CN107478348A - 绕组温升检测装置、设备及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种绕组温升检测装置、设备及方法，绕组温升检测装置包括：多个开关模块；检测模块，通过多个开关模块分别与多个待测绕组对应连接，形成多个测试回路，以检测多个待测绕组中的每个待测绕组的电阻数据；控制模块，分别与多个开关模块连接，用于按照预设时序控制多个开关模块接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组的多组电阻数据；处理模块，基于每个待测绕组的多组电阻数据得到每个待测绕组的绕组温升数据。本发明的实施例提供的绕组温升检测装置、设备及方法，能够一次进行多个绕组的温升检测，无需人工进行接线的切换，且能够提高测试数据的准确率。

Description

绕组温升检测装置、设备及方法

技术领域

本发明涉及绕组温升检测技术领域，特别是涉及一种绕组温升检测装置、设备及方法。

背景技术

绕组的温升不仅会影响其自身的性能，还会影响用电安全，现有的家用电器中，如电冰箱，其中的压缩机、冷凝风机、蒸发风机及变压器等器具均需要测试其绕组的温升，以核对所测得的数据是否符合国家有关标准，为各器具安全可靠运行提供依据。

现有技术中，对于绕组的温升测试一般采用人工测试的方式，尤其针对绕组数量较多的情况下，需要两个工作人员配合工作，一个工作人员负责切换不同绕组的接线，另一个工作人员负责读取绕组数据。采用人工方式测试绕组温升，需要根据所测试绕组的不同依次进行接线的切换，工作效率低，一次只能测试一个绕组，且对于工作人员的经验要求比较高，如果工作人员在测试中出现操作失误，将会影响测试数据的准确率。

发明内容

本发明的实施例提供一种绕组温升检测装置、设备及方法，能够一次进行多个绕组的温升检测，无需人工进行接线的切换，且能够提高测试数据的准确率。

本发明实施例一方面提出了一种绕组温升检测装置，包括：多个开关模块；检测模块，通过多个开关模块分别与多个待测绕组对应连接，形成多个测试回路，以检测多个待测绕组中的每个待测绕组的电阻数据；控制模块，分别与多个开关模块连接，用于按照预设时序控制多个开关模块接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组的多组电阻数据；处理模块，基于每个待测绕组的多组电阻数据得到每个待测绕组的绕组温升数据。

根据本发明实施例的一个方面，控制模块具体用于按照多个测试回路中的每个测试回路接通的时间间隔及多个测试回路中每个测试回路循环接通次数来控制多个开关模块接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组的多组电阻数据。

根据本发明实施例的一个方面，处理模块具体包括：函数曲线生成单元，用于基于每个待测绕组的多组电阻数据生成每个待测绕组的电阻数据与测量每个待测绕组的电阻数据对应时间的函数曲线；热态电阻数据计算单元，用于基于函数曲线得到每个待测绕组的电阻与测量时间的函数公式并由函数公式得到每个待测绕组的热态电阻数据；绕组温升数据计算单元，用于基于热态电阻数据及热态电阻数据与绕组温升函数得到每个待测绕组的绕组温升数据。

根据本发明实施例的一个方面，绕组温升数据计算单元具体通过公式：

得到每个待测绕组的绕组温升数据，其中Δt为绕组温升数据，R₁为冷态电阻数据，R₂为热态电阻数据，t₁为检测开始时的室温，t₂为检测结束时的室温，k为常数。

根据本发明实施例的一个方面，绕组温升检测装置还包括：供电模块，通过多个开关模块分别与多个待测绕组对应连接，形成多个供电回路，以向每个待测绕组供电。

根据本发明实施例的一个方面，多个开关模块中的每个开关模块包括第一开关单元及第二开关单元；第一开关单元包括第一开关部件、第一连接端及第二连接端，第一开关部件能够在第一连接端与第二连接端之间切换；第二开关单元包括第二开关部件、第三连接端及第四连接端，第二开关部件能够在第三连接端与第四连接端之间切换；第一连接端及第三连接端与检测模块连接，第二连接端及第四连接端与供电模块连接，多个待测绕组中与每个开关模块对应的待测绕组的两端分别与第一开关部件及第二开关部件连接；当第一开关部件与第一连接端连接，第二开关部件与第三连接端连接时，接通多个测试回路中对应的测试回路；当第一开关部件与第二连接端连接，第二开关部件与第四连接端连接时，接通多个供电回路中对应的供电回路。

