CN109521347B - 多个汽车级igbt模块同步pwm功率循环实验装置 - Google Patents
多个汽车级igbt模块同步pwm功率循环实验装置 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了多个汽车级IGBT模块同步PWM功率循环实验装置,装置包括驱动保护系统、主电路系统、IGBT模块单元、水冷散热系统、小电流测试系统、数据采集系统五部分。该装置的驱动保护系统提供多路相同时序不同电位的高频驱动信号,分别对IGBT模块单元、水冷散热系统、数据采集系统进行控制。水冷散热系统包含多个独立的工位,可同时对多个IGBT模块进行独立的散热控制。主电路系统和小电流测试系统,交替的向待测IGBT模块进行供电。所述的数据采集系统,自动采集主电路的电流Ic、IGBT壳温Tc、IGBT集射极电压Vce,并且采用labview程序自动对采集的数据进行实时处理分析,输出保存测试数据。在提高工作效率的同时,也能够兼具接近实际工况的目的。
Description
技术领域
本发明涉及一种功率半导体器件功率循环实验装置,属于加速老化实验装置领域,特别涉及一种多个汽车级IGBT模块同步PWM功率循环实验装置。
背景技术
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)是一种复合全控型电压驱动式功率半导体器件。它具有高开关频率,高输入阻抗,低输出阻抗,低导通电压降及耐高压与大电流等优点。正是由于其优越的特性,IGBT已成为轨道交通、航空航天、新能源汽车、风力发电等领域中实现电能转换和控制的核心元件。
在这些大功率电力电子装置的应用中,一方面IGBT模块的工作电压、电流很高,其导通功率损耗不断增加,导致芯片结温不断上升。另一方面由于IGBT开关频率不断变化,促使其开关损耗不断变化,促使IGBT模块的结温波动显著。随着功率的提升,IGBT模块过热的问题越来越严重,导致IGBT服役条件下可靠性降低,严重制约IGBT在电力电子系统中的应用。因此,如何评估和提高IGBT的可靠性是目前亟待解决的关键问题之一。
目前普遍采用功率循环实验对IGBT进行可靠性测试,它是可靠性研究中最重要的测试方法之一。但现有的功率循环实验装置,只能对单个的IGBT进行测试,实验效率很低。如需对多个IGBT器件同时进行功率循环实验,则需要多台测试设备同时运行,不仅实验成本高昂,而且各台设备之间存在差异,使得实验所得数据之间缺乏对比性,造成分析结果不准确。而且目前的实验装置多是进行直流DC功率循环实验,这与模块的实际工况差距较大。
因此,需要搭建一种改进的功率循环实验装置,不仅可以实现多IGBT模块同步实验,而且能够进行更接近实际工况的PWM(Pulse width Modulation——PWM)功率循环实验。在提高工作效率的同时,也能够兼具接近实际工况的目的。确保IGBT模块快速高效准确的可靠性分析。
发明内容
鉴于上述背景技术提及的技术问题,本发明提供了一种多个汽车级IGBT模块同步PWM功率循环实验装置,能够同时对多个IGBT模块进行PWM功率循环实验,不仅提高了工作效率,模块的工作状态更加接近于实际工况。
本发明采用的技术方案为多个汽车级IGBT模块同步PWM功率循环实验装置,该装置包括包括:驱动保护系统101、主电路系统102、IGBT模块单元103、水冷散热系统104、小电流测试系统105、数据采集系统106。驱动保护系统101、主电路系统102、水冷散热系统104、小电流测试系统105均和IGBT模块单元103连接。水冷散热系统104、数据采集系统106和驱动保护系统101连接。
所述的IGBT模块单元103,如图3所示。包含四个相同型号的半桥IGBT模块,分别是IGBT1、IGBT2、IGBT3、IGBT4。这四个半桥IGBT模块都是由上半桥臂和下半桥臂串联而成。每个IGBT模块的上半桥臂和下半桥臂都可以单独使用。每个半桥臂的IGBT模块都由栅射极G-E和集射极C-E组成。集射极C-E的通断受栅射极G-E的控制,当栅射极G-E通入15V的电压,集射极C-E导通。当栅射极G-E通入0V的电压,集射极C-E关断。
