天线放置于距离支撑件0.5米的位置处。其中,发射天线与支撑件之间的距离取决于发射天线的功率和/或频率,并使得接收天线、发射天线和通孔的中心线位于一条直线上,该圆孔主要是为了将接收天线放在支撑件中,并将天线与矢量网络分析仪的连线从孔中连接出来。
将接收天线和发射天线分别同向、反向放置;同向方向测量一次、反向方向测量一次,分别获取发射天线发射的电磁辐射值和接收天线接收的电磁辐射值;基于电磁辐射值,得到同向、反向放置时的屏蔽效能,取二次测量所得的屏蔽效能的绝对值之和的平均值作为最终测量结果。如图6所示,横轴表示频率,纵轴表示电磁波的衰减幅度,在不同频率下,电磁波的衰减幅度不同,纵轴采用的是对数表达方式,即分贝(dB),得到的最终屏蔽效能为p=2000。
其中,矢量网络分析仪,用于接收电磁波和发射电磁波,并根据发射的电磁波与接收的电磁波,获取包覆有防电磁辐射涂料的支撑件的防辐射性能;发射天线的作用是将矢量网络分析仪发出的电磁波通过发射天线发射出去,而通过接收天线接收的电磁波,再通过诸如电缆传入矢量网络分析仪。
基于同轴法,测量材料的屏蔽效能;基于屏蔽盒法,测量支撑件的屏蔽效能;根据预设权重,对材料的屏蔽效能和支撑件的屏蔽效能进行计算,得到综合屏蔽效能。例如,在一个实施例中,按照50%、50%的权重对材料的屏蔽效能和支撑件的屏蔽效能进行计算。在其他实施例中,按照30%、70%的权重对材料的屏蔽效能和支撑件的屏蔽效能进行计算。
综上,与现有技术相比,本发明的有益效果在于:
第一,同轴法采用的环状样品容易制备,只需要将防电磁辐射布料或者涂料采用模具冲成或者用压机压成内径为3mm,外径为7mm,厚度2-4mm的环即可。
第二,本发明采用无磁支撑结构,测量环境电磁辐射的衰减并考虑了电磁波入射方向的影响,与防电磁辐射产品在使用状态下的情况更接近,从而能够更准确的评价防电磁辐射产品的防电磁辐射性能。
第三,本发明将对材料的评价和对实际使用产品的评价相结合,从而能够更全面的评价防电磁辐射产品的安全性。
因此,本发明提供了一种同轴法测量材料屏蔽效能与屏蔽盒法测量空间电磁辐射衰减相结合的方法来评价防电磁辐射产品的防电磁辐射效果,以更加全面的方式测量防电磁辐射产品在使用过程中的防电磁辐射效果。测量方法简单易行,一致性高,有利于在民用防辐射产品的评价中应用推广。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下还可以做出若干改进,这些改进也应视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种防辐射性能的测试装置,所述装置包括:
支撑件,所述支撑件以能够透过电磁波的材料制成,并具有预设规则形状,所述支撑件的两个相对的端面具有通孔,所述通孔的面积与所述端面的面积成预设比例,所述支撑件的外表面包覆有待测试的电磁屏蔽材料。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,
所述预设规则形状包括正方体、圆筒和长方体,所述通孔的形状取决于所述端面的形状,其中所述通孔的形状包括正方形、圆形和长方形。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,
所述正方体的长宽高均为100毫米,所述圆形的直径为5mm。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
电磁波发射组件,设置于所述支撑件外部;
电磁波接收组件,设置于所述支撑件内部。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,
所述电磁波发射组件和所述电磁波接收组件分别同向和反向放置,并且所述电磁波发射组件和所述支撑件之间的距离为0.2-1.0米;并且
所述电磁波发射组件、所述电磁波接收组件和所述通孔的中心线位于一条直线上。
6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
环状样品,所述环状样品以所述待测试的电磁屏蔽材料制成;
矢量网络分析仪,用于测量所述环状样品的防辐射性能;
其中,所述环状样品的内径为2-5毫米,外径为5-10毫米,所述环状样品的厚度为2-4毫米。
7.一种防辐射性能的测试方法,所述方法包括:
获取具有预设规则形状的支撑件,其中,所述支撑件为腔体,所述支撑件以能够透过电磁波的材料制成,所述支撑件的两个相对的端面具有通孔,所述通孔的面积与所述端面的面积成预设比例;
在所述支撑件内部放置电磁波接收组件,在所述支撑件外部放置电磁波发射组件,在所述支撑件的外表面包覆待测试的电磁屏蔽材料;
根据所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值和所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值,获取包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述根据所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值和所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值,获取包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能,包括:
将所述电磁波接收组件和所述电磁波发射组件分别同向和反向放置,并分别测量同向和反向放置时所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值、和所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值;
根据所述同向和反向放置时所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值、和所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值,获取所述电磁波接收组件和所述电磁波发射组件分别同向和反向放置时的屏蔽效能;
基于所述电磁波接收组件和所述电磁波发射组件分别同向和反向放置时的屏蔽效能,计算同向和反向放置时的两个屏蔽效能绝对值之和的平均值,作为最终测量结果;
基于所述最终测量结果,获取包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能;其中,
所述屏蔽效能为所述电磁波发射组件发射的电磁辐射值与所述电磁波接收组件接收的电磁辐射值之间的比值。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
将所述待测试的电磁屏蔽材料制成环状样品,当所述环状样品的厚度薄于预设厚度时,将所述环状样品叠加至所述预设厚度;
利用同轴法,基于矢量网络分析仪,对所述环状样品进行防辐射测量,所述环状样品的尺寸取决于所述矢量网络分析仪的卡具尺寸。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
基于所述环状样品的防辐射性能、和所述包覆有所述待测试的电磁屏蔽材料的支撑件的防辐射性能,根据预设权重,获取总体的防辐射性能。
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