根据本发明实施例的一个方面，绕组温升检测装置还包括：输入模块，与控制模块连接，用于接收检测指令，并发送给控制模块；控制模块还用于，响应检测指令，使多个开关模块按照预设时序接通多个测试回路中相应的测试回路。

根据本发明实施例的一个方面，检测模块为数字电桥。

根据本发明实施例提供的绕组温升检测装置，其包括多个开关模块、检测模块、控制模块及处理模块，检测模块通过多个开关模块分别与多个待测绕组对应连接，形成多个测试回路，控制模块通过控制多个开关模块按照预设时序控制多个开关模块接通多个测试回路中相应的测试回路，能够获取每个待测绕组的多组电阻数据，处理模块基于每个待测绕组的多组电阻数据获得每个待测绕组的温升数据，能够一次进行多个绕组的温升检测，无需人工进行接线的切换，且能够提高测试数据的准确率。

本发明实施例的另一个方面提出了一种绕组温升检测设备，包括：上述绕组温升检测装置；和箱体，箱体的侧壁上设置有与多个开关模块相对应的多个第一接口模块，多个第一接口模块中的每个第一接口模块的接线端子与多个开关模块中对应的开关模块的连接端连接，以使位于箱体外部的每个待测绕组与对应的开关模块连接。

根据本发明实施例的另一个方面，当绕组温升检测装置包括供电模块时，箱体的侧壁上还进一步设置有与多个开关模块相对应的多个第二接口模块，多个第二接口模块的每个第二接口模块的接线端子与多个开关模块中对应的开关模块的连接端连接，以使位于箱体外部的供电模块与对应的开关模块连接。

根据本发明实施例的另一个方面，箱体的侧壁上还设置有第三接口模块，第三接口模块的接线端子与多个开关模块的连接端连接，以使位于箱体外部的检测模块与多个开关模块连接。

根据本发明实施例的另一个方面，箱体的侧壁上还进一步设置有通信接口，以使位于箱体外部的处理模块通过通信接口与控制模块连接。

本发明实施例的又一个方面提出了一种绕组温升检测方法，绕组温升检测方法包括：

将多个开关模块分别与多个待测绕组对应连接，形成多个测试回路，以检测多个待测绕组中的每个待测绕组的电阻数据；

按照预设时序控制多个开关模块接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组的多组电阻数据；

基于每个待测绕组的多组电阻数据得到每个待测绕组的绕组温升数据。

根据本发明实施例的又一个方面，按照预设时序控制多个开关模块接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组的多组电阻数据，包括：按照多个测试回路中的每个测试回路接通的时间间隔及多个测试回路中每个测试回路循环接通次数来控制多个开关模块接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组的多组电阻数据。