IGBT1模块的半桥臂和下半桥臂都连接于电路工作。IGBT2、IGBT3、IGBT4只将上半桥臂连接于电路。IGBT1模块上半桥臂的二极管和电感组成回路,在电路关断时释放电感上的电能。IGBT1模块下半桥臂的IGBT作为电路中的开关控制主电路的通断,IGBT2、IGBT3和IGBT4的下半桥臂作为待测模块,上半桥臂不使用。
所述的驱动保护系统101,如图2所示,由单片机E1、15V驱动板M1、15V驱动板M2、15V驱动板M3、15V驱动板M4组成。单片机E1的六个信号输出端分别与四个15V驱动板M1、M2、M3、M4的输入端,电磁阀F1的输入端,数据采集系统P1的输入控制端连接。四个15V驱动板M1、M2、M3、M4的输出端分别与IGBT1、IGBT2、IGBT3、IGBT4这四个IGBT模块下半桥臂的栅射极G-E相连。
利用STM32单片机进行编程,提供六路同步不同高低电平的输出信号,分别对水冷散热系统的电磁阀F1,驱动保护电路M1、M2、M3、M4和数据采集系统P1进行控制。当驱动保护电路M1通入高频脉冲时,驱动保护电路M2、M3、M4常开,水冷散热系统的电磁阀F1关闭,数据采集系统P1关断,此时IGBT1模块导通,待测IGBT2、IGBT3、IGBT4也导通,待测模块IGBT2、IGBT3、IGBT4迅速升温。当驱动保护电路M1的高频脉冲关断时,M2、M3、M4常开,水冷散热系统的电磁阀F1打开,数据采集系统P1打开,此时小电流流入待测模块IGBT2、IGBT3、IGBT4。待测IGBT2、IGBT3、IGBT4迅速降温,数据采集卡采集IGBT2、IGBT3、IGBT4的数据。
所述的主电路系统102,如图3所示。包括恒压源V1,母排电容C1,电阻R1,负载电感L1和IGBT1、IGBT2、IGBT3、IGBT4模块。其中,母排电容C1并联于恒压源V1的两端。电阻R1的一端连接于恒压源V1的正极输出端,另一端与负载电感L1相连,IGBT1的上半桥臂与负载电感L1并联,IGBT1的下半桥臂与IGBT2、IGBT3、IGBT4串联连接之后接于恒压源V1的负极输出端。恒压源V1的电压范围可调,根据待测IGBT模块的数量,调节电能的输入。母排电容C1采用多个电解电容串联连接,能达到高压测试的目的。负载电感L1采用多个电感并联连接,能达到大电流测试的目的。
所述的水冷散热系统104,包含散热板W1,电磁阀F1,如图2所示。散热板W1包含多个独立的散热工位,各散热工位的冷却液流量可独立控制,为多个IGBT模块提供不同的散热需求。每个IGBT模块上的IGBT芯片配有独立的散热通道,保证各芯片热量及时被带走。采用电磁阀F1对冷却液的开关时间进行控制,在IGBT模块通电时,冷却液关断。在IGBT模块断电时,冷却液开通。
所述的小电流测试系统105,如图3所示,主要包括恒压源V2,LM317芯片,电阻R2,二极管D1。恒压源V2的正极输出端连接LM317芯片的一端。恒压源V2的负极输出端与恒压源V1的负极输出端相连,实现共地。LM317芯片的另一端与电阻R2的一端相连,电阻R2的另一端与二极管D1的一端相连。二极管D1的另一端与IGBT1的发射极E相连。实现小电流测试系统105供给IGBT2、IGBT3、IGBT4这三个IGBT芯片小电流。
采用LM317芯片与电阻R2配合使用,通过改变电阻R2的大小,能够改变小电流的值。并且在电路中串联的二极管D1可以保护测试电路不受主电路的影响。保证测试电路在主电路开通时不导通,在主电路关断时导通。
所述的数据采集系统106,如图2所示。采用隔离变压器B1将主电路系统和数据采集系统隔离,避免信号互相干扰。采用电流互感器J2采集主电路的电流Ic,采用差分隔离探头监测IGBT的壳温Tc。采用单片机E1产生的驱动信号控制数据采集卡的工作区间,保证在大电流关断期间采集集射极电压Vce数据。数据采集系统采集的数据经过labview软件处理,实时计算出三个待测IGBT模块的结温Tj显示在labview主界面,并且所有数据自动保存至Excel。
附图说明
图1是本发明提供的PWM功率循环实验装置结构图;
图2是本发明提供的PWM功率循环实验装置部件连接示意图;
图3是本发明提供的PWM功率循环实验装置电路图;
图4是本发明提供的单片机驱动时序图;