根据本发明实施例的又一个方面，基于每个待测绕组的多组电阻数据得到每个待测绕组的绕组温升数据，包括：

基于每个待测绕组的多组电阻数据生成每个待测绕组的电阻数据与测量每个待测绕组的电阻数据对应时间的函数曲线；

基于函数曲线得到每个待测绕组的电阻与测量时间的函数公式并由函数公式得到每个待测绕组的热态电阻数据；

基于热态电阻数据及热态电阻数据与绕组温升函数得到每个待测绕组的绕组温升数据。

根据本发明实施例的又一个方面，基于热态电阻数据及热态电阻数据与绕组温升函数得到每个待测绕组的绕组温升数据，包括通过公式：

得到每个待测绕组的绕组温升数据，其中Δt为绕组温升数据，R₁为冷态电阻数据，R₂为热态电阻数据，t₁为检测开始时的室温，t₂为检测结束时的室温，k为常数。

附图说明

下面将参考附图来描述本发明示例性实施例的特征、优点和技术效果。

图1是本发明一个实施例的绕组温升检测装置的结构框图；

图2是本发明一个实施例的处理模块的结构框图；

图3是本发明另一个实施例的绕组温升检测装置的结构框图；

图4是本发明另一个实施例的绕组温升检测装置的电路图；

图5是本发明又一个实施例的绕组温升检测装置的结构框图；

图6是本发明一个实施例的绕组温升检测设备的结构示意图；

图7是本发明一个实施例的绕组温升检测方法的流程图。

其中：

10-开关模块；

11-第一开关单元；111-第一连接端；112-第一开关部件；113-第二连接端；

12-第二开关单元；121-第三连接端；122-第二开关部件；123-第四连接端；

20-检测模块；

30-控制模块；

40-处理模块；401-函数曲线生成单元；402-热态电阻数据计算单元；403-绕组温升数据计算单元；

50-待测绕组；

60-供电模块；

70-输入模块；

100-箱体；

101-第一接口模块；102-第二接口模块；103-第三接口模块；104-通信接口；105-输入面板；106-漏电保护；107-急停开关；108-绕组通道控制按钮。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中，提出了许多具体细节，以便提供对本发明的全面理解。但是，对于本领域技术人员来说很明显的是，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明的更好的理解。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将结合附图对实施例进行详细描述。

图1示出了本发明一个实施例的绕组温升检测装置的结构框图，包括多个开关模块10、检测模块20、控制模块30及处理模块40。

检测模块20通过多个开关模块10分别与多个待测绕组50对应连接，形成多个测试回路，控制模块30分别与多个开关模块10连接，用于按照预设时序控制多个开关模块10接通多个测试回路中相应的测试回路。由于检测模块20通过多个开关模块10分别与多个待测绕组50对应连接，当控制模块30按照预设时序控制多个开关模块10接通多个测试回路中相应的测试回路时，检测模块20能够检测到被接通的相应测试回路中的待测绕组50的阻值，以获取每个待测绕组50的多组电阻数据，处理模块40与检测模块20连接，能够获取每个待测绕组50的多组电阻数据，基于每个待测绕组50的多组电阻数据得到每个待测绕组50的绕组温升数据。

所说的预设时序为多个测试回路中的每个测试回路接通的时间间隔及多个测试回路中每个测试回路循环接通次数，即控制模块30具体用于按照多个测试回路中的每个测试回路接通的时间间隔及多个测试回路中每个测试回路循环接通次数来控制多个开关模块10接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组50的多组电阻数据。或者说所说的预设时序为：多个测试回路中由一个测试回路被接通到下一个测试回路被接通的时间间隔以及多个测试回路中每个测试回路被循环接通的次数。

多个测试回路中的每个测试回路只单独被接通，任意两个或多个测试回路不同时接通。

如图2所示，处理模块40具体包括函数曲线生成单元401、热态电阻数据计算单元402及绕组温升数据计算单元403，函数曲线生成单元401能够接收每个待测绕组50的多组电阻数据，基于每个待测绕组50的多组电阻数据生成每个待测绕组50的电阻数据与测量每个待测绕组50的电阻数据对应时间的函数曲线，测量每个待测绕组50的电阻数据对应时间优选可以从控制模块30中获取，即可以将处理模块40与控制模块30连接，以获取测量每个待测绕组50的电阻数据对应时间。当然，也可以操作人员根据设定的预设时序输入至处理模块40。