图5是本发明提供的PWM功率循环实验装置工作流程图;
图6是本发明提供的小电流开通时电路图;
图7是本发明提供的大电流开通时电路图。
具体实施方式
下面结合下述实施例对本发明的具体实施步骤做详细的说明。
如图5所示,为本发明提供的PWM功率循环实验装置工作流程图,实施步骤分为:开通驱动保护系统,开通小电流测试系统,开通数据采集系统,进行小电流下的集射极电压Vce和三个待测IGBT模块的结温Tj校正,校正出现错误后,对以上几步进行检查,重新开始实验。校正无误后开通主电路系统,开通水冷散热系统,实时监测主电路的电流Ic、集射极电压Vce、IGBT的壳温Tc,实时计算三个待测IGBT模块的结温Tj。
首先使驱动处于常开状态,确保各个IGBT模块的栅射极G-E通入常开的VGE=15V信号。然后开通测试小电流系统,此时的电路如图6所示。电路中主要包括恒压源V2,LM317芯片,电阻R2和二极管D1。恒压源V2与LM317芯片连接并给LM317芯片供电,电阻R2与LM317芯片串联用于提供电路中所需的电流值,二极管D1用于抑制主电路中的电流进入测试小电流回路。当测试回路处于工作状态时,立即采集三个待测IGBT模块的集射极电压Vce,并将集射极电压Vce带入拟合的公式(公式1)计算三个待测IGBT模块的结温Tj。并将三个待测模块的集射极电压Vce数据与初始设定的集射极电压Vce进行对比,判定三个模块的性能是否稳定。若测得的三个待测模块的集射极电压Vce数据与初始设定的集射极电压Vce有偏差,则停止实验,进一步检测三个模块是否损坏。若无差别,则继续进行下一步实验。
开通主电路系统,此时电路图,如图7所示。驱动系统按照单片机设定好的驱动信号如图4所示,
利用STM32单片机进行编程,提供六路同步不同高低电平的输出信号,分别对驱动保护电路M1、M2、M3、M4,水冷散热系统的电磁阀F1和数据采集系统P1进行控制。实现对IGBT1、IGBT2、IGBT3、IGBT4模块、水冷散热系统、数据采集系统的控制。当IGBT1模块的驱动中通入开关周期为tsw,占空比为D的高频脉冲信号,主电路中的大电流开通。电磁阀F1迅速关断冷却液,此时三个待测IGBT模块的结温Tj迅速升高。数据采集系统关断,不采集数据。高频脉冲一直持续进行,当达到设定的脉冲持续时间t1后,IGBT1模块的高频脉冲驱动关断,关断持续时间t2。此时主电路中的大电流关断,电磁阀立即开通冷却液,三个待测IGBT模块的结温Tj迅速降低。小电流测试系统导通,数据采集系统导通电路如图6所示。采用电流互感器J2采集主电路的电流Ic,采用差分隔离探头监测IGBT的壳温Tc。采用数据采集卡采集电压Vce数据。采集的数据经过labview编制的数据采集程序处理,带入拟合的公式(公式1)实时计算出三个待测IGBT模块的结温Tj,将测试结果显示在数据采集程序主界面,并且所有数据自动保存至Excel。一直重复此过程进行循环,直至达到设定的总循环次数Nc后停止。
Claims (6)
1.多个汽车级IGBT模块同步PWM功率循环实验装置,其特征在于:该装置包括:驱动保护系统(101)、主电路系统(102)、IGBT模块单元(103)、水冷散热系统(104)、小电流测试系统(105)、数据采集系统(106);驱动保护系统(101)、主电路系统(102)、水冷散热系统(104)、小电流测试系统(105)均和IGBT模块单元(103)连接;水冷散热系统(104)、数据采集系统(106)和驱动保护系统(101)连接;
所述的IGBT模块单元(103),包含四个相同型号的半桥IGBT模块,分别是IGBT1、IGBT2、IGBT3、IGBT4;这四个半桥IGBT模块都是由上半桥臂和下半桥臂串联而成;每个IGBT模块的上半桥臂和下半桥臂都可以单独使用;每个半桥臂的IGBT模块都由栅射极G-E和集射极C-E组成;集射极C-E的通断受栅射极G-E的控制,当栅射极G-E通入15V的电压,集射极C-E导通;当栅射极G-E通入0V的电压,集射极C-E关断;
IGBT1模块的上半桥臂和下半桥臂都连接于电路工作;IGBT2、IGBT3、IGBT4只将上半桥臂的一端连接于电路;IGBT1模块上半桥臂的二极管和电感组成回路,在电路关断时释放电感上的电能;IGBT1模块下半桥臂的IGBT作为电路中的开关控制主电路的通断,IGBT2、IGBT3和IGBT4的下半桥臂作为待测模块,上半桥臂另一端不使用;
所述的水冷散热系统(104),包含散热板W1,电磁阀F1;散热板W1包含多个独立的散热工位,各散热工位的冷却液流量可独立控制,为多个IGBT模块提供不同的散热需求;每个IGBT模块上的IGBT芯片配有独立的散热通道,保证各芯片热量及时被带走;采用电磁阀F1对冷却液的开关时间进行控制,在IGBT模块通电时,冷却液关断;在IGBT模块断电时,冷却液开通;
所述多个汽车级IGBT模块同步PWM功率循环实验装置的工作流程为:开通驱动保护系统,开通小电流测试系统,开通数据采集系统,进行小电流下的集射极电压Vce和三个待测IGBT模块的结温Tj校正,校正出现错误后,对以上几步进行检查,重新开始实验;校正无误后开通主电路系统,开通水冷散热系统,实时监测主电路的电流Ic、集射极电压Vce、IGBT的壳温Tc,实时计算三个待测IGBT模块的结温Tj。
2.根据权利要求1所述的多个汽车级IGBT模块同步PWM功率循环实验装置,其特征在于:所述的驱动保护系统(101),由单片机E1、15V驱动板M1、15V驱动板M2、15V驱动板M3、15V驱动板M4组成;单片机E1的六个信号输出端分别与四个15V驱动板M1、M2、M3、M4的输入端,电磁阀F1的输入端,数据采集系统P1的输入控制端连接;四个15V驱动板M1、M2、M3、M4的输出端分别与IGBT1、IGBT2、IGBT3、IGBT4这四个IGBT模块下半桥臂的栅射极G-E相连;
利用STM32单片机进行编程,提供六路同步不同高低电平的输出信号,分别对水冷散热系统的电磁阀F1,驱动保护电路M1、M2、M3、M4和数据采集系统P1进行控制;当驱动保护电路M1通入高频脉冲时,驱动保护电路M2、M3、M4常开,水冷散热系统的电磁阀F1关闭,数据采集系统P1关断,此时IGBT1模块导通,待测IGBT2、IGBT3、IGBT4也导通,待测模块IGBT2、IGBT3、IGBT4迅速升温;当驱动保护电路M1的高频脉冲关断时,M2、M3、M4常开,水冷散热系统的电磁阀F1打开,数据采集系统P1打开,此时小电流流入待测模块IGBT2、IGBT3、IGBT4;待测IGBT2、IGBT3、IGBT4迅速降温,数据采集卡采集IGBT2、IGBT3、IGBT4的数据。
3.根据权利要求1所述的多个汽车级IGBT模块同步PWM功率循环实验装置,其特征在于:所述的主电路系统(102),包括恒压源V1,母排电容C1,电阻R1,负载电感L1和IGBT1、IGBT2、IGBT3、IGBT4模块;其中,母排电容C1并联于恒压源V1的两端;电阻R1的一端连接于恒压源V1的正极输出端,另一端与负载电感L1相连,IGBT1的上半桥臂与负载电感L1并联,IGBT1的下半桥臂与IGBT2、IGBT3、IGBT4串联连接之后接于恒压源V1的负极输出端;恒压源V1的电压范围可调,根据待测IGBT模块的数量,调节电能的输入;母排电容C1采用多个电解电容串联连接,能达到高压测试的目的;负载电感L1采用多个电感并联连接,能达到大电流测试的目的。
4.根据权利要求3所述的多个汽车级IGBT模块同步PWM功率循环实验装置,其特征在于:所述的小电流测试系统(105),主要包括恒压源V2,LM317芯片,电阻R2,二极管D1;恒压源V2的正极输出端连接LM317芯片的一端;恒压源V2的负极输出端与恒压源V1的负极输出端相连,实现共地;LM317芯片的另一端与电阻R2的一端相连,电阻R2的另一端与二极管D1的一端相连;二极管D1的另一端与IGBT1的发射极E相连;实现小电流测试系统105供给IGBT2、IGBT3、IGBT4这三个IGBT芯片小电流。
5.根据权利要求4所述的多个汽车级IGBT模块同步PWM功率循环实验装置,其特征在于:采用LM317芯片与电阻R2配合使用,通过改变电阻R2的大小,能够改变小电流的值;并且在电路中串联的二极管D1保护测试电路不受主电路的影响;保证测试电路在主电路开通时不导通,在主电路关断时导通。