热态电阻数据计算单元402基于函数曲线生成单元401生成的函数曲线得到每个待测绕组50的电阻与测量时间的函数公式并由函数公式得到每个待测绕组50的热态电阻数据。

绕组温升数据计算单元403基于热态电阻数据计算单元402得到的热态电阻数据及热态电阻数据与绕组温升函数得到每个待测绕组50的绕组温升数据。

绕组温升数据计算单元403具体通过公式(1)：

得到每个待测绕组50的绕组温升数据，其中Δt为绕组温升数据，R₁为冷态电阻数据，R₂为热态电阻数据，t₁为检测开始时的室温，t₂为检测结束时的室温，k为常数。

所说的冷态电阻数据R₁即为检测开始时的待测绕组50的电阻，也即是待测绕组50在未通电工作状态下的电阻。所说的检测开始时的室温t₁即为待测绕组50在未通电工作状态下室温。所说的检测结束时的室温t₂即为待测绕组50在通电工作稳定后断开电源时的室温。所说的热态电阻数据R₂即检测结束时的待测绕组50的电阻，也即是待测绕组50在通电工作稳定后断开电源瞬间待测绕组50的电阻。常数k，对于不同材质的绕组取值不同，对于铜绕组，常数k等于234.5，对于铝绕组，常数k等于225。

本实施例中，检测开始时的室温t₁、检测结束时的室温t₂、多个待测绕组50中的每个待测绕组50的冷态电阻数据R₁均可事先测得输入至绕组温升数据计算单元403，与热态电阻数据计算单元402得到的热态电阻数据R₂共同得到每个待测绕组50的温升数据。

为了更好的控制多个待测绕组50同时通电，以准确的获得多个待测绕组50的热态电阻数据，如图3、如图4所示，绕组温升检测装置还进一步包括供电模块60，供电模块60通过多个开关模块10分别与多个待测绕组50对应连接，形成多个供电回路，以向每个待测绕组50供电，即多个待测绕组50中的每个待测绕组50分别通过开关模块10与检测模块20及供电模块60连接，通过控制模块30能够控制待测绕组50在其相应的测试回路中及相应的供电回路中切换，当控制模块30控制开关模块10动作使得供电回路接通时，可以使得待测绕组50通电工作，当控制模块30控制开关模块10动作使得测试回路接通时，待测绕组50与检测模块20连接以通过检测模块20检测电阻数据。多个开关模块10可以与一个供电模块60连接，也可以根据使用需要每个开关模块10对应设置一个供电模块60。

为了便于控制模块30控制各开关模块10，使得每个待测绕组50在相应的供电回路及测试回路中切换，多个开关模块10中的每个开关模块10包括第一开关单元11及第二开关单元12，第一开关单元11包括第一开关部件112、第一连接端111及第二连接端113，第一开关部件112能够在第一连接端111与第二连接端113之间切换。第二开关单元12包括第二开关部件122、第三连接端121及第四连接端123，第二开关部件122能够在第三连接端121与第四连接端123之间切换；第一连接端111及第三连接端121与检测模块20连接，第二连接端113及第四连接端123与供电模块60连接，多个待测绕组50中与每个开关模块10对应的待测绕组50的两端分别与第一开关部件112及第二开关部件122连接；当第一开关部件112与第一连接端111连接，第二开关部件122与第三连接端121连接时，接通多个测试回路中对应的测试回路；当第一开关部件112与第二连接端113连接，第二开关部件122与第四连接端123连接时，接通多个供电回路中对应的供电回路。当第一开关部件112及第二开关部件122处于悬空状态时，对应的测试回路及供电回路均断开。

在一个实施例中，检测模块20为数字电桥，控制模块30采用PLC控制，当控制模块30按照预设时序控制多个开关模块10接通多个测试回路中相应的测试回路时，其余测试回路的开关模块10的第一开关部件112及第二开关部件122处于悬空状态。

如图5所示，为了便于检测，绕组温升检测装置还包括输入模块70，输入模块70与控制模块30连接，用于接收检测指令，并发送给控制模块30。控制模块30还用于响应检测指令，使多个开关模块10按照预设时序接通多个测试回路中相应的测试回路。