6.根据权利要求1所述的多个汽车级IGBT模块同步PWM功率循环实验装置,其特征在于:所述的数据采集系统(106),采用隔离变压器B1将主电路系统和数据采集系统隔离,避免信号互相干扰;采用电流互感器J2采集主电路的电流Ic,采用差分隔离探头监测IGBT的壳温Tc;采用单片机E1产生的驱动信号控制数据采集卡的工作区间,保证在大电流关断期间采集集射极电压Vce数据;数据采集系统采集的数据经过labview软件处理,实时计算出三个待测IGBT模块的结温Tj显示在labview主界面,并且所有数据自动保存至Excel。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811263255.1A CN109521347B (zh) | 2018-10-28 | 2018-10-28 | 多个汽车级igbt模块同步pwm功率循环实验装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811263255.1A CN109521347B (zh) | 2018-10-28 | 2018-10-28 | 多个汽车级igbt模块同步pwm功率循环实验装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN109521347A CN109521347A (zh) | 2019-03-26 |
CN109521347B true CN109521347B (zh) | 2021-11-26 |
Family
ID=65774198
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201811263255.1A Active CN109521347B (zh) | 2018-10-28 | 2018-10-28 | 多个汽车级igbt模块同步pwm功率循环实验装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN109521347B (zh) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111537860B (zh) * | 2020-05-27 | 2023-01-20 | 合肥恒钧检测技术有限公司 | 一种功率半导体器件的功率循环测试系统及方法 |
CN112578255B (zh) * | 2020-12-18 | 2023-03-10 | 重庆大学 | 基于光纤光栅传感器的电动汽车igbt健康监测系统 |
CN113820582B (zh) * | 2021-11-22 | 2022-02-08 | 山东阅芯电子科技有限公司 | 秒级功率循环试验中试验条件的搜索确定方法 |
CN114543682B (zh) | 2022-02-24 | 2022-09-27 | 北京工业大学 | 一种压接式igbt功率循环中微动位移测量装置及方法 |
CN115792553A (zh) * | 2022-11-22 | 2023-03-14 | 中国人民解放军海军工程大学 | 一种功率半导体热可靠性测试装置及测试方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105301485A (zh) * | 2015-07-29 | 2016-02-03 | 重庆大学 | 多igbt快速功率循环加速老化装置 |
CN106711110A (zh) * | 2017-03-19 | 2017-05-24 | 北京工业大学 | 一种用于大功率串联igbt的风冷水冷混合散热模组 |
CN106872870A (zh) * | 2017-01-16 | 2017-06-20 | 全球能源互联网研究院 | 一种高压功率器件的动态特性测试电路及测试方法 |
CN106969851A (zh) * | 2017-03-19 | 2017-07-21 | 北京工业大学 | 基于饱和压降测量igbt功率模块结温的在线检测装置 |
CN107783021A (zh) * | 2017-09-06 | 2018-03-09 | 全球能源互联网研究院有限公司 | 一种用于压接型igbt器件功率循环试验的测试模块 |