本发明实施例提供的绕组温升检测装置在使用时，可以将多个待测绕组50分别与相应数量的开关模块10一一对应连接，根据待测绕组50的数量设定检测指令，所说的检测指令即为控制模块30控制多个开关模块10接通多个测试回路中相应的测试回路的预设时序，输入模块70接收检测指令并发送给控制模块30，以使控制模块30按照预设时序控制多个开关模块10接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组50的多组电阻数据。

例如，待测绕组50的数量为3个，分别为第一待测绕组、第二待测绕组及第三待测绕组，将3个待测绕组50分别与3个开关模块10对应连接，设定预设时序为每个测试回路接通的时间间隔1秒，每个测试回路循环接通次数为5次。

在检测时，可以由其他辅助设备依次检测每个待测绕组50的冷态电阻数据及对应的检测开始时的室温。也可以由绕组检测装置的控制模块30控制待测绕组50对应的测试回路依次接通，由检测模块20依次检测每个待测绕组50的冷态电阻数据，将检测的冷态电阻数据及检测开始时的室温输入处理模块40的绕组温升数据计算单元403。

由控制模块30控制3个待测绕组50对应的供电回路同时接通，使得3个待测绕组50同时通电工作至稳定后，对3个待测绕组50进行断电，并由辅助设备测量此时的室温，即为检测结束时的室温，输入至处理模块40的绕组温升数据计算单元403，同时由控制模块30按照上述预设时序控制相应的3个开关模块10接通3个测试回路中相应的测试回路，以获得每个待测绕组50的5组电阻数据。

以断电瞬间为时间0起点，检测模块20能够分别获得：

第一待测绕组断电后的第1、4、7、10及13秒时对应的5个电阻数据；

第二待测绕组断电后的第2、5、8、11及14秒时对应的5个电阻数据；

第三待测绕组断电后的第3、6、9、12及15秒对应的5个电阻数据。

处理模块40的函数曲线生成单元401接收每个待测绕组50的5组电阻数据，基于每个待测绕组50的5组电阻数据生成每个待测绕组50的电阻数据与测量每个待测绕组50的电阻数据对应时间的函数曲线。热态电阻数据计算单元402基于函数曲线生成单元401生成的函数曲线得到每个待测绕组50的电阻与测量时间的函数公式，由函数公式推算测量时间为0时刻时即断电瞬间对应的阻值即为每个待测绕组50的热态电阻数据。绕组温升数据计算单元403基于热态电阻数据计算单元402得到的热态电阻数据及测得的冷态电阻数据、检测开始时的室温、检测结束时的室温得到每个待测绕组50的绕组温升数据，完成测试。

本发明实施例提供的绕组温升检测装置能够一次进行多个绕组的温升检测，无需人工进行接线的切换，且能够提高测试数据的准确率。

根据本发明一个实施例，如图6所示，还提供了一种绕组温升检测设备，包括上述各实施例的绕组温升检测装置和箱体100，箱体100的侧壁上设置有与多个开关模块10相对应的多个第一接口模块101，每个第一接口模块101包括两个接线端子，每个第一接口模块101的两个接线端子与多个开关模块10中对应的开关模块10的连接端连接。在一个实施例中，此处所说的连接端优选为对应开关模块10的第一开关部件112及第二开关部件122的端脚，以便于位于箱体100外部的每个待测绕组50与对应的开关模块10连接。

作为一种可选的实施方式，在箱体100的侧壁上还进一步设置有与多个开关模块10相对应的多个第二接口模块102，每个第二接口模块102包括两个接线端子，每个第二接口模块102的两个接线端子与多个开关模块10中对应的开关模块10的连接端连接，在一个实施例中，此处所说的连接端优选为对应开关模块10的第二连接端113及第四连接端123，以便于位于箱体100外部的供电模块60与对应的开关模块10连接，在一个实施例中，可以每个开关模块10对应设置有一供电模块60。