CN108051093A (zh) * | 2017-12-02 | 2018-05-18 | 北京工业大学 | 用于探测功率循环实验中igbt模块温度场的红外热成像测温方法 |
CN108051721A (zh) * | 2017-12-08 | 2018-05-18 | 国网江苏省电力有限公司南京供电分公司 | 一种基于同轴电阻的igbt可靠性测试方法及系统 |
CN108152697A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-06-12 | 江苏中科君芯科技有限公司 | Igbt模块功率循环老化试验装置及方法 |
CN108680848A (zh) * | 2018-06-14 | 2018-10-19 | 山东阅芯电子科技有限公司 | 秒级功率循环测试方法及装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101093241A (zh) * | 2006-06-20 | 2007-12-26 | 北京航空航天大学 | 控制晶体管结温的稳态工作寿命试验设备 |
JP5343901B2 (ja) * | 2010-03-17 | 2013-11-13 | 富士電機株式会社 | パワーサイクル寿命予測方法、寿命予測装置及び該寿命予測装置を備えた半導体装置 |
JP5829986B2 (ja) * | 2012-07-18 | 2015-12-09 | エスペック株式会社 | パワーサイクル試験装置 |
CN105044581B (zh) * | 2015-03-30 | 2018-02-13 | 国家电网公司 | 一种SiC IGBT串联阀组动态均压特性和反向恢复特性的测试方法及测试电路 |
CN105242189B (zh) * | 2015-10-13 | 2018-10-19 | 中国人民解放军海军工程大学 | 基于集射极饱和压降与焊料层空洞率的igbt健康状态监测方法 |
CN106443400B (zh) * | 2016-09-14 | 2019-06-11 | 河北工业大学 | 一种igbt模块的电-热-老化结温计算模型建立方法 |
CN106291310A (zh) * | 2016-10-12 | 2017-01-04 | 天津大学 | 一种利用双脉冲技术测试igbt动态开关特性的测试方法及装置 |
-
2018
- 2018-10-28 CN CN201811263255.1A patent/CN109521347B/zh active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105301485A (zh) * | 2015-07-29 | 2016-02-03 | 重庆大学 | 多igbt快速功率循环加速老化装置 |
CN106872870A (zh) * | 2017-01-16 | 2017-06-20 | 全球能源互联网研究院 | 一种高压功率器件的动态特性测试电路及测试方法 |
CN106711110A (zh) * | 2017-03-19 | 2017-05-24 | 北京工业大学 | 一种用于大功率串联igbt的风冷水冷混合散热模组 |
CN106969851A (zh) * | 2017-03-19 | 2017-07-21 | 北京工业大学 | 基于饱和压降测量igbt功率模块结温的在线检测装置 |
CN107783021A (zh) * | 2017-09-06 | 2018-03-09 | 全球能源互联网研究院有限公司 | 一种用于压接型igbt器件功率循环试验的测试模块 |
CN108051093A (zh) * | 2017-12-02 | 2018-05-18 | 北京工业大学 | 用于探测功率循环实验中igbt模块温度场的红外热成像测温方法 |
CN108051721A (zh) * | 2017-12-08 | 2018-05-18 | 国网江苏省电力有限公司南京供电分公司 | 一种基于同轴电阻的igbt可靠性测试方法及系统 |
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