作为一种可选的实施方式，在箱体100的侧壁上还设置有第三接口模块103，第三接口模块103的接线端子与多个开关模块10的连接端连接，本实施例中，此处所说的连接端优选为多个开关模块10的第一连接端111及第三连接端121，以便于位于箱体100外部的检测模块20与多个开关模块10连接。

作为一种可选的实施方式，在箱体100的侧壁上还进一步设置有通信接口104，以便于位于箱体100外部的处理模块40通过通信接口104与控制模块30连接，使得处理模块40能够从控制模块30中获取测量每个待测绕组50的多组电阻数据对应的测量时间，方便生成每个待测绕组50的电阻数据与测量每个待测绕组50的电阻数据对应时间的函数曲线。输入模块70采用输入面板105，输入面板105镶嵌在箱体100的侧壁面上并与控制模块30连接，便于接收检测指令。

为了对绕组温升检测设备的安全，在一个实施例中，绕组温升检测设备优选还设置有急停开关107及/或漏电保护106，以避免因短路、漏电等故障发生时损坏检测设备。同时，在箱体100的侧壁上设置有与多个开关模块10数量相同的绕组通道控制按钮108，绕组通道控制按钮108能够手动控制绕组的通断，并可以确认绕组的接线状态。

本发明实施例提供的绕组温升检测设备，在使用时，可以将多个待测绕组50分别与相应数量的第一接口模块101一一对应连接，根据待测绕组50的数量设定检测指令，输入面板105接收检测指令并发送给控制模块30，以使控制模块30按照检测指令，即预设时序控制多个开关模块10接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组50的多组电阻数据，处理模块40基于每个待测绕组50的多组电阻数据获得每个待测绕组50的绕组温升数据，能够一次进行多个绕组的温升检测，无需人工进行接线的切换，且能够提高测试数据的准确率。

根据本发明一个实施例，如图7所示，还提出了一种绕组温升检测方法，绕组温升检测方法包括：

S100、将多个开关模块分别与多个待测绕组对应连接，形成多个测试回路，以检测多个待测绕组中的每个待测绕组的电阻数据；

S200、按照预设时序控制多个开关模块接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组的多组电阻数据；

S300、基于每个待测绕组的多组电阻数据得到每个待测绕组的绕组温升数据。

在一个实施例中，本发明实施例提供的绕组温升检测方法具体可以应用在上述实施例的绕组温升检测装置中，在步骤S100中，执行主体可以为检测模块，将检测模块通过多个开关模块分别与多个待测绕组对应连接，形成多个测试回路，以检测多个待测绕组中的每个待测绕组的电阻数据；在步骤S200中，执行主体可以为控制模块，控制模块按照预设时序控制多个开关模块接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组的多组电阻数据；在步骤S300，执行主体可以为处理模块，处理模块基于每个待测绕组的多组电阻数据得到每个待测绕组的绕组温升数据。

作为一种可选的实施方式，所说的预设时序为多个测试回路中的每个测试回路接通的时间间隔及多个测试回路中每个测试回路循环接通次数。即，步骤S200包括：按照多个测试回路中的每个测试回路接通的时间间隔及多个测试回路中每个测试回路循环接通次数来控制多个开关模块接通多个测试回路中相应的测试回路，以获取每个待测绕组的多组电阻数据。

或者说所说的预设时序为：多个测试回路中由一个测试回路被接通到下一个测试回路被接通的时间间隔以及多个测试回路中每个测试回路被循环接通的次数。

作为一种可选的实施方式，步骤S300具体包括：

301、基于每个待测绕组的多组电阻数据生成每个待测绕组的电阻数据与测量每个待测绕组的电阻数据对应时间的函数曲线；

302、基于函数曲线得到每个待测绕组的电阻与测量时间的函数公式并由函数公式得到每个待测绕组的热态电阻数据；

303、基于热态电阻数据及热态电阻数据与绕组温升函数得到每个待测绕组的绕组温升数据。

作为一种可选的实施方式，步骤301包括通过公式(2)：

得到每个待测绕组的绕组温升数据，其中Δt为绕组温升数据，R₁为冷态电阻数据，R₂为热态电阻数据，t₁为检测开始时的室温，t₂为检测结束时的室温，k为常数。

本发明实施例提供的绕组温升检测方法，能够一次进行多个绕组的温升检测，无需人工进行接线的切换，且能够提高测试数据的准确率。

虽然已经参考优选实施例对本发明进行了描述，但在不脱离本发明的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本发明并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (16)

1.一种绕组温升检测装置，其特征在于，包括：

多个开关模块；

检测模块，通过所述多个开关模块分别与多个待测绕组对应连接，形成多个测试回路，以检测所述多个待测绕组中的每个待测绕组的电阻数据；

控制模块，分别与所述多个开关模块连接，用于按照预设时序控制所述多个开关模块接通所述多个测试回路中相应的测试回路，以获取所述每个待测绕组的多组电阻数据；

处理模块，基于所述每个待测绕组的多组电阻数据得到所述每个待测绕组的绕组温升数据。

2.根据权利要求1所述的绕组温升检测装置，其特征在于，所述控制模块具体用于按照所述多个测试回路中的每个测试回路接通的时间间隔及所述多个测试回路中每个测试回路循环接通次数来控制所述多个开关模块接通所述多个测试回路中相应的测试回路，以获取所述每个待测绕组的多组电阻数据。

3.根据权利要求1所述的绕组温升检测装置，其特征在于，所述处理模块具体包括：

函数曲线生成单元，用于基于所述每个待测绕组的多组电阻数据生成所述每个待测绕组的电阻数据与测量所述每个待测绕组的电阻数据对应时间的函数曲线；

热态电阻数据计算单元，用于基于所述函数曲线得到所述每个待测绕组的电阻与测量时间的函数公式并由所述函数公式得到所述每个待测绕组的热态电阻数据；

绕组温升数据计算单元，用于基于所述热态电阻数据及所述热态电阻数据与绕组温升函数得到所述每个待测绕组的绕组温升数据。

4.根据权利要求3所述的绕组温升检测装置，其特征在于，所述绕组温升数据计算单元具体通过公式：

<mrow> <mi>&amp;Delta;</mi> <mi>t</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <msub> <mi>R</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>R</mi> <mn>1</mn> </msub> </mrow> <msub> <mi>R</mi> <mn>1</mn> </msub> </mfrac> <mrow> <mo>(</mo> <mi>k</mi> <mo>+</mo> <msub> <mi>t</mi> <mn>1</mn> </msub> <mo>)</mo> </mrow> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>t</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>t</mi> <mn>1</mn> </msub> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

得到所述每个待测绕组的绕组温升数据，其中Δt为绕组温升数据，R₁为冷态电阻数据，R₂为热态电阻数据，t₁为检测开始时的室温，t₂为检测结束时的室温，k为常数。

5.根据权利要求1所述的绕组温升检测装置，其特征在于，还包括：

供电模块，通过所述多个开关模块分别与所述多个待测绕组对应连接，形成多个供电回路，以向所述每个待测绕组供电。

6.根据权利要求5所述的绕组温升检测装置，其特征在于，所述多个开关模块中的每个开关模块包括第一开关单元及第二开关单元；

所述第一开关单元包括第一开关部件、第一连接端及第二连接端，所述第一开关部件能够在所述第一连接端与所述第二连接端之间切换；

所述第二开关单元包括第二开关部件、第三连接端及第四连接端，所述第二开关部件能够在所述第三连接端与所述第四连接端之间切换；

所述第一连接端及所述第三连接端与所述检测模块连接，所述第二连接端及所述第四连接端与所述供电模块连接，所述多个待测绕组中与所述每个开关模块对应的待测绕组的两端分别与所述第一开关部件及所述第二开关部件连接；

当所述第一开关部件与所述第一连接端连接，所述第二开关部件与所述第三连接端连接时，接通所述多个测试回路中对应的测试回路；

当所述第一开关部件与所述第二连接端连接，所述第二开关部件与所述第四连接端连接时，接通所述多个供电回路中对应的供电回路。

7.根据权利要求1所述的绕组温升检测装置，其特征在于，还包括：

输入模块，与所述控制模块连接，用于接收检测指令，并发送给所述控制模块；

所述控制模块还用于，响应所述检测指令，使所述多个开关模块按照预设时序接通所述多个测试回路中相应的测试回路。

8.根据权利要求1所述的绕组温升检测装置，其特征在于，所述检测模块为数字电桥。

9.一种绕组温升检测设备，其特征在于，包括：

如权利要求1至8任意一项所述的绕组温升检测装置；和

箱体，所述箱体的侧壁上设置有与所述多个开关模块相对应的多个第一接口模块，所述多个第一接口模块中的每个第一接口模块的接线端子与所述多个开关模块中对应的开关模块的连接端连接，以使位于所述箱体外部的所述每个待测绕组与所述对应的开关模块连接。

10.根据权利要求9所述的绕组温升检测设备，其特征在于，当所述绕组温升检测装置包括供电模块时，所述箱体的侧壁上还进一步设置有与所述多个开关模块相对应的多个第二接口模块，所述多个第二接口模块的每个第二接口模块的接线端子与所述多个开关模块中对应的开关模块的连接端连接，以使位于所述箱体外部的所述供电模块与所述对应的开关模块连接。

11.根据权利要求9所述的绕组温升检测设备，其特征在于，所述箱体的侧壁上还设置有第三接口模块，所述第三接口模块的接线端子与所述多个开关模块的连接端连接，以使位于所述箱体外部的所述检测模块与所述多个开关模块连接。

12.根据权利要求9所述的绕组温升检测设备，其特征在于，所述箱体的侧壁上还进一步设置有通信接口，以使位于所述箱体外部的所述处理模块通过所述通信接口与所述控制模块连接。

13.一种绕组温升检测方法，其特征在于，所述绕组温升检测方法包括：

将所述多个开关模块分别与多个待测绕组对应连接，形成多个测试回路，以检测所述多个待测绕组中的每个待测绕组的电阻数据；

按照预设时序控制所述多个开关模块接通所述多个测试回路中相应的测试回路，以获取所述每个待测绕组的多组电阻数据；

基于所述每个待测绕组的多组电阻数据得到所述每个待测绕组的绕组温升数据。

14.根据权利要求13所述的绕组温升检测方法，其特征在于，所述按照预设时序控制所述多个开关模块接通所述多个测试回路中相应的测试回路，以获取所述每个待测绕组的多组电阻数据，包括：按照所述多个测试回路中的每个测试回路接通的时间间隔及所述多个测试回路中每个测试回路循环接通次数来控制所述多个开关模块接通所述多个测试回路中相应的测试回路，以获取所述每个待测绕组的多组电阻数据。

15.根据权利要求13所述的绕组温升检测方法，其特征在于，所述基于每个待测绕组的多组电阻数据得到所述每个待测绕组的绕组温升数据，包括：

基于所述每个待测绕组的多组电阻数据生成所述每个待测绕组的电阻数据与测量所述每个待测绕组的电阻数据对应时间的函数曲线；

基于所述函数曲线得到所述每个待测绕组的电阻与测量时间的函数公式并由所述函数公式得到所述每个待测绕组的热态电阻数据；

基于所述热态电阻数据及所述热态电阻数据与绕组温升函数得到所述每个待测绕组的绕组温升数据。

16.根据权利要求15所述的绕组温升检测方法，其特征在于，所述基于所述热态电阻数据及所述热态电阻数据与绕组温升函数得到所述每个待测绕组的绕组温升数据，包括通过公式：

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得到所述每个待测绕组的绕组温升数据，其中Δt为绕组温升数据，R₁为冷态电阻数据，R₂为热态电阻数据，t₁为检测开始时的室温，t₂为检测结束时的室温，k为常数。